JPS6312011A - 基準電位発生回路 - Google Patents
基準電位発生回路Info
- Publication number
- JPS6312011A JPS6312011A JP15570386A JP15570386A JPS6312011A JP S6312011 A JPS6312011 A JP S6312011A JP 15570386 A JP15570386 A JP 15570386A JP 15570386 A JP15570386 A JP 15570386A JP S6312011 A JPS6312011 A JP S6312011A
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- JP
- Japan
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- reference potential
- diode
- transistor
- circuit
- mos transistor
- Prior art date
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
この発明は、例えばMO3型集積回路のTTLインター
フェース用に使用される基準電位発生回路に関する。
フェース用に使用される基準電位発生回路に関する。
(従来の技術)
例えば、TTLレベルの入力回路を構成する際には、第
3図に示すような基準電位発生回路が好都合である。こ
の基準電位発生回路は、負荷抵抗11に2つのPN接合
ダイオード12および13を直列接続したものである。
3図に示すような基準電位発生回路が好都合である。こ
の基準電位発生回路は、負荷抵抗11に2つのPN接合
ダイオード12および13を直列接続したものである。
この回路に適当なバイアス′R流を与えると、基準電位
vrには、各PN接合ダイオードでの電圧降下Vfの2
倍の電位が発生する。このダイオードでの電圧降下は約
0.8Vであるので、基準電位■rに発生する電位は約
1.6■となる。この値は、TTLレベルのしきい値(
0,8V、2.4V)の中間点に位置している。
vrには、各PN接合ダイオードでの電圧降下Vfの2
倍の電位が発生する。このダイオードでの電圧降下は約
0.8Vであるので、基準電位■rに発生する電位は約
1.6■となる。この値は、TTLレベルのしきい値(
0,8V、2.4V)の中間点に位置している。
この基準電位Vrは、TTLレベルの入力信号SをMO
Sレベルに変換するために、TTL入力回路に供給され
る。すなわち基準電位Vrは、バランス型のラッチ用回
路14のNチャンネル型MOSトランジスタ15のゲー
トに入力され、Nチャンネル型MOSトランジスタ16
のゲートに入力される入力信号Sの電圧値と比較される
。この結果、入力信号Sに応じたMOSレベルの信号が
TTL入力回路から出力される。
Sレベルに変換するために、TTL入力回路に供給され
る。すなわち基準電位Vrは、バランス型のラッチ用回
路14のNチャンネル型MOSトランジスタ15のゲー
トに入力され、Nチャンネル型MOSトランジスタ16
のゲートに入力される入力信号Sの電圧値と比較される
。この結果、入力信号Sに応じたMOSレベルの信号が
TTL入力回路から出力される。
基準電位Vrがそのゲートに入力されたトランジスタ1
5のドレイン電流ioは、 1oCC(Vr−Vtn)2 と表わすことができる。ここで、VtnはNチャンネル
型MOSトランジスタのしきい値電圧である。また、P
N接合ダイオードの順方向電流1rは、 IFa:exp((Vf−EQ)/kT)と表わすこと
ができる。ここで、バンドギャップEQは約1.1■で
ある。したがって、IFが与えられている時には、ダイ
オードでの電圧降下Vfは、 Vf−Ea−0丁 (αは定数) となる。このため、高温状態においてはダイオードの電
圧降下Vfの値が低くなるので、基準電位vrの値もそ
れにつれて低くなる。また、Nチャンネルトランジスタ
のしきい値電圧vtnが高い値であれば、トランジスタ
に流れるドレイン電流1oの値は大幅に減少する。した
がって、TTL入力回路の動作速度が遅くなるという問
題点がある。
5のドレイン電流ioは、 1oCC(Vr−Vtn)2 と表わすことができる。ここで、VtnはNチャンネル
型MOSトランジスタのしきい値電圧である。また、P
N接合ダイオードの順方向電流1rは、 IFa:exp((Vf−EQ)/kT)と表わすこと
ができる。ここで、バンドギャップEQは約1.1■で
ある。したがって、IFが与えられている時には、ダイ
オードでの電圧降下Vfは、 Vf−Ea−0丁 (αは定数) となる。このため、高温状態においてはダイオードの電
圧降下Vfの値が低くなるので、基準電位vrの値もそ
れにつれて低くなる。また、Nチャンネルトランジスタ
のしきい値電圧vtnが高い値であれば、トランジスタ
に流れるドレイン電流1oの値は大幅に減少する。した
がって、TTL入力回路の動作速度が遅くなるという問
題点がある。
(発明が解決しようとする問題点)
この発明は上記のような点に鑑みなされたもので、高温
状態でTTL入力回路の基準電位vrが低下した際にこ
のトランジスタのドレイン電流が減少するのを防ぎ、T
TL入力回路の動作速度を所定の値以上に維持できるよ
うに、基準電位の値がトランジスタのしきい値電圧に依
存する基準電位発生回路を提供しようとするものである
。
状態でTTL入力回路の基準電位vrが低下した際にこ
のトランジスタのドレイン電流が減少するのを防ぎ、T
TL入力回路の動作速度を所定の値以上に維持できるよ
うに、基準電位の値がトランジスタのしきい値電圧に依
