JPS63111153A - 垂直磁気デイスク用アルミニウム合金板及びその製造方法 - Google Patents

垂直磁気デイスク用アルミニウム合金板及びその製造方法

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JPS63111153A
JPS63111153A JP25934186A JP25934186A JPS63111153A JP S63111153 A JPS63111153 A JP S63111153A JP 25934186 A JP25934186 A JP 25934186A JP 25934186 A JP25934186 A JP 25934186A JP S63111153 A JPS63111153 A JP S63111153A
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JP
Japan
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less
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aluminum alloy
magnetic disk
alloy plate
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Yoshinobu Kitao
北尾 吉延
Hideyoshi Kakui
確井 栄喜
Kozo Hoshino
晃三 星野
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Kobe Steel Ltd
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Kobe Steel Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、垂直磁気ディスク用アルミニウム合金板及び
その製造方法に関し、さらに詳細には。
表面に陽極酸化皮膜を形成し、この陽極酸化皮膜のボア
の中に磁性体を電解析出させる方式の磁気ディスクに用
いて好適な垂直磁気ディスク用アルミニウム合金板及び
その製造方法に係る。
[従来技術] (背景) 近年、磁気ディスクに対する高密度記録化の要求は益々
強くなる傾向にあり、1ビツト相当の磁界化領域は益々
微小化されている。
ここで高密度記録化とは情報の蓄積密度を高くすること
すなわち、磁性記録材料のより小さい面植により多くの
単位情報(ビット)を磁化によって記録することである
かかる高密度記録化を試みた磁気ディスクとしては次の
技術が知られている。
アルミニウム合金板の表面に陽8i酸化皮膜を形成し、
この陽極酸化皮膜のボアの中に磁性体を電解析出させ、
その後陽極耐化皮膜を研磨にである程度除去しくこの残
膜厚が磁性媒体の膜厚となる)平滑に仕上で作成した磁
気ディスク(特公昭51−21562号公報)。
この磁気ディスクは、陽極酸化皮膜のボアを利用するも
のであり、そのボアは約400〜2000Aの間隔で配
列されており、このボア中に磁性体が電解析出されてい
るため記録される磁区中心間の最小長さはきわめめ小さ
くなり、その結果、高密度記録を可鮨たらしめようと試
みたものである。
(アルミニウム合金板の従来技術) ところで、一般に、磁気ディスク用のアルミニウム合金
板に関しては次の技術が知られている。
まず、材質としては、JI33000番、5000番等
が知られており、これらのアルミニウム合金は上述した
アルミニウム合金板の表面に陽極酸化皮膜を形成し、こ
の陽極酸化皮膜のボアの中に磁性体を電解析出させて、
磁気記録媒体とじて使用する方法におけるアルミニウム
合金板としても使用されている(特公昭51−2156
2号公報)。
また、高密度の垂直記録用素材としては、例えばrMg
:2〜6%、Mn:1%以下、Fe:0.3%以下、Z
n:0.25%以下、cr:0.35%以下を必須的に
含み、更に、Ti:0.001〜0.08%及び/若く
はB:0.0005〜0.01%を選択的に含んでなる
A!L溶湯を、板厚が4〜15mmとなる様に連続鋳造
し、更に圧延」した磁気ディスク用A見基合金板(特公
昭60−140号公報)が開示されている。
次に製造方法としては、 鋳造→冷間圧延→打抜き→歪取り焼鈍→片面ずつの切削
という工程により製造する方法が一般的に行なわれてい
る。
[発明が解決しようとする問題点] しかし、JI33000番、5000番等よりなるアル
ミニウム合金板を、陽極酸化皮膜のボア中に磁性体を電
解析出させる方式の磁気ディスクに使用した場合には次
の問題点がある。すなわち、 ■上記したJIS3000番、5000番等よりなるア
ルミニウム合金板中には1107z程度の大きさの金属
間化合物が存在し、この化合物部は陽極酸化時に溶解し
穴欠陥となり、この穴欠陥はボア径(通常ボア拡大後は
数1000A以下である。)と比較し非常に大きい。
この穴欠陥は表面研磨によっても残存するため、磁気デ
ィスクにおける記録エラーの原因となり、ひいてはかか
るアルミニウム合金を使用した磁気ディスクによっては
高密度記録が行なえない。
また、特公昭60−140号公報に記載されているアル
ミニウム合金板の場合の金属間化合物は3gm以下と小
さいが、3Bm以下でも不十分であり、陽極酸化皮膜を
形成し、この陽極酸化皮膜のボアの中に磁性体を電解析
出させる場合にはJIS3000番等を使用した場合と
同様な現象が生じる。
■また、研削を片面ずつ行なう方法により製造したアル
ミニウム合金では、片面と他の片面との歪の情況が異な
ることが多く、また、研磨方式に適した同心円状の歪(
歪の情況を等高線で表した場合)が得られ難い。
従ってアルミ合金板の直径方向の歪が大きい場合もしく
は歪が不均一(歪の程度を等高線で現した場合に同心円
状でないもの)の場合には残膜厚が不均一となり電磁変
換特性が不均一となり信頼性に欠ける。
かかる事情より、アルミニウム合金板の表面に陽極酸化
皮膜を形成し、この陽極酸化皮膜のボアの中に磁性体を
電解析出させる上記試みも現在のところ実用化されてい
ないのが現状である。
そこで、陽極酸化皮膜のボアの中に磁性体を電解析出さ
せる技術にも適用し得るアルミニウム合金板の出現が望
まれており、本発明は、かかる要望に応えるものである
[問題点を解決するための手段] 上記問題点は、本出願に係る第1発明である、Mg:3
.5〜565重量% Cr:0.01〜0.06gH量% Fe:0.02重量%以下 Si:0.02重量%以下 Mn:0.2重量%以下 Cu:0.2重量%以下 Ti:0.006重量%以下 残部人文及び不可避的不純物よりなり、素材中に存在す
る金属間化合物サイズが1.5μm以下である合金素材
板を、両面同時研削方式により研削して磁気ディスク用
合金板とし、その直径方向の歪が8pm以下であること
を特徴とする垂直磁気ディスク用アルミニウム合金によ
って解決される。
また、上記垂直磁気ディスク用アルミニウム合金板は例
えば次の方法により製造しうる。
この方法は本出願に係る第2発明を構成する。
Mg : 3 、5〜5.5重量% Cr:0.01〜0.06重量% Fe:0.02重量%以下 Si:0.02重量%以下 M n : 0 、2重量%以下 Cu:0.2重量%以下 Ti:0.006重量%以下 残部AfL及び不可避的不純物 よりなる溶湯を鋳造板厚3〜8mm厚に鋳造し、鋳造板
を420〜b し、該焼鈍後冷間圧延、打抜きを行ない、打抜き後、歪
取り焼鈍を行ない、次いで両面同時研削することにより
直径方向の歪を81Lm以下としたことを特徴とする垂
直磁気ディスク用アルミニウム合金板の製造方法。
以下本発明の詳細な説明する。
(化学組成) Mg Mgは磁気ディスク用合金板として十分な強度を得るた
めに必要な元素であり、このため3.5重量%以上添加
する必要がある。ただ、5,5重量%を越えて添加する
とMgOの酸化物の形成頻度が増すため5.5%重量以
下の添加とする。
Cr Crは木発明者が究明した結果、陽極酸化膜中のボアへ
の磁性体の析出を均一にするために必須な元素であり、
このため0.01i量%以上の添加が必要である。すな
わち、0.Ol、711xff1%未満では結晶粒によ
っては磁性体が殆ど析出しないものが生じ、磁気ディス
クとして十分なる電磁変換特性が得られない。
また、0.06重量%を越えて添加すると金属間化合物
が粗大となり、記録エラーが増加する。
Fe、5i Fe、Siは地金中より不可避的に混入してくる元素で
あり、金属間化合物を形成するためには少ないことが必
要である。
一般的に鋳造後、急冷凝固を行なえば金属間化合物は微
細になるが、薄板連続鋳造法による高い凝固速度でもF
e、Siが各々0.02重量%を超える場合には、金属
間化合物サイズが1.5ルmを越えるため、各々0.0
2重量%以下とする。
Mn MnはFeと同様に金属間化合物を形成する元素である
が、その影うは少なく、また、結晶粒組織の調整、高度
向上のため有効な元素であり、0.2重量%以下の添加
は問題は少ない。
しかし、0.2重量%を越えると化合物形成程度が急増
するため、0.2重量%以下とする。
Cu Cuは、強度向上に有効な元素であるが、粒界にAl−
M g −Cu等が析出し、たとえ精密研削仕上時に問
題がなくとも、陽極酸化時に析出物が溶解し、溝となり
やすので0.2重量%以下とする。
Ti Tiは、鋳塊結晶粒の微細化にはきわめて有効であるが
、AM−Tiの金属間化合物が形成されやすく、少量と
する必要がある。
また、少量となるともはや鋳塊結晶粒微細化効果は期待
できず、さらには高純度であるため形成される金属間化
合物が小さくかつ少ないため組織調整の必要も少ない。
従って0.006重量%以下とする。
Be Beは選択的に添加する。
Beは薄板連続鋳造時のチップノズル先端から水冷ロー
ルに接触するまでの間のMgの酸化を抑制するため添加
することが望ましく、この目的のためには0.5〜50
ppmの添加が好ましい。
その他の元素は不可避的不純物である限り、実質上の問
題はない。
(金属間化合物サイズ) 木発明者が鋭意研究を進めた結果、陽極酸化時には金属
間化合物に起因する大欠陥が必ず形成され、陽極酸化条
件(電解液・電流密度・温度)をどのように変えても金
属間化合物サイズより大欠陥サイズの方が大きくなり、
その拡大程度は1〜1.5.cmであることがわかった
従って、陽極酸化膜を形成する方式の高密度磁気媒体に
おいて金属間化合物サイズは1.5ALm以下とする必
要がある。
これを越えたサイズの化合物が存在すると陽極酸化抜穴
欠陥サイズが3井m程度以上となり、記録エラーの原因
となる。
(合金板の歪) また、陽極酸化皮膜の残厚を一定に保つためには直径方
向の歪が小さい必要がある。
陽極酸化皮膜研磨時に研磨布の弾力により若干の歪があ
っても均−研B時がなされるが、8μmを越えてひずん
でいると、十分なる皮膜残厚の均一性が得られない。そ
の結果、磁気ディスクは出力が不安定となる。
また、両面同時研削を行なうと、両面の歪の情況が異な
っていても、研g方式に適した同心円状の歪(歪の情況
を等高線で表し丸場合)が得られる。
従って、研磨と同等な方式の両面同時研削方式による合
金板製造が必須である。
(製造方法) 次に第2発明である製造方法について説明する。
第2発明においては溶湯を鋳造板厚3〜8mmに鋳造す
る。
化合物サイズ1.5pm以下を得るためには鋳造板厚を
8mm以下として高凝固速度により鋳造することが必要
である。
また、3mm未満になると鋳造コストが高くなり経済的
に無駄である。
鋳造後は、鋳造時のMgの偏析除去のため焼鈍を行なう
、焼鈍条件は、420〜b 24時間である。
420℃×2時間未満では偏析の除去効果が不十分であ
り、550℃×24時間を越えるともはや偏析除去効果
が飽和してしまい経済的に無駄である。
焼鈍後は所望の板厚とするために冷間圧延すZ・。
