JPS63152185A - 感磁性半導体装置の製造方法 - Google Patents
感磁性半導体装置の製造方法Info
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- JPS63152185A JPS63152185A JP61300678A JP30067886A JPS63152185A JP S63152185 A JPS63152185 A JP S63152185A JP 61300678 A JP61300678 A JP 61300678A JP 30067886 A JP30067886 A JP 30067886A JP S63152185 A JPS63152185 A JP S63152185A
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は感磁性半導体装置の!I2造力注力法するもの
である。
である。
〈発明のa要〉
感磁性半導体基板を治具に貼り付は感磁性部面でない側
をラッピング又はエツチングして基板の厚さを1くする
とともに、治具を貼り付けた状態ぐ磁性体成板を貼り付
け、この磁性体基板を一体化したままで個別素子・に分
割することにより、半導体基板の割れを防止して組立て
を容易にし、また感磁性半導体5111の感度向上を図
る。
をラッピング又はエツチングして基板の厚さを1くする
とともに、治具を貼り付けた状態ぐ磁性体成板を貼り付
け、この磁性体基板を一体化したままで個別素子・に分
割することにより、半導体基板の割れを防止して組立て
を容易にし、また感磁性半導体5111の感度向上を図
る。
く従・米の技術〉
従来、ホール素子等の感磁性半導体装置は、別々に準備
された半導体チップと磁性木片を次の方法で組立て感度
を上げていた。第313−第5図にその例を示す。
された半導体チップと磁性木片を次の方法で組立て感度
を上げていた。第313−第5図にその例を示す。
リードフレーム1上に磁性1ド片2を接着し、その磁性
体片2上にホー、ルLT−等の半導木チップ3を接着す
るノj法(第3図)。
体片2上にホー、ルLT−等の半導木チップ3を接着す
るノj法(第3図)。
リードフレーム1上に゛1−導体ナノブ3を按若し、そ
の半導体チップ3上に磁性体片6を按Xiする方法(第
4図)。
の半導体チップ3上に磁性体片6を按Xiする方法(第
4図)。
リードフレーム1上に磁性fド片2を接着し、その磁性
体片2上に2r導体チップ3を接着し、更:二半導体チ
ップ3上に磁性体片6を接着する方法(m5図)。
体片2上に2r導体チップ3を接着し、更:二半導体チ
ップ3上に磁性体片6を接着する方法(m5図)。
なお、第3図〜fTs5図において、3aは半導体チッ
プ3の感磁性部、4は端子取出し用ワイヤー、5はパ・
ンケーノ樹脂である。
プ3の感磁性部、4は端子取出し用ワイヤー、5はパ・
ンケーノ樹脂である。
〈免明が解決しようとする問題点〉
しかし、これらの方法は組立てを複雑にし、方法によっ
ては感度向上の効果がそれほど得られないという欠点が
あった。
ては感度向上の効果がそれほど得られないという欠点が
あった。
磁性体片2又は6を用いて感度を向上させるためには、
磁性体片2,6のFr1さくd)を厚くする、あるいは
磁性体片2,6をできる限り生導本チップ3の感磁性部
3aに近付けることが必要である。
磁性体片2,6のFr1さくd)を厚くする、あるいは
磁性体片2,6をできる限り生導本チップ3の感磁性部
3aに近付けることが必要である。
磁性体片2.6の厚さくd)はパフケーノの大きさから
制限される。磁性体片2.6を半導体チップ3の感磁性
部3aに近付けるのは、?tS3図と第5図のように半
導体チップ3の下側に磁性体片2を配置する場合、半導
体チップ3の厚さく1)で制限される。半導体チップ3
の厚さく1)は、半導体基板を加工してホール素子等の
感磁性部3aを形成する時に基板が割れないだけの強度
を確保する必要があり、このためにt> 200μIO
が必要であり、取扱いに注意してもL> 150μ聞が
限界であった。
制限される。磁性体片2.6を半導体チップ3の感磁性
部3aに近付けるのは、?tS3図と第5図のように半
導体チップ3の下側に磁性体片2を配置する場合、半導
体チップ3の厚さく1)で制限される。半導体チップ3
の厚さく1)は、半導体基板を加工してホール素子等の
感磁性部3aを形成する時に基板が割れないだけの強度
を確保する必要があり、このためにt> 200μIO
が必要であり、取扱いに注意してもL> 150μ聞が
限界であった。
゛本発明は、従来技術の組立て時の複雑さを感度向上を
妨げないで達成する製造方法を提O1:することを目的
とする。
妨げないで達成する製造方法を提O1:することを目的
とする。
