JPS63122197A - プリント回路ボードの処理方法 - Google Patents
プリント回路ボードの処理方法Info
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- JPS63122197A JPS63122197A JP62231254A JP23125487A JPS63122197A JP S63122197 A JPS63122197 A JP S63122197A JP 62231254 A JP62231254 A JP 62231254A JP 23125487 A JP23125487 A JP 23125487A JP S63122197 A JPS63122197 A JP S63122197A
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- Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
A、産業上の利用分野
本発明は、プリント回路のための基板の製造に関する。
より詳しくは、本発明は1表面装着とピン差込み孔(p
in−in−hole)技術に特に利点をもつプリント
回路ボードを製造するための、鋼上にニッケルをメッキ
する処理を有する、プリント回路ボードの製造処理に関
する6 B、従来技術 プリント回路基板を製造するための慣用的な処理は、い
くつかの主要な工程を有する。そのような工程の1つに
、回路が形成されることになる銅の層を絶縁基板上に設
けるということがある。そして、レジストを介して鋼上
にパターンを露出し、その後現像することにより回路パ
ターンが形成される。通常エツチング工程の後にはその
レベルの回路のために使用されたレジストの剥離が続き
、さらにレジストの付着、露光、現像工程が反復される
。次に、電気的接続がなされることになるタブ領域には
、それに続く工程でニッケルと金がメツキされる。そし
て、テスト、解析及び補修工程が行 米国特許第4306925号は、高密度プリント回路を
製造するための典型的な方法を開示する。
in−in−hole)技術に特に利点をもつプリント
回路ボードを製造するための、鋼上にニッケルをメッキ
する処理を有する、プリント回路ボードの製造処理に関
する6 B、従来技術 プリント回路基板を製造するための慣用的な処理は、い
くつかの主要な工程を有する。そのような工程の1つに
、回路が形成されることになる銅の層を絶縁基板上に設
けるということがある。そして、レジストを介して鋼上
にパターンを露出し、その後現像することにより回路パ
ターンが形成される。通常エツチング工程の後にはその
レベルの回路のために使用されたレジストの剥離が続き
、さらにレジストの付着、露光、現像工程が反復される
。次に、電気的接続がなされることになるタブ領域には
、それに続く工程でニッケルと金がメツキされる。そし
て、テスト、解析及び補修工程が行 米国特許第4306925号は、高密度プリント回路を
製造するための典型的な方法を開示する。
米国特許第4325780号は、プリント回路ボードを
作成するための別の方法を開示する。
作成するための別の方法を開示する。
C0発明が解決しようとする問題点
この発明の目的は、高密度のプリント回路の製造を可能
ならしめる処理方法を提供することにある。
ならしめる処理方法を提供することにある。
D0問題点を解決するための手段
本発明は、粗カード(raw card)を製造するた
めの処理を与え、絶縁基板に銅を付着するために慣用的
な処理を用いる。そしてその銅の表面全体に約10〜2
5マイクロインチ(0,000254〜0.00063
5■)の範囲の厚さでニッケルの層がメッキされる。そ
してニッケル層上にはネガティブ・レジストが付着され
、それは露光され現像される。次にタブ上に追加的なニ
ッケルと金の層が付着され、レジストが剥離される0次
に別のレジスト層が付着され、露光されて現像される。
