JPS63127497A - シフトレジスタ - Google Patents
シフトレジスタInfo
- Publication number
- JPS63127497A JPS63127497A JP61271138A JP27113886A JPS63127497A JP S63127497 A JPS63127497 A JP S63127497A JP 61271138 A JP61271138 A JP 61271138A JP 27113886 A JP27113886 A JP 27113886A JP S63127497 A JPS63127497 A JP S63127497A
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- JP
- Japan
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- inverter
- stage
- channel mos
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- Granted
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- 210000000352 storage cell Anatomy 0.000 claims description 10
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 claims description 5
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Shift Register Type Memory (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はシフトレジスタに関し、特にレーシングを起こ
すことなく安定したシフl−動作をさせることができ、
かつ素子数の少ないシフ)・レジスタに関する。
すことなく安定したシフl−動作をさせることができ、
かつ素子数の少ないシフ)・レジスタに関する。
従来のスタティックシフトレジスタはDタイプフリップ
フロップ等の素子数の多いものを記憶素子として使用し
ていた。
フロップ等の素子数の多いものを記憶素子として使用し
ていた。
上述した従来のシフトレジスタは、ディジタル情報を格
納する記憶素子として、Dタイプフリップフロップ(以
下D −F/F )が使用されていることが多いが、こ
のD−F/Fそのものが素子数が多く、さらにセット、
リセット機能をもたせようとすると素子数が増大し、特
に集積回路上に構成する場合に面積が大きくなってしま
うという欠点があった。
納する記憶素子として、Dタイプフリップフロップ(以
下D −F/F )が使用されていることが多いが、こ
のD−F/Fそのものが素子数が多く、さらにセット、
リセット機能をもたせようとすると素子数が増大し、特
に集積回路上に構成する場合に面積が大きくなってしま
うという欠点があった。
本発明の目的は、簡単な構成により上記欠点を除去し、
安定に動作するシフトレジスタを提供することにある。
安定に動作するシフトレジスタを提供することにある。
本発明のシフトレジストの構成は、1ビット分の情報を
格納する第N段の記憶セルは、第1のイバータの入力と
第2のインバータの出力間および前記第1のインバータ
の出力と前記第2のインバータの入力間が第1の制御線
を共通に接続したゲート入力ともつ第1および第2の単
チャンネルMOSトランジスタを介してそれぞれ接続さ
れ、前記第N段と第N+1段の記憶セル間は前記第N段
の第2のインバータの入力と前記第N+1段に配置され
る記憶セルにおける第1のインバータの出力間および前
記N段の第2のインバータの出力と前記N+1段に配置
される記憶セルにおける第1のインバータの入力間が第
2の制御線を共通に接続したゲート入力をもつ第3およ
び第4の単チャンネルMOSトランジスタを介して接続
され、前記第2および第4の単チャンネルMO3トラン
ジスタは前記第1および第3の単チャンネルMoSトラ
ンジスタよりもオン抵抗が小さくかつ前記第3および第
4の単チャンネルM OS )ランジスタ、前記N段の
記憶セルの第2のインバータ、前記第N+1段における
記憶セルの第1のインバータにより、シフト時に一時的
に記憶セルと同じ構成になることを特徴とする。
格納する第N段の記憶セルは、第1のイバータの入力と
第2のインバータの出力間および前記第1のインバータ
の出力と前記第2のインバータの入力間が第1の制御線
を共通に接続したゲート入力ともつ第1および第2の単
チャンネルMOSトランジスタを介してそれぞれ接続さ
れ、前記第N段と第N+1段の記憶セル間は前記第N段
の第2のインバータの入力と前記第N+1段に配置され
る記憶セルにおける第1のインバータの出力間および前
記N段の第2のインバータの出力と前記N+1段に配置
される記憶セルにおける第1のインバータの入力間が第
2の制御線を共通に接続したゲート入力をもつ第3およ
び第4の単チャンネルMOSトランジスタを介して接続
され、前記第2および第4の単チャンネルMO3トラン
ジスタは前記第1および第3の単チャンネルMoSトラ
ンジスタよりもオン抵抗が小さくかつ前記第3および第
4の単チャンネルM OS )ランジスタ、前記N段の
記憶セルの第2のインバータ、前記第N+1段における
記憶セルの第1のインバータにより、シフト時に一時的
に記憶セルと同じ構成になることを特徴とする。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の双方向シフ)へレジスタの
部分回路図、第2図(a>、(b)は第1図のシフト動
作時のタイミングチャートである。
部分回路図、第2図(a>、(b)は第1図のシフト動
作時のタイミングチャートである。
第1図において1〜4は記憶素子を構成するCMOSイ
ンバータ、5〜7.5′〜7′はNチャネルエンハンス
メントMO3)ランジスタ(以下Nチャネルトランジス
タと略す。ただし、5〜7は5′〜7′よりオン抵抗が
小さいNチャネルトランジスタである。)、8はAND
ゲート、9はN A N Dゲート、10はインバータ
、11はシフ1〜制御端子、12〜13はクロック入力
端子、14.15はそれぞれ第N段目、第N+1段目の
記憶素子である。
ンバータ、5〜7.5′〜7′はNチャネルエンハンス
メントMO3)ランジスタ(以下Nチャネルトランジス
タと略す。ただし、5〜7は5′〜7′よりオン抵抗が
小さいNチャネルトランジスタである。)、8はAND
ゲート、9はN A N Dゲート、10はインバータ
、11はシフ1〜制御端子、12〜13はクロック入力
端子、14.15はそれぞれ第N段目、第N+1段目の
記憶素子である。
シフト動作させる時には、端子11にハイレベル電圧を
加え、端子12.13には第2図(a>に示ずクロック
パルスのφl、φ2をそれぞれ与えておく。これにより
ゲーI〜8.9には、それぞれ第2図(b)に示すよう
にクロックパルスφ1、C752が出力される。
加え、端子12.13には第2図(a>に示ずクロック
パルスのφl、φ2をそれぞれ与えておく。これにより
ゲーI〜8.9には、それぞれ第2図(b)に示すよう
にクロックパルスφ1、C752が出力される。
第2図(b)において区間■ではNチャネルトランジス
タ5〜7および5′〜7′がすべてオフするため、N段
およびN+1段目の記憶素子111および15に貯えら
れているデータはCM OSインバータ1〜4のゲート
容量に一時的に保存されたままの状態になる。区間口で
はNチャネルトランジスタ6と6′のみがオンするため
、CM OSインバータ2.3は電気的に接続されるが
、Nチャネル1〜ランジスタロのオン抵抗が6′のもの
より小さいため、CMOSインバータ2のゲーl〜容量
に貯えられていたデータの方が先にCMOSインバータ
3に伝わり、そのデータが再びCMOSインバータ2に
フィードバックされるため、CMOSインバータ2のも
つデータを確実にCM OSインバータ3に転送するこ
とができる。
タ5〜7および5′〜7′がすべてオフするため、N段
およびN+1段目の記憶素子111および15に貯えら
れているデータはCM OSインバータ1〜4のゲート
容量に一時的に保存されたままの状態になる。区間口で
はNチャネルトランジスタ6と6′のみがオンするため
、CM OSインバータ2.3は電気的に接続されるが
、Nチャネル1〜ランジスタロのオン抵抗が6′のもの
より小さいため、CMOSインバータ2のゲーl〜容量
に貯えられていたデータの方が先にCMOSインバータ
3に伝わり、そのデータが再びCMOSインバータ2に
フィードバックされるため、CMOSインバータ2のも
つデータを確実にCM OSインバータ3に転送するこ
とができる。
区間■では区間■と同様にすべてのNチャネル1〜ラン
ジスタ5〜7および5′〜7′がオフされるので、第N
段目のデータはCMOSインバータ3のゲート容量に保
存されたままになっている。
ジスタ5〜7および5′〜7′がオフされるので、第N
段目のデータはCMOSインバータ3のゲート容量に保
存されたままになっている。
区間VではNチャネルトランジスタ5.5′。
7.7′がオンするのでCMOSインバータ1゜2およ
び3,4が電気的に接続されるが第N+l段目の記憶素
子15に着目してみると、7のオン抵抗が7′のものよ
り小さいため、CMOSインバータ3で保存されていた
データの方が先にCMOSインバータ4に伝わり、再び
CMOSインバータ3にフィードバックされるのでCM
OSインバータ3の持つデータを確実に転送することが
でき、結果的には、第N段目の記憶素子14に格納され
ていたデータが第N+1段目の記憶素子15にシフトさ
れたことになる。
び3,4が電気的に接続されるが第N+l段目の記憶素
子15に着目してみると、7のオン抵抗が7′のものよ
り小さいため、CMOSインバータ3で保存されていた
データの方が先にCMOSインバータ4に伝わり、再び
CMOSインバータ3にフィードバックされるのでCM
OSインバータ3の持つデータを確実に転送することが
でき、結果的には、第N段目の記憶素子14に格納され
ていたデータが第N+1段目の記憶素子15にシフトさ
れたことになる。
端子11にロウレベル電圧を加えると、ゲート8の出力
はロウレベルに、またゲート9の出力はハイレベルにな
るため、Nチャネルトランジスタ5.7はオンしたまま
になるためシフト動作は行なわず、それぞれの記憶素子
はデータを保持した状態を安定に保っている。
はロウレベルに、またゲート9の出力はハイレベルにな
るため、Nチャネルトランジスタ5.7はオンしたまま
になるためシフト動作は行なわず、それぞれの記憶素子
はデータを保持した状態を安定に保っている。
以上説明したように本発明は2つのインバータを羊チャ
ンネルMO3)ランジスタを介して接続されて記憶素子
を構成し、さらに記憶素子間を別の単チャ〉・ネルMO
3トランジスタを介して接続させることにより、レーシ
ングのない安定したシフト動作を行なわすことができ、
かつ素子数の少ないシフトレジスタを構成することがで
きる。
ンネルMO3)ランジスタを介して接続されて記憶素子
を構成し、さらに記憶素子間を別の単チャ〉・ネルMO
3トランジスタを介して接続させることにより、レーシ
ングのない安定したシフト動作を行なわすことができ、
かつ素子数の少ないシフトレジスタを構成することがで
きる。
またセラl−、リセッl−機能の追加にも若干の1〜ラ
ンジスタの追加により実現できる。
ンジスタの追加により実現できる。
第1図は本発明の一実施例の双方向シフトレジスタの部
分回路図、第2Q?l (a)、(b)は第1図のシフ
