JPS63201946A - フロツピイデイスク制御装置 - Google Patents
フロツピイデイスク制御装置Info
- Publication number
- JPS63201946A JPS63201946A JP62033820A JP3382087A JPS63201946A JP S63201946 A JPS63201946 A JP S63201946A JP 62033820 A JP62033820 A JP 62033820A JP 3382087 A JP3382087 A JP 3382087A JP S63201946 A JPS63201946 A JP S63201946A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- floppy disk
- fdd
- temperature
- disk drive
- drive device
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、フロッピィディスクに格納されたプログラム
をメモリに転送してこのプログラムによ多動作する装置
等に利用するフロッピィディスク制御装置に関する。
をメモリに転送してこのプログラムによ多動作する装置
等に利用するフロッピィディスク制御装置に関する。
従来の技術
従来、この種のフロッピィディスク制御装置では、フロ
ッピィディスクドライブ装置（ＦＤＤ）にフロッピィデ
ィスク（ＦＤ）がセットされ、電源が投入されると、フ
ロッピィディスクのプログラムを内部メモリに転送（イ
ニシャルプログラムローディング： ＩＰＬ）するよう
に構成されている。
ッピィディスクドライブ装置（ＦＤＤ）にフロッピィデ
ィスク（ＦＤ）がセットされ、電源が投入されると、フ
ロッピィディスクのプログラムを内部メモリに転送（イ
ニシャルプログラムローディング： ＩＰＬ）するよう
に構成されている。
発明が解決しようとする問題点
しかしながら、上記従来のフロッピィディスク制御装置
では、寒冷地等の大気温度が低い地域で使用すると、フ
ロッピィディスクドライブ装置の周囲温度が低く、異常
動作する恐れがある。
では、寒冷地等の大気温度が低い地域で使用すると、フ
ロッピィディスクドライブ装置の周囲温度が低く、異常
動作する恐れがある。
第４図は、電源が投入された時からの時間ｔとフロッピ
ィディスクドライブ装置の周囲温度Ｔ！の門外を示し、
このフロッピィディスク制御装置が搭載された電子装置
が電源投入により内部温度が上昇シてフロッピィディス
クドライブ装置の周囲温度Ｔが使用可能最低温度Ｔ―に
達する時間ｔｏの間は、フロッピィディスクドライブ装
置が異常動作する恐れがある。
ィディスクドライブ装置の周囲温度Ｔ！の門外を示し、
このフロッピィディスク制御装置が搭載された電子装置
が電源投入により内部温度が上昇シてフロッピィディス
クドライブ装置の周囲温度Ｔが使用可能最低温度Ｔ―に
達する時間ｔｏの間は、フロッピィディスクドライブ装
置が異常動作する恐れがある。
第５図は、暖房が開始された部屋に配置された場合の、
電源が投入された時からの時間ｔとフロッピィディスク
ドライブ装置の周囲温度Ｔ２及び室温Ｔ３の関係を示し
、フロッピィディスクドライブ装置の周囲温度Ｔが使用
可能最低温度Ｔｊｔｈに達する時間ｔ１は、第４図に示
す時間ｔｏより時間が短くなるが、この時間はやはシ異
常動作する恐れがある。
電源が投入された時からの時間ｔとフロッピィディスク
ドライブ装置の周囲温度Ｔ２及び室温Ｔ３の関係を示し
、フロッピィディスクドライブ装置の周囲温度Ｔが使用
可能最低温度Ｔｊｔｈに達する時間ｔ１は、第４図に示
す時間ｔｏより時間が短くなるが、この時間はやはシ異
常動作する恐れがある。
本発明は上記問題点に鑑み、寒冷地等でもフロッピィデ
ィスクドライブ装置が正常に駆動するように制御するこ
とができるフロッピィディスク制御装置を提供すること
を目的とする。
ィスクドライブ装置が正常に駆動するように制御するこ
とができるフロッピィディスク制御装置を提供すること
を目的とする。
問題点を解決するための手段
本発明は上記問題点を解決するため、フロッピィディス
クドライブ装置の周囲温度を検出する手段ト、フロッピ
ィディスクドライブ装置を加熱する手段を設け、温度検
出手段により検出された周囲温度が所定の温度より低い
場合に加熱手段を起動することにより前記フロッピィデ
ィスクドライブ装置を加熱し、周囲温度が所定の温度よ
り高い場合にフロッピィディスクドライブ装置を起動す
るように構成したことを特徴とする。
クドライブ装置の周囲温度を検出する手段ト、フロッピ
ィディスクドライブ装置を加熱する手段を設け、温度検
出手段により検出された周囲温度が所定の温度より低い
場合に加熱手段を起動することにより前記フロッピィデ
ィスクドライブ装置を加熱し、周囲温度が所定の温度よ
り高い場合にフロッピィディスクドライブ装置を起動す
るように構成したことを特徴とする。
作用
本発明は上記構成により、フロッピィディスクドライブ
装置の周囲温度が所定の温度より低い場合にはフロッピ
