JPS63145986A - 容器類のマ−ク検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は２例えば容器類の底部に捺印した製造年月目印
等のマークを検出するための容器類のマーク検出装置に
関する。

〔従来技術〕

一般に、薬品、食品、化粧品等には、その容器に製造年
月日の表示が義務ずけられており、通常方法としてはｒ
Ａ２Ｅ」というような符号表示としたり、ｒ８６１１２
６」というような数字連番表示としている。

そこで、従来技術によるものは、コンベアライン等によ
って搬送されてくる容器が、自動捺印機の位置に達した
ら、該捺印機によって容器底部に製造年月日を捺印する
ようになっている。

そして、容器底部への捺印が終了したら、捺印の有無を
検査する必要があり、従来から、捺印検出装置が採用さ
れている。即ち、従来技術による捺印検出装置は、容器
の底部を光学的に検出するセンサとして、容器の到来の
有無を検出する同期用センサと、該底部の捺印の有無を
検出する検出用センサとの２つのセンサから構成されて
おり、同期用センサのオンによって容器の到着を検出し
てから、マーク捺印の有無を検出するセンサの測定ゲー
トを開き、容器が通過して該同期用センサの信号がオフ
となると、前記捺印有無を検出するセンサのゲートを閉
じ、容器以外の外乱信号の入力を排除して誤動作を防止
していた。そして、その間捺印の有無を検出するセンサ
に予め設定した所定のスレッシュホールドレベル以上の
信号が入力されたら、その平均値を検出して捺印の有無
を判定する構成となっていた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

しかし、上記従来技術によるものは、検出信号の平均値
が所定レベルより上レベルか否かによって判定するもの
であるため、透明容器か着色容器かという容器の材質、
底部に凹凸があるか否かという容器形状等によって、検
出感度、ピーク数が変化してしまい、その都度感度調整
を行わなくてはならず、作業が非常に煩雑であるという
問題点があった。従って、容器の種類によっては検出不
可能なものもあり、このようなものは全数目視によって
検査しているのが実情であった。

本発明はこのような従来技術の問題点に鑑みなされたも
ので、予めサンプル用容器類を用いてその検出値からマ
ーク検出範囲を定め、以後は検査対象用の容器について
、単一の検出信号からワーク信号とサンプリング信号と
を得、該各信号を利用することによって前記マーク検出
範囲内でのピーク数を演算し、高精度なマーク検出を可
能とした容器類のマーク検出装置を提供することを目的
とする。

〔問題点を解決するための手段〕

上記問題点を解決するために１本発明は第１図の機能ブ
ロック図に示すように、容器類に付されたマークを含む
当該容器類１個分の形状を検出する検出手段と、該検出
手段からの検出信号によって容器１個分の大きさを測定
する形状測定手段と、前記検出手段からの検出信号を演
算処理可能な信号に信号変換する信号変換手段と、容器
類に付されたマークの検出範囲を設定する範囲設定手段
と、前記形状測定手段と範囲設定手段からの値に基づき
、サンプル用容器類についてのマーク検出の開始位置と
終了位置を検出範囲として記憶する検出範囲記憶手段と
、検査対象用容器類に関して前記信号変換回路から入力
された信号に基づき、該検出範囲記憶手段に記憶されて
いる検出範囲内に含まれる当該入力信号中のピーク値を
分析し、マークの状態を判定するマーク判定手段とから
構成したことにある。

〔作用〕

まず、マーク検出に先立って範囲設定手段により、これ
から検査しようとする容器類について所望のマーク検出
範囲を設定し、次にサンプル用容器を搬送ラインに流し
、形状測定手段かのワーク信号と前記範囲設定手段によ
る設定値に基づき。

当該搬送ラインの速度に適合したマーク検出開始位置と
終了位置を検出範囲記憶手段に記憶せしめる。かくして
準備が終了したら、検査対象用容器類を搬送ラインに流
し、マーク判定手段に信号変換手段からのサンプリング
信号を入力し、前記検出範囲記憶手段による検出範囲内
に含まれているピーク値を分析し、マークの状態を判定
して判定信号を出力する。

〔実施例〕

以下、本発明の実施例を第２図ないし第１３図に基づき
、詳細に述べる。

まず、第２図において、１は例えば化粧料等を充填した
容器、２は該容器ｌを搬送する流入側コンベア、３は該
コンベア２の終端側に設けたガイド板、４，４は該ガイ
ド板３上を容器１を摺動させるようにガイドするガイド
コンベア、５は該ガイド板３の終端側に設けた流出側コ
ンベアをそれぞれ示す、６はガイド板３の下面側に設け
られた自動捺印機で、該捺印ａ６は容器１の底部に製造
年月日符号を捺印するものである。７は流出側コンベア
５の側部に開口する排出口、８は該排出ロアから異常品
容器１′を排出する排出シリンダで、該排出シリンダ８
のロッド８Ａ先端には押出具９が設けられている。

１０はガイド板３の下面側であって、自動捺印ａ６の下
流側に配設された光電センサで、該光電センサ１０は第
７図（イ）に示すような検出信号を出力するようになっ
ている。ここで、前記光電センサ１０は光源からの光を
直接受光する第１の受光素子と、容器１の底部からの反
射光を受光する第２の受光素子と、これら各受光素子の
出力を差動増幅し、検出信号を出力する増幅器とからな
るもので、検出信号はアナログ微小信号となっている。

このように、光電センサ１０に２個の受光素子を設けた
理由は、光源からの発光出力と、容器底部からの反射光
出力を差動増幅器に入力し、常時その差動入力の値を同
一レベルに合せておくことにより、わずかな光の変化を
高感度に検出するためである。

１１は本実施例の要部をなす制御装置で、該制御装置１
１の入力側は光電センサｌＯとｔａ統され、出力側は排
出シリンダ８のエア制御弁（図示せず）のソレノイド部
と接続されている。

即ち、前記制御装置１１は、第３図に示すように、自動
追従比較回路１２、増幅回路１３、反転回路１４、サン
プルホールド回路１５、Ａ／Ｄ変換回路１６、処理回路
１７、ゲート時間設定スイッチ１８１発振回路１９．第
１測長カウンタ２０、第２測長カウンタ２１等から構成
されている。

ここで、自動追従比較回路１２は光電センサ１０からの
検出信号に基づいて容器ｌの１個分の底部寸法りの長さ
に該当するワーク信号（第７図（ロ）参照）を出力する
もので、該自動追従比較回路１２は第４図に示す如く長
い時定数をもったピークホールド回路１２Ａと、ワーク
信号を出力する比較器１２Ｂとから構成されている。即
ち、光電センサ１０は熱的、電気的に安定するまで出力
変化を起したり、また経時変化によっても出力変化を起
すものであるから、比較器１２Ｂの基準レベルを固定的
に設定したのでは高精度なワーク信号を得ることはでき
ない、このため、比較器１２Ｂの一方の入力側に長い時
定数をもったピークホールド回路１２Ａを設け、光電セ
ンサｌＯの検出信号にレベル変化が生じても、このレベ
ル変化に応じて基準レベルを変化させ、安定的に、かつ
高精度なワーク信号を得るようになっている。

また、増幅回路１３は光電センサ１０からの検出信号を
第７図（ハ）に示すように所定の増幅率をもって増幅す
るものであり１反転回路１４は増幅回路１３の出力を所
定のレベルで反転し、波形整形するものであり、サンプ
ルホールド回路１５は処理回路１７の制御の下にサンプ
ルホールドするものであり、ざらにＡ／Ｄ変換回路１６
はサンプルホールド回路１５からの出力を第７図（ホ）
に示すようなサンプリング信号に変換し、処理回路１７
に出力するもので、これら各回路１３〜１６をもって本
発明の信号変換手段を構成している。

また、処理回路１７は演算処理回路（ＣＰＵ）　、記憶
回路（ＲＡＭまたはＲＯＭ）等を含むマイクロコンピュ
ータとして構成され、サンプル用容器について第９図に
示すプログラムに基づいて検出範囲を演算する第１の機
能と、検査対象用容器について第１０図に示すプログラ
ムに基づいて内部ゲートをＯＮ　、ＯＦＦする第２の機
能と、第１１図に示すプログラムに基づいてＡ／Ｄ変換
回路１６から入力された信号のうち、内部ゲートがＯＮ
となっている間のピーク値を第７図（へ）に示すような
信号として波形分析し、第１２図に示すプログラムによ
り捺印されたマークが正常か異常かを判定し、異常なと
きには排出シリンダ８に排出信号を出力する第３の機能
とを有している。

一方、ゲート時間設定スイッチ１８はガイドコンベア４
のコンベア速度との関係から、容器１の底部のうち、所
望のマーク検出範囲の１７２に該当する時間を設定し、
処理回路１７に出力する手動操作スイッチで、即ち第５
図に示すように容器ｌの底部中央に捺印されたマークＩ
Ａの前後の検出範囲をＲとし、その１／２をＰとすると
、寸法Ｐに該当する時間をゲート時間として設定するも
のである。具体的には、ガイドコンベア４のコンベア速
度を３０ｍ／分とすると、ＩＩＩ！Ｉの移動に２　ｍ５
ｅｃ要する。そこで、ゲート時間設定スイッチ１８によ
って「２０　Ｊ　ｍ５ｅｃを設定したとすると、寸法Ｐ
は１０ｍｍ、Ｒは２０ｍｍとなる。

さらに、発振回路１９は処理回路１７の制御の下にクロ
ックパルスを発振するものであり、第１、第２の測長カ
ウンタ２０，２１は処理回路１７の制御の下に前記クロ
ックパルスを計数するもので、第１測長カウンタ２０は
検出開始位置を設定するものであり、第２測長カウンタ
２１は検出終了位置を設定するもので、第８図に示すプ
ログラムに基づいてパルス数として設定処理される。

本実施例はこのように構成されるが、次にその作動につ
いて述べる。

まず、第８図に示すプログラムを参照しつつ処理回路１
７による処理動作の全体的流れについて述べる。

電源投入によって処理がスタートすると、内部のデータ
は初期化される（ステップ１０１）、そして、これから
検査しようとする容器１について、ゲート時間設定スイ
ッチ１８によって設定されてし・るゲート時間を読込む
（ステップ１０２）。

次に、マーク検出を行う容器のうちの１個をサンプル用
容器として実際にコンベアライン上を流し、第９図に示
す処理により、第１、第２測長カウンタ２０，２１によ
る検出範囲設定処理を行う（ステップ１０３　）　。

かくして、準備が終了したら、検査対象用容器１につい
て、製造年月日の捺印を行い、この捺印の適否を個々の
容器について検査するため、前記第１．第２ＩｔＡ長カ
ウンタ２０，２１に設定された検出範囲から処理回路１
７の内部ゲートをＯＮ。

ＯＦＦする処理を第１０図に示すプログラムによって行
う（ステップ１０４　）　、一方、Ａ／Ｄ変換回路１６
からのサンプリング信号を読込み、所定のメモリアドレ
スＭに基づき記憶する（ステップ１０５　）。

さらに、処理回路１７の内部ゲートが開いている間、サ
ンプリング信号を１頭次取込み、第１１図に示す処理に
よってピーク数と最大値を演算しくステップ１０Ｂ　）
　、第１２図に示す判定処理により判定信号を出力する
ようになっている（ステップ１０７）。

そこで、初めに第９図に基づき第１、第２の測長カウン
タ２０，２１による検出範囲設定処理について述べる。

まず、これからマーク検出しようとする容器について、
検出範囲を設定すべく、ゲート時間設定スイー、千１８
により、所望の時間、例えばｒ　２０　Ｊ　ｒｍｓｅｃ
を設定する。これにより、ガイドコンベア４の速度が３
０ｍ／分とすれば、第５図。

第６図の寸法Ｐを１０＋ａｍとして設定できたことにな
る。

次に、サンプル用容器１個を流入側コンベア２から流出
側コンベア５に向は流し、設定処理を開始する。すると
、処理回路１７は自動追従比較回路１２から、該容器の
１個分の長さに該当するワーク信号を読込み（ステップ
ｌ）、該ワーク信号の立上りでワーク有りと判定したら
（ステップ２）、発振回路１９を起動しくステップ３）
、処理回路１７は内部カウンタ（図示せず）に該発振回
路１９からのクロックパルスの計数を開始する。そして
、ワーク信号の立下りによってサンプル用容器が光電す
１０を通過したことを判定したら（ステップ４）、発振
回路１９を停止しくステップ５）、前記内部カウンタの
カウント値を読込み（ステップ６）、サンプル用容器の
全長りを演算し、さらに該サンプル用容器の搬送方向中
心手法Ｓを求めるために、Ｓ＝Ｌ／２の演算を行う（ス
テップ７）。

さらに、処理回路１７はゲート時間設定スイッチ１８か
らの設定値、即ち上記具体例の場合、ｒ２０Ｊｍｓｅｃ
からこれに対応する寸法Ｐを読込み（ステップ８）、次
のステップ９で検出範囲Ｒを、Ｒ＝ＰＸ２として演算し
、検出開始位ｎＴを、Ｔ＝Ｓ−Ｐとして演算し、さらに
検出終了位置Ｕを、ｕ＝Ｔ＋Ｒとして演算する。そして
、処理回路１７は検出開始位置Ｔを第１ＩｊＡ長カウン
タ２０に設定しくステップ１０）、検出終了位置Ｕを第
２測長カウンタ２１に設定しくステップ１１）、処理を
終了する。

次に、前述のように検出範囲の設定、記憶動作が終了し
たら、自動捺印ａ６によって個々の容器１に製造年月日
を正しく捺印しているか否か検査すべく、処理回路１７
の内部ゲートＯＮ、ＯＦＦ処理について述べる。

流入側コンベア２から流出側コンベア５に向け、順次容
器１を搬送し、この間ガイド板３の途中で自動捺印機６
により該容器ｌの底部に製造年月日が３桁の文字によっ
て捺印される。そして、容器１が光電センサ１０の位置
を通過するとき、該光電センサ１０から出力された検出
信号は自動追従比較回路１２によってワーク信号として
処理回路１７に出力され、また増幅回路１３、反転回路
１４、サンプルホールド回路１５、Ａ／Ｄ変換回路１６
によって信号変換されたサンプリング信号は処理回路１
７に出力され、第１３図に示すメモリアドレス毎に記憶
される。

そこで、初めに第１０図に示すプログラムに基づき、処
理回路１７の内部ゲートをＯＮ、ＯＦＦする場合の動作
について述べる。

いま、処理回路１７がワーク信号を読込み（ステップ２
１）、その立上りによってワーク有りと判定したときに
は（ステップ２２）１発振回路１９を起動し、第１、第
２の測長カウンタ２０゜２１によってクロックパルスの
計数を開始する（ステップ２３）、そして、第１測長カ
ウンタ２０のカウント値が、前述したサンプル用容器に
基づき予め設定されている検出開始位置Ｔに該当する値
に達したら（ステップ２４）、処理回路１７は内部ゲー
トを開き（ステップ２５）、ピーク値検出処理をスター
トする（ステップ２６）。

さらに、第２測長カウンタ２１のカウント値が予め設定
された検出終了位置Ｕに該当するカウント値に達したら
（ステップ２７）、その内部ゲートを閉じ（ステップ２
８）、ピーク検出処理を停止する（ステップ２９）、さ
らに、ステップ３ｏでワーク通過を監視し、ワーク信号
が立下った時点で発振回路１９を停止しくステップ３１
）、１個の検査対象用容器１についての処理を終了し、
次の容器の到来に備える。

従って、本実施例では容器ｌの全長りの範囲にわたって
捺印を検出するのではなく、所定の検出範囲Ｈの間のみ
処理回路１７の内部ゲートを開き、ピーク検出処理を行
うようになっている。そのため、第７図（へ）に示すよ
うに、容器１の底部の両端部の信号変化分を無視できる
から、捺印信号のみを精度よく検出できる。

次に、前記検出範囲Ｒの間で行われる処理回路１７での
ピーク値検出処理動作について、第１１図を参照しつつ
述べる。

まず、第１Ｏ図で述べた如く内部ゲートがＯＮとなり（
ステップ２５）、ピーク値検出処理がスタートすると（
ステップ２６）、第１１図の処理が開始する。そして、
この処理の開始により、初期設定としてピーク検出を行
ったことを示すフラグをＯＦＦとしくステップ４１）、
１個前のデータを示すデータエリアＣを零リセットする
（ステップ４２）。

