JPS6329251Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6329251Y2 JPS6329251Y2 JP17177980U JP17177980U JPS6329251Y2 JP S6329251 Y2 JPS6329251 Y2 JP S6329251Y2 JP 17177980 U JP17177980 U JP 17177980U JP 17177980 U JP17177980 U JP 17177980U JP S6329251 Y2 JPS6329251 Y2 JP S6329251Y2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- error
- calibration
- value
- comparator
- analyzer
- Prior art date
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- Expired
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 1
- 238000004904 shortening Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は連続分析装置の補助装置として使用
され、適当な基準量を用いて分析装置のゼロ点ド
リフトやスパンドリフトを自動的に補正する自動
校正装置に関する。
され、適当な基準量を用いて分析装置のゼロ点ド
リフトやスパンドリフトを自動的に補正する自動
校正装置に関する。
従来の自動校正装置は誤差の検出とその補助動
作を一定の周期で繰り返しておこなつており、ド
リフトが設定周期以上継続して生じる場合は十分
な補正がおこなえず、ドリフトが緩慢な場合でも
自動的に一定の設定周期で校正動作をおこなうの
で、フローセル形の分析装置では基準試料が無駄
に消費される欠点があつた。
作を一定の周期で繰り返しておこなつており、ド
リフトが設定周期以上継続して生じる場合は十分
な補正がおこなえず、ドリフトが緩慢な場合でも
自動的に一定の設定周期で校正動作をおこなうの
で、フローセル形の分析装置では基準試料が無駄
に消費される欠点があつた。
この考案は上記の不都合を解消した自動校正装
置を提供しようとするもので、以下この考案を図
面の実施例装置によつて説明する。
置を提供しようとするもので、以下この考案を図
面の実施例装置によつて説明する。
図面は連続ガス分析計に組み込まれた自動校正
装置のブロツク図で、１は分析計でこの出力は自
動校正装置の基準値比較器２に入る。基準比較器
２では、校正のために分析計１へ導入されるゼロ
点用ガスまたは既知濃度のスパン用の試料ガスの
基準量に対応した基準値が設定された基準値設定
器３の出力と分析計１からの校正時の出力値とが
比較され、その差または比が誤差検出器４で検出
され、この検出信号により分析計１の出力は補正
値出力器５で補正（校正）されて外部に出され
る。
装置のブロツク図で、１は分析計でこの出力は自
動校正装置の基準値比較器２に入る。基準比較器
２では、校正のために分析計１へ導入されるゼロ
点用ガスまたは既知濃度のスパン用の試料ガスの
基準量に対応した基準値が設定された基準値設定
器３の出力と分析計１からの校正時の出力値とが
比較され、その差または比が誤差検出器４で検出
され、この検出信号により分析計１の出力は補正
値出力器５で補正（校正）されて外部に出され
る。
他方、誤差記憶器６では、前回の校正時の誤差
の値を記憶し、記憶器７では今回の校正時の補正
値を記憶する。これら両者の差を誤差比較器８で
検出し、この差の値と、分析計精度上からの許容
値との比を演算して次回の校正時の時間間隔（周
期）が校正周期自動演算器９で決定される。この
決定された校正周期により校正時信号発生器１０
から分析計１および自動校正系内の次回校正開始
信号を出力する。すなわちガス分析計の場合はゼ
ロ点またはスパン校正基準量の試料ガスの導入と
共に自動校正系の動作を開始させる。
の値を記憶し、記憶器７では今回の校正時の補正
値を記憶する。これら両者の差を誤差比較器８で
検出し、この差の値と、分析計精度上からの許容
値との比を演算して次回の校正時の時間間隔（周
期）が校正周期自動演算器９で決定される。この
決定された校正周期により校正時信号発生器１０
から分析計１および自動校正系内の次回校正開始
信号を出力する。すなわちガス分析計の場合はゼ
ロ点またはスパン校正基準量の試料ガスの導入と
共に自動校正系の動作を開始させる。
一般に分析計においては、高精度の補正をおこ
なうためにデジタル方式によつて補正をおこなつ
ており、上記の実施例のものは前回の誤差信号値
と、今回の誤差信号値とをそれぞれ記憶し、その
差によつて校正周期を制御しているが、アナログ
