JPS63238570A - 電気機器の検査装置 - Google Patents
電気機器の検査装置Info
- Publication number
- JPS63238570A JPS63238570A JP7340087A JP7340087A JPS63238570A JP S63238570 A JPS63238570 A JP S63238570A JP 7340087 A JP7340087 A JP 7340087A JP 7340087 A JP7340087 A JP 7340087A JP S63238570 A JPS63238570 A JP S63238570A
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- JP
- Japan
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- information
- electrical equipment
- setting means
- inspection
- reading means
- Prior art date
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- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Discharge Of Articles From Conveyors (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は電気機器の検査装置に関し、さらに詳しく言
えば、ビデオテープレコーダ等の製品検査に好適な検査
装置に関するものである。
えば、ビデオテープレコーダ等の製品検査に好適な検査
装置に関するものである。
製品を出荷するに際しては、最終的に各種の性能検査が
行われる。ビデオテープレコーダを例にとって説明する
と、その電気的な検査としては少なくともビデオイ、ｊ
号、ＲＦ倍信号よびオーディオ信号等を実際しこ供給し
てその各項目をテストする必要がある。
行われる。ビデオテープレコーダを例にとって説明する
と、その電気的な検査としては少なくともビデオイ、ｊ
号、ＲＦ倍信号よびオーディオ信号等を実際しこ供給し
てその各項目をテストする必要がある。
ところで、例えば輸出品の場合にはその仕向は国によっ
て規格が異なるため、その規格に応じてテスト信号を切
替える必要がある。
て規格が異なるため、その規格に応じてテスト信号を切
替える必要がある。
そのため、従来では例えば製品に付された伝票を見て検
査員が適宜テスト信号を切替えるようにしているが、作
業が煩雑となるばかりでなく、往々にして操作ミスが生
じやすいという欠点がある。
査員が適宜テスト信号を切替えるようにしているが、作
業が煩雑となるばかりでなく、往々にして操作ミスが生
じやすいという欠点がある。
この発明は上記従来の欠点に鑑みなされたもので、その
目的は、機種や輸出仕向は先に応じて自動的にテスト信
号の切替えが行われるようにした電気機器の検査′ｇ２
置を提供することにある。
目的は、機種や輸出仕向は先に応じて自動的にテスト信
号の切替えが行われるようにした電気機器の検査′ｇ２
置を提供することにある。
上記した目的を達成するため、この発明においては、コ
ンベアラインにて搬送されるパレットに被検査機器に対
する検査信号等の情報を設定する情報設定手段を設ける
とともに、検査ステーション側にその情報を読取る情報
読取り手段およびこの情報読取り手段からのデータに基
いて上記被検査機器に供給する検査信号を切替える検査
信号切替え手段を設けるようにしている。
ンベアラインにて搬送されるパレットに被検査機器に対
する検査信号等の情報を設定する情報設定手段を設ける
とともに、検査ステーション側にその情報を読取る情報
読取り手段およびこの情報読取り手段からのデータに基
いて上記被検査機器に供給する検査信号を切替える検査
信号切替え手段を設けるようにしている。
上記した構成によれば、各検査ステーションにおいてパ
レットに設定されている情報をともに、被検査機器の機
種や輸出仕向先に合った検査信号が自動的に選択される
。