なお、冷間圧延の途中においては中間焼鈍を行なうこと
が望ましい、この中間焼鈍は、例えば、350〜b ばよい。
冷間圧延後は圧延板の打抜きを行なう。
打抜き後は、打抜きにより生じた歪を除去するために歪
取り矯正を行なう、この焼鈍は例えば。
プレス焼鈍のように一定荷重をかけた状態で行なうこと
が好ましい、なお、プレス焼鈍による歪取り焼鈍におい
て、両面研削後の直径方向の歪を8μm以下とするには
、例えば250〜b2〜6時間で行なえばよい。
歪取り焼鈍後は、両面同時研削を行なう、なお、この研
削は、−度に仕上研削を行なってもよいが、粗研削、プ
レス焼鈍、仕上研削のように2段階に分けて行なっても
よい。
[発明の実施例] 以下に本発明の詳細な説明する。
表1に示す組成のAl基合金溶湯を表1中に示す板厚に
鋳造し供試材1〜13とした。
なお、Beは、フィルタ一部においてAl−Be合金材
にてBe量が30ppmになるように楕加を行なった。
これらの供試材1〜10の鋳造板を表2に示す条件にて
焼鈍を行なった。
焼鈍後は同じく表2に示す条件にて冷間圧延を行ない1
.5mmの板厚とし、圧延板を作成した。
この圧延板を第1図に示す工程により合金板とした。
以下にその工程を詳細に説明する。
圧延板を95mmφに打抜き、打抜き後、供試材11〜
供試材13を除き350℃×4時間のプレス焼鈍を行な
った。
次いで、研粒を用いて表面の研削を行なった。
研削は供試材11及び供試材12を除き両面同時研削を
行なった。なお、研削は粗研削と仕上研削の2段階に分
けて行ない粗研削と仕上研削との間で350X4時間の
プレス焼鈍を行ない、粗研削により発生した残留歪を除
去した。
供試材11及び供試材12については両面研削ではなく
片面切削を行なった。
なお、仕上研削後の合金板の板厚は1.27mmtであ
った。
仕上研削後の直径方向の歪は、供試材12及び供試材1
3を除き8gm以下とした。供試材12及び供試材13
については10pmとした。
結局、供試材1〜供試材5は本発明の実施例であり、供
試材6〜供試材13は比較例である。
供試材6は、Si及びFeが未発r!A範囲より多い比
較例である。
供試材7はMnが本発明範囲より多い比較例である。
供試材8はCrが本発明より多い比較例であり、供試材
9はCrを含有しない比較例である。
供試材10は化学組成は本発明範囲内であるが、焼鈍温
度が本発明範囲より低い比較例である。
供試材11は、化学組成及び焼鈍条件は供試材2と同じ
であるが、切削を片面で行なった比較例である。
供試材12は、化学組成及び焼鈍条件は供試材2と同じ
であるが、切削を片面で行ない、かつ、直径方向の歪量
が本発明範囲より大きい比較例である。
供試材13は、化学組成、焼鈍条件及び切削条件は供試
材2と同じであるが、直径方向の歪量が本発明範囲より
大きい比較例である。
以上の供試材作成中及び作成後に以下の事項につき試験
を行なった。
(金属間化合物) 金属間化合物の評価は、冷間圧延後、打抜き前に行なっ
た。
その段階における金属間化合物の評価結果を表3(a)
に示す。
なお、金属間化合物サイズの判定は 0.5gm以上〜1.07zm未満のサイズを1・0弘
mと。
1.0ルm以上〜1.5gm未満のサイズを1 、5 
μmと・ 1.5gm以上〜2.07tm未満のサイズを2、OI
Lmと・ 各々表示した。
表3(a)から、第2発明に係る方法によれば金属間化
合物サイズが1.5μm以下となることがわかる。
(機械的強度) 供試材1及び供試材4につき引張試験を行なった。
その結果を表3(b)に示す。
本発明の実施例(供試材1)は磁気ディスク用合金板と
して必要な強度、伸びを十分に示した。
(記録特性評価) これらの合金板につき第2図に示す工程にて垂直記録媒
体とした。
すなわち、シュウ酸溶液を用いて1次電解(陽極酸化処
理)を行ない、各供試材の合金板表面に51Lmの陽極
酸化皮膜を形成した。
陽極酸化処理後リン酸を用いてボア拡大を行なった。
次に、Fe塩を含有する2次電解溶浪を用いて陽極酸化
皮膜のボア中にFeを電解析出せしめた。
電解析出後、表面潤滑材皮膜を形成し、次いで表面研磨
を行ない、陽極酸化皮膜の残膜厚を3ルmとした。
以上のようにして作成した各記録媒体につき以下の事項
を調査した。
■陽極酸化後の外観 ■2次電解時のFeの析出の均一性 ■記録時のエラー数 ■陽極酸化膜の研磨後の残膜厚の均一性この結果を、■
〜@については表4に示し、■については表5(b)に
示す、なお、表5(a)には合金板の製造工程を合せて
示す。
表4及び表5に示すように、本発明の実施例はいずれも
、陽極酸化後の外観は均一であり、■2次電解時のFe
の析出も均一性であり、■記録時のエラー数が少なく、
■陽極酸化膜の研磨後の残膜厚も均一であり、本発明に
係る合金板は記録媒体としての評価が良好であることが
わかる。
冷間圧延中に中間焼鈍を行なった場合(供試材1、供試
材3、供試材4及び供試材5)には記録媒体としての評
価がより一層良好になる。
なお、陽極酸化皮膜の密着性、多孔性、耐摩耗性等につ
いても優れた特性を示した。
以上説明したように、陽極酸化皮膜を形成し、この陽極
酸化皮膜のボアの中に磁性体を電解析出させた磁気ディ
スクに、本発明の実施例に係る合金板を使用した場合に
は、記録エラーが少なく、高密度記録が可能であり、垂
直磁気記録用として優れていることがわかる。
[発明の効果] 以上のように、化学組成、金属間化合物サイズ、直径歪
を規定した本発明に係る垂直磁気ディスク用アルミニウ
ム合金板は、陽極酸化皮膜を形成し、この陽極酸化皮膜
のボアの中に磁性体を電解析出させた磁気ディスクの実
用化を可能たらしめ、ひいては、高密度記録が可能な磁
気ディスクの実用化を可能たらしめることができた。
表3(a) 表3(b)
【図面の簡単な説明】
第1図は合金板の製造工程を示す工程図である。第2図
は垂直磁気記録媒体の製造工程を示す工程図である。 第1図 打抜き    →    プレス焼鈍 (95mmφ)       (350℃×4時間)→
  粗研削    →   プレス焼鈍(両面同時研削
)     (350℃×4時間)→ 仕上研削1.2
7mmt (両面同時研削) 第2図 陽極酸化   →    ボア拡大 (シュ酸5延m厚)      (リン酸)→ 2次電
解    →  保3へ潤滑膜の形成呻 電磁変換特性
評価

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、Mg:3.5〜5.5重量% Cr:0.01〜0.06重量% Fe:0.02重量%以下 Si:0.02重量%以下 Mn:0.2重量%以下 Cu:0.2重量%以下 Ti:0.006重量%以下 残部Al及び不可避的不純物よりなり、 素材中に存在する金属間化合物サイズが1.5μm以下
    である合金素材板を、両面同時研削方式により研削して
    磁気ディスク用合金板とし、その直径方向の歪が8μm
    以下であることを特徴とする垂直磁気ディスク用アルミ
    ニウム合金板。 2、Mg:3.5〜5.5重量% Cr:0.01〜0.06重量% Fe:0.02重量%以下 Si:0.02重量%以下 Mn:0.2重量%以下 Cu:0.2重量%以下 Ti:0.006重量%以下 残部Al及び不可避的不純物 よりなる溶湯を鋳造板厚3〜8mm厚に鋳造し、鋳造板
    を420〜550℃×2〜24時間焼鈍し、該焼鈍後冷
    間圧廷、打抜きを行ない、打抜き後、歪取り焼鈍を行な
    い、次いで両面同時研削することにより直径方向の歪を
    8μm以下としたことを特徴とする垂直磁気ディスク用
    アルミニウム合金板の製造方法。 3、Beを0.5〜50ppm含有する特許請求の範囲
    第1項記載の垂直磁気ディスク用アルミニウム合金板。 4、Beを0.5〜50ppm含有する特許請求の範囲
    第2項記載の垂直磁気ディスク用アルミニウム合金板の
    製造方法。
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