的に補正する場合は、前回の誤差信号値のみを記
憶し、今回の誤差信号値との差を直接検出して、
その積分値によつて校正開始指令を発することが
できる。
なうためにデジタル方式によつて補正をおこなつ
ており、上記の実施例のものは前回の誤差信号値
と、今回の誤差信号値とをそれぞれ記憶し、その
差によつて校正周期を制御しているが、アナログ
的に補正する場合は、前回の誤差信号値のみを記
憶し、今回の誤差信号値との差を直接検出して、
その積分値によつて校正開始指令を発することが
できる。
この考案によれば、校正周期が自動的に決定さ
れることにより、分析計のドリフトの大小にかか
わらず精度が保たれ、さらにフローセルを用いた
分析計にあつてはドリフトが小さい場合に自動的
に校正周期が長くなり基準試料の消費も少なくす
ることができるものである。
れることにより、分析計のドリフトの大小にかか
わらず精度が保たれ、さらにフローセルを用いた
分析計にあつてはドリフトが小さい場合に自動的
に校正周期が長くなり基準試料の消費も少なくす
ることができるものである。
第１図はこの考案の一実施例の自動校正装置の
ブロツク図である。 １：分析計、２：基準値比較器、３：基準値設
定器、４：誤差検出器、５：補正値出力器、６：
誤差記憶器、７：記憶器、８：誤差比較器、９：
校正周期自動演算器、１０：校正時信号発生器。
ブロツク図である。 １：分析計、２：基準値比較器、３：基準値設
定器、４：誤差検出器、５：補正値出力器、６：
誤差記憶器、７：記憶器、８：誤差比較器、９：
校正周期自動演算器、１０：校正時信号発生器。
Claims (1)
- 測定中に基準量の試料に周期的に切換え、その
際の出力値と予め設定した基準値との誤差を検出
し、その誤差に応じて測定出力値を周期的に校正
する装置において、前回の誤差の値を記憶する誤
差記憶器と、この記憶値と今回の誤差値とを比較
する誤差比較器と、この比較器の出力によつて校
正周期を決定する演算器と、この演算器出力によ
り次回の校正指令信号を発する手段とを備え、基
準量の試料に対する誤差に応じて校正周期を短縮
あるいは延長するようにしたことを特徴とする自
動校正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17177980U JPS6329251Y2 (ja) | 1980-11-28 | 1980-11-28 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17177980U JPS6329251Y2 (ja) | 1980-11-28 | 1980-11-28 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5793858U JPS5793858U (ja) | 1982-06-09 |
| JPS6329251Y2 true JPS6329251Y2 (ja) | 1988-08-05 |
Family
ID=29530121
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17177980U Expired JPS6329251Y2 (ja) | 1980-11-28 | 1980-11-28 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6329251Y2 (ja) |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6311633Y2 (ja) * | 1981-05-22 | 1988-04-05 | ||
| JPS5973715A (ja) * | 1982-10-20 | 1984-04-26 | Fujitsu Ten Ltd | センサ処理装置 |
| EP0387031A3 (en) * | 1989-03-08 | 1991-04-10 | Westinghouse Electric Corporation | Automatic transducer excitation source testing system |
| JP4591105B2 (ja) * | 2004-05-31 | 2010-12-01 | 横河電機株式会社 | 校正方法 |
| JP2021001768A (ja) * | 2019-06-20 | 2021-01-07 | 株式会社アプリクス | 化学分析装置の校正方法 |
-
1980
- 1980-11-28 JP JP17177980U patent/JPS6329251Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5793858U (ja) | 1982-06-09 |
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