JPS6318550A - 光磁気デイスク用光学ヘツド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は磁化方向を熱磁気的に変更することで情報が書
き込まれた光磁気ディスクから情報を読み出し、もしく
は情報を書き込むための光磁気ディスク用光学ヘッドに
関する。

［従来の技術］ この種の光学ヘッドは、磁性体に直線偏光光を投射した
ときその磁化方向に応じて反射光の偏光面が所定角度回
転するカー効果を利用して光磁気ディスクに記録された
情報を読み出すもので、通常、半導体レーザ等の直線偏
光光を発する発光素子から光磁気ディスクまでの光路上
に入射光を所定の割合（例えば５０％）で分離するハー
フミラ−を設け、このハーフミラ−により発光素子から
光磁気ディスクに照射した光の反射光を分離して情報信
号検出系及びサーボ信号検出系に伝達することで、光磁
気ディスクに記録された情報を表す情報信号や光磁気デ
ィスクへの光の照射状態を表すサーボ信号を検出するよ
うされている。

［発明が解決しようとする問題点］ ところが上記従来の光学ヘッドでは、発光素子からの照
射光がハーフミラ−を通過する度に所定の割合いで減衰
されるため、上記各信号検出系に伝達される光磁気ディ
スクからの反射光が小さくなって：検出信号のＳ／Ｎ比
が悪くなったり、或いは光の利用効率か低くなり、光源
に大出九の発光素子が必要となる等の問題があった。ま
た光磁気ディスクからの反射光のうらハーフミラ−で分
離されない光は発光素子に戻るので、発光素子からの照
射光に雑音が発生するといった問題もおった。

そこで本発明は、発光素子から光磁気ディスクまでの光
の損失を減少すると共にその反射光を効率よく分離する
ことができ、しかも反射光が発光素子まで戻ることのな
い光磁気ディスク用光学ヘッドを提供することを目的と
してなされた。

［問題点を解決するための手段］ 即ち上記問題点を解決するための本発明の構成は、光磁
気ディスクに光を照ｑ］する照射手段と、該照射手段と
光磁気ディスクとの間の光路上に透過する光の偏光面が
互いに４５度異なるように配設された２つの偏向ビーム
スプリッタと、該２つの偏光ビームスプリッタの間に設
けられ、入射光の偏光面を４５度回転させて透過させる
第１のファラデ回転子と、上記光磁気ディスクと該光磁
気ディスク側の偏向ビームスプリッタとの間に設けられ
、入射光の偏光面をほぼ２２．５度、６７゜５度、１１
２．５度又は１５７．５度回転させて透過させる第２の
ファラデ回転子と、上記各園内ビームスプリッタで分離
される上記光磁気ディスクからの反射光の差をとり検出
信号を出力する検出手段と、を備えたことを特徴とする
。

［作用］ このように構成された本発明の光磁気ディスク用光学ヘ
ッドでは、照射手段から照射され、且つ最初の偏光ビー
ムスプリッタを透過した偏光面Ｐ１の光は、その偏光面
が第１の７１９１回転子で４５度回転されて偏光面Ｐ２
の光となり、次の肩先ビームスプリッタを透過した後、
その偏光面が第２のファラデ回転子で所定角度（はぼ２
２．５゜６７．５，１１２．５又は１５７．５度）更に
回転されて、光磁気ディスクに照射される。するとその
光は光磁気ディスクの磁化方向に応じて偏光面が所定角
度（±θ）回転させられて反射し、第２の７１９１回転
子で更に所定角度回転された後、錫光ビームスプリッタ
に入射する。そして偏光ビームスプリッタではその入射
された光が偏光面Ｐ２の光とそれと直交する偏光面Ｓ２
の光に分割され、偏光面Ｓ２の光がこの兎路上から分離
される。

また偏光面Ｐ２の光は偏光ビームスプリッタを透過した
後、第１のファラデ回転子で偏光面が４５度回転さｖら
れ、偏光面Ｐ１と直交する偏光面Ｓ１の光となって次の
偏光ビームスプリッタで光路上から分離される。そして
各偏光ビームスプリッタで分離された光は夫々検出手段
に伝達され、検出手段からは各尤の差に基づき光磁気デ
ィスクに記録された情報を表す検出信号が出力される。

尚偏光ビームスプリッタとしては従来より、例えばＢＫ
７等の光学硝子で作製された直角プリズムの斜面に種々
の誘電体薄膜を多層コートしたものにコートしない他の
直角プリズムを貼り合せて構成したもの、或は方解石等
の複屈折性を示す結晶により構成したもの等が知られて
あり、これらのものを用いればよい。またファラデ回転
子としては従来より、常磁性体ＦＲ−５（商品名：ＨＯ
ＹＡ社製）等のファラデ硝子、ＹＩＧ（イツトリウム・
アイアン・ガーネット）等の磁性ガーネットの結晶、或
はその薄膜に、所定の磁界を印加する永久磁石やコイル
を設けたものが知られており、これを用いればよい。

［実施例コ 以下に本発明の実施例を第１図及び第２図を用いて説明
する。尚第１図は光磁気ディスク用麿光学ヘッドの光学
系全体の構成を表す構成図、第２図はその光学系の通過
によって変化するレーザ光の偏光面を表す説明図で、第
２図において（ａ＞〜（ｋ）は夫々第１図ｔこ矢印ａ−
にで示すレーザ光に対応している。

図に示す如く本実施例の光学ヘッドでは、半導体レーザ
２から偏光面ｐ１のレーザ光ａが投射されると、レーザ
光ａはコリメートレンズ４で平行光にされた後、偏光ビ
ームスプリッタ６に入射される。偏光ビームスプリッタ
６は偏光面ｐ１の光を透過し、それと直交する偏光面Ｓ
１の光を反射するよう設置されており、従って上記入射
されたレーザ光ａはそのまま透過する。そしてその透過
したレーザ光すは、入ロリした光の偏光面を４５度回転
して透過させるファラデ回転子８に入射され、偏光面が
ｐｌから４５度回転した偏光面ｐ２のレーザ光Ｃとなっ
て偏光ビームスプリッタ１０に入射される。この偏光ビ
ームスプリッタ１０は偏光面ｐ２の光を透過し、それと
直交する偏光面Ｓ２の光を反射するよう設置されており
、入射したレーザ光Ｃをそのまま透過する。

次に偏光ビームスプリッタ１０＠透過したレーザ光ｄは
、入射した光の偏光面を２２．５度回転して透過するフ
ァラデ回転子１２に入射され、偏光面がｐ２から２２．
５度回転したレーザ光ｅとなって透過される。するとそ
の透過したレーザ光ｅは対物レンズ１４を介して光磁気
ディスク１６上に照射され、その集光点での１１化方向
に応じて偏光面が±θ回転されて反射される。そしてそ
の反射したレーザ光ｆは対物レンズ１４を介して再びフ
ァラデ回転子１２に入射される。

ファラデ回転子は光の入射方向に対するファラデ回転子
の磁化方向により偏光面の回転する方向が異なるが、磁
化が一定方向の場合、入射方向によって偏光面の回転方
向が逆になるため、結果的にファラデ回転子を往復した
光の偏光面の回転角は、一方に通過した光の偏光面の回
転角の２倍となる。従って上記ファラデ回転子１２では
、光磁気ディスク１６から反射してきたレーザ光ｆは、
その偏光面が更に２２．５度回転されて透過し、偏光ビ
ームスプリッタ１０に入射される。この偏光ビームスプ
リッタ１０に入射されるレーザ光ｑの偏光面は、ファラ
デ回転子１２の通過及び光磁気ディスク１６からの反射
によって、偏光ビームスプリッタ１０を透過する光の偏
光面ｐ２から４５度±θ回転した偏光面となる。このた
め偏光ビームスプリッタ１０では、強度Ｉのレーザ光ｑ
が、偏光面ｓ２．強度ｌ５ｉｎ（４５±θ）のレーザ光
りと、偏光面ｐ２．強度■ｃｏｓ　（４５±θ）のレー
ザ光ｉと、に分割される。即ら光磁気ディスク１６上で
のレーザ光の回転方向く＋θ、−θ）に応じて強度が逆
転する２つのレーザ光りとｉとに分割されるのである。

モしてレーザ光りは当該光路上から分離され、集光レン
ズ２０及び円筒レンズ２２を介して４分割フォトダイオ
ード２４に大剣される。一方レーザ光ｉは偏光ビームス
プリッタ１０をそのまま透過して偏光面がファラデ回転
子８により４５度回転させられ、偏光面Ｓ１のレーザ光
ｊとなって偏光ビームスプリッタ６に入射される。偏光
ビームスプリッタ６は偏光面Ｓ１の光を反射するので、
レーザ光ｊは偏光ビームスプリッタ６を透過することな
く当該光路上から分離され、集光レンズ２６を介して２
分割フォトダイオード２８に入射される。

次に４分割フォトダイオード２４は周知の非点収差法に
より光磁気ディスク１６上での入射光の集光状態を表す
フォーカスエラー信号を検出するためのもので、各対向
するフォトダイオードの出力を加算増幅器３０及び３２
で加算し、差動増幅器３４でその出力差をとることによ
りフォーカスエラー信号が検出される。また２分割フォ
トダイオード２８は周知のプッシュプル法により光磁気
ディスク１６のトラックに対する入射光の追従状態を表
すトラッキングエラー信号を検出するためのもので、差
動増幅器３６で各フォトダイオードの出力差をとること
によりトラッキングエラー信号が検出される。また更に
上記各フォトダイオード２４．２８に入射されるレーザ
光り及びｋ　（＝ｉ）は、光磁気ディスク１６上でのレ
ーザ光の偏光面の回転方向に応じて強度が逆転すること
から、本実施例では加算増幅器３０及び３２の出力を加
算増幅器３８を用いて加算することでレーザ光りの強度
を検出すると共に、２分割フォトダイオード２８からの
各出力を加算増幅器４０を用いて加算することでレーザ
光にの強度を検出し、これら各検出信号を差動増幅器４
２に入力してその差をとることにより、光磁気ディスク
１６上での入射光の回転方向、即ら光磁気ディスク１６
に記録された情報を検出するようされている。

以上説明したように本実施例の光学ヘッドでは、半導体
レーザ２から投射され、光磁気ディスク１６で反射され
るシー１１光が全て光路上から分離され、４分割及び２
分割フォトダイオード２４，２８に入射される。このた
め光の利用効率がよく、良好な検出信号が得られるよう
になる。また反射光が半導体レーザ２に戻ることがない
ので、これによる雑音の発生を防止することもできる。

更に偏光ビームスプリッタ１０で分割される反射光の強
度差から情報信号を検出するので、ディスク表面が汚れ
、光の反射率が変化しても、これに影響されず常時安定
した情報信号を得ることができる。

尚上記実施例ではファラデ回転子１２に、入射した光の
偏光面を２２．５度回転させて透過するものを用いたが
、偏光面の回転角度が６７．５度、１１２．５度、１５
７．５度の７１９１回転子を用いても上記と同様に動作
させることができる。

またこの回転角度は肩先ビームスプリッタ１０で分割さ
れる反射光の強度を光磁気ディスク１６上での照射光偏
光面の回転方向に応じて逆転できればよいので、上記各
回転角度から多少ずれても問題はない。

更に上記実施例では照射手段として半導体レーザを用い
たが、ガスレーザ、固体レーザ等を用いてもよい。また
トラッキングエラー信号はプッシュプル法により検出す
るよう構成したが、３ビーム法等の他の検出方法によっ
ても検出できる。同様にフを一カスエラー信号ｔよ非点
収差法で検出するよう構成したが、ナイフェツジ法等の
他の検出方法によっても検出できる。

［発明の効果］ 以上詳述した如く、本発明の光磁気ディスク用光学ヘッ
ドによれば、照射手段から投射され、光磁気ディスクを
反射した光が全て検出手段に伝達されるため、光の利用
効率を向上することができる。また光磁気ディスクから
の反射光は照射手段に戻らないので、これによる雑音の
発生を防止することもできる。更に各偏光ビームスプリ
ッタで分離される反射光の差から光磁気ディスクに記録
された情報を検出するので、光磁気ディスクの反射率の
変化に影響されず常時安定して情報を読み出すことが可
能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は実施例の読取り装置の光学系全体の構成を表Ｖ
構成図、第２図はその光学系を通るレーザ光の園光面の
変化を表す説明図、である。 ２・・・半導体レーリ゛ ６．１０・・・偏光ビームスプリッタ ８．１２・・・ファラデ回転子 １６・・・光磁気ディスク

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 光磁気ディスクに光を照射する照射手段と、該照射手段
   と光磁気ディスクとの間の光路上に透過する光の偏光面
   が互いに４５度異なるように配設された２つの偏向ビー
   ムスプリッタと、該２つの偏光ビームスプリッタの間に
   設けられ、入射光の偏光面を４５度回転させて透過させ
   る第１のファラデ回転子と、 上記光磁気ディスクと該光磁気ディスク側の偏向ビーム
   スプリッタとの間に設けられ、入射光の偏光面をほぼ２
   ２．５度、６７．５度、１１２．５度又は１５７．５度
   回転させて透過させる第２のファラデ回転子と、 上記各偏向ビームスプリッタで分離される上記光磁気デ
   ィスクからの反射光の差をとり検出信号を出力する検出
   手段と、 を備えたことを特徴とする光磁気ディスク用光学ヘッド
   。