存する基準電位発生回路を提供しようとするものである
。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
すなわちこの発明にあっては、負荷回路に直列接続され
た2つのダイオードのうちの一方のダイオードの陰極側
接続点にNチャンネル型MOSトランジスタを直列に接
続し、このトランジスタを上記ダイオードの陽極側電位
に応じてスイッチングするようにしたものである。
た2つのダイオードのうちの一方のダイオードの陰極側
接続点にNチャンネル型MOSトランジスタを直列に接
続し、このトランジスタを上記ダイオードの陽極側電位
に応じてスイッチングするようにしたものである。
(作用)
すなわちこのような構成の基準電位発生回路にあっては
、Nチャンネル型MOSトランジスタのしきい値電圧が
ダイオードの電圧降下よりも小さい場合にはダイオード
の電圧降下の2倍の値の基準電位を発生し、トランジス
タのしきい値電圧がダイオードの電圧降下よりも大きい
場合にはそのしきいl!!電圧とダオードの降下電圧と
の和の値の基準電位を発生するものである。
、Nチャンネル型MOSトランジスタのしきい値電圧が
ダイオードの電圧降下よりも小さい場合にはダイオード
の電圧降下の2倍の値の基準電位を発生し、トランジス
タのしきい値電圧がダイオードの電圧降下よりも大きい
場合にはそのしきいl!!電圧とダオードの降下電圧と
の和の値の基準電位を発生するものである。
(実施例)
以下図面を参照してこの発明の一実施例を説明する。第
1図<A)に示すように、例えば抵抗等から成る負荷回
路11には、2つのPN接合ダイオード12および13
が直列に接続されている。ダイオード12とダイオード
13との間の接続点には、Nチャンネル型MOSトラン
ジスタ17のゲート電極が接続されている。このMOS
トランジスタ17のドレイン電極はダイオード13の陰
漫に接続され、そのソース電極は接地されている。この
場合、このM OS型トランジスタのコンダクタンスは
負荷回路11よりも充分に大きな値を有するものである
。
1図<A)に示すように、例えば抵抗等から成る負荷回
路11には、2つのPN接合ダイオード12および13
が直列に接続されている。ダイオード12とダイオード
13との間の接続点には、Nチャンネル型MOSトラン
ジスタ17のゲート電極が接続されている。このMOS
トランジスタ17のドレイン電極はダイオード13の陰
漫に接続され、そのソース電極は接地されている。この
場合、このM OS型トランジスタのコンダクタンスは
負荷回路11よりも充分に大きな値を有するものである
。
Nチャンネル型MOSトランジスタ17のしきい値電圧
vtnがダイオード13の電圧降下Vfよりも小さい場
合には、このMOSトランジスタ11はオン状態となり
、MOSトランジスタ17のコンダクタンスが大きいた
めその電圧降下は無視することができ、発生される基準
電位vrは、Vr”p2Vf となる。
vtnがダイオード13の電圧降下Vfよりも小さい場
合には、このMOSトランジスタ11はオン状態となり
、MOSトランジスタ17のコンダクタンスが大きいた
めその電圧降下は無視することができ、発生される基準
電位vrは、Vr”p2Vf となる。
また、Nチャンネル型MOSトランジスタ17のしきい
値電圧vtnがダイオード13の電圧降下Vfよりも大
きな値を有する場合には、このMOSトランジスタ17
はそのゲート電位がytn以上になってようやくオン状
態となるため、発生される基準電位vrは、 Vr4Vf+Vtn となる。
値電圧vtnがダイオード13の電圧降下Vfよりも大
きな値を有する場合には、このMOSトランジスタ17
はそのゲート電位がytn以上になってようやくオン状
態となるため、発生される基準電位vrは、 Vr4Vf+Vtn となる。
第1図(B)は、Nチャンネル型MOSトランジスタ1
7のゲート電極をダイオード12の陽極に接続し、また
そのドレインおよびソース電極をダイオード12とダイ
オード13との間に直列に接続したものである。基準電
位発生回路をこのように構成した場合においても、ダイ
オード12とダイオード13の電圧降下は同じなので発
生される基準電位vrは第1図(A)と同様になる。す
なわち、MOSトランジスタ17のしきい値電圧vtn
がダイオード12の電圧降下Vfよりも小さい場合には
、基準電位vrは、 ■r〜2Vf となり、そのしきい値電圧Vtnがダイオード12の電
圧降下Vfよりも大きい場合には、vrsvr+vtn となる。
7のゲート電極をダイオード12の陽極に接続し、また
そのドレインおよびソース電極をダイオード12とダイ
オード13との間に直列に接続したものである。基準電
位発生回路をこのように構成した場合においても、ダイ
オード12とダイオード13の電圧降下は同じなので発
生される基準電位vrは第1図(A)と同様になる。す
なわち、MOSトランジスタ17のしきい値電圧vtn
がダイオード12の電圧降下Vfよりも小さい場合には
、基準電位vrは、 ■r〜2Vf となり、そのしきい値電圧Vtnがダイオード12の電
圧降下Vfよりも大きい場合には、vrsvr+vtn となる。
したがって、第1図(A)および(B)に示した回路か
ら発生される基準電位vrは、第2図に示すように、M
OS トランジスタ17のしきい値電圧vtnに依存し
て増加するようになる。このような基準電位Vrを発生
する基準電位発生回路をTTL入力回路に使用すると、
基準電位Vrがゲートi!極に供給される入力回路内の
MOS トランジスタのドレイン電流1oは、 I o CC(V r −V t n ) 2 ≧V
f2となり、一定値以上のドレイン電流、すなわち動作