く問題点を解決するための手段〉
半導体基板の片面に感磁性部を形成する工程、感磁性部
を形成した半導体基板を治具;こ貼り付ける工程、感磁
性部面でない側をラッピング又はエツチングする工程、
治具を貼り付けた状態のまま磁性体基板を貼り付ける工
程、そして、半導体基板と磁性体基板とを一体化して個
別素子に分割する工程、分割した個別素子をダイボンド
、ワイヤーボンド、樹脂モールドする工程を有すること
を特徴とする。
を形成した半導体基板を治具;こ貼り付ける工程、感磁
性部面でない側をラッピング又はエツチングする工程、
治具を貼り付けた状態のまま磁性体基板を貼り付ける工
程、そして、半導体基板と磁性体基板とを一体化して個
別素子に分割する工程、分割した個別素子をダイボンド
、ワイヤーボンド、樹脂モールドする工程を有すること
を特徴とする。
く作用〉
本発明によれば、半導体基板の片面にホール素子等の感
磁性部を形成する。感磁性部の形成に当たっては、能動
層は結品成艮やイオン注入が用いられる。次に感磁性部
を形成した側の面に治具を貼り付け、化T的エツチング
又はラッピングで半導体基板を所望の17さ1こする。
磁性部を形成する。感磁性部の形成に当たっては、能動
層は結品成艮やイオン注入が用いられる。次に感磁性部
を形成した側の面に治具を貼り付け、化T的エツチング
又はラッピングで半導体基板を所望の17さ1こする。
半導体基板の厚さは■いはと感度が向上するので100
μ輪以下がよい。100μm以下でめ半導体基板は非常
に割れやすいが、本発明では治具に貼り付けられたまま
の状態で磁性本基板を貼り付け、その後に治具から取り
外すので、半導体基板の割れを防ぐことができる。磁性
体基板の貼り付けには、後工程のヤイヤーボンデング時
などの温度に耐え得るように、耐熱性のあるエポキシυ
子脂が適当である。磁性体基板を貼り付けた半導体基板
は、この後、グインングで容易に分割してホール素子等
の半導体チップを得る。これ以降の組立においては、従
来の半導体チンプと同じ扱いができ、組立を容易する。
μ輪以下がよい。100μm以下でめ半導体基板は非常
に割れやすいが、本発明では治具に貼り付けられたまま
の状態で磁性本基板を貼り付け、その後に治具から取り
外すので、半導体基板の割れを防ぐことができる。磁性
体基板の貼り付けには、後工程のヤイヤーボンデング時
などの温度に耐え得るように、耐熱性のあるエポキシυ
子脂が適当である。磁性体基板を貼り付けた半導体基板
は、この後、グインングで容易に分割してホール素子等
の半導体チップを得る。これ以降の組立においては、従
来の半導体チンプと同じ扱いができ、組立を容易する。
また上記方法によって、磁性体片を厚くかつ磁性体片を
半導体チップの感磁性部に近づけて配置でき、磁束収束
による感度の向上も得られることとなる。
半導体チップの感磁性部に近づけて配置でき、磁束収束
による感度の向上も得られることとなる。
〈実施例〉
以下、第1図及び第2図(、)〜(f)に従ってイオン
注入型GaAsホール素子について説明する。第1図は
完成後の断面図、第2図(a)〜(f)は途中の各工程
時の様子を示す断面図である。
注入型GaAsホール素子について説明する。第1図は
完成後の断面図、第2図(a)〜(f)は途中の各工程
時の様子を示す断面図である。
半絶縁性GaAs基板13の所望の領域に例えばS1イ
オンを注入し、熱処理により注入領域をIIW!にする
°。これによりホール素子の能動層を形成する。所望の
領域にイオンを注入する場合、7オトレノストを用いて
所望の領域以外を覆い、注入後に7オトレノストを除去
することにより、容易に所望の領域にイオン注入できる
。そして能動層にオーミック電極を形成することにより
、G a /’I S基板13の一方の面に所謂ホール
素子としての感磁性部14が形成される。(第2112
1(a)参照)。
オンを注入し、熱処理により注入領域をIIW!にする
°。これによりホール素子の能動層を形成する。所望の
領域にイオンを注入する場合、7オトレノストを用いて
所望の領域以外を覆い、注入後に7オトレノストを除去
することにより、容易に所望の領域にイオン注入できる
。そして能動層にオーミック電極を形成することにより
、G a /’I S基板13の一方の面に所謂ホール
素子としての感磁性部14が形成される。(第2112
1(a)参照)。
次に、G a A s基板13の感磁性部14が形成さ
れた面にラッピング用治具15を貼り付け、GaAs基
板13の反対側の面(感磁性部lt側でない面)をラッ
ピングする。ラッピングは化学的その他のエツチングで
もかまわない。(第2図(b)及ブ(c)参照、ただし
ラッピング後等でユくなったGaAs基板は符611で
示す)。
れた面にラッピング用治具15を貼り付け、GaAs基
板13の反対側の面(感磁性部lt側でない面)をラッ