ィディスクドライブ装置を加熱し、周囲温度が所定の温
度より高い場合に７０ツピイデイスクドライブ装置を起
動するために、寒冷地等でもフロッピィディスクドライ
ブ装置が正常に駆動するように制御することができる。
装置の周囲温度が所定の温度より低い場合にはフロッピ
ィディスクドライブ装置を加熱し、周囲温度が所定の温
度より高い場合に７０ツピイデイスクドライブ装置を起
動するために、寒冷地等でもフロッピィディスクドライ
ブ装置が正常に駆動するように制御することができる。
実施例
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。第１図
は、本発明に係るフロッピィディスク制御装置の一実施
例を示すブロック図、第２図は、第１図のフロッピィデ
ィスク制御装置の動作を説明するためのフローチャート
、第３図は、電源が投入された時からの時間ｔとフロッ
ピィディスクドライブ装置の周囲温度Ｔ４及びヒータ温
度Ｔ５の関係を示すグラフである。
は、本発明に係るフロッピィディスク制御装置の一実施
例を示すブロック図、第２図は、第１図のフロッピィデ
ィスク制御装置の動作を説明するためのフローチャート
、第３図は、電源が投入された時からの時間ｔとフロッ
ピィディスクドライブ装置の周囲温度Ｔ４及びヒータ温
度Ｔ５の関係を示すグラフである。
第１図において、１は、後述するマイクロプロセッサ９
の実行プログラム等が格納されたフロッピィディスク（
ＦＤ）、２は、フロッピィディスク１のプログラム等を
読み取り、書き込みを行うフロッピィディスクドライブ
装置（ＦＤＤχ３は、フロッピィディスクドライブ装置
２を制御するＦＤＤ制御装置（ＦＤＣ）である。
の実行プログラム等が格納されたフロッピィディスク（
ＦＤ）、２は、フロッピィディスク１のプログラム等を
読み取り、書き込みを行うフロッピィディスクドライブ
装置（ＦＤＤχ３は、フロッピィディスクドライブ装置
２を制御するＦＤＤ制御装置（ＦＤＣ）である。
４は、フロッピィディスクドライブ装置２の周囲温度を
検出するサーミスタ等の温度センナ、５は、温度センサ
４の抵抗値等による温度信号をデジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器、６は、フロッピィディスクドライブ装置
２を加熱するためのヒータ、７は、ヒータ６を駆動する
ヒータ駆動装置である。
検出するサーミスタ等の温度センナ、５は、温度センサ
４の抵抗値等による温度信号をデジタル信号に変換する
Ａ／Ｄ変換器、６は、フロッピィディスクドライブ装置
２を加熱するためのヒータ、７は、ヒータ６を駆動する
ヒータ駆動装置である。
８は、このフロッピィディスク制御装置及びこのフロッ
ピィディスク制御装置が搭載される電子装置全体を制御
するマイクロコンピュータで１、このマイクロコンピュ
ータ８は、マイクロプロセッサ（中央演算装置）９と、
メモリ１０と、入出力インタフェース（１／Ｆ）１１よ
り概略構成されている。
ピィディスク制御装置が搭載される電子装置全体を制御
するマイクロコンピュータで１、このマイクロコンピュ
ータ８は、マイクロプロセッサ（中央演算装置）９と、
メモリ１０と、入出力インタフェース（１／Ｆ）１１よ
り概略構成されている。
メモリ１０はＲＯＭ（リードオンリメモリ）やＲＡＭ（
ランダムアクセスメモリ）より構成され、マイクロプロ
セッサ９の実行プログラムが格納されるエリアと、この
エリアにフロッピィディスク１から実行プログラム等を
転送（イニシャルプログラムローディング：ＩＰＬ）す
るプログラムが格納されたエリアと、このＩＰＬ処理す
るためにフロッピィディスクドライブ装置２の使用可能
最低温度Ｔ―が格納されたエリアと、その他マイクロプ
ロセッサ９の作業エリア等を有する。
ランダムアクセスメモリ）より構成され、マイクロプロ
セッサ９の実行プログラムが格納されるエリアと、この
エリアにフロッピィディスク１から実行プログラム等を
転送（イニシャルプログラムローディング：ＩＰＬ）す
るプログラムが格納されたエリアと、このＩＰＬ処理す
るためにフロッピィディスクドライブ装置２の使用可能
最低温度Ｔ―が格納されたエリアと、その他マイクロプ
ロセッサ９の作業エリア等を有する。
次に、第２図を参照して上記構成に係る実施例の動作を
説明する。
説明する。
フロッピィディスク１がフロッピィディスクドライブ装
置２にセットされ、また、このフロッピィディスク制御
装置が搭載される電子装置の不図示の電源スィッチがオ
ンになるとスタートする。
置２にセットされ、また、このフロッピィディスク制御
装置が搭載される電子装置の不図示の電源スィッチがオ
ンになるとスタートする。
この場合、フロッピィディスクドライブ装置２は、上記
電子装置が電源を投入されるために、その内部回路等の
温度上昇により加熱される。
電子装置が電源を投入されるために、その内部回路等の
温度上昇により加熱される。
ステップ（以下、ＳＴという）１において、温度センサ
４によるフロッピィディスクドライブ装置２の周囲温度
データをＡ／Ｄ変換器５、入出力インタフェース１１を
介してメモリ１０の作業エリアに格納する。
４によるフロッピィディスクドライブ装置２の周囲温度