レットに設定されている情報をともに、被検査機器の機
種や輸出仕向先に合った検査信号が自動的に選択される
。
以下、この発明の実施例を添付図面を参照しながら詳細
に説明する。
に説明する。
まず、この検査装置全体の構成を説明する。第１図にお
いて、１は検査工程のコンベアライン、２はこのコンベ
アラインに乗せられて搬送されるパレットであり、図示
されていないが、このパレット２側に検査すべき例入ば
ビデオテープレコーダがａ置される。第１図には１箇所
の検査工程しか示されていないが、各検査工程には第１
のコネクタボックス（固定側コネクタボックス）３が配
置されており、他方、パレット２側にはそれと協働する
第２のコネクタボックス（移動側コネクタボックス）４
が取付けられている。
いて、１は検査工程のコンベアライン、２はこのコンベ
アラインに乗せられて搬送されるパレットであり、図示
されていないが、このパレット２側に検査すべき例入ば
ビデオテープレコーダがａ置される。第１図には１箇所
の検査工程しか示されていないが、各検査工程には第１
のコネクタボックス（固定側コネクタボックス）３が配
置されており、他方、パレット２側にはそれと協働する
第２のコネクタボックス（移動側コネクタボックス）４
が取付けられている。
ここで第２図を参照すると、第１のコネクタボックス３
には、例えばオーディオルチャンネル信号の受給端子５
ａ、５ｂ、ＶＨＦ帯ＲＦ信号の受給端子６ａ、６ｂ、オ
ーディオＲチャンネル信号の受給端子７ａ、７ｂ、ビデ
オ信号の受給端子８ａ、８ｂ、およびＵ ＨＦ帯ＲＦ信
号の受給端子９ａ、９ｂがそれぞれ設けられている。な
お、１０ａ。
には、例えばオーディオルチャンネル信号の受給端子５
ａ、５ｂ、ＶＨＦ帯ＲＦ信号の受給端子６ａ、６ｂ、オ
ーディオＲチャンネル信号の受給端子７ａ、７ｂ、ビデ
オ信号の受給端子８ａ、８ｂ、およびＵ ＨＦ帯ＲＦ信
号の受給端子９ａ、９ｂがそれぞれ設けられている。な
お、１０ａ。
１０ｂは各信号用アース受給端子である。これらの端子
において、添字ａが付されているものは図示しない信号
源に接続されていて被検査機器に対してそのテスト信号
を供給する側の端子であり、添字すのものはその被検査
機器からの出力信号を受ける側の端子である。これらの
各端子は同一構成であるため、その代表例として第３図
（ａ）に端子５ａの断面図を示し、その構造について説
明する。
において、添字ａが付されているものは図示しない信号
源に接続されていて被検査機器に対してそのテスト信号
を供給する側の端子であり、添字すのものはその被検査
機器からの出力信号を受ける側の端子である。これらの
各端子は同一構成であるため、その代表例として第３図
（ａ）に端子５ａの断面図を示し、その構造について説
明する。
すなわちこの実施例において、端子５ａは適度なバネ弾
性を有する舌片状の端子板からなるとともに、信号の整
合をとる整合手段１１を介して信号源（図示しない）に
接続されるリードコネクタ１２に接続されている。この
整合手段１１は、例えばアルミニウムからなるケーシン
グｌｌａと、とのケーシングｌｌａ内を二分するように
同ケーシンクｌｌａ内に摺動可能に配置された例えばテ
フロン（商品名）等の電気絶縁材料からなる仕切り板１
１ｂとを備えている。端子板５ａはその仕切り板１１ｂ
を貫通して延びるリード捧１３を有し、このリード捧Ｉ
３を介して上記リードコネクタ１２に接続されている。
性を有する舌片状の端子板からなるとともに、信号の整
合をとる整合手段１１を介して信号源（図示しない）に
接続されるリードコネクタ１２に接続されている。この
整合手段１１は、例えばアルミニウムからなるケーシン
グｌｌａと、とのケーシングｌｌａ内を二分するように
同ケーシンクｌｌａ内に摺動可能に配置された例えばテ
フロン（商品名）等の電気絶縁材料からなる仕切り板１
１ｂとを備えている。端子板５ａはその仕切り板１１ｂ
を貫通して延びるリード捧１３を有し、このリード捧Ｉ
３を介して上記リードコネクタ１２に接続されている。
このリード棒１３とリードコネクタ１２との接続部位に
は例えば上記仕切り板１１ｂと同材質からなるスリーブ
ｌｌｃが被せられている。また、仕切り板１１ｂには小
孔１１ｄが穿設されており、この仕切り板１１ｂを摺動