ピングする。ラッピングは化学的その他のエツチングで
もかまわない。(第2図(b)及ブ(c)参照、ただし
ラッピング後等でユくなったGaAs基板は符611で
示す)。
ラッピング等によりGaAs基板13の厚さを薄くする
程、感度を向上できる。例えばここではラッピング後の
厚さを100μmとした。
程、感度を向上できる。例えばここではラッピング後の
厚さを100μmとした。
GaAs基板11をラッピング用治具15に貼り付けた
ままの状態で、エポキシυノ脂を用いGaAs基板11
上に磁性体基板(例えばNi−Zn7エライト基板)1
2を貼り付は接着する。磁性体基板12の厚さは厚い程
感度を向上できるが、パフケーノに封入するために上限
がある。ここでは例えば300μ歳の厚みのフェライト
基板を用いた。(第2図(d)参照)。
ままの状態で、エポキシυノ脂を用いGaAs基板11
上に磁性体基板(例えばNi−Zn7エライト基板)1
2を貼り付は接着する。磁性体基板12の厚さは厚い程
感度を向上できるが、パフケーノに封入するために上限
がある。ここでは例えば300μ歳の厚みのフェライト
基板を用いた。(第2図(d)参照)。
100μm以下のGaAs基板11は割れやすく取り扱
いが困難であるが、上記のようにラッピング用治A15
を貼り付けられているため、磁性体基板12の接着は何
の支障もなく行え、またその後は磁性体基板12が貼り
付けられるため、ラッピング用治具15を取り外しても
容易に取り扱うことができる。
いが困難であるが、上記のようにラッピング用治A15
を貼り付けられているため、磁性体基板12の接着は何
の支障もなく行え、またその後は磁性体基板12が貼り
付けられるため、ラッピング用治具15を取り外しても
容易に取り扱うことができる。
ラッピング用治具15を取り外して後、GaAs基板1
1を上にして、すなわち磁性体基板12の側1こ粘着テ
ープ16を貼り付け、グインング1こより0.55mm
角の個別チップに分割する。(第2図(e)及び第2図
(f)参照)。
1を上にして、すなわち磁性体基板12の側1こ粘着テ
ープ16を貼り付け、グインング1こより0.55mm
角の個別チップに分割する。(第2図(e)及び第2図
(f)参照)。
このようにして作成された個別チップを、特別に磁性体
片を取り付けることなく、通常のチップと同様°の方法
で、ダイボンド、ワイヤーボンド、υxmモールドを行
い、第1図に図示のような感磁性半導体装置を得る。1
1はラッピング、分割後のGaAs基板(チップ)、1
2は磁性FBW板(ここでは磁性体片となっている)で
ある、また1は第3図〜第5図と同様のリードフレーム
、4は同端子取出し用ワイヤー、5は同パノケーノ01
脂を示している。
片を取り付けることなく、通常のチップと同様°の方法
で、ダイボンド、ワイヤーボンド、υxmモールドを行
い、第1図に図示のような感磁性半導体装置を得る。1
1はラッピング、分割後のGaAs基板(チップ)、1
2は磁性FBW板(ここでは磁性体片となっている)で
ある、また1は第3図〜第5図と同様のリードフレーム
、4は同端子取出し用ワイヤー、5は同パノケーノ01
脂を示している。
上記の例によれば、フェライトの取り付けていない場合
に比べて1.47(ごの感度向上が得られた。
に比べて1.47(ごの感度向上が得られた。
〈発明の効果〉
以上のように本発明によれば、感磁性半導fト基板の割
れを防止して容易に組み立てることができ、また大きな
感度向上が図れる′5M遣方法が提供できる。
れを防止して容易に組み立てることができ、また大きな
感度向上が図れる′5M遣方法が提供できる。
第1図は本発明の一実施例に基づき作成された感磁性半
導体装置の断面図、第2図(、)乃至(「)は第1図の
S置を作成釘る各工程時の様子を示す断面図、第3[2
N乃至第5図はそれぞれ異なる従来例を示す断面図であ
る。 1;リードフレーム、4;端子取出し用ワイヤー、5;
パンケーノυ1脂、11’、Gal〜S基板(チップ)
、12;磁性体基板(片)、13;半絶縁性GaAs基
板、14;感磁性部、15;ラッピング用治具。
導体装置の断面図、第2図(、)乃至(「)は第1図の
S置を作成釘る各工程時の様子を示す断面図、第3[2
N乃至第5図はそれぞれ異なる従来例を示す断面図であ
る。 1;リードフレーム、4;端子取出し用ワイヤー、5;
パンケーノυ1脂、11’、Gal〜S基板(チップ)
、12;磁性体基板(片)、13;半絶縁性GaAs基
板、14;感磁性部、15;ラッピング用治具。
Claims (1)
- 1、半導体基板の片面に感磁性部を形成する工程、前記
半導体基板の感磁性部側に治具を貼り付ける工程、前記
治具を貼り付けた状態で前記半導体基板の他側をラッピ
ング又はエッチングする工程、前記ラッピング又はエッ
チングした面に磁性体基板を貼り付ける工程、前記磁性
体基板を貼り付けた後、半導体チップと磁性体片を一体
化した個別素子に分割する工程、及び前記分割した各個
別素子をダイボンド、ワイヤーボンド、樹脂モールドす
る工程とを有することを特徴とする感磁性半導体装置の
製造方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61300678A JPS63152185A (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 感磁性半導体装置の製造方法 |
| US07/320,911 US4883773A (en) | 1986-12-16 | 1989-03-07 | Method of producing magnetosensitive semiconductor devices |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61300678A JPS63152185A (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 感磁性半導体装置の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63152185A true JPS63152185A (ja) | 1988-06-24 |
| JPH0437596B2 JPH0437596B2 (ja) | 1992-06-19 |
Family
ID=17887757
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61300678A Granted JPS63152185A (ja) | 1986-12-16 | 1986-12-16 | 感磁性半導体装置の製造方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4883773A (ja) |
| JP (1) | JPS63152185A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011033435A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Hioki Ee Corp | 電流センサの製造方法 |
| WO2015170509A1 (ja) * | 2014-05-09 | 2015-11-12 | 愛知製鋼株式会社 | 磁気検出装置およびその製造方法 |
Families Citing this family (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5179035A (en) * | 1989-09-15 | 1993-01-12 | U.S. Philips Corporation | Method of fabricating two-terminal non-linear devices |
| US5196821A (en) * | 1992-03-09 | 1993-03-23 | General Motors Corporation | Integrated magnetic field sensor |
| JPH07111254A (ja) * | 1993-10-12 | 1995-04-25 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 半導体装置の製造方法 |
| US5851845A (en) * | 1995-12-18 | 1998-12-22 | Micron Technology, Inc. | Process for packaging a semiconductor die using dicing and testing |
| US6069015A (en) * | 1996-05-20 | 2000-05-30 | Aiwa Research And Development, Inc. | Method of fabricating thin film magnetic head including durable wear layer and non-magnetic gap structure |
| JP2000138262A (ja) | 1998-10-31 | 2000-05-16 | Anam Semiconductor Inc | チップスケ―ル半導体パッケ―ジ及びその製造方法 |
| US6414396B1 (en) | 2000-01-24 | 2002-07-02 | Amkor Technology, Inc. | Package for stacked integrated circuits |
| JP2001347499A (ja) * | 2000-06-05 | 2001-12-18 | Sony Corp | 微細装置の製造方法 |
| US6927073B2 (en) * | 2002-05-16 | 2005-08-09 | Nova Research, Inc. | Methods of fabricating magnetoresistive memory devices |
| JP4447206B2 (ja) * | 2002-10-18 | 2010-04-07 | 株式会社ディスコ | 半導体ウエーハ保護ユニット及び半導体ウエーハ処理方法 |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB926250A (ja) * | 1900-01-01 | |||
| GB1017033A (en) * | 1962-12-26 | 1966-01-12 | Ampex | Improvements in or relating to the reproduction of stored information |
| JPS51147191A (en) * | 1975-06-12 | 1976-12-17 | Asahi Chem Ind Co Ltd | Hall element and its method of manufacturing |
| JPS5646583A (en) * | 1979-09-21 | 1981-04-27 | Denki Onkyo Co Ltd | Semiconductor device and manufacture thereof |
| JPS5913385A (ja) * | 1982-07-13 | 1984-01-24 | Asahi Chem Ind Co Ltd | InAsホ−ル素子 |
| JPS59129483A (ja) * | 1983-01-14 | 1984-07-25 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ホ−ル素子 |
| JPS6016478A (ja) * | 1983-07-08 | 1985-01-28 | Victor Co Of Japan Ltd | 磁電変換素子 |
| JPS60245220A (ja) * | 1984-05-21 | 1985-12-05 | Toshiba Corp | 砒化ガリウムへのオ−ム性電極の形成方法 |
| JPS61216372A (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-26 | Koa Corp | ホ−ル素子 |
-
1986
- 1986-12-16 JP JP61300678A patent/JPS63152185A/ja active Granted
-
1989
- 1989-03-07 US US07/320,911 patent/US4883773A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011033435A (ja) * | 2009-07-31 | 2011-02-17 | Hioki Ee Corp | 電流センサの製造方法 |
| WO2015170509A1 (ja) * | 2014-05-09 | 2015-11-12 | 愛知製鋼株式会社 | 磁気検出装置およびその製造方法 |
| JPWO2015170509A1 (ja) * | 2014-05-09 | 2017-04-20 | 愛知製鋼株式会社 | 磁気検出装置およびその製造方法 |
| EP3141920A4 (en) * | 2014-05-09 | 2018-01-03 | Aichi Steel Corporation | Magnetic detection device and method for producing same |
| US10048329B2 (en) | 2014-05-09 | 2018-08-14 | Aichi Steel Corporation | Magnetic detection device and method of manufacturing same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0437596B2 (ja) | 1992-06-19 |
| US4883773A (en) | 1989-11-28 |
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