データをＡ／Ｄ変換器５、入出力インタフェース１１を
介してメモリ１０の作業エリアに格納する。
続（Ｓｒ１において、上記フロッピィディスクドライブ
装置２の周囲温度をメモＩＪＩＯの使用可能最低温度Ｔ
―と比較し、低い場合にはＳｒ１に進み、他方、高い場
合にはＳｒ７に進む。
装置２の周囲温度をメモＩＪＩＯの使用可能最低温度Ｔ
―と比較し、低い場合にはＳｒ１に進み、他方、高い場
合にはＳｒ７に進む。
Ｓｒ１では、ヒータ駆動装置７を起動することによりヒ
ータ６でフロッピィディスクドライブ装置２を加熱し、
続（Ｓｒ４、Ｓｒ５において、フロッピィディスクドラ
イブ装置２の周囲温度をメモリｌＯの使用可能最低温度
Ｔ−と比較する。
ータ６でフロッピィディスクドライブ装置２を加熱し、
続（Ｓｒ４、Ｓｒ５において、フロッピィディスクドラ
イブ装置２の周囲温度をメモリｌＯの使用可能最低温度
Ｔ−と比較する。
フロッピィディスクドライブ装置２の周囲温度が使用可
能最低温度Ｔ―より低い場合には、Ｓｒ４→Ｓｒ５→Ｓ
Ｔ４のループを繰シ返し、７０ツピイデイスクドライブ
装置２の周囲温度が使用可能最低温度ＴｆｆｉＩ１．！
ニジ高くなるとＳｒ６に進み、と−タ駆動装置７を制御
することによりヒータ６による加熱を停止する。
能最低温度Ｔ―より低い場合には、Ｓｒ４→Ｓｒ５→Ｓ
Ｔ４のループを繰シ返し、７０ツピイデイスクドライブ
装置２の周囲温度が使用可能最低温度ＴｆｆｉＩ１．！
ニジ高くなるとＳｒ６に進み、と−タ駆動装置７を制御
することによりヒータ６による加熱を停止する。
Ｓｒ７では、ＦＤＤ制御装置３を制御することによりフ
ロッピィディスクドライブ装置２を起動し、フロッピィ
ディスクｌに格納された実行プログラム等を読み取って
メモリ１ｏに書き込み、また、フロッピィディスク１に
データを書き込む。
ロッピィディスクドライブ装置２を起動し、フロッピィ
ディスクｌに格納された実行プログラム等を読み取って
メモリ１ｏに書き込み、また、フロッピィディスク１に
データを書き込む。
第３図は、上記動作において、電源が投入された時から
の時間ｔとフロッピィディスクドライブ装置の周囲温度
Ｔ４及びヒータ６の温度Ｔ５の関係を示し、フロッピィ
ディスクドライブ装置の周囲温度Ｔ４は、第４図及び第
５図に示す従来例より早く使用可能最低温度Ｔ―に達す
る（時間ｔｏ）。
の時間ｔとフロッピィディスクドライブ装置の周囲温度
Ｔ４及びヒータ６の温度Ｔ５の関係を示し、フロッピィ
ディスクドライブ装置の周囲温度Ｔ４は、第４図及び第
５図に示す従来例より早く使用可能最低温度Ｔ―に達す
る（時間ｔｏ）。
発明の詳細
な説明したように、本発明は、フロッピィディスクドラ
イブ装置の周囲温度が所定の温度より低い場合にはフロ
ッピィディスクドライブ装置を加熱し、周囲温度が所定
の温度より高い場合に７０ツピイデイスクドライブ装置
を起動するように構成したので、寒冷地等でもフロッピ
ィディスクドライブ装置が正常に駆動するように制御す
ることができる。
イブ装置の周囲温度が所定の温度より低い場合にはフロ
ッピィディスクドライブ装置を加熱し、周囲温度が所定
の温度より高い場合に７０ツピイデイスクドライブ装置
を起動するように構成したので、寒冷地等でもフロッピ
ィディスクドライブ装置が正常に駆動するように制御す
ることができる。
第１図は本発明に係るフロッピィディスク制御装置の一
実施例を示すブロック図、第２図は第１図のフロッピィ
ディスク制御装置の動作を説明するための７Ｏ−チャー
ト、第３図は電源が投入された時からの時間むと７０ッ
ピィディスクドライト・・フロッピィディスク（ＦＤ）
、２・・・フロッピィディスクドライブ装置（ＦＤＤ）
、３・・・ＦＤＤ制御装置（ＦＤＣ）、４・・・温度セ
ンサ、６・・・ヒータ、８・・・マイクロコンピュータ
。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２ｖ！Ｊ 第３図
実施例を示すブロック図、第２図は第１図のフロッピィ
ディスク制御装置の動作を説明するための７Ｏ−チャー
ト、第３図は電源が投入された時からの時間むと７０ッ
ピィディスクドライト・・フロッピィディスク（ＦＤ）
、２・・・フロッピィディスクドライブ装置（ＦＤＤ）
、３・・・ＦＤＤ制御装置（ＦＤＣ）、４・・・温度セ
ンサ、６・・・ヒータ、８・・・マイクロコンピュータ
。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか１名第１
図 第２ｖ！Ｊ 第３図
Claims (1)
- フロッピィディスクを駆動するフロッピィディスクドラ
イブ装置と、前記フロッピィディスクドライブ装置の周
囲温度を検出する手段と、前記フロッピィディスクドラ
イブ装置を加熱する手段と、前記温度検出手段により検
出された周囲温度が所定の温度より低い場合に前記加熱
手段を起動することにより前記フロッピィディスクドラ
イブ装置を加熱し、周囲温度が所定の温度より高い場合
にフロッピィディスクドライブ装置を起動する手段とを