一方、処理回路１７の記憶領域には、ＡＤ変換回路１６
から出力されたサンプリング信号が、所定のメモリアド
レス（１）、（２）。

（ｎ−１）、（ｎ）・・・、（エンドアドレス）からな
る番地毎に記憶されているから（第１３図及び第８図の
ステップ１０８参照）、ピーク値検出処理の開始によっ
て、現在のデータエリアＢにメモリアドレスＭの第１番
目のデータ（１）Ｍを久方する（ステップ４３）。

そして、次のステップ４４では現在のデータエリアＢと
１個前のデータエリアＣを比較し、Ｂ＜Ｃならピークを
すぎたことであるから、後述のステップ５０に進み、Ｂ
ａＯなら、ピークに達していないことであるから、ステ
ップ４５に進み、Ｂ＞Ｃか否か判定し、ｒＹＥＳＪなら
１個前のデータエリアＣに現在データを更新しくステッ
プ４６）、内部ゲートＯＦＦに伴うエンドアドレスに達
していなければ（ステップ４７）、メモリアドレスＭの
２番目のデータ（２）Ｍを呼出す（ステップ４８）。な
お、ステップ４７でエンドアドレスに達していれば、ス
テップ４９でサブルーチンをリターンさせ１次の容器に
対するマーク検出処理を行う。

さて、ステップ４４でｒＹＥｓ」と判定したときには、
ピークを過ぎたことであるから、ステップ５０に移り、
現在のデータＢが一定レベル以下であるか否かの判定を
行う、この一定レベルとは、塵埃や汚れによって誤検出
がないように、サンプリング信号のレベルが一定レベル
以下になった場合を、マークが終ったと判断するもので
、第１３図に示すように最大値と極大値が存在する２子
山であったとしても、一定レベル以下になるまではステ
ップ５１を経由して判定ループをまわるから、後述のス
テップ５６では必ず最大値が記憶されることになる。

かくして、ステップ５０の判定でｒＮＯＪならステップ
５１からステップ４７に至るループをまわり、このとき
フラグがＯＮならＯＦＦとし、次のピーク検出に備える
。

一方、ステップ５０でｒＹＥｓＪなら、あるピークにつ
いての検出が終了したことになり、ステップ５２でフラ
グがＯＮか否か判定し、ｒＮＯＪなら処理回路１７内の
ピーク数エリア内に「１」を加算しくステップ５３）、
次のピーク検出に備えて１個前のデータエリアＣを零リ
セットしくステップ５４）、かつフラグをＯＮとしだ後
（ステップ５５）、ピーク最大値記憶エリアに検出ピー
クについてのピーク最大値を記憶する（ステップ５６）
。

このようにして、ステップ４７のメモリアドレスＭのエ
ンドアドレスに至るまで、判定動作が繰返され、ピーク
数エリア内にピーク数をカウントしくステップ５３）、
ピーク最大値を記憶する（ステップ５６）、なお、第５
図に示す具体例の場合、正常ならピーク数は３個であり
、異常なら２個以下である。

さらに、前述の如くピーク数検出処理が終了したら、第
１２図に示すプログラムによって判定処理を行う、即ち
、ステップ６１でピーク数エリア内のピーク数をアクセ
スし、正規の３山なら、次のステップ６２に移り、各ピ
ークについてピーク最大値記憶エリア内のピーク最大値
が正規のマークと判定可能な一定値以上か否かを判定す
る。そして、ステップ６１．６２のいずれもがｒＹＥＳ
　Ｊなら正常信号を出力しくステップ６３）、ステップ
６１．６２のいずれかがｒＮＯＪなら異常信号を出力す
る。

かくして、ステップ６４で異常信号を出力したというこ
とは、検査対象用容器１が自動捺印機６によって正常に
捺印されていないことであるから、処理回路１７は排出
シリンダ８に排出信号を出力する。これにより、異常容
器１′は排出ロアから排出されることになる。

このように、本実施例によれば、マーク検出作業に先立
ってゲート時間設定スイッチ１８によって所定のゲート
時間を設定し、またサンプル用容器を１個または数個用
いて検出範囲Ｒを設定するように構成したから、マーク
検出すべき範囲を容器１の種類、捺印位置に応じて限定
することができ、高精度な検出が可能となる。

また、検出信号のピーク数とピーク値を検出するに際し
て、一定レベル以上で、かつピーク最大値を演算し、こ
れに基づいて捺印の状態を判定するものであるから、容
器１の材質１種類、色調等に影響されることなく、かつ
その都度感度調整等を行う必要がなく、あらゆる容器に
ついて検出が可能となる。

一方、単一の光電センサ１０からの検出信号を、自動追
従比較回路１２によるワーク信号と、増幅回路１３、尺
転回路１４、サンプルホールド回路１５、Ａ／Ｄ変換回
路１６等によるサンプル信号とを得ることができ、単一
のセンサで多機能化を図ると共に、品種切換毎にセンサ
取付位置の調整が不要である。

さらに、自動追従比較回路１２は光電センサ１０のドリ
フト、または経時的変化に対して追従し、基準レベルを
変化する構成としているから、安定的、かつ高精度なワ
ーク信号を得ることができる。

なお、実施例では容器の検出マークとして自動捺印ａ６
による３桁の製造年月目印を例示したが、これに限るこ
となく他の文字、容器の凹凸マ−ク等であってもよいも
のである。

〔発明の効果〕

本発明に係る容器類のマーク検出装置は以上詳細に述べ
た如くであって、予め設定した所望の範囲について、検
出手段からの検出信号中に含まれるピーク値を分析する
ことにより、マークの状態を判定する構成としたから、
容器の材質、形状等に影響されることなく、所望の検出
範囲で高精度なマーク検出を行うことができ、またサン
プル容器を用いて検出範囲の設定が可能であるから、設
定操作が容易であり、さらに単一の検出手段からの信号
で容器の形状信号と演算処理信号を得るものであるから
、センサの多機能化を図ることができる等の幾多の効果
を奏する。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の構成を示す機能ブロック図、第２図は
本実施例によるマーク検出装置を示す全体構成図、第３
図は制御装置の具体的回路構成図、第４図は第３図中の
自動追従比較回路の構成図、第５図は容器の底面図、第
６５！Ｊは容器の検出開始位置、検出範囲および検出終
了位置の関係を示す説明図、第７図は信号の波形線図で
、第７図（イ）は光電センサの検出信号、第７図（ロ）
は自動追従比較回路の出力、第７図（ハ）は増幅回路の
出力、第７図（ニ）は反転回路の出力、第７図（ホ）は
Ａ／Ｄ変換回路の出力、第７図（へ）は処理回路で演算
されたピーク値をそれぞれ示す波形線図、第８図は全体
の処理動作を示す流れ図、第９図は第８図中の第１．第
２ａＩｌ長カウンタによる検出範囲設定処理を示す流れ
図、第１０図は第８図中の内部ゲートＯＮ、ＯＦＦ処理
を示す流れ図、第１１図は第８図中のピーク値と最大値
検出処理を示す流れ図、第１２図は第８図中の判定処理
を示す流れ図、第１３図は処理回路に記憶されたサンプ
リング信号とメモリアドレスの関係を示す説明図である
。 １・・・容器、６・・・自動捺印機、８・・・排出シリ
ンダ、１０・・・光電センサ、１１・・・制御装置、１
２・・・自動追従比較回路、１３・・・増幅回路、１４
・・・反転回路、１５・・・サンプルホールド回路、１
６・・・Ａ／Ｄ変換回路、１７・・・処理回路、１８・
・・ゲート時間設定スイッチ、１９・・・発振回路、２
０・・・第１測長カウンタ、２１・・・＄２８長カウン
タ。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 容器類に付されたマークを含む当該容器類１個分の形状
   を検出する検出手段と、該検出手段からの検出信号によ
   って容器１個分の大きさを測定する形状測定手段と、前
   記検出手段からの検出信号を演算処理可能な信号に信号
   変換する信号変換手段と、容器類に付されたマークの検
   出範囲を設定する範囲設定手段と、前記形状測定手段と
   範囲設定手段からの値に基づき、サンプル用容器類につ
   いてのマーク検出の開始位置と終了位置を検出範囲とし
   て記憶する検出範囲記憶手段と、検査対象用容器類に関
   して前記信号変換回路から入力された信号に基づき、該
   検出範囲記憶手段に記憶されている検出範囲内に含まれ
   る当該入力信号中のピーク値を分析し、マークの状態を
   判定するマーク判定手段とから構成してなる容器類のマ
   ーク検出装置。