JPS6320052U - - Google Patents

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JPS6320052U
JPS6320052U JP1921687U JP1921687U JPS6320052U JP S6320052 U JPS6320052 U JP S6320052U JP 1921687 U JP1921687 U JP 1921687U JP 1921687 U JP1921687 U JP 1921687U JP S6320052 U JPS6320052 U JP S6320052U
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light
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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は従来の欠陥検出装置の説明図、第2図
は本考案の一実施例の説明図、第3図は本考案を
用いたカプセル剤検査装置のプロツク線図、第4
図はその動作説明図である。 1,1′,4,4′……カプセル剤、2,5,
6……光学センサ、3……リード線、7,14…
…遅延回路、8……平均化回路、9,10……分
圧器、11,12……比較回路、13……位置セ
ンサ、15……フリツプフロツプ回路、16……
シフトレジスタ回路、18……出力端子。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 両端面が曲面にて構成され、その軸線方向
    に搬送される検査対象物の欠陥を検査するものに
    於いて、前記検査対象物を照射する光源と前記検
    査対象物からの反射光を受光する受光素子とを有
    し、搬送方向に沿つて少なくとも2個を1組とし
    て前記検査対象物の両端面の曲面にそれぞれ対向
    し得るように傾斜して取付けられる光学センサと
    、前記検査対象物を先に検出した光学センサの出
    力信号を遅延させる遅延回路と、該遅延回路の出
    力信号と前記検査対象物を後に検出した光学セン
    サの出力信号との合成信号を閾値と比較すること
    により欠陥を検出する比較手段と、前記合成信号
    を平均化して前記閾値を形成し、該閾値を前記比
    較手段に与える平均化回路とを備えたことを特徴
    とする欠陥検出装置。 (2) 実用新案登録請求の範囲第1項に記載の欠
    陥検出装置において、前記受光素子は前面に正常
    部分からの反射光波長以外の光波長の透過率の大
    きいフイルタを有することを特徴とする欠陥検出
    装置。
JP1921687U 1987-02-12 1987-02-12 Expired JPS6319793Y2 (ja)

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JP1921687U JPS6319793Y2 (ja) 1987-02-12 1987-02-12

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JP1921687U JPS6319793Y2 (ja) 1987-02-12 1987-02-12

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6320052U true JPS6320052U (ja) 1988-02-09
JPS6319793Y2 JPS6319793Y2 (ja) 1988-06-02

Family

ID=30813617

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1921687U Expired JPS6319793Y2 (ja) 1987-02-12 1987-02-12

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JP (1) JPS6319793Y2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0354509U (ja) * 1989-09-29 1991-05-27

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0354509U (ja) * 1989-09-29 1991-05-27

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Publication number Publication date
JPS6319793Y2 (ja) 1988-06-02

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