JPS63244638A - ウエハ−プロ−ビング装置 - Google Patents
ウエハ−プロ−ビング装置Info
- Publication number
- JPS63244638A JPS63244638A JP62077304A JP7730487A JPS63244638A JP S63244638 A JPS63244638 A JP S63244638A JP 62077304 A JP62077304 A JP 62077304A JP 7730487 A JP7730487 A JP 7730487A JP S63244638 A JPS63244638 A JP S63244638A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measured
- wafers
- wafer
- stage
- probing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 claims abstract description 95
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 12
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はウェハー状態のICをプロービングするための
ウェハープロービング装置に関する。
ウェハープロービング装置に関する。
従来、この種のウェハープロービング装置でのICの測
定は、被測定ウェハーが複数枚収納されている収納部か
ら1枚のウェハーを抜き出し、これをブロービングステ
ージ上にセットし、被測定ウェハーの位置合わせ線の光
学的測定によりアライメント作業を行い、被測定ウェハ
ーの先頭チップよりチップの信号入力部に正確にプロー
ブカードのプローブ針を接触させて試験装置側からの試
験信号を入力させ、1枚の被測定ウェハーの全てのチッ
プを順番にプロービングし、測定するもので全てのチッ
プをプロービングし、測定を終えると、測定完了した被
測定ウェハーは再び収納部へ収納され、次に測定される
被測定ウェハーが収納部より抜き出され、再びブロービ
ングステージ上へ乗せられ、アライメント作業が行われ
、全チップのプロービングが行われる。この動作を収納
部にセットされている枚数分1枚単位で繰返し、複数枚
の被測定ウェハーを連続して測定する。
定は、被測定ウェハーが複数枚収納されている収納部か
ら1枚のウェハーを抜き出し、これをブロービングステ
ージ上にセットし、被測定ウェハーの位置合わせ線の光
学的測定によりアライメント作業を行い、被測定ウェハ
ーの先頭チップよりチップの信号入力部に正確にプロー
ブカードのプローブ針を接触させて試験装置側からの試
験信号を入力させ、1枚の被測定ウェハーの全てのチッ
プを順番にプロービングし、測定するもので全てのチッ
プをプロービングし、測定を終えると、測定完了した被
測定ウェハーは再び収納部へ収納され、次に測定される
被測定ウェハーが収納部より抜き出され、再びブロービ
ングステージ上へ乗せられ、アライメント作業が行われ
、全チップのプロービングが行われる。この動作を収納
部にセットされている枚数分1枚単位で繰返し、複数枚
の被測定ウェハーを連続して測定する。
上述した従来のウェハープロービング装置では、複数枚
のウェハーを連続して測定する場合には、収納部に収納
された複数枚の被測定ウェハーのうちから1枚を抜き出
し、アライメント作業を行い、被測定ウェハー上のチッ
プのブロービングを順番に行い、全チップのブロービン
グが終了した後に次に測定する被測定ウェハーを再び収
納部から1枚抜き出し上記と同様の作業を行う、このた
め、連続して複数枚の被測定ウェハーを測定する場合に
は、収納部から被測定ウェハーを抜き出してから、アラ
イメント作業を行い、実測定ができるまでに要する時間
は被測定ウェハー1枚毎にアライメント作業及びブロー
ビングを行っているから、被測定ウェハー毎に必要とな
り、測定効率を低下させているという欠点がある。
のウェハーを連続して測定する場合には、収納部に収納
された複数枚の被測定ウェハーのうちから1枚を抜き出
