JPH11315338A - ジンケート処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金 - Google Patents
ジンケート処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金Info
- Publication number
- JPH11315338A JPH11315338A JP12434398A JP12434398A JPH11315338A JP H11315338 A JPH11315338 A JP H11315338A JP 12434398 A JP12434398 A JP 12434398A JP 12434398 A JP12434398 A JP 12434398A JP H11315338 A JPH11315338 A JP H11315338A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- less
- aluminum alloy
- magnetic disk
- plating
- content
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ジンケート皮膜にムラを生じることがなく、
めっき・最終研磨後に、ムラが無く均質で欠陥の無い表
面性状が得られ、高密度基板として十分に適用可能な磁
気ディスク基板用アルミニウム合金を提供する。 【解決手段】 Cu:0.031%以上0.050%未
満、Mg:2.5〜5.5%、Zn:0.05%を越え
0.70%以下、Fe:0.007%以上0.05%未
満を含有し、不純物としてのSiを0.05%以下、T
iを0.01%以下、Bを0.05%以下に規制し、残
部Alおよび不純物からなる。
めっき・最終研磨後に、ムラが無く均質で欠陥の無い表
面性状が得られ、高密度基板として十分に適用可能な磁
気ディスク基板用アルミニウム合金を提供する。 【解決手段】 Cu:0.031%以上0.050%未
満、Mg:2.5〜5.5%、Zn:0.05%を越え
0.70%以下、Fe:0.007%以上0.05%未
満を含有し、不純物としてのSiを0.05%以下、T
iを0.01%以下、Bを0.05%以下に規制し、残
部Alおよび不純物からなる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ジンケート処理性
に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金、詳しくは磁
気ディスク基板にNi−Pめっきを施す前のジンケート
処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金に関す
る。
に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金、詳しくは磁
気ディスク基板にNi−Pめっきを施す前のジンケート
処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金に関す
る。
【0002】
【従来の技術】コンピュータのハードディスクなどに使
用される磁気ディスクは、アルミニウム合金基板の表面
を精密に研磨したのち、ジンケート処理およびNi−P
めっきなどのめっき処理を施し、さらにめっき面を超精
密研磨により仕上げ、磁気体をスパッタリングすること
により製造される。
用される磁気ディスクは、アルミニウム合金基板の表面
を精密に研磨したのち、ジンケート処理およびNi−P
めっきなどのめっき処理を施し、さらにめっき面を超精
密研磨により仕上げ、磁気体をスパッタリングすること
により製造される。
【0003】このような磁気ディスク用アルミニウム合
金基板に要求される特性は、精密研磨または切削後の
表面精度が非常に良好で研磨などにおける加工性が良好
なこと、アルミニウム合金基板全体の平坦度が良好で
あること、めっき処理性およびジンケート処理性が良
好で、めっき後に欠陥やムラが生じないこと、磁気体
の欠陥の原因となる突起や穴が少なく且つ小さいこと、
軽量、非磁性体で、基板作製時の加工、使用中の高速
回転に耐える強度を有することなどである。
金基板に要求される特性は、精密研磨または切削後の
表面精度が非常に良好で研磨などにおける加工性が良好
なこと、アルミニウム合金基板全体の平坦度が良好で
あること、めっき処理性およびジンケート処理性が良
好で、めっき後に欠陥やムラが生じないこと、磁気体
の欠陥の原因となる突起や穴が少なく且つ小さいこと、
軽量、非磁性体で、基板作製時の加工、使用中の高速
回転に耐える強度を有することなどである。
【0004】上記の特性を満足する磁気ディスク用アル
ミニウム合金として、従来4%程度のMgを含有するJ
ISA5086合金、5086合金にCu、Znを添加
してめっき性を改善したアルミニウム合金が使用され、
実用上かなりの評価を受けている。
ミニウム合金として、従来4%程度のMgを含有するJ
ISA5086合金、5086合金にCu、Znを添加
してめっき性を改善したアルミニウム合金が使用され、
実用上かなりの評価を受けている。
【0005】しかしながら、磁気ディスクの高密度化に
よって、基板の欠陥や平坦度に対する要求は一層厳しく
なり、従来のアルミニウム合金ではその要求を満足させ
ることが次第に難しくなってきており、その要求を満た
すために、従来合金を改良する試みが多く行われてい
る。例えば、Cu、Znを添加するとともにAl−Fe
を主成分とする金属間化合物、Mg−Siを主成分とす
る金属間化合物のサイズ、量を規制して、めっき処理後
の欠陥が少なく、平滑なめっき面が得られるアルミニウ
ム合金基板が提案されている。(特開平2−11183
9号公報)
よって、基板の欠陥や平坦度に対する要求は一層厳しく
なり、従来のアルミニウム合金ではその要求を満足させ
ることが次第に難しくなってきており、その要求を満た
すために、従来合金を改良する試みが多く行われてい
る。例えば、Cu、Znを添加するとともにAl−Fe
を主成分とする金属間化合物、Mg−Siを主成分とす
る金属間化合物のサイズ、量を規制して、めっき処理後
の欠陥が少なく、平滑なめっき面が得られるアルミニウ
ム合金基板が提案されている。(特開平2−11183
9号公報)
【0006】0.05%以下とごく微量のCuを添加
し、Znを0.1〜1.5%に規制し、これらを共存さ
せることにより、めっき表面の均一性と無欠陥性を図っ
たアルミニウム合金基板も提案され(特開平2−153
094号公報)、めっき付着性の向上、めっき面でのノ
ジュールやマイクロピットの減少を目的として、Cuを
積極的に添加し、金属間化合物の大きさを5μm以下に
限定したディスク用アルミニウム合金も提案されてい
る。(特開平2−159340号公報)
し、Znを0.1〜1.5%に規制し、これらを共存さ
せることにより、めっき表面の均一性と無欠陥性を図っ
たアルミニウム合金基板も提案され(特開平2−153
094号公報)、めっき付着性の向上、めっき面でのノ
ジュールやマイクロピットの減少を目的として、Cuを
積極的に添加し、金属間化合物の大きさを5μm以下に
限定したディスク用アルミニウム合金も提案されてい
る。(特開平2−159340号公報)
【0007】さらに、優れた平面性が得られ、且つめっ
き処理後の表面欠陥をなくすことを目的として、Al−
Mg合金に、Zn:0.10〜0.30%、Cu:0.