速度を確保することができる。
ら発生される基準電位vrは、第2図に示すように、M
OS トランジスタ17のしきい値電圧vtnに依存し
て増加するようになる。このような基準電位Vrを発生
する基準電位発生回路をTTL入力回路に使用すると、
基準電位Vrがゲートi!極に供給される入力回路内の
MOS トランジスタのドレイン電流1oは、 I o CC(V r −V t n ) 2 ≧V
f2となり、一定値以上のドレイン電流、すなわち動作
速度を確保することができる。
尚、この実施例においては負荷回路11に抵抗を使用し
たが、ノーマリ−オンのMOSトランジスタを使用する
ことも可能である。また、基準電位■rの取出点とダイ
オード12との間に抵抗あるいはノーマリ−オンのMO
Sトランジスタを挿入して、基準電位Vrを全体として
上げても良い。
たが、ノーマリ−オンのMOSトランジスタを使用する
ことも可能である。また、基準電位■rの取出点とダイ
オード12との間に抵抗あるいはノーマリ−オンのMO
Sトランジスタを挿入して、基準電位Vrを全体として
上げても良い。
[発明の効果]
以上のようにこの発明によれば、発生される基準電位の
値をNチャンネル型MOSトランジスタのしきい値電圧
の値に依存するようにしたことにより、高部状態でTT
L入力回路の基準電位yrの値が低下した際にこのトラ
ンジスタのドレイン電流が減少することを効果的に防ぐ
ことができるようになり、TTL入力回路の動作速度を
一定値以上に維持できるようになる。
値をNチャンネル型MOSトランジスタのしきい値電圧
の値に依存するようにしたことにより、高部状態でTT
L入力回路の基準電位yrの値が低下した際にこのトラ
ンジスタのドレイン電流が減少することを効果的に防ぐ
ことができるようになり、TTL入力回路の動作速度を
一定値以上に維持できるようになる。
第1図(A)はこの発明の第1の実施例である基準電位
発生回路を説明する構成図、第1図(B)はこの発明の
第2の実施例を説明する構成図、第2図は第1図に示し
た基準電位発生回路の特性を示す図、第3図は従来の基
準電位発生回路を説明する構成図である。 11・・・負荷回路、12.13・・・ダイオード、1
7・・・Nチャンネル型MOSトランジスタ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 (A) (B) 第1図 ■「 第2図 第3図
発生回路を説明する構成図、第1図(B)はこの発明の
第2の実施例を説明する構成図、第2図は第1図に示し
た基準電位発生回路の特性を示す図、第3図は従来の基
準電位発生回路を説明する構成図である。 11・・・負荷回路、12.13・・・ダイオード、1
7・・・Nチャンネル型MOSトランジスタ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 (A) (B) 第1図 ■「 第2図 第3図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 基準電位発生端子に一端が接続された負荷回路と、 上記基準電位発生端子に接続された第1および第2のダ
イオードから成る直列回路と、 上記第1および第2のダイオードの選択された一方のダ
イオードの陰極側に直列接続されたNチャンネル型MO
Sトランジスタとを具備し、上記トランジスタを上記選
択されたダイオードの陽極電位に応じてスイッチングす
るようにしたことを特徴とする基準電位発生回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15570386A JPH061420B2 (ja) | 1986-07-02 | 1986-07-02 | 基準電位発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15570386A JPH061420B2 (ja) | 1986-07-02 | 1986-07-02 | 基準電位発生回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6312011A true JPS6312011A (ja) | 1988-01-19 |
| JPH061420B2 JPH061420B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=15611669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15570386A Expired - Fee Related JPH061420B2 (ja) | 1986-07-02 | 1986-07-02 | 基準電位発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061420B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0340843U (ja) * | 1989-08-31 | 1991-04-19 |
-
1986
- 1986-07-02 JP JP15570386A patent/JPH061420B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0340843U (ja) * | 1989-08-31 | 1991-04-19 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH061420B2 (ja) | 1994-01-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |