JPS63148272A - 感光体電位制御方法 - Google Patents
感光体電位制御方法Info
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- JPS63148272A JPS63148272A JP61295886A JP29588686A JPS63148272A JP S63148272 A JPS63148272 A JP S63148272A JP 61295886 A JP61295886 A JP 61295886A JP 29588686 A JP29588686 A JP 29588686A JP S63148272 A JPS63148272 A JP S63148272A
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- Japan
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- potential
- photoreceptor
- photosensitive body
- residual potential
- voltage
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(技術分野)
本発明は、電子写真式複写機の感光体電位制御装置に関
する。
する。
(従来技術)
電子写真式複写機の感光体は、所定のコピーサイクルが
繰り返えし実行されることにより、たとえば光照射など
によって除電したのちにも、その疲労によって、電位が
残留することが知られている。この感光体の残留電位は
、コピー枚数(コピーサイクル数)の増加に伴って上昇
するため、その電位レベルが一定以上の値に達すると、
コピーの地肌汚れの原因となる。
繰り返えし実行されることにより、たとえば光照射など
によって除電したのちにも、その疲労によって、電位が
残留することが知られている。この感光体の残留電位は
、コピー枚数(コピーサイクル数)の増加に伴って上昇
するため、その電位レベルが一定以上の値に達すると、
コピーの地肌汚れの原因となる。
従来、こうした感光体の残留電位によるコピーの地肌汚
れの発生を防止するために、この感光体の残留電位によ
り顕像パターンを形成するとともに、この顕像パターン
の濃度を光学的に検出した検知レベルにより上記感光体
の残留電位を計測し、この検知レベルに基づいて、現像
バイアス、帯電電位、および露光量のいずれか、または
それらの組合せにより、上記感光体の作像時における電
位を上記残留電位に応じて補正するように構成した複写
機の感光体電位制御装置が提案された。
れの発生を防止するために、この感光体の残留電位によ
り顕像パターンを形成するとともに、この顕像パターン
の濃度を光学的に検出した検知レベルにより上記感光体
の残留電位を計測し、この検知レベルに基づいて、現像
バイアス、帯電電位、および露光量のいずれか、または
それらの組合せにより、上記感光体の作像時における電
位を上記残留電位に応じて補正するように構成した複写
機の感光体電位制御装置が提案された。
しかしながら、上記従来の感光体電位制御装置は、上記
飛散などによりイレーザの照射光量が低下し、感光体電
位の除去が完全に行なわれなかった場合、上記顕像パタ
ーンを形成する感光体残留電位が、感光体自体の劣化に
よる残留電位と、イレーザの光量不足による残留電位と
が重畳された電位となり、感光体のみの残留電位となら
ないため、感光体電位補正の基準となる顕像パターンそ
のものの信頼性が低下し、感光体電位の補正量が不正確
な値になる不具合があった。
飛散などによりイレーザの照射光量が低下し、感光体電
位の除去が完全に行なわれなかった場合、上記顕像パタ
ーンを形成する感光体残留電位が、感光体自体の劣化に
よる残留電位と、イレーザの光量不足による残留電位と
が重畳された電位となり、感光体のみの残留電位となら
ないため、感光体電位補正の基準となる顕像パターンそ
のものの信頼性が低下し、感光体電位の補正量が不正確
な値になる不具合があった。
(目 的)
本発明の目的は、上記顕像パターンを正確な感光体残留
電位で形成することにより感光体電位の補正量を適正化
して感光体残留電位によるコピーの地汚れを防止するこ
とのできる感光体電位制御装置を提供することにある。
電位で形成することにより感光体電位の補正量を適正化
して感光体残留電位によるコピーの地汚れを防止するこ
とのできる感光体電位制御装置を提供することにある。
(構 成)
本発明の感光体電位制御装置は、上記複写機において、
上記顕像パターンの形成に先立って、通常コピー時の帯
電電位よりも低い電位で上記感光体を帯電し、この電位
をイレーズしたのちの感光体残留電位により上記顕像パ
ターンを形成することを特徴とする 以下、図示の一実施例に基づいて本発明を説明する。
上記顕像パターンの形成に先立って、通常コピー時の帯
電電位よりも低い電位で上記感光体を帯電し、この電位
をイレーズしたのちの感光体残留電位により上記顕像パ
ターンを形成することを特徴とする 以下、図示の一実施例に基づいて本発明を説明する。
第1図において、多色複写機の感光体ドラムの周囲には
、帯電器2、イレーザ3.現像器4.顕像パターン検知
センサ5、転写器6、分離器7、クリーニング器8、光
除電器9が、所定の複写プロセスを実行するのに適した
位置にそれぞれ配置されている。
、帯電器2、イレーザ3.現像器4.顕像パターン検知
センサ5、転写器6、分離器7、クリーニング器8、光
除電器9が、所定の複写プロセスを実行するのに適した
位置にそれぞれ配置されている。
顕像パターン検知センサ5は、複写プロセス制御ユニッ
ト100に接続されている。
ト100に接続されている。
現像器4は、高圧電源ユニット200のバイアス出力端
子0UTBに接続されている。
子0UTBに接続されている。
また、帯電器2.転写器6および分離器7の各電極は、
高圧電源ユニット200の各出力端子0UTC。
高圧電源ユニット200の各出力端子0UTC。
0UTTおよび0uTDにそれぞれ接続されている。
この高圧電源ユニット200は、複写プロセス制御ユニ
ット100からの指示に応じて、各電極にそれぞれ所定
のタイミングで電力を供給するように動作する。
ット100からの指示に応じて、各電極にそれぞれ所定
のタイミングで電力を供給するように動作する。
第2図に、第1図に示す高圧電源ユニット200の構成
を示す。なお、商用交流電源(電圧100V)の出力を
直流24Vに変換する回路は省略しである。
を示す。なお、商用交流電源(電圧100V)の出力を
直流24Vに変換する回路は省略しである。
第2a図を参照して説明する。この回路を制御するのが
、マイクロコンピュータCPUである。ここで使用して
いるのは、シングルチップマイクロコンピュータ(80
49)である。マイクロコンピュータcpuの入力ポー
トP24. P25. P26. P27. P2O,
P21゜P22. P23およびT1には、それぞれ、
フォトカップラPC1,PC2,PC3,PC4,PC
5,PCB、 PC7,PCBおよびPC9の出力端か
らの信号がインバータ(7404)を介して印加される
。フォトカップラPC1〜PC9の入力端子は、帯電電
圧印加用トリガ端子(Cトリガ)、転写電圧印加用トリ
ガ端子(Tトリガ)、現像バイアス電圧印加用トリガ端
子(Bトリガ)9分離電圧印加用トリガ端子(Dトリガ
)、現像バイアス電圧設定用端子(bO,bl、 b2
)、タイミングパルス読取制御信号用端子およびタイミ
ングパルス読取端子に設定してあり、フォトカップラP
CI〜PCBの入力端子はそれぞれ複写プロセス制御ユ
ニット100の出力端子に接続されており、フォトカッ
プラPC9の入力端子にはタイミングパルス発生器TP
Gの出力端子が接続されている。このタイミングパルス
発生器TPGは、感光体ドラム1とともに回転する1図
示しないスリット付ディスクの回転を光学的に検知して
、感光体ドラム1の回転に同期したタイミングパルス信
号を発生する。
、マイクロコンピュータCPUである。ここで使用して
いるのは、シングルチップマイクロコンピュータ(80
49)である。マイクロコンピュータcpuの入力ポー
トP24. P25. P26. P27. P2O,
P21゜P22. P23およびT1には、それぞれ、
フォトカップラPC1,PC2,PC3,PC4,PC
5,PCB、 PC7,PCBおよびPC9の出力端か
らの信号がインバータ(7404)を介して印加される
。フォトカップラPC1〜PC9の入力端子は、帯電電
圧印加用トリガ端子(Cトリガ)、転写電圧印加用トリ
ガ端子(Tトリガ)、現像バイアス電圧印加用トリガ端
子(Bトリガ)9分離電圧印加用トリガ端子(Dトリガ
)、現像バイアス電圧設定用端子(bO,bl、 b2
)、タイミングパルス読取制御信号用端子およびタイミ
ングパルス読取端子に設定してあり、フォトカップラP
CI〜PCBの入力端子はそれぞれ複写プロセス制御ユ
ニット100の出力端子に接続されており、フォトカッ
プラPC9の入力端子にはタイミングパルス発生器TP
Gの出力端子が接続されている。このタイミングパルス
発生器TPGは、感光体ドラム1とともに回転する1図
示しないスリット付ディスクの回転を光学的に検知して
、感光体ドラム1の回転に同期したタイミングパルス信
号を発生する。
マイクロコンピュータCPUの出力ポートP14゜PI
3. PIO,pHおよび入力ポートTOには、アナロ
グ/デジタル(以下、A/Dと略す)変換器ADC(4
052)が接続されている。このA/D変換器ADCは
、4つの信号入力端子AO,AI、 A2およびA3を
備えており、チャンネル選択入力端子COおよびC1に
印加される信号に応じて、4つのうちのいずれかの入力
電圧を、クロック入力端子CLKに印加される(ff号
に同期して、8ビツトのデジタルデータに変換し、その
結果を出力端子DATAに1ビツトずつ順次に出力する
。Tl、 T2. T3およびT4がパルストランスで
ある。パルストランスTI、 T2. T3およびT4
の一次側は、それぞれ一端が接地され、他端にはそれぞ
れスイッチングトランジスタ01. Q2.口3および
Q4を備えるドライバ回路の出力端子が接続されている
。各ドライバ回路の入力端子すなわちトランジスタQl
、 Q2およびQ3のエミッタ端子には、直流24Vの
電力が供給される。
3. PIO,pHおよび入力ポートTOには、アナロ
グ/デジタル(以下、A/Dと略す)変換器ADC(4
052)が接続されている。このA/D変換器ADCは
、4つの信号入力端子AO,AI、 A2およびA3を
備えており、チャンネル選択入力端子COおよびC1に
印加される信号に応じて、4つのうちのいずれかの入力
電圧を、クロック入力端子CLKに印加される(ff号
に同期して、8ビツトのデジタルデータに変換し、その
結果を出力端子DATAに1ビツトずつ順次に出力する
。Tl、 T2. T3およびT4がパルストランスで
ある。パルストランスTI、 T2. T3およびT4
の一次側は、それぞれ一端が接地され、他端にはそれぞ
れスイッチングトランジスタ01. Q2.口3および
Q4を備えるドライバ回路の出力端子が接続されている
。各ドライバ回路の入力端子すなわちトランジスタQl
、 Q2およびQ3のエミッタ端子には、直流24Vの
電力が供給される。
また、各ドライバ回路の制御入力端子(トランジスタの
ベース端子側)は、バッファ(7407)を介して、マ
イクロコンピュータCPUの出力ポートD[30,DB
I、 DB2およびDB3と接続されている。パルスト
ランスT4は一次側の巻線が2つに分割されており、そ
れに接続されたドライバ回路には、付勢する巻線を選択
するために、更に2つのスイッチング用トランジスタQ
5およびQ6が備わっている。
ベース端子側)は、バッファ(7407)を介して、マ
イクロコンピュータCPUの出力ポートD[30,DB
I、 DB2およびDB3と接続されている。パルスト
ランスT4は一次側の巻線が2つに分割されており、そ
れに接続されたドライバ回路には、付勢する巻線を選択
するために、更に2つのスイッチング用トランジスタQ
5およびQ6が備わっている。
各トランジスタQ5およびQ6の入力端子は、バッファ
を介してマイクロコンピュータCPuの出力ポートDB
4およびDBSに接続されている。
を介してマイクロコンピュータCPuの出力ポートDB
4およびDBSに接続されている。
パルストランスTl、T2およびT3の二次側巻線なら
びにパルストランスT4の二次側巻線の一方には、ダイ
オードとコンデンサを含む整流平滑回路が備わっており
、またそれらの近傍に、各電源の出力レベルを検出する
ために可変抵抗VRI、 VH2,VH2およびVB2
が備わっている。5は、感光体ドラム1の表面の残留電
位により形成された顕像パターンの濃度を光学的に検出
するための、反射型フォトセンサを用いた顕像パターン
検知センサであり、この出力端子には、演算増幅器z4
および可変抵抗器VR5を含む信号増幅回路が接続され
ている。
びにパルストランスT4の二次側巻線の一方には、ダイ
オードとコンデンサを含む整流平滑回路が備わっており
、またそれらの近傍に、各電源の出力レベルを検出する
ために可変抵抗VRI、 VH2,VH2およびVB2
が備わっている。5は、感光体ドラム1の表面の残留電
位により形成された顕像パターンの濃度を光学的に検出
するための、反射型フォトセンサを用いた顕像パターン
検知センサであり、この出力端子には、演算増幅器z4
および可変抵抗器VR5を含む信号増幅回路が接続され
ている。
可変抵抗器Vr+1. VH2およびVH2の出力端子
(摺動子)は、それぞれA/D変換器の各信号入力端子
AO,AtおよびA2に接続されており、可変抵抗器V
R4からの出力および演算増幅器z4の出力は、それぞ
れアナログスイッチZ2およびz3を介して、A/D変
換器ADCの信号入力端子A3に接続されている。
(摺動子)は、それぞれA/D変換器の各信号入力端子
AO,AtおよびA2に接続されており、可変抵抗器V
R4からの出力および演算増幅器z4の出力は、それぞ
れアナログスイッチZ2およびz3を介して、A/D変
換器ADCの信号入力端子A3に接続されている。
アナログスイッチz2およびZ3の制御入力端子(CO
N丁)は、マイクロコンピュータCPUの出力ポートP
12およびPI3に接続されている。なお、制御回路の
電源Vcc(5V)は、直流電圧レギュレータz1が生
成する。
N丁)は、マイクロコンピュータCPUの出力ポートP