有するフロッピィディスク制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62033820A JPS63201946A (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | フロツピイデイスク制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62033820A JPS63201946A (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | フロツピイデイスク制御装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63201946A true JPS63201946A (ja) | 1988-08-22 |
Family
ID=12397121
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62033820A Pending JPS63201946A (ja) | 1987-02-17 | 1987-02-17 | フロツピイデイスク制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63201946A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
-
1987
- 1987-02-17 JP JP62033820A patent/JPS63201946A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9779780B2 (en) | 2010-06-17 | 2017-10-03 | Teradyne, Inc. | Damping vibrations within storage device testing systems |
| US11226390B2 (en) | 2017-08-28 | 2022-01-18 | Teradyne, Inc. | Calibration process for an automated test system |
| US10845410B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-11-24 | Teradyne, Inc. | Automated test system having orthogonal robots |
| US10948534B2 (en) | 2017-08-28 | 2021-03-16 | Teradyne, Inc. | Automated test system employing robotics |
| US10725091B2 (en) | 2017-08-28 | 2020-07-28 | Teradyne, Inc. | Automated test system having multiple stages |
| US10983145B2 (en) | 2018-04-24 | 2021-04-20 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US10775408B2 (en) | 2018-08-20 | 2020-09-15 | Teradyne, Inc. | System for testing devices inside of carriers |
| US11754596B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Test site configuration in an automated test system |
| US11754622B2 (en) | 2020-10-22 | 2023-09-12 | Teradyne, Inc. | Thermal control system for an automated test system |
| US11867749B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-01-09 | Teradyne, Inc. | Vision system for an automated test system |
| US11899042B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-02-13 | Teradyne, Inc. | Automated test system |
| US11953519B2 (en) | 2020-10-22 | 2024-04-09 | Teradyne, Inc. | Modular automated test system |
| US12007411B2 (en) | 2021-06-22 | 2024-06-11 | Teradyne, Inc. | Test socket having an automated lid |
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