めの処理を与え、絶縁基板に銅を付着するために慣用的
な処理を用いる。そしてその銅の表面全体に約10〜2
5マイクロインチ(0,000254〜0.00063
5■)の範囲の厚さでニッケルの層がメッキされる。そ
してニッケル層上にはネガティブ・レジストが付着され
、それは露光され現像される。次にタブ上に追加的なニ
ッケルと金の層が付着され、レジストが剥離される0次
に別のレジスト層が付着され、露光されて現像される。
そうして、この構造体が硬化される。次に。
回路パターン線を形成するためにエツチングが行なわれ
、続いてレジストが剥離される。その後テスト及び補修
工程が行なわれる。そして特定の用途に必要な保護コー
ティングが付着されて、構造体が硬化される。
、続いてレジストが剥離される。その後テスト及び補修
工程が行なわれる。そして特定の用途に必要な保護コー
ティングが付着されて、構造体が硬化される。
本願発明者らは、鋼上に薄いニッケル層を設けることに
より多くの利点が生じることを見出した。
より多くの利点が生じることを見出した。
すなわち、ニッケル・メッキした銅は回路パターンのエ
ツチング工程の間に呈するアンダーカットが小さく、導
線が密であるときに画定がきわめて良好になる。また、
貫通孔(スルー・ホール)内にもニッケル層が存在する
ので、ボードの信頼性が高まる。さらに、銅の腐食及び
マイグレーションの傾向はニッケルの上層により低減す
る。また、ニッケルと金のタブが最初にメッキされるの
で。
ツチング工程の間に呈するアンダーカットが小さく、導
線が密であるときに画定がきわめて良好になる。また、
貫通孔(スルー・ホール)内にもニッケル層が存在する
ので、ボードの信頼性が高まる。さらに、銅の腐食及び
マイグレーションの傾向はニッケルの上層により低減す
る。また、ニッケルと金のタブが最初にメッキされるの
で。
ボード全体を、メッキを均一な厚さでタブ上に沈積させ
る陰極として使用することができる。それに加えて、メ
ッキ工程の間に共通横棒(commoningbar)
が必要でないので、共通横棒に対する接続を除去する必
要なくボード・レベルで短絡及び開路テストを行うこと
ができる。
る陰極として使用することができる。それに加えて、メ
ッキ工程の間に共通横棒(commoningbar)
が必要でないので、共通横棒に対する接続を除去する必
要なくボード・レベルで短絡及び開路テストを行うこと
ができる。
E、実施例
本発明の工程の特徴をより明確化するために、先ず第2
図を参照して従来のプリント回路ボード製造の主要な工
程を説明する。プリント回路基板としての使用に適した
特性をもつ絶縁基板は1周知の方法を用いた銅クラツド
である。第2図は、基板全体に亘る所定のパターンにス
ルーホール(貫通孔)を穴あけすること(工程201)
に始まる全体の製造工程の一部のみを示している0次に
、工程202で、スルーホールを含む基板全体に銅がメ
ッキされる。ネガティブ・フォトレジストの付着(工程
204)の前に、工程203で洗浄及び清浄化などのさ
まざまな表面処理工程が行なわれなくてはならない、そ
して、付着されたフォトレジストは工程204で所望の
回路パターンに対応して露光及び現像される。その回路
パターンは、タブに対する接続部をもつ回路ボード表面
の周囲に共通横棒または窓を有する。工程205では、
余剰の銅を除去するためにエツチング処理が行なわれる
。
図を参照して従来のプリント回路ボード製造の主要な工
程を説明する。プリント回路基板としての使用に適した
特性をもつ絶縁基板は1周知の方法を用いた銅クラツド
である。第2図は、基板全体に亘る所定のパターンにス
ルーホール(貫通孔)を穴あけすること(工程201)
に始まる全体の製造工程の一部のみを示している0次に
、工程202で、スルーホールを含む基板全体に銅がメ
ッキされる。ネガティブ・フォトレジストの付着(工程
204)の前に、工程203で洗浄及び清浄化などのさ
まざまな表面処理工程が行なわれなくてはならない、そ