12およびPI3に接続されている。なお、制御回路の
電源Vcc(5V)は、直流電圧レギュレータz1が生
成する。
第2b図および第2c図に第2a図に示すマイクロコン
ピュータCPUの処理タイミングの概要を示し、第3a
図および第3b図にマイクロコンピュータCPuの概略
動作を示し、第4a図、第4b図、第4c図、第4e図
、第4f図、第4g図、第4h図、第41図、第4j図
。
ピュータCPUの処理タイミングの概要を示し、第3a
図および第3b図にマイクロコンピュータCPuの概略
動作を示し、第4a図、第4b図、第4c図、第4e図
、第4f図、第4g図、第4h図、第41図、第4j図
。
第4に図、第4Q図、第4m図および第4n図に各サブ
ルーチン又は割込ルーチンの動作を示す。なお、第2c
図は第2b図の一部を拡大したものである。
ルーチン又は割込ルーチンの動作を示す。なお、第2c
図は第2b図の一部を拡大したものである。
以下、各図を参照して動作を説明するが、その前にマイ
クロコンピュータCPUの各ポートに割付けた機能、動
作説明で使用するカウンタ・タイマの定義、および演算
レジスタの定義を、それぞれ次の第1表、第2表および
第3表に示す。
クロコンピュータCPUの各ポートに割付けた機能、動
作説明で使用するカウンタ・タイマの定義、および演算
レジスタの定義を、それぞれ次の第1表、第2表および
第3表に示す。
第 1 表
表 2 表
第 3 表
なお、図面および明細書に示す記号のうち()を付けた
ものは、レジスタ又は入出力ポートの内容であることを
示し、これを付けないものは即値データであることを示
す。図示しない電源スィッチがオンすると、まず全ての
出力ポートをオフレベルに初期設定し、各電源系統の制
御パルス幅を保持する内部レジスタTC,TT、 TB
およびTDに、それぞれの出力パルスデューティ((T
C/TI’) 、 (TT/TP) 、 (TB/TP
)および(TD/TP) : Tl’はパルス周期)が
30〜50%程度となるような所定値をセットする。
ものは、レジスタ又は入出力ポートの内容であることを
示し、これを付けないものは即値データであることを示
す。図示しない電源スィッチがオンすると、まず全ての
出力ポートをオフレベルに初期設定し、各電源系統の制
御パルス幅を保持する内部レジスタTC,TT、 TB
およびTDに、それぞれの出力パルスデューティ((T
C/TI’) 、 (TT/TP) 、 (TB/TP
)および(TD/TP) : Tl’はパルス周期)が
30〜50%程度となるような所定値をセットする。
タイマ割込を許可し、タイマの値を予め定めた所定値に
設定した後、そのタイマをスタートする。
設定した後、そのタイマをスタートする。
なお、ここでいうタイマは、マイクロコンピュータCP
Uが内部に備えるプログラム可能なハードウェアタイマ
であり、この実施例の動作モードにおいては、カウント
値が所定の設定値に達すると、内部割込を発生し、割込
フラグ丁Fを立てる。
Uが内部に備えるプログラム可能なハードウェアタイマ
であり、この実施例の動作モードにおいては、カウント
値が所定の設定値に達すると、内部割込を発生し、割込
フラグ丁Fを立てる。
内部割込を許可すると、タイマをスタートしてから所定
時間を経過した時にタイマ割込が発生する。タイマ割込
みが発生すると、マイクロコンピュータCPUは現在の
処理を中断して、第4b図に示すタイマ処理ルーチンに
エントリーする。このタイマ割込処理においては、一度
タイマを停止させ、所定値Nをそれに再セット後タイマ
をスタートさせ1次に、後述するACカウンタ(ACN
T)の内容を+1する。このACカウンタの内容が所定
値Iに達したら、それをOにクリアする。タイマ割込で
はタイマを再セットして戻るので、タイマ割込は常時一
定の周期(第2C図に示すTρ)毎に発生する。
時間を経過した時にタイマ割込が発生する。タイマ割込
みが発生すると、マイクロコンピュータCPUは現在の
処理を中断して、第4b図に示すタイマ処理ルーチンに
エントリーする。このタイマ割込処理においては、一度
タイマを停止させ、所定値Nをそれに再セット後タイマ
をスタートさせ1次に、後述するACカウンタ(ACN
T)の内容を+1する。このACカウンタの内容が所定
値Iに達したら、それをOにクリアする。タイマ割込で
はタイマを再セットして戻るので、タイマ割込は常時一
定の周期(第2C図に示すTρ)毎に発生する。
マイクロコンピュータCPUは、このタイマ割込によっ
てセットされるタイマフラグTFを監視して。
てセットされるタイマフラグTFを監視して。
タイマ割込1回について1つのループ処理を実行するよ
うに動作する。また、ループ処理が不要な場合、すなわ
ち各々の電源をオンにする指示(トリガ)が全てオフの
場合(例えば複写機の電源オン直後)には、タイミング
パルスの周期をチェックして感光体ドラム1の線速度を
測定し、その結果に応じて各電源出力の制御目標1直(
電圧又は電流)を設定する。
うに動作する。また、ループ処理が不要な場合、すなわ
ち各々の電源をオンにする指示(トリガ)が全てオフの
場合(例えば複写機の電源オン直後)には、タイミング
パルスの周期をチェックして感光体ドラム1の線速度を
測定し、その結果に応じて各電源出力の制御目標1直(
電圧又は電流)を設定する。
これは、同一の電源ユニットをドラム線速の異なる複数
種の複写機に対応させるための処理である。線速測定は
、第4c図に示すドラム線速測定サブルーチンで処理す
る。第4c図および第4d図を参照すると、まずタイミ
ングパルスが高レベル11がら低レベルLに変化する立
下りのタイミングを見つけ、そこからタイマをスタート
して、次にタイミングパルスがHからLに変化した時に
タイマを停止させてその内容を読み、その結果に定数γ
(タイマのクロックパルス周期)を乗算して得た値の逆
数に定数1(を掛けた値(v)を求める。この1直(V
)がドラム線速である。この例ではγ=43.6μse
c、 k = I Iomであり、(v)=229(
mm/5ee)になる。
種の複写機に対応させるための処理である。線速測定は
、第4c図に示すドラム線速測定サブルーチンで処理す
る。第4c図および第4d図を参照すると、まずタイミ
ングパルスが高レベル11がら低レベルLに変化する立
下りのタイミングを見つけ、そこからタイマをスタート
して、次にタイミングパルスがHからLに変化した時に
タイマを停止させてその内容を読み、その結果に定数γ
(タイマのクロックパルス周期)を乗算して得た値の逆
数に定数1(を掛けた値(v)を求める。この1直(V
)がドラム線速である。この例ではγ=43.6μse
c、 k = I Iomであり、(v)=229(
mm/5ee)になる。
ドラム線速(V)が求まると、第4e図に示す電流・電
圧設定値演算処理を行なう。この処理では、帯電器2.
転写型6および分離器7のそれぞれの電圧又は電流設定
値(SC)、 (ST)および(SO)を求める。これ
らの設定値は、各電極の充電量をドラム線速に関係なく
所定値とするような値である。例えば設定値(’、C)
の場合、ドラムの線速に関係する定数αCをドラム線速
(V)に乗じ、線速に関係しない定数βCをそれに加算
した値を設定値にする。
圧設定値演算処理を行なう。この処理では、帯電器2.