し、アライメント作業を行い、被測定ウェハー上のチッ
プのブロービングを順番に行い、全チップのブロービン
グが終了した後に次に測定する被測定ウェハーを再び収
納部から1枚抜き出し上記と同様の作業を行う、このた
め、連続して複数枚の被測定ウェハーを測定する場合に
は、収納部から被測定ウェハーを抜き出してから、アラ
イメント作業を行い、実測定ができるまでに要する時間
は被測定ウェハー1枚毎にアライメント作業及びブロー
ビングを行っているから、被測定ウェハー毎に必要とな
り、測定効率を低下させているという欠点がある。
本発明の目的は前記問題点を解消したウェハープロービ
ング装置を提供することにある。
ング装置を提供することにある。
上述した従来のウェハープロービング装置に対して、本
発明はブロービングステージに複数枚の被測定ウェハー
を乗せ、同時に複数枚のウェハーをアライメントし、複
数枚のウェハーを同時にブロービングするという独創的
内容を有する。
発明はブロービングステージに複数枚の被測定ウェハー
を乗せ、同時に複数枚のウェハーをアライメントし、複
数枚のウェハーを同時にブロービングするという独創的
内容を有する。
本発明は被測定ウェハーにブロービングするウェハープ
ロービング装置において、複数枚の被測定ウェハーをセ
ットし、該複数枚のウェハーの各々をアライメントする
ブロービングステージと。
ロービング装置において、複数枚の被測定ウェハーをセ
ットし、該複数枚のウェハーの各々をアライメントする
ブロービングステージと。
該ブロービングステージ上にセットされた複数枚の被測
定ウェハーを同時にブロービングするプローブカードと
を有することを特徴とするウェハープロービング装置で
ある。
定ウェハーを同時にブロービングするプローブカードと
を有することを特徴とするウェハープロービング装置で
ある。
以下、本発明の実施例を図により説明する。
(実施例1)
第1図は本発明に係るウェハープロービング装置の第1
の実施例を示すシステムブロック図である。第1図にお
いて、本実施例に係るウェハープロービング装置は、ブ
ロービングステージ1と、ブロービングステージ1上に
別個独立に回転可能に装備した複数台の回転ステージ部
1aと、ブロービングステージ1上に乗せられた被測定
ウェハーのアライメントを行う際のアライメントデータ
2を光学的に測定するアライメント用光学測定系3と、
アライメント用光学測定系3からの7ライメントデータ
に基づきブロービングステージ1の動力部4とステージ
部1aの動力部4aに動力制御信号5をそれぞれ独立に
与えるブロービングステージ制御系6とから構成されて
いる。
の実施例を示すシステムブロック図である。第1図にお
いて、本実施例に係るウェハープロービング装置は、ブ
ロービングステージ1と、ブロービングステージ1上に
別個独立に回転可能に装備した複数台の回転ステージ部
1aと、ブロービングステージ1上に乗せられた被測定
ウェハーのアライメントを行う際のアライメントデータ
2を光学的に測定するアライメント用光学測定系3と、
アライメント用光学測定系3からの7ライメントデータ
に基づきブロービングステージ1の動力部4とステージ
部1aの動力部4aに動力制御信号5をそれぞれ独立に
与えるブロービングステージ制御系6とから構成されて
いる。
第1図、第2図に示すように、ブロービングステージ1
は矢印で示すように動力部4により左右上下に移動し、
また内部には、各動力部4aをもって各々独立に回転方
向に回転しかつ左右上下方向に移動する回転ステージ部
1aを4つ有している構成となっている。そして各々の
動作は第1図に示したそれぞれの動力部4,4aがブロ
ービングステージ制御系6からの信号によって動作を制
御され独立に動くことができるようになっている。
は矢印で示すように動力部4により左右上下に移動し、
また内部には、各動力部4aをもって各々独立に回転方
向に回転しかつ左右上下方向に移動する回転ステージ部
1aを4つ有している構成となっている。そして各々の
動作は第1図に示したそれぞれの動力部4,4aがブロ
ービングステージ制御系6からの信号によって動作を制
御され独立に動くことができるようになっている。
ブロービングステージ1上の正方形に配列された4つの