05〜0.20%およびFe:0.01〜0.10%を
必須成分として含有させ、製造工程中の中間焼鈍に急速
加熱、急速冷却を適用して磁気ディスク基板用アルミニ
ウム合金板を製造することも提案されている。(特開平
7−331397号公報)
き処理後の表面欠陥をなくすことを目的として、Al−
Mg合金に、Zn:0.10〜0.30%、Cu:0.
05〜0.20%およびFe:0.01〜0.10%を
必須成分として含有させ、製造工程中の中間焼鈍に急速
加熱、急速冷却を適用して磁気ディスク基板用アルミニ
ウム合金板を製造することも提案されている。(特開平
7−331397号公報)
【0008】磁気ディスク基板の製造においては、めっ
き処理前に、アルミニウム基板とめっき層との密着性を
高めるためにジンケート処理が行われる。ジンケート処
理が不均一であると、その後のめっき層にムラが生じる
ため、ジンケートを均一に仕上げることがきわめて重要
となる。上記従来のアルミニウム合金基板においては、
ジンケート処理で発生するわずかなムラでも、それがめ
っき研磨後のムラ(不均一)につながることが多く、製
品の品質、歩留り低下の原因となる。
き処理前に、アルミニウム基板とめっき層との密着性を
高めるためにジンケート処理が行われる。ジンケート処
理が不均一であると、その後のめっき層にムラが生じる
ため、ジンケートを均一に仕上げることがきわめて重要
となる。上記従来のアルミニウム合金基板においては、
ジンケート処理で発生するわずかなムラでも、それがめ
っき研磨後のムラ(不均一)につながることが多く、製
品の品質、歩留り低下の原因となる。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、磁気ディス
ク基板にNi−Pめっきを施す前のジンケート処理性を
さらに高めるために、上記従来の磁気ディスク基板用ア
ルミニウム合金をベースとして、ジンケート処理性と磁
気ディスク用アルミニウム合金基板の組成との関連性を
多角的な実験により追求した結果としてなされたもので
あり、その目的は、ジンケート処理においてムラを発生
することがなく、めっき処理後、きわめて良好な表面性
状を得ることができるジンケート処理性に優れた磁気デ
ィスク用アルミニウム合金を提供することにある。
ク基板にNi−Pめっきを施す前のジンケート処理性を
さらに高めるために、上記従来の磁気ディスク基板用ア
ルミニウム合金をベースとして、ジンケート処理性と磁
気ディスク用アルミニウム合金基板の組成との関連性を
多角的な実験により追求した結果としてなされたもので
あり、その目的は、ジンケート処理においてムラを発生
することがなく、めっき処理後、きわめて良好な表面性
状を得ることができるジンケート処理性に優れた磁気デ
ィスク用アルミニウム合金を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めの本発明によるジンケート処理性に優れた磁気ディス
ク用アルミニウム合金は、Al−Mg合金に、微量のC
uを添加し、且つ添加量を特定の範囲に正確に制御し、
さらに特定量のZn、Feを共存させることを基本とす
る。
めの本発明によるジンケート処理性に優れた磁気ディス
ク用アルミニウム合金は、Al−Mg合金に、微量のC
uを添加し、且つ添加量を特定の範囲に正確に制御し、
さらに特定量のZn、Feを共存させることを基本とす
る。
【0011】すなわち、本発明の磁気ディスク用アルミ
ニウム合金は、Cu:0.031%以上0.050%未
満、Mg:2.5〜5.5%、Zn:0.05%を越え
0.7%以下、Fe:0.007%以上0.05%未満
を含有し、不純物としてのSiを0.05%以下、Ti
を0.01%以下、Bを0.005%以下に制限し、残
部Alおよび不純物からなることを第1の特徴とする。
ニウム合金は、Cu:0.031%以上0.050%未
満、Mg:2.5〜5.5%、Zn:0.05%を越え
0.7%以下、Fe:0.007%以上0.05%未満
を含有し、不純物としてのSiを0.05%以下、Ti
を0.01%以下、Bを0.005%以下に制限し、残
部Alおよび不純物からなることを第1の特徴とする。
【0012】また、上記の成分に、さらにMn:0.1
%以下、Cr:0.1%以下、V:0.2%以下のうち
の1種以上を含有させること、さらにBe:1〜100