転写型6および分離器7のそれぞれの電圧又は電流設定
値(SC)、 (ST)および(SO)を求める。これ
らの設定値は、各電極の充電量をドラム線速に関係なく
所定値とするような値である。例えば設定値(’、C)
の場合、ドラムの線速に関係する定数αCをドラム線速
(V)に乗じ、線速に関係しない定数βCをそれに加算
した値を設定値にする。
定数αCおよびβCは、帯電器2の帯電特性に応じて定
まる。他の設定値(ST)および(SD)の場合も同様
である。αし、βしおよびαd、βdが、それぞれ転写
器6および分離器7の特性によって定まる定数である。
まる。他の設定値(ST)および(SD)の場合も同様
である。αし、βしおよびαd、βdが、それぞれ転写
器6および分離器7の特性によって定まる定数である。
いずれかのトリガがオンになると、ループ処理を行なう
。まずタイマフラグTFをチェックし、これが1になる
と、次に進む。トリガされたドライバ出力をオンする。
。まずタイマフラグTFをチェックし、これが1になる
と、次に進む。トリガされたドライバ出力をオンする。
トリガが入力CTRIG、 TTRIG。
BTRIGおよびDTrt IGがオンなら、それぞれ
、ドライバ出力CDRIVE、 TDRIVE、 BD
RIVEおよびDDRIVE を(DDRIVEがオン
なら、 ACNEGAもオン)オンする。
、ドライバ出力CDRIVE、 TDRIVE、 BD
RIVEおよびDDRIVE を(DDRIVEがオン
なら、 ACNEGAもオン)オンする。
つまり、全てのトリガがオンなら第2c図に示すように
1割込タイミングに同期して各駆動出力レベルを低レベ
ルLにセットする。
1割込タイミングに同期して各駆動出力レベルを低レベ
ルLにセットする。
次に、各駆動出力の電圧又は電流を制御するパルス幅の
制御を行なう。これは、第4f図に示すパルス幅カウン
タチェック&トリガ入カチェック処理で行なう。この処
理を1回行なう毎にパルス幅カウンタ(PCNT)の内
容を+1し、全てのドライバ出力がオフレベルHになる
とこのパルス幅制御から抜けて次に進む。
制御を行なう。これは、第4f図に示すパルス幅カウン
タチェック&トリガ入カチェック処理で行なう。この処
理を1回行なう毎にパルス幅カウンタ(PCNT)の内
容を+1し、全てのドライバ出力がオフレベルHになる
とこのパルス幅制御から抜けて次に進む。
第4f図を参照する。パルス幅カウンタ(PCNT)は
初期値が0であり、所定周期で順次カウントアツプする
。パルス幅カウンタ(PCNT)の内容と各出力系統の
パルス幅レジスタ(TC)、 (TT)、 (TB)お
よび(TD)の内容を順次比較し、パルス幅カウンタ(
PCNT)の値が各パルス幅レジスタの値に達するか又
はトリガ入力がオフレベル(H)になったら、その系統
のドライバ出力(CDRIVE)、 (TDRIVE)
。
初期値が0であり、所定周期で順次カウントアツプする
。パルス幅カウンタ(PCNT)の内容と各出力系統の
パルス幅レジスタ(TC)、 (TT)、 (TB)お
よび(TD)の内容を順次比較し、パルス幅カウンタ(
PCNT)の値が各パルス幅レジスタの値に達するか又
はトリガ入力がオフレベル(H)になったら、その系統
のドライバ出力(CDRIVE)、 (TDRIVE)
。
(BDRIVE) 又は(DDRIVIE) ニオフL
/ベル(H)をセットする。つまり、第2c図に示すよ
うにタイマ割込みの発生に同期して低レベルLになり、
それぞれのパルス幅レジスタの値に応じた時間経過後に
高レベルHになりこれをタイマ割込み周期TPの周期で
繰り返すパルス信号が、それぞれのドライバ出力(CD
RIVE)、 (TDRIVE)、 CBDRIVE
)および(DDRIVE)に得られる。
/ベル(H)をセットする。つまり、第2c図に示すよ
うにタイマ割込みの発生に同期して低レベルLになり、
それぞれのパルス幅レジスタの値に応じた時間経過後に
高レベルHになりこれをタイマ割込み周期TPの周期で
繰り返すパルス信号が、それぞれのドライバ出力(CD
RIVE)、 (TDRIVE)、 CBDRIVE
)および(DDRIVE)に得られる。
全てのドライバ出力がオフになると、ファンクションカ
ウンタ(FCNT)の内容をチェックしてそれに応じた
処理を実行する。ファンクションカウンタ(FCNT)
は、初期値は0であり、ループ処理を行なって後述する
ステートカウンタが0〜9まで変化する(10回のルー
プ処理を行なう)毎に+1され、4になると0にクリア
される。ファンクションカウンタ(FCNT)の内容が
O,L、2.3および4なら、それぞれA/D変換器A
DCの入力信号として、C電源出力からのフィードバッ
ク信号、T電源出力からのフィードバック信号、B電源
出力からのフィードバック信号、D電源出力からのフィ
ードバック信号、および残留電位信号を選択する。
ウンタ(FCNT)の内容をチェックしてそれに応じた
処理を実行する。ファンクションカウンタ(FCNT)
は、初期値は0であり、ループ処理を行なって後述する
ステートカウンタが0〜9まで変化する(10回のルー
プ処理を行なう)毎に+1され、4になると0にクリア
される。ファンクションカウンタ(FCNT)の内容が
O,L、2.3および4なら、それぞれA/D変換器A
DCの入力信号として、C電源出力からのフィードバッ
ク信号、T電源出力からのフィードバック信号、B電源
出力からのフィードバック信号、D電源出力からのフィ
ードバック信号、および残留電位信号を選択する。
次に、ステートカウンタ(SCNT)の内容をチェック
してそれに応じた処理に進む。ステートカウンタ(SC
NT)は、初期値がOであり、ループ処理を行なう毎に
+1され、9になると0にクリアされる。ステートカウ
ンタ(SCNT)が0の場合、A/D変換を許容((C
5)をLにセットし)し、第4g図に示すスタートビッ
トチェックを行なう。
してそれに応じた処理に進む。ステートカウンタ(SC
NT)は、初期値がOであり、ループ処理を行なう毎に
+1され、9になると0にクリアされる。ステートカウ
ンタ(SCNT)が0の場合、A/D変換を許容((C
5)をLにセットし)し、第4g図に示すスタートビッ
トチェックを行なう。
まず、A/D変換器ADCのクロック端子CLKに高レ
ベルHを印加し、データ端子DATAが低レベルLにな
ったらクロック端子CLKに低レベルLを印加し、デー
タ端子DATAが低レベルなら、スタートビットを検出
したと判定する。このA/D変換器ADCは、スタート
ピッ1へを出力した後、クロック端子CLKのレベルが
高レベルから低レベルに変化するのに同期して、入力ア
ナログ信号のレベルを1ビツトずつデジタル信号に変換
し、そのビットデータをデータ端子DATAにセットす
る。
ベルHを印加し、データ端子DATAが低レベルLにな
ったらクロック端子CLKに低レベルLを印加し、デー
タ端子DATAが低レベルなら、スタートビットを検出
したと判定する。このA/D変換器ADCは、スタート
ピッ1へを出力した後、クロック端子CLKのレベルが
高レベルから低レベルに変化するのに同期して、入力ア
ナログ信号のレベルを1ビツトずつデジタル信号に変換
し、そのビットデータをデータ端子DATAにセットす
る。
ステートビットを検出し、ステートカウンタ(SCNT
)の値が1〜8の間から、各ループ処理毎にそれぞれ1
回、第4h図に示す1ビツトA/D変換処理を行なう。
)の値が1〜8の間から、各ループ処理毎にそれぞれ1
回、第4h図に示す1ビツトA/D変換処理を行なう。
まず、A/D変換器ADCのクロック端子CLKに高レ
ベルHをセットし、キャリーフラグ(CV)をOにクリ
アし、クロック端子CLKに低レベルLを印加する。こ
のタイミングでA/D変換器ADCから1ビツトのデジ
タルデータがデータ端子DATAに出力されるので、そ
の端子のレベルをチェックする。高レベルHならキャリ
ーフラグ(CV)の内容を反転(補数をとる)し、低レ
ベルLならそのままとし、このキャリーフラグ(CV)
を含めて。
ベルHをセットし、キャリーフラグ(CV)をOにクリ
アし、クロック端子CLKに低レベルLを印加する。こ
のタイミングでA/D変換器ADCから1ビツトのデジ
タルデータがデータ端子DATAに出力されるので、そ
の端子のレベルをチェックする。高レベルHならキャリ
ーフラグ(CV)の内容を反転(補数をとる)し、低レ
ベルLならそのままとし、このキャリーフラグ(CV)
を含めて。
アキュームレータ(A)の内容をビットシフトする。
8回これを繰り返すと、すなわちスタートビットを検出
してから8回のループ処理を行なうと、8ビツト全ての
A/D変換が完了し、アキュームレータ(A)にその8
ビツトデータが残る。
してから8回のループ処理を行なうと、8ビツト全ての
A/D変換が完了し、アキュームレータ(A)にその8
ビツトデータが残る。
A/D変換が終了すると、ステートカウンタ(SCNT
)の値が9になる。ステートカウンタが9なら、A/D
変換を禁止(ADCの端子CSにHを印加)し、アキュ
ームレータ(A)に残った8ビツトデータを所定のメモ
リ領域にス1へアする。ファンクションカウンタ(FC
NT)の内容に応じて、次の処理を選択する。ファンク