して、付着されたフォトレジストは工程204で所望の
回路パターンに対応して露光及び現像される。その回路
パターンは、タブに対する接続部をもつ回路ボード表面
の周囲に共通横棒または窓を有する。工程205では、
余剰の銅を除去するためにエツチング処理が行なわれる
。
次に工程206でレジストが剥離され、基板上の所望の
パターン中に接続タブを与えるために、工程207でレ
ジストの付着、露光及び現像が行なわれる。そしてタブ
には順次ニッケルと金がメッキされる(工程208)、
次にレジストが剥離され(工程209)、共通横棒が除
去されて(工程201)、その後テスト及び補修が行な
われる。
パターン中に接続タブを与えるために、工程207でレ
ジストの付着、露光及び現像が行なわれる。そしてタブ
には順次ニッケルと金がメッキされる(工程208)、
次にレジストが剥離され(工程209)、共通横棒が除
去されて(工程201)、その後テスト及び補修が行な
われる。
第1図は1本発明のプリント回路ボード製造工程を示す
フローチャートである。これにおいて、先ず、工程10
1で、飼クラッド絶縁基板に、ドリルなどにより予定の
間隔で孔があけられる。その基板には次に、穴あけされ
たスルーホールを含む全体に銅がメッキされる(工程1
02)。
フローチャートである。これにおいて、先ず、工程10
1で、飼クラッド絶縁基板に、ドリルなどにより予定の
間隔で孔があけられる。その基板には次に、穴あけされ
たスルーホールを含む全体に銅がメッキされる(工程1
02)。
本発明によれば1次の工程103は、銅の表面とスルー
ホールにニッケルの薄層を電気メッキすることである。
ホールにニッケルの薄層を電気メッキすることである。
ニッケルは、濃度250〜500g/Rの低応力スルフ
ァミン酸ニッケル・メッキ浴から、゛電流密度20A/
平方フィート(0,0215A/cd)1時間5〜12
分でメッキされ。
ァミン酸ニッケル・メッキ浴から、゛電流密度20A/
平方フィート(0,0215A/cd)1時間5〜12
分でメッキされ。
これにより厚さ約10〜25マイクロ・インチ(0,0
00254〜O,000635mm)のニッケル層が得
られる。
00254〜O,000635mm)のニッケル層が得
られる。
電気接点タブを画定するために慣用的なフォトリソグラ
フ処理が使用される。すなわち工程104で、ネガティ
ブ・フォトレジストがニッケル層上に付着される。この
周体は、スルーホールの開口を被覆するときに、メッキ
・マスクとしても働く。そして、タブ・パターンを形成
するために、ガラス・マスターを介して紫外光に対する
露光が行なわれる。そのレジストは、その特性に従って
現像される。
フ処理が使用される。すなわち工程104で、ネガティ
ブ・フォトレジストがニッケル層上に付着される。この
周体は、スルーホールの開口を被覆するときに、メッキ
・マスクとしても働く。そして、タブ・パターンを形成
するために、ガラス・マスターを介して紫外光に対する
露光が行なわれる。そのレジストは、その特性に従って
現像される。
ボード基板は次に工程105で、タブ領域に約80〜1
00マイクロ・インチ(0,00203〜0.0025
4am)の厚いニッケルの沈積層を与えるためにニッケ
ル・メッキ浴に配置される。
00マイクロ・インチ(0,00203〜0.0025
4am)の厚いニッケルの沈積層を与えるためにニッケ
ル・メッキ浴に配置される。
ボードは次に水でリンスされ、約30〜150マイクロ
・インチ(0,00076〜0.00381■)のHさ
のソフトまたはハードの金層を与えるために全電気メッ
キ浴に浸漬される。この電気メツキ工程は、約5〜15
A/平方フイート(0゜0054〜0.0161A/a
j)の電流密度で実行される。
・インチ(0,00076〜0.00381■)のHさ
のソフトまたはハードの金層を与えるために全電気メッ
キ浴に浸漬される。この電気メツキ工程は、約5〜15
A/平方フイート(0゜0054〜0.0161A/a