ppmを含有させることを第2、第3の特徴とし、Cu
含有量とZn含有量とが、0.85%≧Zn(%)+5
Cu(%)≧0.27%の関係にあることを第4の特徴
とする。
%以下、Cr:0.1%以下、V:0.2%以下のうち
の1種以上を含有させること、さらにBe:1〜100
ppmを含有させることを第2、第3の特徴とし、Cu
含有量とZn含有量とが、0.85%≧Zn(%)+5
Cu(%)≧0.27%の関係にあることを第4の特徴
とする。
【0013】さらに、上記の組成を有するアルミニウム
合金であって、該アルミニウム合金のマトリックス中に
存在するSi−O系非金属化合物の粒径が5μm以下で
あることを第5の特徴とする。
合金であって、該アルミニウム合金のマトリックス中に
存在するSi−O系非金属化合物の粒径が5μm以下で
あることを第5の特徴とする。
【0014】
【発明の実施の形態】本発明による磁気ディスク用アル
ミニウム合金の成分およびその限定理由について述べる
と、Cuは、ジンケート皮膜の不均一性を改善するよう
機能する成分であり、Cuを含有させることにより、ジ
ンケートの結晶が微細且つ均一に生成する。好ましい含
有量は0.031%以上0.050%未満で、0.03
1%未満では、ジンケート皮膜が緻密になり難く改善効
果が小さい。0.050%を越えて含有すると、素材の
エッチング速度が大きくなり、ジンケートムラが生じ易
くなる。また素材の耐食性が低下する。
ミニウム合金の成分およびその限定理由について述べる
と、Cuは、ジンケート皮膜の不均一性を改善するよう
機能する成分であり、Cuを含有させることにより、ジ
ンケートの結晶が微細且つ均一に生成する。好ましい含
有量は0.031%以上0.050%未満で、0.03
1%未満では、ジンケート皮膜が緻密になり難く改善効
果が小さい。0.050%を越えて含有すると、素材の
エッチング速度が大きくなり、ジンケートムラが生じ易
くなる。また素材の耐食性が低下する。
【0015】Mgは、基板自体の強度を得るために必要
な元素であり、好ましい含有量は、2.5〜5.5%の
範囲である。2.5%未満では研削性が劣化し、また加
工および使用時に強度が不足する。5.5%を越える
と、熱間加工性が低下するとともに、Mg−Si系化合
物が生成して、めっき欠陥が生じ易くなる。強度上から
は3.5%以上が好ましく、Mg−Si系化合物の生成
を抑制する点では5%以下が好ましい。
な元素であり、好ましい含有量は、2.5〜5.5%の
範囲である。2.5%未満では研削性が劣化し、また加
工および使用時に強度が不足する。5.5%を越える
と、熱間加工性が低下するとともに、Mg−Si系化合
物が生成して、めっき欠陥が生じ易くなる。強度上から
は3.5%以上が好ましく、Mg−Si系化合物の生成
を抑制する点では5%以下が好ましい。
【0016】Znは、Cuと共存させることによりジン
ケート皮膜の不均一さを改善するよう作用する。Znの
好ましい含有範囲は、0.05%を越え0.70%以下
であり、0.05%以下ではその効果が小さく、0.7
0%を越えると、素材のエッチング速度が大きくなっ
て、ジンケートムラが生じ易くなり、素材自体の耐食性
が劣化する。Znのさらに好ましい含有量は0.1〜
0.5%の範囲である。
ケート皮膜の不均一さを改善するよう作用する。Znの
好ましい含有範囲は、0.05%を越え0.70%以下
であり、0.05%以下ではその効果が小さく、0.7
0%を越えると、素材のエッチング速度が大きくなっ
て、ジンケートムラが生じ易くなり、素材自体の耐食性
が劣化する。Znのさらに好ましい含有量は0.1〜
0.5%の範囲である。
【0017】本発明においては、ZnとCuとの共存に
よりジンケート皮膜の均一性が向上するが、この作用は
Cuのほうがより大きいこと、また耐食性の低下に対し
てもCuの影響が大きいことを考慮し、耐食性を損なう
ことなくジンケート処理性をさらに効果的に改善し、緻
密で均質なジンケート皮膜を得るためには、Cu含有量
とZn含有量の関係を、0.85%≧Zn(%)+5C
u(%)≧0.27%とすることが好ましい。
よりジンケート皮膜の均一性が向上するが、この作用は
Cuのほうがより大きいこと、また耐食性の低下に対し
てもCuの影響が大きいことを考慮し、耐食性を損なう
ことなくジンケート処理性をさらに効果的に改善し、緻
密で均質なジンケート皮膜を得るためには、Cu含有量
とZn含有量の関係を、0.85%≧Zn(%)+5C
u(%)≧0.27%とすることが好ましい。
【0018】特定量のFeを共存させることにより研削
性が高められ、ジンケート処理の均質性が向上する。好
ましい含有量は、0.007%以上0.05%未満の範
囲であり、0.007%未満ではその効果が十分でな
く、0.05%以上含有すると、粗大なAl−Fe系、
Al−Fe−Si系の化合物が生成して、めっき欠陥が
生じ易くなる。Feのさらに好ましい含有範囲は0.0
1〜0.5%である。
性が高められ、ジンケート処理の均質性が向上する。好
ましい含有量は、0.007%以上0.05%未満の範
囲であり、0.007%未満ではその効果が十分でな
く、0.05%以上含有すると、粗大なAl−Fe系、
Al−Fe−Si系の化合物が生成して、めっき欠陥が
生じ易くなる。Feのさらに好ましい含有範囲は0.0
1〜0.5%である。
【0019】Mn、Cr、Vは、これらの元素の1種以
上を添加することにより、結晶粒を均一且つ微細にし、
研削性を向上させる。好ましい含有量は、Mn:0.1
%以下、Cr:0.1%以下、V:0.2%以下の範囲
であり、上限を越えて添加すると、粗大な金属間化合物
が増加して、めっき欠陥が生じ易くなる。
上を添加することにより、結晶粒を均一且つ微細にし、
研削性を向上させる。好ましい含有量は、Mn:0.1
%以下、Cr:0.1%以下、V:0.2%以下の範囲
であり、上限を越えて添加すると、粗大な金属間化合物
が増加して、めっき欠陥が生じ易くなる。
【0020】Beは溶湯の酸化を防止して、Mgの含有
量を厳密に管理するのに役立つ。好ましい含有量は10
0ppm以下であり、100ppmを越えて含有させて
も、効果が飽和し、それ以上の顕著な改善効果が得られ
ない。
量を厳密に管理するのに役立つ。好ましい含有量は10
0ppm以下であり、100ppmを越えて含有させて
も、効果が飽和し、それ以上の顕著な改善効果が得られ
ない。
【0021】本発明においては、アルミニウム合金中の
不純物、とくにSi、Ti、Bを厳密に制限することが
重要である。Siが0.05%を越えると粗大なMg−
Si系化合物が生成して、めっき欠陥が生じ易くなるか
ら、Siは0.05%以下、さらに好ましくは0.03
%以下に制限する。
不純物、とくにSi、Ti、Bを厳密に制限することが
重要である。Siが0.05%を越えると粗大なMg−
Si系化合物が生成して、めっき欠陥が生じ易くなるか
ら、Siは0.05%以下、さらに好ましくは0.03
%以下に制限する。
【0022】Ti、Bは、通常、アルミニウム合金の鋳
造組織を微細化するために添加される元素であり、スク
ラップを使用すると不純物として混入することがある。
Tiが0.01%、Bが0.005%を越えると、粗大
な金属間化合物が増加して、めっき欠陥を生じ易くなる
から、Tiは0.01%以下、Bは0.005%以下に
制限する。なお、その他の不純物として、Zr、Ni、
Pbなどは、0.02%未満であれば本発明のアルミニ
ウム合金の特性に影響を与えることはない。
造組織を微細化するために添加される元素であり、スク
ラップを使用すると不純物として混入することがある。
Tiが0.01%、Bが0.005%を越えると、粗大
な金属間化合物が増加して、めっき欠陥を生じ易くなる
から、Tiは0.01%以下、Bは0.005%以下に
制限する。なお、その他の不純物として、Zr、Ni、
Pbなどは、0.02%未満であれば本発明のアルミニ
ウム合金の特性に影響を与えることはない。
【0023】Al−Mg系合金を、常法に従って溶解、
鋳造する場合、炉壁材や離型材の混入に起因して、素材
中にSi−O系非金属化合物が含有され易く、磁気ディ
スク基板として適用する際、めっき処理後にピットや膨
れなどの表面欠陥を生じる原因となる。素材中にSi−
O系非金属化合物が含まれないことが最も好ましいが、
素材マトリックス中にSi−O系非金属化合物が存在す
る場合には、その粒径(長径と短径の平均)を5μm以
下にすることが必要である。
鋳造する場合、炉壁材や離型材の混入に起因して、素材
中にSi−O系非金属化合物が含有され易く、磁気ディ
スク基板として適用する際、めっき処理後にピットや膨
れなどの表面欠陥を生じる原因となる。素材中にSi−
O系非金属化合物が含まれないことが最も好ましいが、
素材マトリックス中にSi−O系非金属化合物が存在す
る場合には、その粒径(長径と短径の平均)を5μm以
下にすることが必要である。
【0024】上記のSi−O系非金属化合物の制御は、
合金中の成分調整、とくにMg含有量の管理、不純物と
してのSi量の制限、鋳塊の均質化処理条件の調整によ
り行われる。特定組成範囲のアルミニウム合金を適用
し、鋳塊の均質化処理を、窒素ガスや不活性ガスを富化
した空気よりも低い酸素濃度雰囲気中において、調整さ
れた条件で実施することにより、Si−O系非金属化合
物が還元され、微細化される。
合金中の成分調整、とくにMg含有量の管理、不純物と
してのSi量の制限、鋳塊の均質化処理条件の調整によ
り行われる。特定組成範囲のアルミニウム合金を適用
し、鋳塊の均質化処理を、窒素ガスや不活性ガスを富化
した空気よりも低い酸素濃度雰囲気中において、調整さ
れた条件で実施することにより、Si−O系非金属化合
物が還元され、微細化される。
【0025】
【実施例】以下、本発明の実施例を比較例と対比して説
明する。 実施例1 表1に示す組成を有するアルミニウム合金をDC鋳造に
より造塊し、鋳肌部の表面切削を行った後、520℃で
6時間の鋳塊均質化処理を実施した。ついで、450℃
の温度で熱間圧延を開始して4mm厚さまで熱間圧延
し、冷間圧延を経て、厚さ0.8mmの板材とした。
明する。 実施例1 表1に示す組成を有するアルミニウム合金をDC鋳造に
より造塊し、鋳肌部の表面切削を行った後、520℃で
6時間の鋳塊均質化処理を実施した。ついで、450℃
の温度で熱間圧延を開始して4mm厚さまで熱間圧延
し、冷間圧延を経て、厚さ0.8mmの板材とした。
【0026】この板材から、外径96mm、内径24m
mのドーナツ形状の磁気ディスク素材を打ち抜いて、3
50℃で1時間の焼鈍後、砥石研削を行って表面を仕上
げた。これらの磁気ディスク素材を、市販の溶剤により
脱脂、エッチング処理、デスマット処理し、2回のジン
ケート処理後にNi−Pめっきを施し、さらに、仕上げ
研磨により鏡面仕上げを行った。
mのドーナツ形状の磁気ディスク素材を打ち抜いて、3
50℃で1時間の焼鈍後、砥石研削を行って表面を仕上
げた。これらの磁気ディスク素材を、市販の溶剤により
脱脂、エッチング処理、デスマット処理し、2回のジン
ケート処理後にNi−Pめっきを施し、さらに、仕上げ
研磨により鏡面仕上げを行った。
【0027】上記の工程を経て作製された磁気ディスク
基板について、研削性(研削のし易さ)を相対評価し、
目視によりジンケート皮膜の状況、めっき・最終研磨後
の表面状況を観察して、これらを相対評価した。また、
最終研磨後の微少欠陥数を測定した。これらの結果を、
素材の硬さとともに表2に示す。
基板について、研削性(研削のし易さ)を相対評価し、
目視によりジンケート皮膜の状況、めっき・最終研磨後
の表面状況を観察して、これらを相対評価した。また、
最終研磨後の微少欠陥数を測定した。これらの結果を、
素材の硬さとともに表2に示す。
【0028】表2にみられるように、本発明に従う試験
材No.1〜5は、めっき・最終研磨後にムラを生じる
ことはなく、研磨後の欠陥もほとんど認められない。
(合格レベルの欠陥数は2個/面)なお、試験材No.
3について、ジンケート処理時にわずかなムラが発生し
たが、最終研磨後にはムラを生じることがなかった。
材No.1〜5は、めっき・最終研磨後にムラを生じる
ことはなく、研磨後の欠陥もほとんど認められない。
(合格レベルの欠陥数は2個/面)なお、試験材No.
3について、ジンケート処理時にわずかなムラが発生し
たが、最終研磨後にはムラを生じることがなかった。
【0029】
【表1】 《表注》Be量はppm
【0030】
【表2】 《表注》研削性:○(良好) ジンケート皮膜状況:○(ムラ無し) △(僅かなムラ有り) 最終研磨後の表面状況:○(ムラ無し)
【0031】比較例1 表3に示す組成を有するアルミニウム合金をDC鋳造に
より造塊し、実施例1と同じ工程で処理して、厚さ0.
8mmの板材とし、実施例1と同様に、ドーナツ形状に
打ち抜いて、脱脂、エッチング処理、デスマット処理、
2回のジンケート処理、Ni−Pめっきを行い、仕上げ
研磨により鏡面仕上げした。なお、表3において、本発
明の条件を外れたものには下線を付した。
より造塊し、実施例1と同じ工程で処理して、厚さ0.
8mmの板材とし、実施例1と同様に、ドーナツ形状に
打ち抜いて、脱脂、エッチング処理、デスマット処理、
2回のジンケート処理、Ni−Pめっきを行い、仕上げ
研磨により鏡面仕上げした。なお、表3において、本発
明の条件を外れたものには下線を付した。
【0032】上記の工程を経て作製された磁気ディスク
基板について、実施例1と同様、研削性(研削のし易
さ)を相対評価し、目視によりジンケート皮膜の状況、
めっき・最終研磨後の表面状況を観察して、これらを相
対評価した。また、最終研磨後の微少欠陥数を測定し
た。これらの結果を、素材の硬さとともに表4に示す。
基板について、実施例1と同様、研削性(研削のし易
さ)を相対評価し、目視によりジンケート皮膜の状況、
めっき・最終研磨後の表面状況を観察して、これらを相
対評価した。また、最終研磨後の微少欠陥数を測定し
た。これらの結果を、素材の硬さとともに表4に示す。
【0033】
【表3】
【0034】
【表4】 《表注》研削性:○(良好)△(ややわるい)×(わるい) ジンケート皮膜状況:○(ムラ無し)△(僅かなムラ有り)×(ムラ有り) 最終研磨後の表面状況:○(ムラ無し)△(僅かなムラ有り)×(ムラ有り)
【0035】試験材No.8はFe量が多く、試験材N
o.6、11、13、16および17は、それぞれ不純
物のSi、Mn、Cr、TiとBおよびVの含有量が多
いため、粗大な金属間化合物の生成に起因して、めっき
後に多くの微少欠陥が発生した。試験材No.7はFe
含有量が少なく、No.9、10はCuの含有量が適切
でなく、試験材No.14、15はZn含有量が適切で
ないため、いずれもジンケート処理においてムラが発生
し、最終研磨後もこのムラが残っている。なお、最終研
磨後にムラが生じたものについては、欠陥検査を行わな
かった。
o.6、11、13、16および17は、それぞれ不純
物のSi、Mn、Cr、TiとBおよびVの含有量が多
いため、粗大な金属間化合物の生成に起因して、めっき
後に多くの微少欠陥が発生した。試験材No.7はFe
含有量が少なく、No.9、10はCuの含有量が適切
でなく、試験材No.14、15はZn含有量が適切で
ないため、いずれもジンケート処理においてムラが発生
し、最終研磨後もこのムラが残っている。なお、最終研
磨後にムラが生じたものについては、欠陥検査を行わな
かった。
【0036】試験材No.7は、Feの含有量が少ない
ため研削性に問題があり、試験材No.12は、Mg量
が少ないため、強度が不十分であり、研削性もわるい。
ため研削性に問題があり、試験材No.12は、Mg量
が少ないため、強度が不十分であり、研削性もわるい。
【0037】実施例2、比較例2 表1のNo.4の組成を有するアルミニウム合金をDC
鋳造により造塊し、鋳塊の表面切削を行った後、常法に
従って、520℃で6時間の鋳塊均質化処理を実施し
た。ついで、450℃の温度で熱間圧延を開始して4m
m厚さまで熱間圧延し、冷間圧延を経て、厚さ0.8m
mの板材とした。(試験材No.18)
鋳造により造塊し、鋳塊の表面切削を行った後、常法に
従って、520℃で6時間の鋳塊均質化処理を実施し
た。ついで、450℃の温度で熱間圧延を開始して4m
m厚さまで熱間圧延し、冷間圧延を経て、厚さ0.8m
mの板材とした。(試験材No.18)
【0038】表1のNo.4の組成を有するアルミニウ
ム合金をDC鋳造により造塊し、鋳塊の表面切削を行っ
た後、窒素ガス富化雰囲気中で、520℃で8時間の鋳
塊均質化処理を実施した。ついで、480℃の温度で熱
間圧延を開始して4mm厚さまで熱間圧延し、冷間圧延
を経て、厚さ0.8mmの板材とした。(試験材No.
19)
ム合金をDC鋳造により造塊し、鋳塊の表面切削を行っ
た後、窒素ガス富化雰囲気中で、520℃で8時間の鋳
塊均質化処理を実施した。ついで、480℃の温度で熱
間圧延を開始して4mm厚さまで熱間圧延し、冷間圧延
を経て、厚さ0.8mmの板材とした。(試験材No.