ションカウンタ(FCNT)の値が0.1,2.3およ
び4の場合、それぞれ、C電流比例演算、T電流比例演
算、B電圧比例演算、D電圧比例演算およびバイアス電
圧配列演算と感光体電位補正演算を行なう。
)の値が9になる。ステートカウンタが9なら、A/D
変換を禁止(ADCの端子CSにHを印加)し、アキュ
ームレータ(A)に残った8ビツトデータを所定のメモ
リ領域にス1へアする。ファンクションカウンタ(FC
NT)の内容に応じて、次の処理を選択する。ファンク
ションカウンタ(FCNT)の値が0.1,2.3およ
び4の場合、それぞれ、C電流比例演算、T電流比例演
算、B電圧比例演算、D電圧比例演算およびバイアス電
圧配列演算と感光体電位補正演算を行なう。
第41図および第4m図を参照して、C電流補正演算を
説明する。設定値レジスタ(S)にC電源出力電流の設
定値SCをロードし、ギャップレジスタCG)に参照値
GCをロードし、比例ゲインレジスタ(K)に比例ゲイ
ン(KC)をロードし、サブルーチン<PWM>に進む
。<PVM>では、設定値レジスタ(S)の内容から検
出値レジスタ(V)(A/D変換されたフィードバック
データを保持する)の内容を減算し、この結果を偏差レ
ジスタ(E)に格納する。
説明する。設定値レジスタ(S)にC電源出力電流の設
定値SCをロードし、ギャップレジスタCG)に参照値
GCをロードし、比例ゲインレジスタ(K)に比例ゲイ
ン(KC)をロードし、サブルーチン<PWM>に進む
。<PVM>では、設定値レジスタ(S)の内容から検
出値レジスタ(V)(A/D変換されたフィードバック
データを保持する)の内容を減算し、この結果を偏差レ
ジスタ(E)に格納する。
偏差レジスタ(E)の内容の絶対値をギャップレジスタ
(G)の内容と比較し、設定値と検出値との偏差が所定
以上の場合には、偏差レジスタ(E)の内容に比例ゲイ
ンレジスタ(K)の内容を乗じてその結果をパルス輻カ
ウンタ操作量レジスタ(TE)に格納し、パルス幅カウ
ンタ設定値レジスタ(TM)の内容を加算する。なお、
設定値と検出値との偏差が所定(G)以下の場合には、
制御の行きすぎによるハンチングの発生を防止するため
、レジスタ(TM )の内容は変更しない。
(G)の内容と比較し、設定値と検出値との偏差が所定
以上の場合には、偏差レジスタ(E)の内容に比例ゲイ
ンレジスタ(K)の内容を乗じてその結果をパルス輻カ
ウンタ操作量レジスタ(TE)に格納し、パルス幅カウ
ンタ設定値レジスタ(TM)の内容を加算する。なお、
設定値と検出値との偏差が所定(G)以下の場合には、
制御の行きすぎによるハンチングの発生を防止するため
、レジスタ(TM )の内容は変更しない。
サブルーチン<PWM>を抜けたら、パルス幅カウンタ
設定値レジスタ(TM)の内容を、C電源のパルス幅レ
ジスタ(TC)に格納する。T電流比例演算、B電圧比
例演算およびDf!圧比例演算は。
設定値レジスタ(TM)の内容を、C電源のパルス幅レ
ジスタ(TC)に格納する。T電流比例演算、B電圧比
例演算およびDf!圧比例演算は。
設定値SCがそれぞれST、 (SB)およびSDに変
わり、参照値GCがそれぞれGT、GBおよびGDに変
わり、比例ゲインにCがそれぞれKT、 KBおよびK
Dに変わる他は、C電流補正演算と同一である。
わり、参照値GCがそれぞれGT、GBおよびGDに変
わり、比例ゲインにCがそれぞれKT、 KBおよびK
Dに変わる他は、C電流補正演算と同一である。
但し、ここで注意を要するのは、地汚れのない現像をす
るためには、設定値STおよびSDが予め定めた固定値
であるのに対して、設定値SCおよび(3B)を変化さ
せる必要があることである。すなわち、たとえばBit
源出力出力イアス電圧)は、バイアスコントロールデー
タ (第2a図に示1ibo。
るためには、設定値STおよびSDが予め定めた固定値
であるのに対して、設定値SCおよび(3B)を変化さ
せる必要があることである。すなわち、たとえばBit
源出力出力イアス電圧)は、バイアスコントロールデー
タ (第2a図に示1ibo。
blおよびblである3ビツトデータ)および感光体ド
ラム1の残留電位に応じて変更する必要がある。
ラム1の残留電位に応じて変更する必要がある。
現像バイアス電圧(B電源出力)は、一般に、第5図に
示すように、感光体の残留電位(VR)に比例して増加
させる必要が(現像特性を一定に保つため)があり、ま
た例えば操作パネルから濃度調整を行なう場合には、そ
の電圧値を1ノツチ分の所定値だけステップ状に増加又
は減小させる必要がある。
示すように、感光体の残留電位(VR)に比例して増加
させる必要が(現像特性を一定に保つため)があり、ま
た例えば操作パネルから濃度調整を行なう場合には、そ
の電圧値を1ノツチ分の所定値だけステップ状に増加又
は減小させる必要がある。
つまり、バイアス電圧の出力電圧0UTB (設定値)
は、感光体ドラムlの残留電位を顕像パターン検知セン
サ5で検知した検知レベルに基づく電圧補正量を(Vp
)、感光体の特性で定まる定数をり。
は、感光体ドラムlの残留電位を顕像パターン検知セン
サ5で検知した検知レベルに基づく電圧補正量を(Vp
)、感光体の特性で定まる定数をり。
電圧調整量を(B)とすれば1次式のように設定される
。
。
0UTB= (VP)X D + (’B )[vコ残
留電位補正演算では、第4n図に示すように、まず入力
ポートP20〜P27の状態を保持する入力バッファ(
INBUFF)の内容をアキュームレータ(A)に移し
、それと078(16進)との論理積をとることにより
下位3ビツトすなわちバイアスコントロールデータを抽
出し、これをバイアス電圧データテーブルの先頭アドレ
スTABLE’に加算してテーブル参照アドレスを生成
し、そのアドレスのテーブルデータを読んでそれをレジ
スタ(B)に格納し、残留電位データをレジスタ(V)
に格納し、(V)XP+(B)を演算して結果を設定値
レジスタ(SB)に格納する。なお、バイアス電圧デー
タテーブルは、アドレスTABLEから始まる8バイト
の連続するメモリ領域であり、それぞれのアドレスに、
電圧の調整量(B)に対応する8ビツトデータが小さい
ものから順に格納されている。
留電位補正演算では、第4n図に示すように、まず入力
ポートP20〜P27の状態を保持する入力バッファ(
INBUFF)の内容をアキュームレータ(A)に移し
、それと078(16進)との論理積をとることにより
下位3ビツトすなわちバイアスコントロールデータを抽
出し、これをバイアス電圧データテーブルの先頭アドレ
スTABLE’に加算してテーブル参照アドレスを生成
し、そのアドレスのテーブルデータを読んでそれをレジ
スタ(B)に格納し、残留電位データをレジスタ(V)
に格納し、(V)XP+(B)を演算して結果を設定値
レジスタ(SB)に格納する。なお、バイアス電圧デー
タテーブルは、アドレスTABLEから始まる8バイト
の連続するメモリ領域であり、それぞれのアドレスに、
電圧の調整量(B)に対応する8ビツトデータが小さい
ものから順に格納されている。
次に、ACカウンタ(ACNT)の内容をチェックし、
これがOならACドライバ出力を反転する。すなわち、
(ACPO5I)がLで(ACNEGA)がHであれば
(ACPO5I)をI]にセットして(ACNEGA)
をLにセットする。ACカウンタの値が0以外なら、
ACドライバ出力の状態は変更しない。第4Q図に示す
ように、タイマ割込みにおいてはACカウンタ(ACN
T)の内容を+1するとともにその内容を■ (この例
では12)になったらACカウンタを0にクリアするの
で、 ACカウンタは12回のタイマ割込みに1回の割
合いで0になる。したがって、ACドライバ出力(AC
PO5I)および(ACNIEGA)はタイマ割込みの
12周期に1回の割合いで反転する。つまり、トランス
T4の一次巻線側の印加電力の極性がタイマ割込みの1
2周期に1回の割合いで変化するから、その12周期毎
にD電源出力の極性が変化し、これがD電源から出力さ
れる交流電圧の周波数に対応する。
これがOならACドライバ出力を反転する。すなわち、
(ACPO5I)がLで(ACNEGA)がHであれば
(ACPO5I)をI]にセットして(ACNEGA)
をLにセットする。ACカウンタの値が0以外なら、
ACドライバ出力の状態は変更しない。第4Q図に示す
ように、タイマ割込みにおいてはACカウンタ(ACN
T)の内容を+1するとともにその内容を■ (この例
では12)になったらACカウンタを0にクリアするの
で、 ACカウンタは12回のタイマ割込みに1回の割
合いで0になる。したがって、ACドライバ出力(AC
PO5I)および(ACNIEGA)はタイマ割込みの
12周期に1回の割合いで反転する。つまり、トランス
T4の一次巻線側の印加電力の極性がタイマ割込みの1
2周期に1回の割合いで変化するから、その12周期毎
にD電源出力の極性が変化し、これがD電源から出力さ
れる交流電圧の周波数に対応する。
この例では、マイクロコンピュータCPUの発振源とし
て11MIIzの水晶を使用しており、これを発振する
基本クロックパルスを分周して、内部タイマには43.