ト動作時のタイミングチャートである。 1〜4・・・CMOSインバータ、5〜7,5′〜7′
・・・NチャネルエンハンスメントMoSトランジスタ
、8・・・ANDゲート、9・・・NANDゲート、1
0・・・インバータ、11・・・シフ1〜制御端子、1
2〜13・・・クロック入力端子、14・・・第N段目
の記憶素子、15・・・第N+1段目の記憶素子。 へ <a)
分回路図、第2Q?l (a)、(b)は第1図のシフ
ト動作時のタイミングチャートである。 1〜4・・・CMOSインバータ、5〜7,5′〜7′
・・・NチャネルエンハンスメントMoSトランジスタ
、8・・・ANDゲート、9・・・NANDゲート、1
0・・・インバータ、11・・・シフ1〜制御端子、1
2〜13・・・クロック入力端子、14・・・第N段目
の記憶素子、15・・・第N+1段目の記憶素子。 へ <a)
Claims (1)
- 1ビット分の情報を格納する第N段の記憶セルは、第
1のイバータの入力と第2のインバータの出力間および
前記第1のインバータの出力と前記第2のインバータの
入力間が第1の制御線を共通に接続したゲート入力をも
つ第1および第2の単チャンネルMOSトランジスタを
介してそれぞれ接続され、前記第N段と第N+1段の記
憶セル間は前記第N段の第2のインバータの入力と前記
第N+1段に配置される記憶セルにおける第1のインバ
ータの出力間および前記N段の第2のインバータの出力
と前記N+1段に配置される記憶セルにおける第1のイ
ンバータの入力間が第2の制御線を共通に接続したゲー
ト入力をもつ第3および第4の単チャンネルMOSトラ
ンジスタを介して接続され、前記第2および第4の単チ
ャンネルMOSトランジスタは前記第1および第3の単
チャンネルMOSトランジスタよりもオン抵抗が小さく
、かつ、前記第3および第4の単チャンネルMOSトラ
ンジスタ、前記N段の記憶セルの第2のインバータ、前
記第N+1段における記憶セルの第1のインバータによ
り、シフト時に一時的に記憶セルと同じ構成になること
を特徴とするシフトレジスタ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61271138A JPH061638B2 (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | シフトレジスタ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61271138A JPH061638B2 (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | シフトレジスタ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63127497A true JPS63127497A (ja) | 1988-05-31 |
| JPH061638B2 JPH061638B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=17495845
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61271138A Expired - Lifetime JPH061638B2 (ja) | 1986-11-14 | 1986-11-14 | シフトレジスタ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061638B2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2683348A1 (fr) * | 1991-11-06 | 1993-05-07 | France Etat Armement | Reseau bidimensionnel periodique de memorisation et de traitement booleen d'images. |
| FR2777138A1 (fr) * | 1998-04-06 | 1999-10-08 | France Etat | Procede et dispositif de traitement d'informations binaires |
-
1986
- 1986-11-14 JP JP61271138A patent/JPH061638B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2683348A1 (fr) * | 1991-11-06 | 1993-05-07 | France Etat Armement | Reseau bidimensionnel periodique de memorisation et de traitement booleen d'images. |
| FR2777138A1 (fr) * | 1998-04-06 | 1999-10-08 | France Etat | Procede et dispositif de traitement d'informations binaires |
| EP0949761A1 (fr) * | 1998-04-06 | 1999-10-13 | ETAT FRANCAIS Représenté par le délégué général pour l'armement | Procédé et dispositif de traitement d'informations binaires |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH061638B2 (ja) | 1994-01-05 |
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