j)の電流密度で実行される。
次に、フォトレジストが剥離され(工程106)、工程
107で、フォトレジストが付着されて1回路パターン
・マスクを介して紫外光に露光され。
107で、フォトレジストが付着されて1回路パターン
・マスクを介して紫外光に露光され。
そのレジストの特性と必要条件に従って現像される0次
に、レジスト中に残っている溶剤を追い出すためにポス
トベーク処理が行なわれ、これによりレジストと回路ボ
ード基板の間の十分な接着が保証される。
に、レジスト中に残っている溶剤を追い出すためにポス
トベーク処理が行なわれ、これによりレジストと回路ボ
ード基板の間の十分な接着が保証される。
ボードは次に、工程108で、ニッケルと銅を同時にエ
ツチングするためにエツチング浴中に配置される。この
とき、ニッケル層は銅層よりもはるかに厚い、この目的
のためには、過硫酸アンモニウム、塩化第二鉄及び塩化
第一銅などの慣用的なエツチング剤が適している。この
工程のためには、上記3つのエツチング剤に、室温で約
15分と、3分と、5分の浸漬で十分であることが分か
つている0次に工程109で、好適な溶剤にディプする
ことにより、レジストが剥離される。そして、工程11
0で、必要に応じてテスト及び補修処理が行なわれる。
ツチングするためにエツチング浴中に配置される。この
とき、ニッケル層は銅層よりもはるかに厚い、この目的
のためには、過硫酸アンモニウム、塩化第二鉄及び塩化
第一銅などの慣用的なエツチング剤が適している。この
工程のためには、上記3つのエツチング剤に、室温で約
15分と、3分と、5分の浸漬で十分であることが分か
つている0次に工程109で、好適な溶剤にディプする
ことにより、レジストが剥離される。そして、工程11
0で、必要に応じてテスト及び補修処理が行なわれる。
この時点でボードは、保護コーティング及び素子の取付
の準備が完了したことになる。
の準備が完了したことになる。
第1図の処理は、回路が銅層に形成される前にタブまた
は電気的接続をメッキすることを規定していることに注
意されたい、ボード自体は、その全体に亘って、タブ上
にニッケルとそれに続く金層をメッキするための電気メ
ツキ工程の間に、陰極となる。また、第2図(従来技術
)の処理に従って形成されたタブは、第1図(本発明)
の処理によって形成されたタブはどには平坦にメッキさ
れないことが観察されている。
は電気的接続をメッキすることを規定していることに注
意されたい、ボード自体は、その全体に亘って、タブ上
にニッケルとそれに続く金層をメッキするための電気メ
ツキ工程の間に、陰極となる。また、第2図(従来技術
)の処理に従って形成されたタブは、第1図(本発明)
の処理によって形成されたタブはどには平坦にメッキさ
れないことが観察されている。
表1
銅のエツチング ニッケル・メッキの ガラス・マ
スター線幅 エツチング線幅 の線
幅1) 3.55 ミル 3.85
ミル 4.6 ミル2) 3.65
ミル 3.65 ミル 4.
5 ミル3) 3.35 ミル 3.
85 ミル 4.3 ミル4) 、 3
.15 ミル 3.80 ミル
4.6 ミル5) 3.40 ミル
4.00 ミル 4.6 ミル6)
3.50 ミル 3.80 ミル
4.4 ミル7) 3.55 ミル
3.90 ミル 4.6 ミ
ル8) 3.45 ミル 3.85
ミル 4.6 ミル9) 3.6
5 ミル 3.90 ミル 4
.4 ミル10) 3.45 ミル 3
.85 ミル 4.3 ミル11)
3.65 ミル 3.95 ミル
4.6 ミル12) 3.fi5 ミル
3.70 ミル 4.3 ミル
13) 3.50 ミ/L/ 3,9
0 ミ/L/ 4.4 ミル14)
3.55 ミル 3.85 ミル
4.4 ミル15) 3.40 ミル
3.95 ミル 4.4 ミル1
6) 3.45 ミル 3.70 ミル
4.5 ミル17) 3.75 ミ
ル 3.85 ミル 4.3
ミル18) 3.25 ミル 3.
80 ミル 4.4 ミル19)
3.50 ミル 3.80 ミル
4.5 ミル20) 3.40 ミル
3.85ミル 4.5ミルサンプル数
:20 サンプル数:20平均=3.4900
ミル 平均=3.8400ミル標準偏差=O,145
6標準偏差=0.0868最小=3.1500ミル
最小=3.6500ミル最大=3.7500ミル 最
大=4.0OOOミル×1ミル=0.0254ml 表1は、第2図に従って処理された回路線の測定幅と、
第1図に従って処理されたニッケル・メッキ線の」り定
幅と、パターンをフォトリソグラフするために使用され
たガラス・マスターの線幅を対比する図である。表1の
20個のサンプルは。
スター線幅 エツチング線幅 の線
幅1) 3.55 ミル 3.85
ミル 4.6 ミル2) 3.65
ミル 3.65 ミル 4.
5 ミル3) 3.35 ミル 3.
85 ミル 4.3 ミル4) 、 3
.15 ミル 3.80 ミル
4.6 ミル5) 3.40 ミル
4.00 ミル 4.6 ミル6)
3.50 ミル 3.80 ミル
4.4 ミル7) 3.55 ミル
3.90 ミル 4.6 ミ
ル8) 3.45 ミル 3.85
ミル 4.6 ミル9) 3.6
5 ミル 3.90 ミル 4
.4 ミル10) 3.45 ミル 3
.85 ミル 4.3 ミル11)
3.65 ミル 3.95 ミル
4.6 ミル12) 3.fi5 ミル
3.70 ミル 4.3 ミル
13) 3.50 ミ/L/ 3,9
0 ミ/L/ 4.4 ミル14)
3.55 ミル 3.85 ミル
4.4 ミル15) 3.40 ミル
3.95 ミル 4.4 ミル1
6) 3.45 ミル 3.70 ミル
4.5 ミル17) 3.75 ミ
ル 3.85 ミル 4.3
ミル18) 3.25 ミル 3.
80 ミル 4.4 ミル19)
3.50 ミル 3.80 ミル
4.5 ミル20) 3.40 ミル
3.85ミル 4.5ミルサンプル数
:20 サンプル数:20平均=3.4900
ミル 平均=3.8400ミル標準偏差=O,145
6標準偏差=0.0868最小=3.1500ミル
最小=3.6500ミル最大=3.7500ミル 最
大=4.0OOOミル×1ミル=0.0254ml 表1は、第2図に従って処理された回路線の測定幅と、
第1図に従って処理されたニッケル・メッキ線の」り定
幅と、パターンをフォトリソグラフするために使用され
たガラス・マスターの線幅を対比する図である。表1の
20個のサンプルは。
10倍の倍率のmugを用いて測定されたものである。
各行のデータにつき全体で100個のボードが検査され
た。各ボードからは5個の線が測定され、それらは単一
の値に平均された。尚、設計された1回路の公称線幅は
4.0ミルであった。
た。各ボードからは5個の線が測定され、それらは単一
の値に平均された。尚、設計された1回路の公称線幅は
4.0ミルであった。
必要とされる線幅を得るべくエッチ・バックを補償する
ために、わずかに広い線幅の図版が設けられた。
ために、わずかに広い線幅の図版が設けられた。
表1からは、ニッケル・メッキされた線は、ニッケルの
ない線よりも偏差が小さいということが見てとれる。ニ
ッケルの上層をもつサンプルはまた、線の最大と最小値
の間の差がより小さい、さらにまた、線の画定がニッケ
ル上層をもつボードの方がよく、どの場合にも線幅の測
定値が、ガラス・マスターの線幅により近いということ
が観察された。
ない線よりも偏差が小さいということが見てとれる。ニ
ッケルの上層をもつサンプルはまた、線の最大と最小値
の間の差がより小さい、さらにまた、線の画定がニッケ
ル上層をもつボードの方がよく、どの場合にも線幅の測
定値が、ガラス・マスターの線幅により近いということ
が観察された。
この現像は、銅線及びニッケル・メッキした銅線の断面
図にそれぞれ整合されたガラス・マスター30の一部を
図式的に示す第3図に例示されている。すなわち、第2
図の処理に従って製造された銅線は、エツチング工程の