6μsecのクロックパルスを計数させている。またこ
の内部タイマは計数値が256になると割込みを発生し
てフラグTFを立てるが、ここではタイマに254(N
)をプリセットしているので、87.2μSee毎にタ
イマフラグTFがセットされる。
て11MIIzの水晶を使用しており、これを発振する
基本クロックパルスを分周して、内部タイマには43.
6μsecのクロックパルスを計数させている。またこ
の内部タイマは計数値が256になると割込みを発生し
てフラグTFを立てるが、ここではタイマに254(N
)をプリセットしているので、87.2μSee毎にタ
イマフラグTFがセットされる。
従って上記ループ処理は87.2μsecにつき1回の
割合で実行するので、トランスTI、 T2. T3お
よびT4の一次側巻線を付勢するパルス電力のオン/オ
フ周期が87.2μsecになる。第3a図および第3
b図に示すマイクロコンピュータCPUの動作について
みると、1つの電源系統のフィードバック信号をサンプ
リングするA/D変換処理は、スタートビットのチェッ
クを含めてそれぞれ9周期、すなわち784.8μse
cに1回行なわれ、その後の1周期で1つの電源系状の
設定値演算処理が行なわれる。
割合で実行するので、トランスTI、 T2. T3お
よびT4の一次側巻線を付勢するパルス電力のオン/オ
フ周期が87.2μsecになる。第3a図および第3
b図に示すマイクロコンピュータCPUの動作について
みると、1つの電源系統のフィードバック信号をサンプ
リングするA/D変換処理は、スタートビットのチェッ
クを含めてそれぞれ9周期、すなわち784.8μse
cに1回行なわれ、その後の1周期で1つの電源系状の
設定値演算処理が行なわれる。
この例では4つの電源系統があり、更に感光体残留電位
のサンプリングとバイアス電圧の補正処理を行なうので
上記処理を5回繰り返すことになり、50処理周期すな
わち4.36m5ecで全体の処理を1回行なうことに
なる。つまり、負荷に変化が生じた場合等には、最大で
も4.36m5ec経過後には、それを補正する球めの
処理を行なうことができる。D電源の交流周期は、タイ
マ割込みの24周期に相当するので、この例では略2.
01 m secになる。
のサンプリングとバイアス電圧の補正処理を行なうので
上記処理を5回繰り返すことになり、50処理周期すな
わち4.36m5ecで全体の処理を1回行なうことに
なる。つまり、負荷に変化が生じた場合等には、最大で
も4.36m5ec経過後には、それを補正する球めの
処理を行なうことができる。D電源の交流周期は、タイ
マ割込みの24周期に相当するので、この例では略2.
01 m secになる。
なお、上記実施例では1つのマイクロコンピュータを用
いて複数の電源系統を時分割制御しているが、従来より
一般に行なわれているように、鋸歯状波発生器、アナロ
グ比較器、基準電圧発生器等を用いてアナログ方式でパ
ルス幅制御を行なってもよい。しかし、実施例のように
すれば、1つの制御装置で多数の電源を制御できるので
回路構成が簡単になり、しかもデジタル制御であるため
ノイズの影響を受けにくくなり、開整作業が簡単になる
。
いて複数の電源系統を時分割制御しているが、従来より
一般に行なわれているように、鋸歯状波発生器、アナロ
グ比較器、基準電圧発生器等を用いてアナログ方式でパ
ルス幅制御を行なってもよい。しかし、実施例のように
すれば、1つの制御装置で多数の電源を制御できるので
回路構成が簡単になり、しかもデジタル制御であるため
ノイズの影響を受けにくくなり、開整作業が簡単になる
。
なお上記実施例においては、−形式の複写機の場合につ
いて説明したが、例えば記録紙(電荷担持体)を移動さ
せるファクシミリ等においては、M2O紙の移動に応じ
たタイミングパルスを発生してそれを測定した結果に応
じて電圧および電流を設定すればよい。
いて説明したが、例えば記録紙(電荷担持体)を移動さ
せるファクシミリ等においては、M2O紙の移動に応じ
たタイミングパルスを発生してそれを測定した結果に応
じて電圧および電流を設定すればよい。
一方、感光体残留電位を検知するための顕像パターンは
、次のようにして形成される。
、次のようにして形成される。
帯電−全面イレーズ後、またはコピーサイクル終了時に
おける光除電後の感光体電位は、本来0ボルト付近とな
るが、感光体の経時変化に伴なう劣化により、全面イレ
ーズもしくは光除電後も、たとえば第6図に示すように
、感光体表面電位が0ボルトにならず、残留電位が検出
される。
おける光除電後の感光体電位は、本来0ボルト付近とな
るが、感光体の経時変化に伴なう劣化により、全面イレ
ーズもしくは光除電後も、たとえば第6図に示すように
、感光体表面電位が0ボルトにならず、残留電位が検出
される。
しかも、この感光体残留電位は、先に述べたように、コ
ピーサイクル(複写枚数)の増加に比例して増大(第5
図参照)し、コピーの地肌汚れ発生の原因となる。
ピーサイクル(複写枚数)の増加に比例して増大(第5
図参照)し、コピーの地肌汚れ発生の原因となる。
ところで、この感光体残留電位を利用し、たとえば第7
図(a)に示すように、この感光体の非両像領域に対し
て、現像バイアス電圧を、その画像形成領域よりも低い
電圧(好ましくは0■)に変化させることにより、上記
非画像領域に対して。
図(a)に示すように、この感光体の非両像領域に対し
て、現像バイアス電圧を、その画像形成領域よりも低い
電圧(好ましくは0■)に変化させることにより、上記
非画像領域に対して。
上記感光体残留電位に応じた量のトナーを付着させるこ
とができる(第7図(b))。
とができる(第7図(b))。
したがって、この感光体残留電位により付着したトナー
像を顕像パターンとし、この顕像パターンを、たとえば
第8図に示すような顕像パターン検知センサ5で検知す
ることによって、その出力電圧レベルに基づいて感光体
残留電位を知ることができる。
像を顕像パターンとし、この顕像パターンを、たとえば
第8図に示すような顕像パターン検知センサ5で検知す
ることによって、その出力電圧レベルに基づいて感光体
残留電位を知ることができる。
そこで、たとえば、第2a図に示したように、顕像パタ
ーン検知センサ5の出力レベル(VSR)を。
ーン検知センサ5の出力レベル(VSR)を。
その基準レベル(VSG)、 (たとえば第8図に示す
ように感光体の顕像パターンの形成しない部分の出力レ
ベル)と比較して、第9図に示すように、現像バイアス
電圧を、出力レベル(VSR)と基準レベル(VSG)
との比に基づいて、ステップ状に増加させることにより
、感光体の画像形成領域における地肌汚れの発生を防止
することができる。
ように感光体の顕像パターンの形成しない部分の出力レ
ベル)と比較して、第9図に示すように、現像バイアス
電圧を、出力レベル(VSR)と基準レベル(VSG)
との比に基づいて、ステップ状に増加させることにより
、感光体の画像形成領域における地肌汚れの発生を防止
することができる。
しかしながら、先に述べたように、トナー飛散などによ
りイレーザの照射光量が低下すると、感光体残留電位が
、それ自体の経時劣化による残留電位と、イレーザの光
量不足による残留電位とを重畳した値となり、感光体の
みの残留電位とならなくなる。
りイレーザの照射光量が低下すると、感光体残留電位が
、それ自体の経時劣化による残留電位と、イレーザの光
量不足による残留電位とを重畳した値となり、感光体の
みの残留電位とならなくなる。
そこで、この顕像パターンの形成に先立って。
通常コピー時の帯電電位よりも低い電位(ただし、感光
体のみの残留電位よりは高くなるような電位)で、上記
感光体を帯電し、この電位をイレーズしたのちの感光体
残留電位により上記顕像パターンを形成する。
体のみの残留電位よりは高くなるような電位)で、上記
感光体を帯電し、この電位をイレーズしたのちの感光体
残留電位により上記顕像パターンを形成する。
すなわち、このようにして得られる感光体残留電位は、
イレーザにより除電される帯電電位が通常のコピー時の
帯電電位よりも低いので、たとえば第10図に示すよう
に、イレーザが光量不足となった場合でも、この帯電電
位を完全に除去することができ、感光体表面には、感光
体のみの除電不能な電位のみが残留することになる。し
たがって。
イレーザにより除電される帯電電位が通常のコピー時の
帯電電位よりも低いので、たとえば第10図に示すよう
に、イレーザが光量不足となった場合でも、この帯電電
位を完全に除去することができ、感光体表面には、感光
体のみの除電不能な電位のみが残留することになる。し
たがって。
この残留電位によって形成される顕像パターンは正確な
感光体残留電位のみによって形成されることになり、感
光体電位の補正量が適正化される。
感光体残留電位のみによって形成されることになり、感
光体電位の補正量が適正化される。
次に、上述のようにして顕像パターンを形成する制御動
作の一例を第11図に基づいて説明する。
作の一例を第11図に基づいて説明する。
複写機のコピーサイクルは、画像域タイミング外からス
タートする。先ず、コピーサイクルがこの画像域タイミ
ング外にあるか否かが判断され、画像域タイミング外の
状態で、感光体にトナーを付着させないために、感光体
残留電位よりも高い高バイアス値の現像バイアスを、バ
イアス出方用メモリー(OUTI3メモリー)にセット
する。
タートする。先ず、コピーサイクルがこの画像域タイミ
ング外にあるか否かが判断され、画像域タイミング外の
状態で、感光体にトナーを付着させないために、感光体
残留電位よりも高い高バイアス値の現像バイアスを、バ
イアス出方用メモリー(OUTI3メモリー)にセット
する。
次に、コピー枚数(感光体ドラム1のコピーサイクル数
の累計値)が、所定コピー枚数に達しているか否かを判
断する。ここで、感光体残留電位は1通常1000枚〜
toooo枚のコピーでバイアス電圧の1ノツチ分しか
上昇しないので、この感光体残留電位の上昇分を見込ん
で現像バイアスを補正するタイミングを予め実験的に求
め、このときのコピー枚数(上記上昇率におけるタイミ
ングでは500枚〜1000枚)を、上記の所定コピー
枚数とする。
の累計値)が、所定コピー枚数に達しているか否かを判
断する。ここで、感光体残留電位は1通常1000枚〜
toooo枚のコピーでバイアス電圧の1ノツチ分しか
上昇しないので、この感光体残留電位の上昇分を見込ん
で現像バイアスを補正するタイミングを予め実験的に求
め、このときのコピー枚数(上記上昇率におけるタイミ
ングでは500枚〜1000枚)を、上記の所定コピー
枚数とする。
このときのコピー枚数が所定コピー枚数に達していなけ
れば、バイアス出力用メモリーに対応した内容がボート
D[32に出力されC0UTBメモリー→DB2)高バ
イアスの電圧が現像スリーブに供給される。
れば、バイアス出力用メモリーに対応した内容がボート
D[32に出力されC0UTBメモリー→DB2)高バ
イアスの電圧が現像スリーブに供給される。
ここで、所定コピー枚数以上であれば顕像パターンを形
成するための主帯電をオンし、感光体を通常コピー時の
帯tttffl圧よりも低い電圧で帯電される。このの
ち、イレーザをオンして感光体表面の電荷を消去する。
成するための主帯電をオンし、感光体を通常コピー時の
帯tttffl圧よりも低い電圧で帯電される。このの
ち、イレーザをオンして感光体表面の電荷を消去する。
これにより感光体表面には、感光体の劣化による電位の
みが残留される。
みが残留される。
次いで、この顕像パターンバイアス(最低バイアス)の
値をバイアス出力メモリーにセット(前のメモリーの内
容と変更する)し、顕像パターンバイアス(第7図(a
)参照)を現像器4Bの現像スリーブ4bに供給し、感
光体にその残留電位に応じた黒色トナーを付着させて顕
像パターンを形成する(第7図(b)参照)。
値をバイアス出力メモリーにセット(前のメモリーの内
容と変更する)し、顕像パターンバイアス(第7図(a
)参照)を現像器4Bの現像スリーブ4bに供給し、感
光体にその残留電位に応じた黒色トナーを付着させて顕
像パターンを形成する(第7図(b)参照)。
次いで、この顕像パターンを、顕像パターン検知センサ
5で読み取り(第8図)、新たな補正バイアス量vPI
X Dを;A、算し、この1寅n幀を、それまでの補
正バイアス量VpoXDに置き換える。この新たな補正
バイアス量Vp、 X Dは、その直後から。
5で読み取り(第8図)、新たな補正バイアス量vPI
X Dを;A、算し、この1寅n幀を、それまでの補
正バイアス量VpoXDに置き換える。この新たな補正
バイアス量Vp、 X Dは、その直後から。
補正バイアス量VpoXDとして扱われるように設定さ
れる。
れる。
次いで、上記顕像パターン主帯電およびイレーザをオフ
したのち、上記の所定コピー枚数のメモリーをリセット
し、画像タイミングの判定ステップへ戻す。
したのち、上記の所定コピー枚数のメモリーをリセット
し、画像タイミングの判定ステップへ戻す。
そして、コピーサイクルが画像域タイミング内となると
、オペレーターにより操作されたノツチ選択のデータに
基づいて、電圧調整ff1Bを選択してこれに補正バイ
アス量VpoXDを加算し1画像域のバイアスを設定し
て現像バイアスとして供給する。
、オペレーターにより操作されたノツチ選択のデータに
基づいて、電圧調整ff1Bを選択してこれに補正バイ
アス量VpoXDを加算し1画像域のバイアスを設定し
て現像バイアスとして供給する。
ところで、上記実施例では感光体残留電位の上昇に伴な
う地汚れ発生を防止するために、現像器の現像バイアス
電圧を補正する例を示したが、帯電器の帯電グリッド電
圧、もしくは露光器の露光電圧のいずれか、あるいはそ
れらを組合せて補正するようにしてもよい。ここで、帯
電グリッド電圧、現像バイアス電圧、および露光電圧は
、たとえば第10図に示すように、感光体残留電位の上
昇率、すなわち、顕像パターン検知センサ5の顕像パタ
ーン検知時の検知レベル(VSR)と、感光体の非現像
域検知時の検知レベル(VSG)との比に応じてステッ
プ状に上昇させて補正される。
う地汚れ発生を防止するために、現像器の現像バイアス
電圧を補正する例を示したが、帯電器の帯電グリッド電
圧、もしくは露光器の露光電圧のいずれか、あるいはそ
れらを組合せて補正するようにしてもよい。ここで、帯
電グリッド電圧、現像バイアス電圧、および露光電圧は
、たとえば第10図に示すように、感光体残留電位の上
昇率、すなわち、顕像パターン検知センサ5の顕像パタ
ーン検知時の検知レベル(VSR)と、感光体の非現像
域検知時の検知レベル(VSG)との比に応じてステッ
プ状に上昇させて補正される。
(効 果)
本発明による感光体電位制御装置は、上述のように、上
記顕像パターンを正確な感光体残留電位で形成すること
により、感光体電位の補正量を適正化することができる
ので、感光体残留電位によるコピーの地汚れを防止する
ことができる。
記顕像パターンを正確な感光体残留電位で形成すること
により、感光体電位の補正量を適正化することができる
ので、感光体残留電位によるコピーの地汚れを防止する
ことができる。
