JPS63155334A - 周辺入出力回路のテスト方法 - Google Patents
周辺入出力回路のテスト方法Info
- Publication number
- JPS63155334A JPS63155334A JP61301706A JP30170686A JPS63155334A JP S63155334 A JPS63155334 A JP S63155334A JP 61301706 A JP61301706 A JP 61301706A JP 30170686 A JP30170686 A JP 30170686A JP S63155334 A JPS63155334 A JP S63155334A
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- Japan
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- program
- test program
- output circuit
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- Pending
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- 238000010998 test method Methods 0.000 title description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 11
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 101000952234 Homo sapiens Sphingolipid delta(4)-desaturase DES1 Proteins 0.000 description 1
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Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野〕
この発明は、実行するプログラムをマスクROMに搭載
したコンピュータ例えばマイクロコンピュータと周辺入
出力回路からなる制御装量にあ(プる、前記周辺入出力
回路の動作テストの方法に関するもので必る。
したコンピュータ例えばマイクロコンピュータと周辺入
出力回路からなる制御装量にあ(プる、前記周辺入出力
回路の動作テストの方法に関するもので必る。
(従来の技術)
従来、この種のテスト方法として、特開昭56−386
46号公報に開示されたものが必る。この方法は、マイ
クロコンピュータにおいて、プログラムを正常に走らせ
るためには、定められたプログラム番地からスタート(
リロットスタート〉する必要かめること、ならびに、ス
イッチ、電iす機、表示器、センターなどの数種の周辺
装置を、7i1J御する制御用マイコンのプログラムは
、その先頭、すなわちリセットスタートの近くにある非
循環のプログラム部分と、これに後続し、かつ多数のス
テップよりなる循環プログラム部分とより成るのか普通
で必ることに看目し、第1図に示すようにマイクロコン
ピュータプログラムのうち、スタート近傍の非循環部分
にテストプログラムへ分岐する判定ステップ(TESr
?)を設け、前記プログラムがリセットスタートする度
毎に、前記判定ステップでテストプログラム分岐命令が
与えられているか否かを判定し、プログラム分岐命令が
与えられている場合には、テストプログラムに分岐し、
予定のテストを実行した後に、本来の制御プログラムに
復帰し、一方テストプログラム分岐命令が与えられてい
ない場合は、テストプログラムに分岐することなしに本
来の制御プログラムを実行するもので市る。尚、いくつ
かのテストモードが必る場合には、)3当なテスト分′
VZv−11定入力により、必要なテストプログラムの
みを選千尺、実行した後不米の制御プログラムに復帰す
ることも示8れている。
46号公報に開示されたものが必る。この方法は、マイ
クロコンピュータにおいて、プログラムを正常に走らせ
るためには、定められたプログラム番地からスタート(
リロットスタート〉する必要かめること、ならびに、ス
イッチ、電iす機、表示器、センターなどの数種の周辺
装置を、7i1J御する制御用マイコンのプログラムは
、その先頭、すなわちリセットスタートの近くにある非
循環のプログラム部分と、これに後続し、かつ多数のス
テップよりなる循環プログラム部分とより成るのか普通
で必ることに看目し、第1図に示すようにマイクロコン
ピュータプログラムのうち、スタート近傍の非循環部分
にテストプログラムへ分岐する判定ステップ(TESr
?)を設け、前記プログラムがリセットスタートする度
毎に、前記判定ステップでテストプログラム分岐命令が
与えられているか否かを判定し、プログラム分岐命令が
与えられている場合には、テストプログラムに分岐し、
予定のテストを実行した後に、本来の制御プログラムに
復帰し、一方テストプログラム分岐命令が与えられてい
ない場合は、テストプログラムに分岐することなしに本
来の制御プログラムを実行するもので市る。尚、いくつ
かのテストモードが必る場合には、)3当なテスト分′
VZv−11定入力により、必要なテストプログラムの
みを選千尺、実行した後不米の制御プログラムに復帰す
ることも示8れている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら以上)ボヘた方法では、テストプログラム
が実行されるのはリセットスタート時のみて市り、ル制
御装置の開発段階等において温度、ノイズ符のいろいろ
な環境条件下で周辺入出力回路の動作状態を詳細に確認
することは不可敬て必る。
が実行されるのはリセットスタート時のみて市り、ル制
御装置の開発段階等において温度、ノイズ符のいろいろ
な環境条件下で周辺入出力回路の動作状態を詳細に確認
することは不可敬て必る。
従米の伎4ii:Jでは、このような時はテスト専用の
プログラムを新たに搭載し直して確認する手段をとって
あり、特にマイクロコンピュータがプログラムをマスク
ROMとして搭載したマイクロコンピュータの場合など
て(よ前記周j22人出力回路の1作状態及び瞬間的な
誤動作の発信状況を適格に確さこ写ることができなかっ
た。7″:fに車載用電装晶簀、復唯な機能をもも、か
つ人品生産されるマイクロコンピュータ制御賃賃等の周
辺入出力回路をテストする場合、υj圓プログラムはマ
スクR○1\4化され、かつ全部品がプリント回路基板
±に直(妾ハンダ付Cブされるため別途にテストプログ
ラムROMを搭載してテストすることがきわめて困難で
あり、はとんどの場合、入力信号を与えて、棲維な制御
プログラムの実行結果を制tIHfj力として受は取り
、この出力内容によってマイクロコンピュータ装置が良
品て必るか、不良品であるかを判定している。
プログラムを新たに搭載し直して確認する手段をとって
あり、特にマイクロコンピュータがプログラムをマスク
ROMとして搭載したマイクロコンピュータの場合など
て(よ前記周j22人出力回路の1作状態及び瞬間的な
誤動作の発信状況を適格に確さこ写ることができなかっ
た。7″:fに車載用電装晶簀、復唯な機能をもも、か
つ人品生産されるマイクロコンピュータ制御賃賃等の周
辺入出力回路をテストする場合、υj圓プログラムはマ
スクR○1\4化され、かつ全部品がプリント回路基板
±に直(妾ハンダ付Cブされるため別途にテストプログ
ラムROMを搭載してテストすることがきわめて困難で
あり、はとんどの場合、入力信号を与えて、棲維な制御
プログラムの実行結果を制tIHfj力として受は取り
、この出力内容によってマイクロコンピュータ装置が良
品て必るか、不良品であるかを判定している。
この場合制i11プログラムの出力応答にディレ一時間
をもった場合等がおると判定に時間がかかり、大量生,
帝における生1帝性が悪く、また’4fi]!Ifプロ
グラムが復雉な入出力応答をする場合には良品、不良品
の+11定が困難で必る等の欠点があった。
をもった場合等がおると判定に時間がかかり、大量生,
帝における生1帝性が悪く、また’4fi]!Ifプロ
グラムが復雉な入出力応答をする場合には良品、不良品
の+11定が困難で必る等の欠点があった。
この発明は以上の問題点を解決するためになされたもの
で、必要に応じていつでもテストプログラムを実行する
ことができ、しかもテストに要する時間か短くて済む周
辺入出力回路の動作テストの方法を提供することを目的
とする。
で、必要に応じていつでもテストプログラムを実行する
ことができ、しかもテストに要する時間か短くて済む周
辺入出力回路の動作テストの方法を提供することを目的
とする。
1問題点を解決するための手段〕
この発明は、コンピュータの制御プログラムの循還部分
にテストプログラムへ分岐する判定ステップを設け、前
記¥−II定ステシステップトプログラム分岐命令が与
えられているか否かを判定し、テストプログラム分岐命
令が与えられている場合にはデス1〜プログラムを実行
し、プログラム分岐命令が与えられていない場合には本
来の制御プログラムを実行するようにし、更にテス(〜
モードの場合にはテスト出力を本来の制御用出力回路へ
出力することを特徴とする。
にテストプログラムへ分岐する判定ステップを設け、前
記¥−II定ステシステップトプログラム分岐命令が与
えられているか否かを判定し、テストプログラム分岐命
令が与えられている場合にはデス1〜プログラムを実行
し、プログラム分岐命令が与えられていない場合には本
来の制御プログラムを実行するようにし、更にテス(〜
モードの場合にはテスト出力を本来の制御用出力回路へ
出力することを特徴とする。
(作用)
以上のように、本来の制御プログラムの循環部分にデス
1〜プログラムへ分岐する判定ステップが設けておるの
で、循環的に行なわれる制御プログラムの実行中に随時
テストを行なわせることかできる。即ち、テストプログ
ラム分岐命令を与えてあけば、その次にデス1〜プログ
ラムへの分岐判定ステップを通ったとぎに、デス1〜プ
ログラムが実行される。従って、tlJ徨Dプログラム
の実行中に、温度、ノイズ等が変化する環境下で周辺入
出力回路の動作状態や瞬間的な誤動作の発生状況答を適
格に確認することができる。
1〜プログラムへ分岐する判定ステップが設けておるの
で、循環的に行なわれる制御プログラムの実行中に随時
テストを行なわせることかできる。即ち、テストプログ
ラム分岐命令を与えてあけば、その次にデス1〜プログ
ラムへの分岐判定ステップを通ったとぎに、デス1〜プ
ログラムが実行される。従って、tlJ徨Dプログラム
の実行中に、温度、ノイズ等が変化する環境下で周辺入
出力回路の動作状態や瞬間的な誤動作の発生状況答を適
格に確認することができる。
第1図は、本発明−実施例の方法の実施に用いられる装
置を示すブロック図で必る。この例の装置は、車載用マ
イクロコンピュータ制御装置であり、プログラムをマス
クROMに内蔵した制御用のマイクロコンピュータ1、
アナログ信号入力端子2、アナログ−デジタル変換部3
、スイッチ信号入力端子群4、スイッチ入力回路部5、
制御出力回路部6、制御信号出力端子群7、および選択
スイッチ8および9を備えている。選択スイッチ8はマ
イクロコンピュータ1に本来の制御プログラムを実行さ
せるかテストプログラムを実行させるかを指示するため
のもので必る。選択スイッチ9はテストプログラムの実
行モードにおいてテストプログラム1を実行させるかテ
ストプログラム2を実行させるかを指示するためのもの
で必る。
置を示すブロック図で必る。この例の装置は、車載用マ
イクロコンピュータ制御装置であり、プログラムをマス
クROMに内蔵した制御用のマイクロコンピュータ1、
アナログ信号入力端子2、アナログ−デジタル変換部3
、スイッチ信号入力端子群4、スイッチ入力回路部5、
制御出力回路部6、制御信号出力端子群7、および選択
スイッチ8および9を備えている。選択スイッチ8はマ
イクロコンピュータ1に本来の制御プログラムを実行さ
せるかテストプログラムを実行させるかを指示するため
のもので必る。選択スイッチ9はテストプログラムの実
行モードにおいてテストプログラム1を実行させるかテ
ストプログラム2を実行させるかを指示するためのもの
で必る。
また、アナログ−デジタル変換部3は、アナログ信号入
力端子2からのアナログ信号を、デジタル値に変換する
動作を常時実行しており、前記マイクロコンピュータ1
からの続出し指令があると、最新のデジタル値を出力応
答する。
力端子2からのアナログ信号を、デジタル値に変換する
動作を常時実行しており、前記マイクロコンピュータ1
からの続出し指令があると、最新のデジタル値を出力応
答する。
第3図はマスクROM化されたプログラムの一例を示す
。マイクロコンピュータ1はリセットスタートすると第
3図に示すように初めにRAMデータ、出力データ等の
必要なイニシャライズ処理を実行し、その後、循環プロ
グラムの実行に移る。
。マイクロコンピュータ1はリセットスタートすると第
3図に示すように初めにRAMデータ、出力データ等の
必要なイニシャライズ処理を実行し、その後、循環プロ
グラムの実行に移る。
循環プログラムでは、まず前記アナログ−デジタル変換
部3よりアナログ信号入力データをデジタル値として読
込み、続いて前記スイッチ入力回路部5より前記スイッ
チ信号入力端子群4からのスイッチ入力状態を読込む。
部3よりアナログ信号入力データをデジタル値として読
込み、続いて前記スイッチ入力回路部5より前記スイッ
チ信号入力端子群4からのスイッチ入力状態を読込む。
、次に前記スイッチ8およびスイッチ9からのテスト指
示信号を読込み、前記スイッチ8が同状態である場合は
、テストプログラムを実行せずに本来の制御プログラム
を実行する。一方、前記スイッチ8が開状態て必る場合
は、本来の制御プログラムを実行せずに更に前記スイッ
チ9の状態を判断し、前記スイッチ9が閉状態の場合に
はテストプログラム1を実行する。
示信号を読込み、前記スイッチ8が同状態である場合は
、テストプログラムを実行せずに本来の制御プログラム
を実行する。一方、前記スイッチ8が開状態て必る場合
は、本来の制御プログラムを実行せずに更に前記スイッ
チ9の状態を判断し、前記スイッチ9が閉状態の場合に
はテストプログラム1を実行する。
即ち読込んだ前記デジタル値されたアナログ信号入力デ
ータを前記制御出力回路部6へ出力する。
ータを前記制御出力回路部6へ出力する。
また前記スイッチ9が開状態の場合には、デス1〜プロ
グラム2を実行する。即ち読込んだ前記スイッチ信号入
力端子群4のスイッチ入力状態を前記制御出力内路部6
へ出力する。従って、制御出力回路部6の出力端子群即
ち制御信号出力端子群7にランプ等の表示器を接続して
あくことにより、前記アナログ入力端子2に印加されて
いるアナログ入力信号のレベルおよび前記スイッチ信号
入力端子群4に接続されているスイッチの入力状態をテ
ストモードに応じて容易に確認することができる。
グラム2を実行する。即ち読込んだ前記スイッチ信号入
力端子群4のスイッチ入力状態を前記制御出力内路部6
へ出力する。従って、制御出力回路部6の出力端子群即
ち制御信号出力端子群7にランプ等の表示器を接続して
あくことにより、前記アナログ入力端子2に印加されて
いるアナログ入力信号のレベルおよび前記スイッチ信号
入力端子群4に接続されているスイッチの入力状態をテ
ストモードに応じて容易に確認することができる。
(発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、マイクロコンピュ
ータプログラムの循環部分にデス1〜プログラムに分岐
する判定ステップを設け、前記判定ステップに、デス1
ヘプログラム分岐命令が与えられている場合には、本来
の制御プログラムを実行せずにデス1〜プログラムを実
行し、更に前記テストプログラムの実行結果の出力を本
来の制御出力回路に出力するようにしたので、マイクロ
コンピュータて制御される装置の周辺入出力回路の動作
確認をいつでも容易に行なうことができ、温度条−件、
ノイズ条件等のきびしい環境下での周辺入出力回路の動
作状態や、瞬間的な誤動作の発生状況等をも的確に確認
することができる。
ータプログラムの循環部分にデス1〜プログラムに分岐
する判定ステップを設け、前記判定ステップに、デス1
ヘプログラム分岐命令が与えられている場合には、本来
の制御プログラムを実行せずにデス1〜プログラムを実
行し、更に前記テストプログラムの実行結果の出力を本
来の制御出力回路に出力するようにしたので、マイクロ
コンピュータて制御される装置の周辺入出力回路の動作
確認をいつでも容易に行なうことができ、温度条−件、
ノイズ条件等のきびしい環境下での周辺入出力回路の動
作状態や、瞬間的な誤動作の発生状況等をも的確に確認
することができる。
また、制御プログラムを用いず、簡易なデス1〜プログ
ラムで実施することができるので、複雑な制御を実行す
る装置でも短時間に、良品、不良品の判定をすることが
できる。従って、テストプログラムを制御プログラムと
ともにマスクROMに搭載することとすれば、d産され
るマイクロコンピュータシステムの製造時にテストを行
なう場合にも量産品自体をテストすることができテスト
の信頼性が高まるとともに生産性を高く維持することが
できる。
ラムで実施することができるので、複雑な制御を実行す
る装置でも短時間に、良品、不良品の判定をすることが
できる。従って、テストプログラムを制御プログラムと
ともにマスクROMに搭載することとすれば、d産され
るマイクロコンピュータシステムの製造時にテストを行
なう場合にも量産品自体をテストすることができテスト
の信頼性が高まるとともに生産性を高く維持することが
できる。
第1図は本発明一実施例の方法の実施に用いられる制御
システムを示すブロック図、 第2図は従来のデス1〜方法を示すフローチャート、 第3図は本発明一実施例のナス1〜方法を示すフローチ
ャー1−で必る。 1・・・マイクロコンピュータ、2・・・アナログ信号
入力端子、3・・・アナログディジタル変換部、4・・
・スイッチ信号入力端子群、5・・・スイッチ入力回路
部、6・・・制御出力回路部、7・・・制御信号出力端
子群、8,9・・・選択スイッチ。 ネ46朗−実方色伊1のテスト方六 手 3 劇
システムを示すブロック図、 第2図は従来のデス1〜方法を示すフローチャート、 第3図は本発明一実施例のナス1〜方法を示すフローチ
ャー1−で必る。 1・・・マイクロコンピュータ、2・・・アナログ信号
入力端子、3・・・アナログディジタル変換部、4・・
・スイッチ信号入力端子群、5・・・スイッチ入力回路
部、6・・・制御出力回路部、7・・・制御信号出力端
子群、8,9・・・選択スイッチ。 ネ46朗−実方色伊1のテスト方六 手 3 劇
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、制御プログラムおよびテストプログラムを搭載した
コンピュータと周辺入出力回路とを備えた制御装置にお
ける上記周辺入出力回路のテスト方法であって、 上記制御プログラムのうち制御のための循環部分にテス
トプログラムに分岐する判定ステップを設けておき、上
記制御プログラムの上記判定ステップでテストプログラ
ム分岐命令が与えられているか否かを判定することと、 テストプログラム分岐命令が与えられている場合には上
記テストプログラムを実行することとを備えた周辺入出
力回路のテスト方法。 2、上記テストプログラムの実行による出力を、本来制
御のために設けられた出力回路へ出力することを特徴と
する特許請求の範囲第1項記載の方法。 3、上記テストプログラムは、上記周辺入出力回路の入
力をそのまま上記出力回路に出力させるものであること
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61301706A JPS63155334A (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 周辺入出力回路のテスト方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61301706A JPS63155334A (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 周辺入出力回路のテスト方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63155334A true JPS63155334A (ja) | 1988-06-28 |
Family
ID=17900176
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61301706A Pending JPS63155334A (ja) | 1986-12-19 | 1986-12-19 | 周辺入出力回路のテスト方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63155334A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04136363A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-05-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 曲線框用曲線材の製造方法 |
-
1986
- 1986-12-19 JP JP61301706A patent/JPS63155334A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH04136363A (ja) * | 1990-09-25 | 1992-05-11 | Matsushita Electric Works Ltd | 曲線框用曲線材の製造方法 |
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