後で参照番号32で示す断面図をもち、一方、ニッケル
・メッキされた銅線は、参照番号34で示す断面図をも
つ。また、図版の線幅は参照番号36で示されている。
図にそれぞれ整合されたガラス・マスター30の一部を
図式的に示す第3図に例示されている。すなわち、第2
図の処理に従って製造された銅線は、エツチング工程の
後で参照番号32で示す断面図をもち、一方、ニッケル
・メッキされた銅線は、参照番号34で示す断面図をも
つ。また、図版の線幅は参照番号36で示されている。
ニッケル・メッキされた線はその上方の幅がより広く、
すなわちアンダー・カットが小さい。
すなわちアンダー・カットが小さい。
補修作業は、ニッケル上層をもつ構造体では効率が向上
される。ニッケル層は、銅とはんだの間の障壁として働
く。この長所は、メッキされたスルー・ホールと表面素
子取付の修理に特に重要である。すなわち、本発明の方
法に従って処理されたボードの特定の領域を、銅を欠く
ことなく修理し得る回数が相当に増加する。
される。ニッケル層は、銅とはんだの間の障壁として働
く。この長所は、メッキされたスルー・ホールと表面素
子取付の修理に特に重要である。すなわち、本発明の方
法に従って処理されたボードの特定の領域を、銅を欠く
ことなく修理し得る回数が相当に増加する。
表 2(引張り試験)
1、 31 1. 61 26
. 622、 68 2. 60
27. 653、 64 3.6
1 28. 584、 72
4. 61 29. 635、 53
5. 57 30. 636、
39 6. 63 31.
627、 68 7. 62
32. 658.64 g、 5
9 33. 619、 68
9. 62 34. 6610、 68
10. 60 35. 571
1、 60 11. 62 36
. 6112、 68 12. 59
37. 6113、 63 13
. 62 38. 5014、 56
14. 62 39. 5515
、 70 15. 63 40.
5916、 53 16. 62
41. 6017、 71 1?、
62 42. 6318、 68
18. 63 43. 6019
、 62 19. 63 44.
5g20、 70 20. 59
45. 6221、 70 21.
59 46. 6222、 70
22. 55 47. 5923、
33 23. 59 48.
5?24、 59 24. 63
49. 6325、 66 25.
61 50. 6326、 70 27、 56 28、 63 29、 62 30、 62 平均(X):61.55 平均(X):60.
70標準偏差(S):10.49 標準偏差(S)
: 2.81X−2,3”3S=37.lI X−2
,338=54.16最大ニア2 最大
=60最小:31 最小:50表2は
、溶着補修試験の結果を示す。これらの試験は、銅線が
、銅に対すると同じ程度にニッケル・メタラージに接着
することを検証するために行なおれた。溶着補修は、2
.0ミル径の銅ワイヤを用いて行なわれた。補修工程の
後、ワイヤが引張試験された。接着されたワイヤに対す
る予定の故障基準は6.0グラムまたはそれ以下であり
、それは回路線と平行な方向に引張られた。
. 622、 68 2. 60
27. 653、 64 3.6
1 28. 584、 72
4. 61 29. 635、 53
5. 57 30. 636、
39 6. 63 31.
627、 68 7. 62
32. 658.64 g、 5
9 33. 619、 68
9. 62 34. 6610、 68
10. 60 35. 571
1、 60 11. 62 36
. 6112、 68 12. 59
37. 6113、 63 13
. 62 38. 5014、 56
14. 62 39. 5515
、 70 15. 63 40.
5916、 53 16. 62
41. 6017、 71 1?、
62 42. 6318、 68
18. 63 43. 6019
、 62 19. 63 44.
5g20、 70 20. 59
45. 6221、 70 21.
59 46. 6222、 70
22. 55 47. 5923、
33 23. 59 48.
5?24、 59 24. 63
49. 6325、 66 25.
61 50. 6326、 70 27、 56 28、 63 29、 62 30、 62 平均(X):61.55 平均(X):60.
70標準偏差(S):10.49 標準偏差(S)
: 2.81X−2,3”3S=37.lI X−2
,338=54.16最大ニア2 最大
=60最小:31 最小:50表2は
、溶着補修試験の結果を示す。これらの試験は、銅線が
、銅に対すると同じ程度にニッケル・メタラージに接着
することを検証するために行なおれた。溶着補修は、2
.0ミル径の銅ワイヤを用いて行なわれた。補修工程の
後、ワイヤが引張試験された。接着されたワイヤに対す
る予定の故障基準は6.0グラムまたはそれ以下であり
、それは回路線と平行な方向に引張られた。
表2は、ニッケル・メッキされた回路が、銅だけの回路
よりも標準偏差が小さいことを示す。また、熱伝導は、
ニッケル・メッキ回路の場合の方が、ニッケル・メッキ
されていない回路よりも均一であることが窺われた。ま
た、溶着された銅ワイヤは、ニッケル表面に対して、銅
表面と同様の接着特性を有する。
よりも標準偏差が小さいことを示す。また、熱伝導は、
ニッケル・メッキ回路の場合の方が、ニッケル・メッキ
されていない回路よりも均一であることが窺われた。ま
た、溶着された銅ワイヤは、ニッケル表面に対して、銅
表面と同様の接着特性を有する。
それぞれ第1図及び第2図の方法に従って製造された2
00個毎以上の、すなわち合計400個以上のボード視
覚及び顕微鏡検査により、第1図の本発明の処理を用い
た場合の方が、良品のパネルの歩どまりが高いことが分
かった。
00個毎以上の、すなわち合計400個以上のボード視
覚及び顕微鏡検査により、第1図の本発明の処理を用い
た場合の方が、良品のパネルの歩どまりが高いことが分
かった。
F9発明の効果
本発明に基づく処理は、良好な幾何形状とaNJ隔が小
さい改善された線の解像度をもつ回路ボードを与える。
さい改善された線の解像度をもつ回路ボードを与える。
というのは、ニッケル・メッキした層は、エツチング工
程の間の銅回路のアンダーカットが減少するからである
。尚、きわめて微細な線には、メタラージの腐食または
マイグレーションを防止し、また素子装着作業の間のは
んだブリッジを防止するために、特殊な光と、エネルギ
ー感応性保護コーティングが必要であることを、この分
野の熟練した当業者は理解するであろう。
程の間の銅回路のアンダーカットが減少するからである
。尚、きわめて微細な線には、メタラージの腐食または
マイグレーションを防止し、また素子装着作業の間のは
んだブリッジを防止するために、特殊な光と、エネルギ
ー感応性保護コーティングが必要であることを、この分
野の熟練した当業者は理解するであろう。
本発明は、表面取付素子の場合のみならずピン穴挿入(
pin −in −hole)素子の場合にも同様に適
用される。尚、上記の実施例では、プリント回路ボード
の一方の側のみについて説明したが、ニッケル・メッキ
は平坦な基板の両側で行なわれ、そのようにして処理さ
れたボードを両側面素子取付の適用技術に使用できるこ
とを当業者なら理解するであろう。
pin −in −hole)素子の場合にも同様に適
用される。尚、上記の実施例では、プリント回路ボード
の一方の側のみについて説明したが、ニッケル・メッキ
は平坦な基板の両側で行なわれ、そのようにして処理さ
れたボードを両側面素子取付の適用技術に使用できるこ
とを当業者なら理解するであろう。
また、化学的及び物理的性質が類似していることから、
銅の上層としてニッケルの代わりにコバルトを使用し得
ることに注意されたい1本発明の説明をニッケルを用い
て進めたのは、コバルトはコストが高いからである。
銅の上層としてニッケルの代わりにコバルトを使用し得
ることに注意されたい1本発明の説明をニッケルを用い
て進めたのは、コバルトはコストが高いからである。
さらに、フォトレジストに関連する上述の説明を1本発
明に対する限定と見なすべきではないことを理解された
い、もしポジティブ・フォトレジストを使用するなら、
ポジティブ・フォトレジストは選択的に露光できるがゆ
えにレジストを剥離し再塗布することが不要であるので
、いくつかの工程を除去し得る。
明に対する限定と見なすべきではないことを理解された
い、もしポジティブ・フォトレジストを使用するなら、
ポジティブ・フォトレジストは選択的に露光できるがゆ
えにレジストを剥離し再塗布することが不要であるので
、いくつかの工程を除去し得る。
第1図は1本発明の処理工程のフローチャート、第2図
は、従来技術の処理工程のフローチャート。 第3図は、線の断面形状を示す図である。 32・・・・銅層、34・・・・ニッケル層6出願人
インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポ
レーション 代理人 弁理士 山 本 仁 朗(外1名)
は、従来技術の処理工程のフローチャート。 第3図は、線の断面形状を示す図である。 32・・・・銅層、34・・・・ニッケル層6出願人
インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポ
レーション 代理人 弁理士 山 本 仁 朗(外1名)
Claims (3)
- (1)スルー・ホールのパターンをもち、銅をメッキさ
れてなる基板からプリント回路ボードを製造するための
方法において、 上記銅の層に回路を形成する前に、上記基板の表面とス
ルー・ホールにニッケルの層を付着することを特徴とす
る、 プリント回路ボードの処理方法。 - (2)上記ニッケル層の付着が、濃度約250ないし5
00g/lの過硫酸ニッケルから電気メッキされる特許
請求の範囲第(1)項記載の方法。 - (3)上記付着されるニッケル層の厚さが、約0.00
0254ないし0.000635mmである特許請求の
範囲第(1)項または第(2)項記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US06/925,583 US4756795A (en) | 1986-10-31 | 1986-10-31 | Raw card fabrication process with nickel overplate |
| US925583 | 1986-10-31 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63122197A true JPS63122197A (ja) | 1988-05-26 |
Family
ID=25451955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62231254A Pending JPS63122197A (ja) | 1986-10-31 | 1987-09-17 | プリント回路ボードの処理方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4756795A (ja) |
| EP (1) | EP0265629A3 (ja) |
| JP (1) | JPS63122197A (ja) |
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| KR100899588B1 (ko) | 2000-10-26 | 2009-05-27 | 오우크-미츠이, 인크 . | 인쇄 회로 기판 제조에서 옥사이드 공정을 대체하고 미세라인을 제조하기 위해 구리 포일을 금속 처리하는 인쇄회로 기판 제조 방법 |
| JP2010510929A (ja) * | 2006-11-30 | 2010-04-08 | ファン・デル・フェルデン・バルケメイヤ・ゲーエムベーハー | フィン付き舵 |
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| US4946563A (en) * | 1988-12-12 | 1990-08-07 | General Electric Company | Process for manufacturing a selective plated board for surface mount components |
| US4964947A (en) * | 1989-01-20 | 1990-10-23 | Casio Computer Co., Ltd. | Method of manufacturing double-sided wiring substrate |
| US5013402A (en) * | 1989-01-20 | 1991-05-07 | Casio Computer Co., Ltd. | Method of manufacturing double-sided wiring substrate |
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1986
- 1986-10-31 US US06/925,583 patent/US4756795A/en not_active Expired - Fee Related
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1987
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0265629A2 (en) | 1988-05-04 |
| EP0265629A3 (en) | 1989-06-28 |
| US4756795A (en) | 1988-07-12 |
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