させてその位置を調節することにより、給電される信号
の周波数に応じて整合をとることができる。
は例えば上記仕切り板１１ｂと同材質からなるスリーブ
ｌｌｃが被せられている。また、仕切り板１１ｂには小
孔１１ｄが穿設されており、この仕切り板１１ｂを摺動
させてその位置を調節することにより、給電される信号
の周波数に応じて整合をとることができる。
一方、第２のコネクタボックス４には、第４図に示され
ているように、上記受給端子５ａ、５ｂに対応するオー
ディオ上チャンネル信号の受給端子１４ａ、１４ｂ、上
記受給端子６ａ、６ｂに対応するＶ ｆ−Ｉ Ｆ ｔｒ
ＲＦ信号の受給端子１５ａ、１５ｂ、上記受給端子７
ａ、７ｂに対応するオーディオＲチャンネル信号の受給
端子１６ａ、１６ｂ、上記受給端子８ａ、８ｂに対応す
るビデオ信号の受給端子１７ａ。
ているように、上記受給端子５ａ、５ｂに対応するオー
ディオ上チャンネル信号の受給端子１４ａ、１４ｂ、上
記受給端子６ａ、６ｂに対応するＶ ｆ−Ｉ Ｆ ｔｒ
ＲＦ信号の受給端子１５ａ、１５ｂ、上記受給端子７
ａ、７ｂに対応するオーディオＲチャンネル信号の受給
端子１６ａ、１６ｂ、上記受給端子８ａ、８ｂに対応す
るビデオ信号の受給端子１７ａ。
１７ｂおよび上記受給端子９ａ、９ｂに対するＵＨＦ帯
ＲＦ信号の受給端子１８ａ、１８ｂが設けられている。
ＲＦ信号の受給端子１８ａ、１８ｂが設けられている。
なお、１９ａ、１９ｂは上記端子１０ａ、１０ｂに対応
する各信号用アース受給端子である。この場合、」二記
第１のコネクタボックス３とは逆に、添字ａが付されて
いるものは同コネクタボックス３の対応する端子からテ
スト信号を受ける側の端子であり、添字すが付されてい
るものは同コネクタボックス３の対応する端子に被検査
機器側から出力される信号を供給する側の端子である。
する各信号用アース受給端子である。この場合、」二記
第１のコネクタボックス３とは逆に、添字ａが付されて
いるものは同コネクタボックス３の対応する端子からテ
スト信号を受ける側の端子であり、添字すが付されてい
るものは同コネクタボックス３の対応する端子に被検査
機器側から出力される信号を供給する側の端子である。
また、これらの各端子１４ａ、１４ｂ・・・・・・１９
ａ、１９ｂは同一の構成であり、第３図（ｂ）にはその
代表例として端子１．４ａの平面図が示されている。す
なわち、これらの各端子は通常よく用いられる端子ピン
であるが、この端子ピンは先に説明した第１のコネクタ
ボックス３の端子と同じく信号整合手段１１を介して被
検査機器側に接続されるリードコネクタ２０に接続され
ている。
ａ、１９ｂは同一の構成であり、第３図（ｂ）にはその
代表例として端子１．４ａの平面図が示されている。す
なわち、これらの各端子は通常よく用いられる端子ピン
であるが、この端子ピンは先に説明した第１のコネクタ
ボックス３の端子と同じく信号整合手段１１を介して被
検査機器側に接続されるリードコネクタ２０に接続され
ている。
上記の如くこの実施例においては、端子５と１４．６と
１５．７と１６．８と１７．９と１８．１０と１９の各
々がそれぞれ対をなすのであるが、これらの各端子対は
、パレット２が移動する際、他の端子対と接触すること
がないようにその高さ位置が決められている。
１５．７と１６．８と１７．９と１８．１０と１９の各
々がそれぞれ対をなすのであるが、これらの各端子対は
、パレット２が移動する際、他の端子対と接触すること
がないようにその高さ位置が決められている。
ビデオテープレコーダの検査に先立って、第１のコネク
タボックス３の各端子５ａ〜９ａをテスト信号を発生す
る所定の信号源に接続するとともに、各端子５ｂ〜９ｂ
を図示しないテスター側に接続する。また、パレット２
上にビデオテープレコーダを載置し、そのオーディオ端
子、ＲＦ端子およびビデオ端子に第２のコネクタボック
ス４の各端子を図示しないケーブルにて接続する。そし
て、コンベアライン１にてそのパレット２を各検査工程
に送る。そのパレット２が検査ステーションに到来する
と、図示しないパレット検出手段が動作して、第１のコ
ネクタボックス３と第２のコネクタボックス４とが合致
した時点でコンベアライン１を停止させる。これにより