回転ステージ部la上に被測定ウェハー78゜7b、7
c、7d(以降総して被測定ウェハー7と称す)を乗せ
、4枚の被測定ウェハー7を同時にアライメントする際
の実施例を第3図を用いて示す、第1図で示したように
、アライメント用光学測定系3は、ブロービングステー
ジ1上の4枚の被測定ウェハー7の各々からのアライメ
ントデータを取り込み、各々の4枚の被測定ウェハー7
a、7b、7c、7dの位置合わせ線8a、8bが一致
するようにまず縦方向に被測定ウェハー78と7b、被
測定ウェハー70と7dの位置合わせ線8aのアライメ
ントを行い、次に横方向に被測定ウェハー78と7C1
被測定ウエハー7bと7dの位置合わせ線8bのアライ
メントを行う。
回転ステージ部la上に被測定ウェハー78゜7b、7
c、7d(以降総して被測定ウェハー7と称す)を乗せ
、4枚の被測定ウェハー7を同時にアライメントする際
の実施例を第3図を用いて示す、第1図で示したように
、アライメント用光学測定系3は、ブロービングステー
ジ1上の4枚の被測定ウェハー7の各々からのアライメ
ントデータを取り込み、各々の4枚の被測定ウェハー7
a、7b、7c、7dの位置合わせ線8a、8bが一致
するようにまず縦方向に被測定ウェハー78と7b、被
測定ウェハー70と7dの位置合わせ線8aのアライメ
ントを行い、次に横方向に被測定ウェハー78と7C1
被測定ウエハー7bと7dの位置合わせ線8bのアライ
メントを行う。
尚、この際、ブロービングステージ11回転ステージ部
1aの移動は第1IIで示したアライメント用光学測定
系3からのアライメントデータをブロービングステージ
制御系6が介して各動力部4,4aに゛制御信号を送り
動作制御している。
1aの移動は第1IIで示したアライメント用光学測定
系3からのアライメントデータをブロービングステージ
制御系6が介して各動力部4,4aに゛制御信号を送り
動作制御している。
アライメント終了後にブロービングステージ1上の4枚
の被測定ウェハー7を同時にブロービングするために、
各々の回転ステージ部la上の被測定ウェハー7上の同
一ロケーションの4チツプを同時にブロービング可能な
プローブカード9奮用いて4枚の被測定ウェハー7を同
時にブロービングする際の実施例を第4図に基づいて説
明する。
の被測定ウェハー7を同時にブロービングするために、
各々の回転ステージ部la上の被測定ウェハー7上の同
一ロケーションの4チツプを同時にブロービング可能な
プローブカード9奮用いて4枚の被測定ウェハー7を同
時にブロービングする際の実施例を第4図に基づいて説
明する。
ブロービングステージ1、上の4枚の被測定ウェハー7
a、7b、7e、7dは第3図で示したようにアライメ
ント時に隣接する被測定ウェハーの位置合わせ線8a、
8bが一致するようにアライメントされているため、回
転ステージ部1a上の各々の被測定ウェハー7上の同一
ロケーションの4チツプを同時にブロービング可能なプ
ローブカード9を用いてブロービングステージ1の左右
上下方向の移動のみで4枚の被測定ウェハー7を同時に
ブロービングすることが可能となる。
a、7b、7e、7dは第3図で示したようにアライメ
ント時に隣接する被測定ウェハーの位置合わせ線8a、
8bが一致するようにアライメントされているため、回
転ステージ部1a上の各々の被測定ウェハー7上の同一
ロケーションの4チツプを同時にブロービング可能なプ
ローブカード9を用いてブロービングステージ1の左右
上下方向の移動のみで4枚の被測定ウェハー7を同時に
ブロービングすることが可能となる。
(実施例2)
第5図は本発明の第2の実施例を示すものである。
システム構成は第1の実施例の第1図と全く同等であり
、第5図にはシステム構成のうちブロービングステージ
10の上面図をブロービングステージ10として示す。
、第5図にはシステム構成のうちブロービングステージ
10の上面図をブロービングステージ10として示す。
ブロービングステージ10は第1図に示す第1の実施例
と同様にそれ全体で左右上下方向に移動することができ
二また内部に回転方向と左右上下方向に移動することの
できる回転ステージ部10aを横一列に3つ有する構成
となっている。尚、この動作の制御は、第1の実施例と