第1図は本発明を実施する複写機のドラムの周辺と電源
装置との接続を示すブロック図、第2a図は第1図に示
す高圧電源ユニットの回路構成を示す電気回路図、第2
b図は第2a図に示す装置の動作タイミングを示すタイ
ミングチャート、第2c図は第2b図の一部を拡大して
示すタイミングチャート、第3a図および第3b図は第
2a図に示すマイクロコンピュータの概略動作を示すフ
ローチャート、第4a図、第4C図、第4e図、第4f
図、第4g図、第4h図。 第41図、第43図、第4に図、第4Q図、第4II1
図および第4n図はそれぞれ第3a図又は第3b図に示
す処理の詳細を示すフローチャート、第4b図はタイマ
割込み処理を示すフローチャート、第4d図はタイミン
グパルスを示す波形図、第5図は感光体残留電位とバイ
アス電圧との関係を示すグラフ、第6図は感光体表面電
位と経時変化との関係を示すグラフ、第7図(a)、(
b)は現像バイアスおよび残留電位とトナー付着量との
関係を示すグラフ、第8図は上記顕微パターン検知セン
サの概略図、第9図は感光体残留電位の上昇率と帯電グ
リッド電圧。 現像バイアス電圧、n光電圧との関係を示すグラフ、第
10図は感光体表面電位とイレーザ光量との関係を示す
グラフ、第11図は顕像パターンの形成動作を示すフロ
ーチャートである。 ■・・・・感光体ドラム、2・・・・帯電器、3・・・
・イレーザ、4・・・・現像器、5・・・・顕像パター
ン検出器、6・・・・転写器、7・・・・分離器、9・
・・・光除電器、100・・・・複写プロセスユニット
、200・・・・高圧電源ユニット。 2も4K し0 %4し 四〇(Bt、L
[#す*1) (pi2を比(5
+1 ;! $ 、l>兜5 図 春光4F残6Bタイプ (VF?、) %6図 綺向□ 焦40(2) イし−−リ′尤ノ【 −−ラ %7園
装置との接続を示すブロック図、第2a図は第1図に示
す高圧電源ユニットの回路構成を示す電気回路図、第2
b図は第2a図に示す装置の動作タイミングを示すタイ
ミングチャート、第2c図は第2b図の一部を拡大して
示すタイミングチャート、第3a図および第3b図は第
2a図に示すマイクロコンピュータの概略動作を示すフ
ローチャート、第4a図、第4C図、第4e図、第4f
図、第4g図、第4h図。 第41図、第43図、第4に図、第4Q図、第4II1
図および第4n図はそれぞれ第3a図又は第3b図に示
す処理の詳細を示すフローチャート、第4b図はタイマ
割込み処理を示すフローチャート、第4d図はタイミン
グパルスを示す波形図、第5図は感光体残留電位とバイ
アス電圧との関係を示すグラフ、第6図は感光体表面電
位と経時変化との関係を示すグラフ、第7図(a)、(
b)は現像バイアスおよび残留電位とトナー付着量との
関係を示すグラフ、第8図は上記顕微パターン検知セン
サの概略図、第9図は感光体残留電位の上昇率と帯電グ
リッド電圧。 現像バイアス電圧、n光電圧との関係を示すグラフ、第
10図は感光体表面電位とイレーザ光量との関係を示す
グラフ、第11図は顕像パターンの形成動作を示すフロ
ーチャートである。 ■・・・・感光体ドラム、2・・・・帯電器、3・・・
・イレーザ、4・・・・現像器、5・・・・顕像パター
ン検出器、6・・・・転写器、7・・・・分離器、9・
・・・光除電器、100・・・・複写プロセスユニット
、200・・・・高圧電源ユニット。 2も4K し0 %4し 四〇(Bt、L
[#す*1) (pi2を比(5
+1 ;! $ 、l>兜5 図 春光4F残6Bタイプ (VF?、) %6図 綺向□ 焦40(2) イし−−リ′尤ノ【 −−ラ %7園
Claims (1)
- 感光体の残留電位により顕像パターンを形成するととも
に、この顕像パターンの濃度を光学的に検出した検知レ
ベルにより上記感光体の残留電位を計測し、この検知レ
ベルに基づいて、現像バイアス、帯電電位、および露光
量のいずれか、またはそれらの組合せにより、上記感光
体の作像時における電位を上記残留電位に応じて補正す
るように構成した複写機において、上記顕像パターンの
形成に先立って、通常コピー時の帯電電位よりも低い電
位で上記感光体を帯電し、この電位をイレーズしたのち
の感光体残留電位により上記顕像パターンを形成するこ
とを特徴とする感光体電位制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61295886A JPH0820783B2 (ja) | 1986-12-12 | 1986-12-12 | 感光体電位制御方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61295886A JPH0820783B2 (ja) | 1986-12-12 | 1986-12-12 | 感光体電位制御方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63148272A true JPS63148272A (ja) | 1988-06-21 |
| JPH0820783B2 JPH0820783B2 (ja) | 1996-03-04 |
Family
ID=17826444
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61295886A Expired - Lifetime JPH0820783B2 (ja) | 1986-12-12 | 1986-12-12 | 感光体電位制御方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0820783B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0335265A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-15 | Mita Ind Co Ltd | 画像濃度制御装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59201067A (ja) * | 1983-12-26 | 1984-11-14 | Ricoh Co Ltd | 電子写真複写機 |
| JPS61255363A (ja) * | 1985-05-08 | 1986-11-13 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
-
1986
- 1986-12-12 JP JP61295886A patent/JPH0820783B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59201067A (ja) * | 1983-12-26 | 1984-11-14 | Ricoh Co Ltd | 電子写真複写機 |
| JPS61255363A (ja) * | 1985-05-08 | 1986-11-13 | Ricoh Co Ltd | 画像形成装置 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0335265A (ja) * | 1989-06-30 | 1991-02-15 | Mita Ind Co Ltd | 画像濃度制御装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0820783B2 (ja) | 1996-03-04 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |