JPS63150975A - アモルフアスシリコン太陽電池基板の製造方法 - Google Patents

アモルフアスシリコン太陽電池基板の製造方法

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Publication number
JPS63150975A
JPS63150975A JP61298364A JP29836486A JPS63150975A JP S63150975 A JPS63150975 A JP S63150975A JP 61298364 A JP61298364 A JP 61298364A JP 29836486 A JP29836486 A JP 29836486A JP S63150975 A JPS63150975 A JP S63150975A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
plating
layer
thickness
metal plate
solar cell
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61298364A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasusuke Irie
入江 泰佑
Masayoshi Tadano
政義 多々納
Eiji Watanabe
栄次 渡辺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Nisshin Co Ltd
Original Assignee
Nisshin Steel Co Ltd
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Publication date
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Priority to JP61298364A priority Critical patent/JPS63150975A/ja
Publication of JPS63150975A publication Critical patent/JPS63150975A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10FINORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
    • H10F77/00Constructional details of devices covered by this subclass
    • H10F77/10Semiconductor bodies
    • H10F77/16Material structures, e.g. crystalline structures, film structures or crystal plane orientations
    • H10F77/169Thin semiconductor films on metallic or insulating substrates
    • H10F77/1692Thin semiconductor films on metallic or insulating substrates the films including only Group IV materials
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Photovoltaic Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は表面にアモルファスシリコン(以下a−Siと
略記する)を形成する太陽電池基板において、a−Si
を形成した場合の光エネルギー変換効率を向上させた金
属製基板の製造方法に関する。
(従来技術) 従来よりa−Si太陽電池基板にはガラス製のものとス
テンレス製のものが使用されでいるが、いずれも薄いa
−3i層(1μ輪以下)を均一かつ連続的に形成するた
め、表面粗度Rmaにが0.2μm以下の平滑面になる
ように表面仕上げしている。
しかし、表面が平滑であるとa−Si層を透過した光は
1次反射され、そのまま外部へ放出されるという単純な
光の入射、反射のパターンとなる。このため光エネルギ
ー変換効率を高めるには限界があった。
そこで本発明者らは先にNiめっきにより基板表面を凹
凸にして、太陽電池に入射した光の一部を2次反射、さ
らには3次反射と複数回反射させる基板を提案した(特
願昭60−284580号)。
この基板はステンレス鋼板に無光沢電気Niめっきを施
しで、めっき層表面の電析粒の大きさを0.01−1.
5μ鶴に、また表面粗さをRwaxで0,01−0.6
μmにしたもので、電析粒の頂点は当初丸くなっている
ものと考えられていた。しかしめっき層表面を商倍率の
電子顕微鏡で観察すると、電析粒の頂点は、第3図のよ
うに、角形に尖っているものであった。なお第3図にお
いて、1はステンレス鋼板、2は無光沢Niめっき層、
3はa−3i層である。
(発明が解決しようとする問題点) このためa−Siを形成した場合、電析粒頂点の尖った
部位でa−Si層内のp−1−n層が短絡回路を形成し
てしまうことが原因と考えられるが、従来基板より、光
エネルギー変換効率は向上しているものの、解放電圧が
低いという欠点があった。
そこで光エネルギー変換効率を一層向上させるには、電
析粒頂点を丸くして、解放電圧を高くする必要があった
(問題点を解決するための手段) 本発明は金属板に電気めっき法により無光沢旧めっきを
0.5〜10μ論の厚さ施し、その上に無電解めっき法
によりNi系めっきを0.03〜3μ簡の厚さ施すこと
により電析粒頂点を丸くした。
第1図は本発明により製造した基板にa−Si層3を形
成したものの断面を模式的に示したもので、基板は金属
板4の上に電気めっきにより無光沢Niめっき層2を形
成し、その上に無電解めっきによりNi系めっき層5を
形成しである。本発明は、この第1図のように、電析粒
が微細である無電解によるNi系めっきN5で無光沢旧
めっき層2を均一かつ等厚に被覆して、尖った電析粒頂
点を丸くするのである。
本発明で電気めっき法により金属板に下層として施す無
光沢Niめっきは、従来の無光沢Ni単層めっき基板の
めっきのように、電析粒の大きさが0.01〜1.5μ
鎖のIi!囲に、また表面粗さがo、oi〜0.6μm
の範囲になるようにするのが好ましい。これは電析粒の
大きさが前記範囲より小さくなると表面を凹凸にする効
果が小さく、逆に大きくなると大きいものと小さいもの
とが極端に混在し、表面粗さが均一にならない、また表
面粗さが前記範囲より小さいと凹凸が小さくなりすぎ、
従来基板より光エネルギー変換効率が低下してしまい、
逆に大きくなると電析粒の混粒により表面形状が複雑に
なり、いずれも光エネルギー変換効率改善効果が小さく
なる。
下層の′厚さは0.5〜10μIにする。0.5μm未
満であると凹凸の効果が得られず、むしろ従来基板より
光エネルギー変換効率が低下してしまう。一方10μ佑
を越えると、めっき層表面の凹凸が大きくなりすぎ、上
層無電解N1系めっきによる半球状化が困雑となる結果
、均一な厚みのa−Si層もしくはp−10層が形成さ
れないためと考えられるが、変換効率が低下してしまう
なお下層の表面粗さや厚さを小さくすると光エネルギー
変換効率が従来基板より低下してしまうことから、極め
て微少な凹凸は均一なa−3i層もしくはp−1−n層
を形成させるのに不利に作用するものと考えられる。
上層の旧糸めっきは無電解めっき法により施す。
無電解めっき法により行うと、めっきが下層の凹凸に沿
って均一かつ等厚に施されるため、下層の凹凸は殆ど損
なわれずに残り、電析粒頂点の尖った部位だけが丸くす
ることができ、光沢仕上げになる。この上層は純旧めっ
きまたはNi合金めっき(例えばN1−B合金やN1−
P合金めっき)でもよい。しかしめっき層は非晶質にす
るのが好ましい。これは非晶質にすると表面は極めて微
細なる結果、光沢が高く、反射率が高くなるからである
上層のめっき厚みは0.03〜3μmにする。0.03
μm未満では下層を十分被覆できないため、下層電析粒
頂点の尖った部位を丸くすることができず、光エネルギ
ー変換効率向上効果が認められない。
一方3μ鴫を越えると上層めっきの効果は飽和し、それ
以上厚(する意味がない。
なお下層、上層のめっき条件は公知条件で実施できる。
、また金属板は高耐食性のものであればよく、例えばス
テンレス鋼板、チタン板、アルミ板あるいはこれらのク
ラツド板などでよい。*載板の表面仕上げは、本発明の
場合下層により表面に凹凸を形成するのであるから、鏡
面仕上げのような高光沢の仕上げは不要で、通常のブラ
イト仕上げ程度でよい。
以下実施例に上り本発明を説明する。
(実施例) ブライト仕上げの5US304ステンレス鋼板(厚さ0
、25mm1 寸法100飴飴角)に通常のNiめっき
前処Jl(脱脂→酸洗→電解還元→Niストライクめっ
き)を施した後、第1表に示すめっき条件で下層に電気
N1めっきを、上層に無電解Ni  B合金めっきを施
し、その後超音波湯水洗浄した。洗浄後は試料を十分乾
燥して、第2表に示す条件でプラズマCVD法によりa
−Si層を形成して太陽電池とし、その光エネルギー変
換率を測定した。エネルギー変換率の測定は太陽電池の
a−Si層表面を透明導電性膜(1000A程度)で被
覆して、入射エネルギーが100 mw/am2の光源
より^、14.1.5に調整゛した入射光を照射する方
法で行った。
!#3表に太陽電池の光エネルギー変換率を、また第2
図に第3表における本発明1の表面外観を、第4図に比
較例1の表面外観(いずれも8000倍)を示す。
第 3 表 (効果) 以上のように本発明によ代ば、基板表面の電析粒頂点を
丸くすることができ、従来の無光INi単層めっき基板
上り光エネルギー変換率を向上させることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明により得られるアモルファスシリコン太
陽電池基板の模式断面図であり、第2図は本発明基板の
表面顕微鏡写真である。第3図は従来のアモルファスシ
リコン太陽電池基板の模式断面図、第4図は従来基板の
表面顕微鏡写真である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 金属板に電気めっき法により無光沢Niめっきを0.5
    〜10μmの厚さ施した後、その上に無電解めっき法に
    よりNi系めっきを0.03〜3μmの厚さ施すことを
    特徴とするアモルファスシリコン太陽電池基板の製造方
    法。
JP61298364A 1986-12-15 1986-12-15 アモルフアスシリコン太陽電池基板の製造方法 Pending JPS63150975A (ja)

Priority Applications (1)

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JP61298364A JPS63150975A (ja) 1986-12-15 1986-12-15 アモルフアスシリコン太陽電池基板の製造方法

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JP61298364A JPS63150975A (ja) 1986-12-15 1986-12-15 アモルフアスシリコン太陽電池基板の製造方法

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JPS63150975A true JPS63150975A (ja) 1988-06-23

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ID=17858732

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JP61298364A Pending JPS63150975A (ja) 1986-12-15 1986-12-15 アモルフアスシリコン太陽電池基板の製造方法

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014083804A1 (ja) * 2012-11-29 2014-06-05 三洋電機株式会社 太陽電池

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014083804A1 (ja) * 2012-11-29 2014-06-05 三洋電機株式会社 太陽電池
JPWO2014083804A1 (ja) * 2012-11-29 2017-01-05 パナソニックIpマネジメント株式会社 太陽電池

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