、第１および第２のコネクタボックス３，４の各端子が
自動的に接触し、その検査ステーションで予め設定され
ている項目のテストが実行される。この場合、第１のコ
ネクタボックス３の各端子は舌片状の端子板よりなるた
め、パレット２の位置決めには高い精度が要求されない
ですむ。また、この端子板には例えばベリリウム銅にニ
ッケルメッキを施したものが用いられているため、広帯
域にわたって特性を劣化させることなく信号の授受を行
うことができる。
タボックス３の各端子５ａ〜９ａをテスト信号を発生す
る所定の信号源に接続するとともに、各端子５ｂ〜９ｂ
を図示しないテスター側に接続する。また、パレット２
上にビデオテープレコーダを載置し、そのオーディオ端
子、ＲＦ端子およびビデオ端子に第２のコネクタボック
ス４の各端子を図示しないケーブルにて接続する。そし
て、コンベアライン１にてそのパレット２を各検査工程
に送る。そのパレット２が検査ステーションに到来する
と、図示しないパレット検出手段が動作して、第１のコ
ネクタボックス３と第２のコネクタボックス４とが合致
した時点でコンベアライン１を停止させる。これにより
、第１および第２のコネクタボックス３，４の各端子が
自動的に接触し、その検査ステーションで予め設定され
ている項目のテストが実行される。この場合、第１のコ
ネクタボックス３の各端子は舌片状の端子板よりなるた
め、パレット２の位置決めには高い精度が要求されない
ですむ。また、この端子板には例えばベリリウム銅にニ
ッケルメッキを施したものが用いられているため、広帯
域にわたって特性を劣化させることなく信号の授受を行
うことができる。
次に、この検査ステーションでの検査が終了すると、パ
レット２はコンベアライン１にて次の検査ステーション
に送られるのであるが、この発明によると、パレット２
にはそれに載置されるビデオテープレコーダに印加する
テスト信号等を例えばその機種や輸出仕向は先に応じて
切替えるための情報設定手段２１が１設けられている６
またこれに関連して、検査ステーション側にはそれを読
取る情報読取り手段２２が設けられている。この情報設
定手段２１は、例えばパレット２の底面に形成された４
つの磁石片取付は領域２１□〜２１４を有し、その各領
域２１１〜２１．に対して選択的に図示しない磁石片を
取付けることにより４ビツト構成の情報、例えばＲＦ倍
信号ついて言えばパル方式、ＮＴＳＣ方式の信号等を選
択する情報が任意に設定される。
レット２はコンベアライン１にて次の検査ステーション
に送られるのであるが、この発明によると、パレット２
にはそれに載置されるビデオテープレコーダに印加する
テスト信号等を例えばその機種や輸出仕向は先に応じて
切替えるための情報設定手段２１が１設けられている６
またこれに関連して、検査ステーション側にはそれを読
取る情報読取り手段２２が設けられている。この情報設
定手段２１は、例えばパレット２の底面に形成された４
つの磁石片取付は領域２１□〜２１４を有し、その各領
域２１１〜２１．に対して選択的に図示しない磁石片を
取付けることにより４ビツト構成の情報、例えばＲＦ倍
信号ついて言えばパル方式、ＮＴＳＣ方式の信号等を選
択する情報が任意に設定される。
これに対して、情報読取り手段２２は上記磁石取付は領
域に対応して配置された４つの磁気センサー２２）〜２
２４を有し、これにて読取られた情報は第５図に示すよ
うに、信号切替回路２３に送出される。
域に対応して配置された４つの磁気センサー２２）〜２
２４を有し、これにて読取られた情報は第５図に示すよ
うに、信号切替回路２３に送出される。
すなわち、この信号切替回路２３は、情報読取り手段２
２にて読取られた情報に基いて例えばパル方式、もしく
はＮＴＳＣ方式による信号を適宜切替えて上記の第１の
コネクタボックス３の所定の端子に出力する。
２にて読取られた情報に基いて例えばパル方式、もしく
はＮＴＳＣ方式による信号を適宜切替えて上記の第１の
コネクタボックス３の所定の端子に出力する。
なお、この実施例では磁石と磁気センサーの組合せを用
いているが、これに代えて１発光部と受光部とを含み光
反射片に光を照射してその反射光を読取る光学的センサ
ー、もしくはパレット側に凹凸を形成しそれをマイクロ
スイッチ等で読取るメカニカルな情報読取り手段を用い
てもよい。
いているが、これに代えて１発光部と受光部とを含み光
反射片に光を照射してその反射光を読取る光学的センサ
ー、もしくはパレット側に凹凸を形成しそれをマイクロ
スイッチ等で読取るメカニカルな情報読取り手段を用い
てもよい。
上記した実施例の説明から明らかなように、この発明に
よれば、パレット側に被検査機器に関する情報をもたせ
、これを検査ステーション側で読取り、その情報に基い
てテスト信号を自動的に切替えるようにしたことにより
、検査作業のスピードアップが図れるとともに、信頼性
の高い検査結果が得られる等、その効果は顕著である。
よれば、パレット側に被検査機器に関する情報をもたせ
、これを検査ステーション側で読取り、その情報に基い
てテスト信号を自動的に切替えるようにしたことにより
、検査作業のスピードアップが図れるとともに、信頼性
の高い検査結果が得られる等、その効果は顕著である。
第１図はこの発明による検査装置の一例を概略的に示す
斜視図、第２図は検査ステーション側に設けられるコネ
クタボックスの正面図、第３図（ａ）は同コネクタボッ
クスの端子構造を説明するための横断面図、同図（ｂ）
はパレット側に設けられるコネクタボックスの端子を示
す正面図、第４図は同パレット側のコネクタボックスの
正面図、第５図は被検査電気機器に応じて各ステーショ
ンで信号を切替える信号切替回路を示すブロック線図で
ある。 図中、１はコンベアライン、２はパレット、３は第１の
コネクタボックス、４は第２のコネクタボックス、５〜
１０ ； １４〜１９は端子、１１は信号整合手段、２
１は情報設定手段、２２は情報検出手段、２３は信号切
替回路である。 特許出願人 株式会社富士通ゼネラル代理人 弁理士
大 原 拓 電画１図 第２図 第°３図 第４図
斜視図、第２図は検査ステーション側に設けられるコネ
クタボックスの正面図、第３図（ａ）は同コネクタボッ
クスの端子構造を説明するための横断面図、同図（ｂ）
はパレット側に設けられるコネクタボックスの端子を示
す正面図、第４図は同パレット側のコネクタボックスの
正面図、第５図は被検査電気機器に応じて各ステーショ
ンで信号を切替える信号切替回路を示すブロック線図で
ある。 図中、１はコンベアライン、２はパレット、３は第１の
コネクタボックス、４は第２のコネクタボックス、５〜
１０ ； １４〜１９は端子、１１は信号整合手段、２
１は情報設定手段、２２は情報検出手段、２３は信号切
替回路である。 特許出願人 株式会社富士通ゼネラル代理人 弁理士
大 原 拓 電画１図 第２図 第°３図 第４図
Claims (6)
- （１）ビデオテープレコーダ等の被検査電気機器をパレ
ット上に載置した状態でコンベアラインにて各検査工程
に搬送し、その各検査工程において上記電気機器との間
で種々の検査信号を授受して所定項目の検査を行う電気
機器の検査装置において、 上記パレット側にはそれに載置される被検査電気機器に
対する検査信号等の情報を設定する情報設定手段が設け
られるとともに、検査ステーション側にはその情報を読
取る情報読取り手段および該情報読取り手段からのデー
タに基いて上記被検査機器に供給する検査信号を切替え
る検査信号切替え手段が設けられていることを特徴とす
る電気機器の検査装置。 - （２）特許請求の範囲（１）において、上記情報設定手
段はデジタルコード的に組合せられる複数の磁石片から
なり、上記情報読取り手段は磁気センサーからなる電気
機器の検査装置。 - （３）特許請求の範囲（１）において、上記情報設定手
段はデジタルコード的に組合せられる磁気片からなり、
上記情報読取り手段は磁気センサーからなる電気機器の
検査装置。 - （４）特許請求の範囲（１）において、上記情報設定手
段は磁気片によりデジタルコード的に組合せられる１、
０の組合せ体からなり、上記情報読取り手段は磁気セン
サーよりその１、０を電気信号に変換する電気機器の検
査装置。 - （５）特許請求の範囲（１）において、上記情報設定手
段はデジタルコード的に組合せられる光反射片からなり
、上記情報読取り手段は発光部と受光部とを有する光学
的センサーからなる電気機器の検査装置。 - （６）特許請求の範囲（１）において、上記情報設定手
段はデジタルコード的に組合せられる凹凸の組合せ体か
らなり、上記情報読取り手段はその凹凸にてオン、オフ
するマイクロスイッチ等の機械的スイッチからなる電気
機器の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7340087A JPS63238570A (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 電気機器の検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7340087A JPS63238570A (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 電気機器の検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63238570A true JPS63238570A (ja) | 1988-10-04 |
Family
ID=13517107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7340087A Pending JPS63238570A (ja) | 1987-03-27 | 1987-03-27 | 電気機器の検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63238570A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100655745B1 (ko) | 1998-10-15 | 2006-12-08 | 델 유에스에이 엘 피 | 퍼스널컴퓨터 시스템유닛의 테스트와 소프트웨어설치용 팔레트, 시스템 및 방법 |
| JP2011520210A (ja) * | 2008-04-17 | 2011-07-14 | テラダイン、 インコーポレイテッド | ディスクドライブエミュレーターおよびその使用方法 |
| JP2011524057A (ja) * | 2008-04-17 | 2011-08-25 | テラダイン、 インコーポレイテッド | 記憶装置試験システムへの記憶装置のバルク供給 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5958367A (ja) * | 1982-09-28 | 1984-04-04 | Toshiba Corp | 試験結果転送方式 |
| JPS61133868A (ja) * | 1984-12-04 | 1986-06-21 | Fanuc Ltd | 電源装置の試験システム |
-
1987
- 1987-03-27 JP JP7340087A patent/JPS63238570A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5958367A (ja) * | 1982-09-28 | 1984-04-04 | Toshiba Corp | 試験結果転送方式 |
| JPS61133868A (ja) * | 1984-12-04 | 1986-06-21 | Fanuc Ltd | 電源装置の試験システム |
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| KR100655745B1 (ko) | 1998-10-15 | 2006-12-08 | 델 유에스에이 엘 피 | 퍼스널컴퓨터 시스템유닛의 테스트와 소프트웨어설치용 팔레트, 시스템 및 방법 |
| JP2011520210A (ja) * | 2008-04-17 | 2011-07-14 | テラダイン、 インコーポレイテッド | ディスクドライブエミュレーターおよびその使用方法 |
| JP2011524057A (ja) * | 2008-04-17 | 2011-08-25 | テラダイン、 インコーポレイテッド | 記憶装置試験システムへの記憶装置のバルク供給 |
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