19)
【0039】これらの板材から、外径96mm、内径2
4mmのドーナツ形状の磁気ディスク素材を打ち抜い
て、350℃で1時間の焼鈍後、砥石研削を行って表面
を仕上げた。これらの磁気ディスク素材を、市販の溶剤
により脱脂、エッチング処理、デスマット処理し、2回
のジンケート処理後にNi−Pめっきを施し、さらに、
仕上げ研磨により鏡面仕上げを行った。
4mmのドーナツ形状の磁気ディスク素材を打ち抜い
て、350℃で1時間の焼鈍後、砥石研削を行って表面
を仕上げた。これらの磁気ディスク素材を、市販の溶剤
により脱脂、エッチング処理、デスマット処理し、2回
のジンケート処理後にNi−Pめっきを施し、さらに、
仕上げ研磨により鏡面仕上げを行った。
【0040】上記の工程を経て作製された磁気ディスク
基板について、基板マトリックス中のSi−O系非金属
化合物の粒径(長径と短径との平均)を測定し、目視に
よりジンケート皮膜の状況、めっき・最終研磨後の表面
状況を観察して、これらを相対評価した。また、最終研
磨後の微少欠陥数を測定した。これらの結果を表5に示
す。
基板について、基板マトリックス中のSi−O系非金属
化合物の粒径(長径と短径との平均)を測定し、目視に
よりジンケート皮膜の状況、めっき・最終研磨後の表面
状況を観察して、これらを相対評価した。また、最終研
磨後の微少欠陥数を測定した。これらの結果を表5に示
す。
【0041】
【表5】
【0042】
【発明の効果】以上のとおり、本発明によれば、ジンケ
ート処理後にムラを生じることがなく、めっき・最終研
磨後、ムラが無く均質な表面性状を得ることができ、高
密度基板用として十分に適用することを可能とする磁気
ディスク基板用アルミニウム合金が提供される。
ート処理後にムラを生じることがなく、めっき・最終研
磨後、ムラが無く均質な表面性状を得ることができ、高
密度基板用として十分に適用することを可能とする磁気
ディスク基板用アルミニウム合金が提供される。
Claims (5)
- 【請求項1】 Cu:0.031%(重量%、以下同
じ)以上0.050%未満、Mg:2.5〜5.5%、
Zn:0.05%を越え0.7%以下、Fe:0.00
7%以上0.05%未満を含有し、不純物としてのSi
を0.05%以下、Tiを0.01%以下、Bを0.0
05%以下に制限し、残部Alおよび不純物からなるこ
とを特徴とするジンケート処理性に優れた磁気ディスク
用アルミニウム合金。 - 【請求項2】 さらにMn:0.1%以下(0%を含ま
ず、以下同じ)、Cr:0.1%以下、V:0.2%以
下のうちの1種以上を含有することを特徴とする請求項
1記載のめっき処理性に優れた磁気ディスク用アルミニ
ウム合金。 - 【請求項3】 さらにBe:1〜100ppmを含有す
ることを特徴とする請求項1または請求項2記載のジン
ケート処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合
金。 - 【請求項4】 Cu含有量とZn含有量とが、0.85
%≧Zn(%)+5Cu(%)≧0.27%の関係にあ
ることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のジ
ンケート処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合
金。 - 【請求項5】 請求項1〜4の組成を有するアルミニウ
ム合金であって、該アルミニウム合金のマトリックス中
にSi−O系非金属化合物が存在しないか、またはマト
リックス中に存在するSi−O系非金属化合物の粒径
(長径と短径の平均、以下同じ)が5μm以下であるこ
とを特徴とするジンケート処理性に優れた磁気ディスク
用アルミニウム合金。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12434398A JPH11315338A (ja) | 1998-05-07 | 1998-05-07 | ジンケート処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12434398A JPH11315338A (ja) | 1998-05-07 | 1998-05-07 | ジンケート処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11315338A true JPH11315338A (ja) | 1999-11-16 |
Family
ID=14883020
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12434398A Pending JPH11315338A (ja) | 1998-05-07 | 1998-05-07 | ジンケート処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11315338A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5762612B1 (ja) * | 2014-09-27 | 2015-08-12 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク基板用アルミニウム合金板及びその製造方法、ならびに、磁気ディスクの製造方法 |
| JP2015196867A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-09 | 株式会社神戸製鋼所 | アルミニウム合金板 |
| WO2016190277A1 (ja) * | 2015-05-28 | 2016-12-01 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法、ならびに、当該磁気ディスク用アルミニウム合金基板を用いた磁気ディスク |
| WO2017018451A1 (ja) * | 2015-07-28 | 2017-02-02 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法 |
| JP2017031507A (ja) * | 2015-07-28 | 2017-02-09 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法 |
| JP2019167602A (ja) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク用アルミニウム合金板及びその製造方法、ならびに、当該磁気ディスク用アルミニウム合金板を用いた磁気ディスク |
| CN110527878A (zh) * | 2019-09-23 | 2019-12-03 | 东莞市灿煜金属制品有限公司 | 一种笔记本电脑专用铝合金的制造方法 |
-
1998
- 1998-05-07 JP JP12434398A patent/JPH11315338A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015196867A (ja) * | 2014-03-31 | 2015-11-09 | 株式会社神戸製鋼所 | アルミニウム合金板 |
