JPS63201749A - 周辺装置サブシステムの試験方式 - Google Patents
周辺装置サブシステムの試験方式Info
- Publication number
- JPS63201749A JPS63201749A JP62033626A JP3362687A JPS63201749A JP S63201749 A JPS63201749 A JP S63201749A JP 62033626 A JP62033626 A JP 62033626A JP 3362687 A JP3362687 A JP 3362687A JP S63201749 A JPS63201749 A JP S63201749A
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- test
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
コンピュータシステムにおける周辺装置サブシステムの
試験において、 周辺装置の有するすべてのコマンドを連係して総合試験
を行い、エラーが発生したとき、エラーを発生せしめた
コマンド（以下エラーコマンドと称する）を解析してそ
のコマンドによる単機能試験を行う試験方式を提供する
。
試験において、 周辺装置の有するすべてのコマンドを連係して総合試験
を行い、エラーが発生したとき、エラーを発生せしめた
コマンド（以下エラーコマンドと称する）を解析してそ
のコマンドによる単機能試験を行う試験方式を提供する
。
本発明は周辺装置サブシステムの試験方式の改良に関す
る。
る。
周辺装置と入出力制御装置とで構成される周辺装置サブ
システムの機能試験は、コマンドによる実行結果により
その機能の正常性を確認するという方法で行われる。
システムの機能試験は、コマンドによる実行結果により
その機能の正常性を確認するという方法で行われる。
従って、周辺装置の有する総ての機能を漏れな（試験す
るために、個々のコマンドによる単機能試験に続いて複
数のコマンドを組み合わせた複合試験を実施しており、
多種多様な機能を有する周辺装置の試験には時間を要す
るという問題点がある。
るために、個々のコマンドによる単機能試験に続いて複
数のコマンドを組み合わせた複合試験を実施しており、
多種多様な機能を有する周辺装置の試験には時間を要す
るという問題点がある。
特に障害発生時における試験は短時間に行うことが要求
され、このため上記問題点を解決した周辺装置サブシス
テムの試験方式が求められている。
され、このため上記問題点を解決した周辺装置サブシス
テムの試験方式が求められている。
第６図はコンピュータシステムにおける周辺装置の位置
付けを表す図、第７図は周辺装置サブシステムの機能を
表す図、第８図は従来の試験方法説明図である。
付けを表す図、第７図は周辺装置サブシステムの機能を
表す図、第８図は従来の試験方法説明図である。
第６図において、１は中央処理装置ＣＰＵ、２はメモリ
、３はチャネル装置、５は複数の周辺装置を制御する入
出力制御装置、６は周辺装置であり、入出力制御装置５
と周辺装置６とで周辺装置サブシステム４が構成されて
いる。
、３はチャネル装置、５は複数の周辺装置を制御する入
出力制御装置、６は周辺装置であり、入出力制御装置５
と周辺装置６とで周辺装置サブシステム４が構成されて
いる。
この周辺装置サブシステム４に対する入出力制御は、衆
知のごとく、チャネル装置３を通じてチャネルコマンド
語ＣＣＷで行われる。即ち、ＣＰＵＩは入出力指令をＣ
ＣＷで記述してメモリ２に格納し、スタート１０．（Ｓ
ＩＯ）命令によってチャネル装置３を起動する。
知のごとく、チャネル装置３を通じてチャネルコマンド
語ＣＣＷで行われる。即ち、ＣＰＵＩは入出力指令をＣ
ＣＷで記述してメモリ２に格納し、スタート１０．（Ｓ
ＩＯ）命令によってチャネル装置３を起動する。
チャネル装置３はＣＣＷを読取り、ＣＣＷに記述された
コマンドに基づき入出力制御装置５に指示して所定のデ
ータを入出力する。
コマンドに基づき入出力制御装置５に指示して所定のデ
ータを入出力する。
上記ｃｃｃｗはコマンドとデータアドレス、データ長と
で構成されるが、コマンドには複数のコマンド、例えば
磁気テープ装置では、ＷＲＩＴＥ （書き出し） 、
ＲＥＡＤ （読み込み） 、 ＲＥＡＤ ＢＡＣＫ慝
ＲＤ （後退読み出し）の他、Ｃ０ＮＴＲ０Ｌ （
制御）コマンドとしてＲＥＷＴＮＤ （巻き戻し）、
ＢＡＣＫＳＰＡＧＥ （後退）等があり、これらのコ
マンドにより周辺装置サブシステム４が機能する。
で構成されるが、コマンドには複数のコマンド、例えば
磁気テープ装置では、ＷＲＩＴＥ （書き出し） 、
ＲＥＡＤ （読み込み） 、 ＲＥＡＤ ＢＡＣＫ慝
ＲＤ （後退読み出し）の他、Ｃ０ＮＴＲ０Ｌ （
制御）コマンドとしてＲＥＷＴＮＤ （巻き戻し）、
ＢＡＣＫＳＰＡＧＥ （後退）等があり、これらのコ
マンドにより周辺装置サブシステム４が機能する。
第７図は周辺装置サブシステム４が複数のコマンドによ
ってそれぞれ機能することを示したものである。
ってそれぞれ機能することを示したものである。
以上の周辺装置サブシステム４を試験するとき、第８図
に示すように、コマンドＡによる機能Ａの試験（単機能
試験Ａ）、コマンドＢによる機能Ｂの試験（単機能試験
Ｂ）等のごとくすべての機能についてそれぞれ実施し、
単機能試験が正常ならば、関連した複数のコマンドを連
係して複合試験を行っている。
に示すように、コマンドＡによる機能Ａの試験（単機能
試験Ａ）、コマンドＢによる機能Ｂの試験（単機能試験
Ｂ）等のごとくすべての機能についてそれぞれ実施し、
単機能試験が正常ならば、関連した複数のコマンドを連
係して複合試験を行っている。
上記それぞれの単機能試験、複合試験は、初期設定（例
えば磁気テープのリワインド等）、コマンド実行（ＷＲ
ＩＴＥ等）、データチェック（Ｒ［！ＡＤ）コマンドの
発行、Ｗ／Ｒデータの照合、ＣＳＷのチェック）、後処
理（リワインド）等の処理からなり、実行結果が正常な
らば次の単機能試験へ進むという様に連続的に行われる
。
えば磁気テープのリワインド等）、コマンド実行（ＷＲ
ＩＴＥ等）、データチェック（Ｒ［！ＡＤ）コマンドの
発行、Ｗ／Ｒデータの照合、ＣＳＷのチェック）、後処
理（リワインド）等の処理からなり、実行結果が正常な
らば次の単機能試験へ進むという様に連続的に行われる
。
〔発明が解決しようとする問題点３
以上説明したように、従来の周辺装置サブシステムの機
能試験は、個別のコマンドによる単機能試験をそれぞれ
行った後、関連するコマンドを組合せた複合試験を行っ
ているが、それぞれの試験で実施される初期設定、後処
理に要する時間が大きな割合を占めており、障害発生時
等、緊急を要する試験に゛は特に問題となっている。
能試験は、個別のコマンドによる単機能試験をそれぞれ
行った後、関連するコマンドを組合せた複合試験を行っ
ているが、それぞれの試験で実施される初期設定、後処
理に要する時間が大きな割合を占めており、障害発生時
等、緊急を要する試験に゛は特に問題となっている。
本発明は上記問題点に鑑み、効率的且つ短時間に機能試
験を行う周辺装置サブシステムの試験方式を提供するこ
とを目的とするものである。
験を行う周辺装置サブシステムの試験方式を提供するこ
とを目的とするものである。
上記目的のため、本発明の周辺装置サブシステムの試験
方式は、第１図本発明の原理説明図に示すように、 複数のコマンドを連係した総合機能試験コマンド（５０
）を備えて周辺装置サブシステム（７）を動作せしめる
総合機能試験部（１１）と、エラーを発生せしめたコマ
ンド（５１）を解析し抽出するエラーコマンド解析部（
１２）と、抽出された該コマンド（５１）を該周辺装置
サブシステム（７）に実行せしめてエラー発生原因を解
析する単機能試験部（１３）と を設ける。
方式は、第１図本発明の原理説明図に示すように、 複数のコマンドを連係した総合機能試験コマンド（５０
）を備えて周辺装置サブシステム（７）を動作せしめる
総合機能試験部（１１）と、エラーを発生せしめたコマ
ンド（５１）を解析し抽出するエラーコマンド解析部（
１２）と、抽出された該コマンド（５１）を該周辺装置
サブシステム（７）に実行せしめてエラー発生原因を解
析する単機能試験部（１３）と を設ける。
〔作用〕
総合機能試験コマンド５０は該当周辺装置の有するすべ
てのコマンドで構成し、機構的にエラーの生じ易い動作
を組合わせる等、関連するコマンドを連係（コマンドチ
ェイン）する。
てのコマンドで構成し、機構的にエラーの生じ易い動作
を組合わせる等、関連するコマンドを連係（コマンドチ
ェイン）する。
このコマンドチェインにより連続的に入出力制御が実行
されるが、実行中にエラーが発生したときはエラーコマ
ンドを解析し、そのコマンドの単機能試験を実施して障
害箇所を追跡する。
されるが、実行中にエラーが発生したときはエラーコマ
ンドを解析し、そのコマンドの単機能試験を実施して障
害箇所を追跡する。
エラーコマンドの解析は、例えばチャネルスティタス語
（Ｃ３Ｗ）および入出力したデータを照合して行う。
（Ｃ３Ｗ）および入出力したデータを照合して行う。
ＣＳＷによる解析手順例を以下に示す。
エラー状態が発生すると、Ｃ８Ｗに周辺装置サブシステ
ムおよびチャネル装置の状態が格納された後、通知され
る。
ムおよびチャネル装置の状態が格納された後、通知され
る。
（ＩＩＣ３Ｗの指示するエラー情報およびコマンドアド
レスにより、実行中であったコマンドを判別し、そのコ
マンドの単機能試験を行う。
レスにより、実行中であったコマンドを判別し、そのコ
マンドの単機能試験を行う。
（２）正常ならばその前に実行されたコマンドを被疑コ
マンドとして上記コマンドをチェインした解析用コマン
ドを生成し、実行させる。
マンドとして上記コマンドをチェインした解析用コマン
ドを生成し、実行させる。
これによりエラー発生ならばその被疑コマンドの単機能
試験を行う。
試験を行う。
（３）正常ならばさらにその前のコマンドをチェインし
て実行させる。
て実行させる。
なお、単機能試験では、周辺装置サブシステムが保持す
るエラー状態記録を５ＥＮＳＥコマンドで読取り、エラ
ー発生原因を取得する。
るエラー状態記録を５ＥＮＳＥコマンドで読取り、エラ
ー発生原因を取得する。
上記コマンドチェインされた総合機能試験では、一連の
コマンドの前後に初期設定および後処理を行えばよく、
従来のごとくその都度実施された初期設定、後処理を大
幅に削減できるとともに、エラー発生箇所が迅速に確認
でき、効率的且つ短時間に試験を行うことができる。
コマンドの前後に初期設定および後処理を行えばよく、
従来のごとくその都度実施された初期設定、後処理を大
幅に削減できるとともに、エラー発生箇所が迅速に確認
でき、効率的且つ短時間に試験を行うことができる。
本発明の実施例を第２図〜第５図を参照しつつ説明する
。
。
本実施例は磁気テープ装置サブシステムの試験を例とし
たもので、 第２図は実施例の周辺装置サブシステム試験部
□ブロック図、第３図は試験動作フローチャート図
、第４図はＣＳＷの内容例を表す図、第５図は解析用Ｃ
ＣＷ生成説明図である。
たもので、 第２図は実施例の周辺装置サブシステム試験部
□ブロック図、第３図は試験動作フローチャート図
、第４図はＣＳＷの内容例を表す図、第５図は解析用Ｃ
ＣＷ生成説明図である。
第２図において、
ｌＯは周辺装置サブシステム試験部であって、総合機能
試験部ｌｌ、エラーコマンド解析部１２、単機能試験部
１３で構成される。
試験部ｌｌ、エラーコマンド解析部１２、単機能試験部
１３で構成される。
２はメモリであって、入出力データを格納するデータ領
域２ａを有する他、ＣＣＷの格納アドレスを指定するチ
ャネルアドレス語ＣＡＷ、チャネルコマンド語ＣＣＷ、
チャネル装置および周辺装置サブシステムの状態を表す
チャネルスティタス語Ｃ８Ｗが所定のアドレスに格納さ
れる。
域２ａを有する他、ＣＣＷの格納アドレスを指定するチ
ャネルアドレス語ＣＡＷ、チャネルコマンド語ＣＣＷ、
チャネル装置および周辺装置サブシステムの状態を表す
チャネルスティタス語Ｃ８Ｗが所定のアドレスに格納さ
れる。
その他、３はチャネル装置、１７は被試験周辺装置サブ
システムであって、磁気テープ装置９人出力制御装置よ
り構成される磁気テープ装置サブシステムである。
システムであって、磁気テープ装置９人出力制御装置よ
り構成される磁気テープ装置サブシステムである。
周辺装置サブシステム試験部１０を構成する総合機能試
験部１１は、総合機能試験コマンド５０を備えるコマン
ド部１５と、磁気テープ装置に対応する複数のレコード
より構成されるデータ部１６および試験制御部１４より
構成されており、総合機能試験コマンド５０をメモリ２
のＣＣＷ 領域に、データ部１６をデータ領域２ａにそ
れぞれ格納して総合試験を遂行、制御する。
験部１１は、総合機能試験コマンド５０を備えるコマン
ド部１５と、磁気テープ装置に対応する複数のレコード
より構成されるデータ部１６および試験制御部１４より
構成されており、総合機能試験コマンド５０をメモリ２
のＣＣＷ 領域に、データ部１６をデータ領域２ａにそ
れぞれ格納して総合試験を遂行、制御する。
またエラーコマンド解析部１２はエラーコマンドを解析
するもので、エラーが発生したとき、図示省略したＣＣ
（コンディションコード、ＳＩＯ命令の実行状況を表す
）、Ｃ８Ｗを解析し、被疑コマンドをチェインした解析
用コマンド（第５図の５５．５６）を生成、実行せしめ
るとともに、ＷＲＩＴＥ 、 ＲＥＡＤコマンドで折り
返し転送されたデータを照合する等によりエラーコマン
ドを解析する。
するもので、エラーが発生したとき、図示省略したＣＣ
（コンディションコード、ＳＩＯ命令の実行状況を表す
）、Ｃ８Ｗを解析し、被疑コマンドをチェインした解析
用コマンド（第５図の５５．５６）を生成、実行せしめ
るとともに、ＷＲＩＴＥ 、 ＲＥＡＤコマンドで折り
返し転送されたデータを照合する等によりエラーコマン
ドを解析する。
単機能試験部１３は、すべてのコマンドに付いて、それ
ぞれ従来と同様の単機能試験部を備える。
ぞれ従来と同様の単機能試験部を備える。
以下、第３図に基づき、試験動作を説明する。
磁気テープの有するコマンドには、畦ｔｒＥコマンド、
ＲＥＡＤコマンド、ＲＥＡＤ ＢＡＣＫＷＡＲＤコマン
ドの他、ＲＥ賀ＩＮＤ、 ＢＡＣＫ ５ＰＡＣＥ等に関
するＣ０ＮＴＲ０Ｌコマンドがあり、総合機能試験コマ
ンド５０は、第３図に例示するように、これらのコマン
ドを組み合わせるとともに、コマンドチェインしたもの
であ。
ＲＥＡＤコマンド、ＲＥＡＤ ＢＡＣＫＷＡＲＤコマン
ドの他、ＲＥ賀ＩＮＤ、 ＢＡＣＫ ５ＰＡＣＥ等に関
するＣ０ＮＴＲ０Ｌコマンドがあり、総合機能試験コマ
ンド５０は、第３図に例示するように、これらのコマン
ドを組み合わせるとともに、コマンドチェインしたもの
であ。
る。
（１）総合機能試験コマンド５０をＣＣＷｖ４域に格納
しチャネル装置３を起動（Ｓ Ｉ Ｏ命令）する。
しチャネル装置３を起動（Ｓ Ｉ Ｏ命令）する。
＋２１３ＩＯ命令が実行された結果、ＣＣがチェックさ
れ、ＣＧ＝Ｏ（正常）のとき、チャネル装置３によりＣ
ＣＷが読取られてコマンドが実行され、ＣＣ≠０ならば
エラー解析される。
れ、ＣＧ＝Ｏ（正常）のとき、チャネル装置３によりＣ
ＣＷが読取られてコマンドが実行され、ＣＣ≠０ならば
エラー解析される。
（３） チャネル装置３によるＣＣＷの実行が開始さ
れ、Ｃ０ＮＴＲ０Ｌコマンドによるリワインド処理等初
期設定が行われた後、まず先頭のコマンド（例えば第５
図、ＷＲＩＴＥコマンド５２）を実行し、メモリ２に格
納されたデータ部１６より所定のデータを読取って、磁
気テープ装置サブシステム１７に転送する。
れ、Ｃ０ＮＴＲ０Ｌコマンドによるリワインド処理等初
期設定が行われた後、まず先頭のコマンド（例えば第５
図、ＷＲＩＴＥコマンド５２）を実行し、メモリ２に格
納されたデータ部１６より所定のデータを読取って、磁
気テープ装置サブシステム１７に転送する。
ＷＲＩＴＥコマンド５２の実行に続いて次にコマンドチ
ェインされたコマンド（ＣＯＮＴＲＯＬコマンド５３、
例えば巻戻し）を実行し、続いてｌ？ＥＡＤ ＢＡＣＫ
ＷＡＲＤコマンド５４により読取らせてデータ領域２ａ
に転送する。
ェインされたコマンド（ＣＯＮＴＲＯＬコマンド５３、
例えば巻戻し）を実行し、続いてｌ？ＥＡＤ ＢＡＣＫ
ＷＡＲＤコマンド５４により読取らせてデータ領域２ａ
に転送する。
以上のごとく、エラーが発生しなければ、コマンドチェ
インに基づき連続してコマンドが実行され、最後のコマ
ンドの実行の後終了する。
インに基づき連続してコマンドが実行され、最後のコマ
ンドの実行の後終了する。
あるコマンドでエラーが発生し、入出力割り込みが磁気
テープ装置サブシステム１７より出力されると、Ｃ８Ｗ
に周辺装置サブシステムの状態が格納されて停止し、エ
ラーコマンド解析部１２によるエラーコマンドの解析が
行われる。
テープ装置サブシステム１７より出力されると、Ｃ８Ｗ
に周辺装置サブシステムの状態が格納されて停止し、エ
ラーコマンド解析部１２によるエラーコマンドの解析が
行われる。
〔エラーコマンドの解析および単機能試験〕（ＩＩＣＣ
Ｗを解析し該当ビットを検証する。
Ｗを解析し該当ビットを検証する。
第４図はＣ８Ｗの１例を示したもので、周辺装置サブシ
ステムに異常が発生したことを表すユニットチェック（
ＵＮＩＴ ＣＩＩＥＣＫ）ビット６０、または特殊事情
が周辺装置で検出されたことを表すユニソトエクセプシ
＝ｒ ７ （ＵＮＩＴ ＥＸＣＥＰＴＩＯＮ）ビット６
１にビットが立っていれば、実行中であったコマンドを
コマンドアドレス部６２に基づき識別する。
ステムに異常が発生したことを表すユニットチェック（
ＵＮＩＴ ＣＩＩＥＣＫ）ビット６０、または特殊事情
が周辺装置で検出されたことを表すユニソトエクセプシ
＝ｒ ７ （ＵＮＩＴ ＥＸＣＥＰＴＩＯＮ）ビット６
１にビットが立っていれば、実行中であったコマンドを
コマンドアドレス部６２に基づき識別する。
（２） 識別されたコマンド（例えばＲＥＡＤ ＢＡ
ＣＫ誓ＡＲＤ５４）が抽出されると、再びＳＩＯ命令に
よりＲＥＡＤＢＡＣＫＷＡＲＤ ５４に関する単機能試
験を実施する。
ＣＫ誓ＡＲＤ５４）が抽出されると、再びＳＩＯ命令に
よりＲＥＡＤＢＡＣＫＷＡＲＤ ５４に関する単機能試
験を実施する。
この単機能試験においてエラーが発生したとき、５ＥＮ
ＳＥコマンドにより異常状態の詳細を検出する。
ＳＥコマンドにより異常状態の詳細を検出する。
（３１ＲＥＡＤ ＢＡＣＫ誓ＡＲＤ５４の単機能試験が
正常のとき、コマンド５２の前に実行されたコマンド（
ＣＯＮＴＲＯＬコマンド５３）を被疑コマンドとして、
Ｃ０ＮＴＲ０Ｌコマンド５３とＲＥＡＤ ＢＡＣＫＷＡ
ＲＤ ５４とをコマンドチェインした解析用コマンド５
５を生成して実行せしめる。
正常のとき、コマンド５２の前に実行されたコマンド（
ＣＯＮＴＲＯＬコマンド５３）を被疑コマンドとして、
Ｃ０ＮＴＲ０Ｌコマンド５３とＲＥＡＤ ＢＡＣＫＷＡ
ＲＤ ５４とをコマンドチェインした解析用コマンド５
５を生成して実行せしめる。
（４） これによりエラーが発生したとき、被疑コマ
ンド、即ちＣＯＮ Ｔ ＲＯＬコマンド５３の単機能試
験を実施し、正常ならばさらにその前に実行されたコマ
ンド（ＷＲＩＴＥコマンド５２）をチェインして解析用
コマンド５６を生成する。
ンド、即ちＣＯＮ Ｔ ＲＯＬコマンド５３の単機能試
験を実施し、正常ならばさらにその前に実行されたコマ
ンド（ＷＲＩＴＥコマンド５２）をチェインして解析用
コマンド５６を生成する。
以上の過程によりエラーコマンド５１を解析するととも
に、単機能試験により異常状態の詳細を検索する。
に、単機能試験により異常状態の詳細を検索する。
なお、すでに同一データのＷＲＩＴＥ 、 ＲＥＡＤコ
マンドが実行されていれば、Ｗ／Ｒデータを照合するこ
とによってエラーコマンド５１を解析する。
マンドが実行されていれば、Ｗ／Ｒデータを照合するこ
とによってエラーコマンド５１を解析する。
以上のごとく、磁気テープ装置サブシステム１７が正常
であれば、初期設定、後処理を大幅に削減された総合試
験により速やかに試験を終了させることができ、同時に
エラー発生箇所が迅速に追跡できる。
であれば、初期設定、後処理を大幅に削減された総合試
験により速やかに試験を終了させることができ、同時に
エラー発生箇所が迅速に追跡できる。
本発明は、一連のコマンドによる総合試験でエラーコマ
ンドを迅速に追跡する周辺装置サブシステムの試験方式
を提供するものであるから、試験時間の効率的且つ短時
間に行える効果は極めて多大である。
ンドを迅速に追跡する周辺装置サブシステムの試験方式
を提供するものであるから、試験時間の効率的且つ短時
間に行える効果は極めて多大である。
第１図は本発明の原理説明図、
第２図は実施例の周辺装置サブシステム試験部ブロック
図、 第３図は試験動作フローチャート図、 第４図はＣ！Ｗの内容例を表す図、 第５図は解析用コマンド生成説明図、 第６図はコンピュータシステムにおける周辺装置の位置
付けを表す図、 第７図は周辺装置サブシステムの機能を表す図、第８図
は従来の試験方法説明図、 である。図中、 ■は中央処理装置ＣＰＵ、 ２はメモリ、 ２ａはデータ領域、３はチ
ャネル装置、 ４は周辺装置サブシステム、 ５は入出力制御装置、 ６は周辺装置、１０は周辺装
置サブシステム試験部、 １１は総合機能試験部、 １２はエラーコマンド解析部、 １３は単機能試験部、 １４は試験制御部、１５はコ
マンド部、 １６はデータ部、１７は磁気テープ装
置サブシステム、 ５０は総合機能試験コマンド、 ５１はエラーを発生せしめたコマンド（エラーコマンド
）、 ６０はＵＮＩＴ ＣＨＥＣＫビット、 ６１はＩＩＮＩＴ ＥＸＣＥＰＴＩＯＮヒツト、６２は
コマンドアドレス部、 である。
図、 第３図は試験動作フローチャート図、 第４図はＣ！Ｗの内容例を表す図、 第５図は解析用コマンド生成説明図、 第６図はコンピュータシステムにおける周辺装置の位置
付けを表す図、 第７図は周辺装置サブシステムの機能を表す図、第８図
は従来の試験方法説明図、 である。図中、 ■は中央処理装置ＣＰＵ、 ２はメモリ、 ２ａはデータ領域、３はチ
ャネル装置、 ４は周辺装置サブシステム、 ５は入出力制御装置、 ６は周辺装置、１０は周辺装
置サブシステム試験部、 １１は総合機能試験部、 １２はエラーコマンド解析部、 １３は単機能試験部、 １４は試験制御部、１５はコ
マンド部、 １６はデータ部、１７は磁気テープ装
置サブシステム、 ５０は総合機能試験コマンド、 ５１はエラーを発生せしめたコマンド（エラーコマンド
）、 ６０はＵＮＩＴ ＣＨＥＣＫビット、 ６１はＩＩＮＩＴ ＥＸＣＥＰＴＩＯＮヒツト、６２は
コマンドアドレス部、 である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 周辺装置と入出力制御装置とで構成され、コマンドで動
作する周辺装置サブシステム（７）の試験方式であって
、 複数の該コマンドを連係した総合機能試験コマンド（５
０）を備えて該周辺装置サブシステム（７）を動作せし
める総合機能試験部（１１）と、エラーを発生せしめた
コマンド（５１）を解析し抽出するエラーコマンド解析
部（１２）と、抽出された該コマンド（５１）を該周辺
装置サブシステム（７）に実行せしめてエラー発生原因
を解析する単機能試験部（１３）と を設け、連係した一連のコマンドに基づき総合機能試験
を行うとともに、エラーを発生せしめた該コマンドを解
析して単機能試験を行うことを特徴とする周辺装置サブ
システムの試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62033626A JPH0642218B2 (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | 周辺装置サブシステムの試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62033626A JPH0642218B2 (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | 周辺装置サブシステムの試験方式 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63201749A true JPS63201749A (ja) | 1988-08-19 |
| JPH0642218B2 JPH0642218B2 (ja) | 1994-06-01 |
Family
ID=12391653
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62033626A Expired - Fee Related JPH0642218B2 (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | 周辺装置サブシステムの試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0642218B2 (ja) |
-
1987
- 1987-02-17 JP JP62033626A patent/JPH0642218B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0642218B2 (ja) | 1994-06-01 |
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