JPS63228559A - 電子顕微鏡 - Google Patents

電子顕微鏡

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Publication number
JPS63228559A
JPS63228559A JP6093987A JP6093987A JPS63228559A JP S63228559 A JPS63228559 A JP S63228559A JP 6093987 A JP6093987 A JP 6093987A JP 6093987 A JP6093987 A JP 6093987A JP S63228559 A JPS63228559 A JP S63228559A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sample
photographing
electron beam
focusing
electron
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6093987A
Other languages
English (en)
Inventor
Isao Matsui
功 松井
Hiroyuki Kobayashi
弘幸 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP6093987A priority Critical patent/JPS63228559A/ja
Publication of JPS63228559A publication Critical patent/JPS63228559A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は透過形電子顕微鏡の撮影装置に係り、特に試料
損傷を極力少なくして撮影するのに好適な電子顕微鏡に
おける像撮影装置に関する。
〔従来の技術〕
従来の装置は、特許公報昭61−20108に記載のよ
うに、焦点合せ後ビームブランキングを動作機撮影まで
短い遅延時間を設けていたが、上記時間を任意に設定が
不可であった。又集束レンズの電流値も一度に設定値迄
変化させるようになっていた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術は、写真撮影までの待ち時間が一定値に設
定されていて任意に変化させることが出来ない、又試料
に電子線を照射する量をコントロ・−ルする集束レンズ
の電流も一度に撮影時の値に設定するため、写真、撮影
前の試料のドリフトが安定しない状態で撮影をするため
安定した顕微鏡像が得られにくい心配があった。
本発明の目的は上記試料ドリフトを極力少なくして、安
定した電子顕微鏡像を得ることにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は、焦点合せ後写真撮影までの待ち時間を試料
の特質に合せて任意に設定可能とすること、および、写
真撮影迄に集束レンズ電流を焦点合せ時の値から一度低
い電流値まで落し写真撮影時の条件に徐々に上昇する如
くし、任意に設定することにより達成される。
〔作用〕
焦点合せ時は撮影すべき場所から約10μm離れた場所
で実施出来るよう偏向コイルによって電子線を移動する
。この移動によって蛍光板上の像が中心に結像するよう
中間レンズと投射レンズの中間に設けた振り戻しコイル
によって移動させる。
この状態で焦点合せ、非点補正等写真撮影の為の準備段
階を終了させる。この後蛍光板をオープンし機械的シャ
ッターを挿入し電子線を遮断する。
写真撮影開始迄の待ち時間を例えば0〜10秒にステッ
プ切換が可能な如く設定可能とする。上記待ち時間の間
に試料に照射する電子線量を制御する集束レンズ電流を
低い電流値まで落し徐々に規定値まで上昇する如くして
、試料への照射電流をコントロールし試料に急激な熱変
化が生じないようにするため、試料損傷、試料ドリフト
の極めて少ない安定した状態で写真撮影が可能となる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図、および第2図により
詳細に説明する。
第1図は試料損傷を極力低減するための一連の動作を示
す電子光学系のレイダイヤグラムを示す。
視野探し状態は集束レンズ1の励磁を極力弱くして明る
さを少なくし、視野探しを行う。撮影したい視野を蛍光
板中心になるよう試料微動装置で移動する。焦点合せス
イッチを動作させると偏向コイル2が動作し、視野が蛍
光板上で約601自動的に倍率リンクして移動する。こ
の後振り戻しコイル6が振り□戻しコ、イ°ル電源14
によって動作し視野が蛍光板の中心に振り戻される。こ
の状態で焦点合せ、非点補正等写真撮影のための準備を
実施する。
この時ビームは自動的にスポット状態となり、撮影領域
まで電子線が照射されないようにしている。写真撮影は
蛍光板9を0penにするとシャッター8が電子線を遮
断するため電子線通路に移動する。偏向コイル2.振り
戻しコイル6はそれぞれ設定された値に自動的に励磁が
変化する。集束レンズの電流は任意に設定して規定値に
達する様にステップ状あるいは直線的に変化させること
が出来る。写真撮影までの待ち時間11も試料に合せて
最適となるよう例えば10秒迄を任意に切換えて選択出
来るようタイマー13で設定可能である。
撮影時間し2は通常3〜5秒であり露出は適正となった
時点で自動的にシャッター8が動作し撮影が終了する。
これらの動作に関するタイムチャートを第2図に示す。
実線はそれぞれのコイル、レンズの電流変化を示すと共
に、蛍光板、およびシャッターのON、OFFの状態を
示す。撮影終了後は焦点合せの位置に自動的に戻り1次
の撮影の準備状態となる。スルーフォーカスによる連続
撮影も行うことが出来る。
〔発明の効果〕
本発明によれば、焦点合せ後の撮影までの待ち時間を、
試料に合せて任意に設定可能であること。
待ち時間の間に試料に電子線を照射する量をコントロー
ルする集束レンズ励磁電流を写真撮影時の設定電流値ま
で、徐々にステップ状に上昇するようにしているため、
試料への急激な電子線照射を防ぐことが出来るので、試
料の熱ドリフトおよび熱損傷をより少なくすることが可
能となった。実際に試料ドリフトによる像撮影のミスを
無くすことが出来た。又上記した如く、待ち時間をある
時間内で任意に設定することが出来るため、種々の試料
に対して本システムの効果を応用可能となり。
本発明の効果は顕著である。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例を説明する電子光学系のレイ
ダイヤグラ・ムを示す図、第2図は本発明の動作を示す
タイムチャートを示す図である。 1・・・集束レンズ、2・・・偏向コイル、3・・・試
料、4・・・対物レンズ、5・・・中間レンズ、6・・
・振り戻しコイル、7・・・投射レンズ、8・・・シャ
ッター、9・・・蛍光板、1o・・・フィルム、11・
・・集束レンズ電源、12・・・偏向コイル電源、13
・・・タイマー、14・・・振り戻しコイル、15・・
・シャッター駆動電源。 16・・・蛍光板位置検出、17・・・フィルムフィー
ド機構。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、電子源から射出した電子線を集束させ試料に照射す
    る集束レンズと試料への電子線照射位置をシフトさせる
    偏向手段と、上記シフトした電子顕微鏡像を蛍光板中心
    に振り戻す為のコイルと電子顕微鏡像を撮影するための
    機能を備えた装置において、焦点合せ後写真撮影開始ま
    での待ち時間を任意に選択可能としたことを特徴とする
    電子顕微鏡。 2、特許請求の範囲第1項において、前記写真撮影開始
    までの待ち時間の間に試料に照射する電子線量を写真撮
    影時の条件まで任意のステップ状又は連続的に上昇させ
    ることを特徴とする電子顕微鏡。
JP6093987A 1987-03-18 1987-03-18 電子顕微鏡 Pending JPS63228559A (ja)

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JP6093987A JPS63228559A (ja) 1987-03-18 1987-03-18 電子顕微鏡

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JP6093987A JPS63228559A (ja) 1987-03-18 1987-03-18 電子顕微鏡

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Publication Number Publication Date
JPS63228559A true JPS63228559A (ja) 1988-09-22

Family

ID=13156849

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Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6093987A Pending JPS63228559A (ja) 1987-03-18 1987-03-18 電子顕微鏡

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JP (1) JPS63228559A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6800853B2 (en) 2000-11-16 2004-10-05 Jeol Ltd. Electron microscope and method of photographing TEM images

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6800853B2 (en) 2000-11-16 2004-10-05 Jeol Ltd. Electron microscope and method of photographing TEM images

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