| US9613648B2 (en) | 2014-09-27 | 2017-04-04 | Uacj Corporation | Aluminum alloy plate for magnetic disc substrate, method for manufacturing same, and method for manufacturing magnetic disc |
| JP5762612B1 (ja) * | 2014-09-27 | 2015-08-12 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク基板用アルミニウム合金板及びその製造方法、ならびに、磁気ディスクの製造方法 |
| CN107532245B (zh) * | 2015-05-28 | 2019-07-16 | 株式会社Uacj | 磁盘用铝合金基板及其制造方法、以及使用了该磁盘用铝合金基板的磁盘 |
| JPWO2016190277A1 (ja) * | 2015-05-28 | 2017-11-16 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法、ならびに、当該磁気ディスク用アルミニウム合金基板を用いた磁気ディスク |
| CN107532245A (zh) * | 2015-05-28 | 2018-01-02 | 株式会社Uacj | 磁盘用铝合金基板及其制造方法、以及使用了该磁盘用铝合金基板的磁盘 |
| WO2016190277A1 (ja) * | 2015-05-28 | 2016-12-01 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法、ならびに、当該磁気ディスク用アルミニウム合金基板を用いた磁気ディスク |
| US10755738B2 (en) | 2015-05-28 | 2020-08-25 | Uacj Corporation | Aluminum alloy substrate for magnetic discs and manufacturing method therefor, as well as magnetic disc using said aluminum alloy substrate for magnetic discs |
| JP2017031507A (ja) * | 2015-07-28 | 2017-02-09 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法 |
| WO2017018451A1 (ja) * | 2015-07-28 | 2017-02-02 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法 |
| CN107835863A (zh) * | 2015-07-28 | 2018-03-23 | 株式会社Uacj | 磁盘用铝合金基板及其制造方法 |
| JP2019167602A (ja) * | 2018-03-26 | 2019-10-03 | 株式会社Uacj | 磁気ディスク用アルミニウム合金板及びその製造方法、ならびに、当該磁気ディスク用アルミニウム合金板を用いた磁気ディスク |
| CN110527878A (zh) * | 2019-09-23 | 2019-12-03 | 东莞市灿煜金属制品有限公司 | 一种笔记本电脑专用铝合金的制造方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109563572B (zh) | 磁盘基板用铝合金板及其制造方法、磁盘 | |
| JP6427267B2 (ja) | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法、ならびに、当該磁気ディスク用アルミニウム合金基板を用いた磁気ディスク | |
| TWI789871B (zh) | 沃斯田鐵系不鏽鋼帶的製造方法 | |
| WO2018092547A1 (ja) | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及びその製造方法 | |
| WO2022138614A1 (ja) | 磁気ディスク用アルミニウム合金ディスクブランク及び磁気ディスク | |
| US20230111915A1 (en) | Aluminum alloy substrate for magnetic disks, and magnetic disk using said aluminum alloy substrate for magnetic disks | |
| JPH11315338A (ja) | ジンケート処理性に優れた磁気ディスク用アルミニウム合金 | |
| JPH06145927A (ja) | 磁気ディスク用Al−Mg系合金圧延板の製造法 | |
| JPH0545659B2 (ja) | ||
| JP2023071471A (ja) | 磁気ディスク用アルミニウム合金板、磁気ディスク用アルミニウム合金ブランクおよび磁気ディスク用アルミニウム合金サブストレート | |
| CN117904499A (zh) | 磁盘用铝合金板、磁盘用铝合金坯体和磁盘用铝合金基片 | |
| JPH02205651A (ja) | 磁気ディスク基板用アルミニウム合金 | |
| JPH02111839A (ja) | 優れたメッキ性を有するディスク用アルミニウム合金板とその製造方法 | |
| JPH07195150A (ja) | Hdd用アルミニウム合金の鋳造方法 | |
| JPH04341535A (ja) | 高密度コーティング型磁気ディスク用アルミニウム合金基板 | |
| JPS6327420B2 (ja) | ||
| JPH02159340A (ja) | 優れたメッキ性を有するディスク用アルミニウム合金板 | |
| JPH07331397A (ja) | 磁気ディスク基板用アルミニウム合金板の製造方法 | |
| JP2017166017A (ja) | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板 | |
| JPS627829A (ja) | 磁気デイスク基板用アルミニウム合金 | |
| JP7765915B2 (ja) | 磁気ディスク用アルミニウム合金基板及び当該磁気ディスク用アルミニウム合金基板を用いた磁気ディスク | |
| JP2002275568A (ja) | 磁気ディスク用アルミニウム合金及び磁気ディスク用基板 | |
| JP7474356B2 (ja) | 磁気ディスク用アルミニウム合金ディスクブランク及び磁気ディスク | |
| JPH01312054A (ja) | 磁気ディスク用アルミニウム合金及びその製造方法 | |
| JPH0499143A (ja) | NiPめっき性の良い磁気ディスク基板用アルミニウム合金 |