JPS63178423A - 電気接点の製造方法 - Google Patents

電気接点の製造方法

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JPS63178423A
JPS63178423A JP1162187A JP1162187A JPS63178423A JP S63178423 A JPS63178423 A JP S63178423A JP 1162187 A JP1162187 A JP 1162187A JP 1162187 A JP1162187 A JP 1162187A JP S63178423 A JPS63178423 A JP S63178423A
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JP
Japan
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plating
layer
plating layer
platinum
reed switch
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JP1162187A
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大豆生田 哲男
小倉 光司
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電気接点の製造方法に関し、特にリードスイッ
チ接点の製造方法に関する。
〔従来の技術〕
電気接点特にリードスイッチ接点に使用する金属はRh
、Ruなとの白金系金属が一般的であるが、白金系金属
は高価であるため使用量を減らす必要がある。このため
、たとえば白金系金属の下層にCuめっきを施すことが
考えられる。これを最も簡単な構成で実現する場合、鉄
−ニッケル(Fe−Ni)合金から成るリードスイッチ
基板上にAuストライク−Cuめつき−Auめっき一白
金系金属めっきを順次施すことが考えられる。
また、リードスイッチ基板上にAuめつき−Cuめっき
−Auめっき一白金系金属めっきを順次施すことも考え
られる。これらの基本的な考えは特開昭58−5311
5号公報に開示されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上述したAuストライク−Cuめっき−
Auめっき一白金系金属めっきの構成においては、第一
層のAuストライク層にピンホールが生じ易く、Cuめ
っき時に電界が印加されていない部分のリードスイッチ
基板がピンホールを通して酸化され、°酸化された部分
にAuめっきおよび白金系金属めっきを施すと、密着性
の悪いめっきが形成される。この結果、リードスイッチ
製造の後工程であるガラス管封止時の熱により、ふくれ
たり剥離するという問題がある。また、A uめっき−
Cuめっき−Auめっき一白金系金属めっきの構成にお
いては、高価なAuの使用量の増大を免れ得ない。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の電気接点の製造方法は金属基板上に金ストライ
ク層、銅めっき層および金めつき層を順次設け、最表層
に白金系金属めっき層を設け、前記鋼めっき層を形成し
た後に酸性液体により洗浄する構成である。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の一実施例の製造方法により製造された
リードスイッチの断面図である。磁性体から成るリード
片(金属基板)1.2はその先端に貴金属めっき接点を
施した接点部4を有し、ガラス管3に封着されている。
また、リードスイッチ接点部4の構成を拡大して示した
第2図を参照すると、金属基板5の上にAuストライク
層6゜Cuめっき層7.Auめっき層8およびRhめっ
き層9が順次形成されている。この実施例においては、
各層の厚さをAuストライク層6 : 0.1μ。
Cuめつき層7:4μ、Auめっき層8:1μおよびR
hめっき層9:1μとした。
第3図に示す本発明の一実施例の製造方法によると、ガ
ラス管内に封入した後のめつき膜のふくれおよび剥離は
0.1%以下であった。一方、酸性液体洗浄を行なわな
い従来方法によると、めっき膜のふくれおよび剥離が3
〜10%生じた。このようにめっき膜のふくれおよび剥
離に差が現われるのは、Cuめっき時に電界が印加され
ていない部分においてAuストライク層6のピンホール
を通じて金属基板5の酸化が起り、これにそのままAu
めっきおよびRhめっきを施した場合、酸化部分の密着
性が悪くガラス管封止時の熱に影響されるためである、
しかし、本発明のように、C11めっき後に酸性液体中
で洗浄することにより、酸化膜を除去して清浄な表面が
得られる。清浄な面にAuめっきおよびRhめっきを施
した場合、めっきの密着性に優れているためガラス管封
止時に熱が加わってもふくれおよび剥離は起こり難い。
なお、上記実施例においては、最表層としてRhめっき
層9を設けた場合を説明したが、他の白金系金属(Ru
、Pd、Re、Osなど)を用いても同様に実施できる
。また、リードスイッチ以外のスイッチおよびリレーの
電気接点として構成してもよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、金属基板上にAu
ストライク層、Cuめっき層、Auめっき層および白金
系金属めっき層を順次形成する過程においてCuめっき
層を形成後に酸性液体洗浄することにより、密着性に優
れ、ふくれおよび剥離の生じない安価な電気接点を得る
ことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の製造方法により製造された
リードスイッチの断面図、第2図は第1図中の接点部を
拡大して示した断面図、第3図は本発明の一実施例の製
造工程図である。 1.2.5・・・リード片(金属基板)、3・・・ガラ
ス管、4・・・接点部、6・・・Auストライク層、7
・・・Cuめっき層、8・・・Auめっき層、9・・・
Rhめっき層。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 金属基板上に金ストライク層、銅めっき層および金めっ
    き層を順次設け、最表層に白金系金属めっき層を設け、
    前記銅めっき層を形成した後に酸性液体により洗浄する
    ことを特徴とする電気接点の製造方法。
JP1162187A 1987-01-20 1987-01-20 電気接点の製造方法 Granted JPS63178423A (ja)

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JPH0528453B2 JPH0528453B2 (ja) 1993-04-26

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