同様に第1図に示したアライメント用光学測定系3と各
ステージの動力部4,4aとブロービングステージ制御
系6の制御で各々独立に行われる。
と同様にそれ全体で左右上下方向に移動することができ
二また内部に回転方向と左右上下方向に移動することの
できる回転ステージ部10aを横一列に3つ有する構成
となっている。尚、この動作の制御は、第1の実施例と
同様に第1図に示したアライメント用光学測定系3と各
ステージの動力部4,4aとブロービングステージ制御
系6の制御で各々独立に行われる。
ブロービングステージ10上に被測定ウェハー11a、
llb、1ie(以降総して被測定ウェハー11と称す
)の3枚を各々の回転ステージ部10a上に横一列に乗
せ同時にアライメントする際の動作を第6図に示す、第
1図で示したように、アライメント用光学測定系3は、
ブロービングステージ10上の各々の被測定ウェハー1
1からのアライメントデータ2を取り込み、各々の被測
定ウェハー11の位置合わせ線12aが横一列方向に一
致するようにアライメントを行う、尚、この際の各ステ
ージ部の動作は、第1図で示す各部の動力部4,4aが
ブロービングステージ制御系6からの制御信号5を受け
て制御され動作している。
llb、1ie(以降総して被測定ウェハー11と称す
)の3枚を各々の回転ステージ部10a上に横一列に乗
せ同時にアライメントする際の動作を第6図に示す、第
1図で示したように、アライメント用光学測定系3は、
ブロービングステージ10上の各々の被測定ウェハー1
1からのアライメントデータ2を取り込み、各々の被測
定ウェハー11の位置合わせ線12aが横一列方向に一
致するようにアライメントを行う、尚、この際の各ステ
ージ部の動作は、第1図で示す各部の動力部4,4aが
ブロービングステージ制御系6からの制御信号5を受け
て制御され動作している。
次に、アライメント終了後にブロービングステージ10
上の3枚の被測定ウェハー11を、3枚同時にブロービ
ングできるように各被測定ウェハーの同一ロケーション
の3チツプを同時にブロービング可能なプローブカード
13を用いて3枚の横一列に並べられた被測定ウェハー
11を同時にブロービングする際の動作を第7図に示す
、ブロービングステージ10上の3枚の被測定ウェハー
11はアライメント時に隣接するそれぞれの被測定ウェ
ハーの位置合わせ線12aが一致するようにアライメン
トされているため9回転ステージ部10a上に乗った3
枚の被測定ウェハー11を同時にプローブすることので
きるプローブカード13を用いることによりブロービン
グステージ10の左右上下方向移動のみで3枚の横一列
に並べられた被測定ウェハー11を同時に連続してブロ
ービングすることができる。
上の3枚の被測定ウェハー11を、3枚同時にブロービ
ングできるように各被測定ウェハーの同一ロケーション
の3チツプを同時にブロービング可能なプローブカード
13を用いて3枚の横一列に並べられた被測定ウェハー
11を同時にブロービングする際の動作を第7図に示す
、ブロービングステージ10上の3枚の被測定ウェハー
11はアライメント時に隣接するそれぞれの被測定ウェ
ハーの位置合わせ線12aが一致するようにアライメン
トされているため9回転ステージ部10a上に乗った3
枚の被測定ウェハー11を同時にプローブすることので
きるプローブカード13を用いることによりブロービン
グステージ10の左右上下方向移動のみで3枚の横一列
に並べられた被測定ウェハー11を同時に連続してブロ
ービングすることができる。
以上説明したように本発明は複数枚の被測定ウェハーを
同時にアライメントするブロービングステージと、前記
ブロービングステージ上にセットされた複数枚の被測定
ウェハーを同時に連続してブロービングするプローブカ
ードを有することにより、被測定ウェハー1枚について
アライメントに要する時間の短縮が可能となり、被測定
ウェハーの測定効率が向上できるという効果がある。
同時にアライメントするブロービングステージと、前記
ブロービングステージ上にセットされた複数枚の被測定
ウェハーを同時に連続してブロービングするプローブカ
ードを有することにより、被測定ウェハー1枚について
アライメントに要する時間の短縮が可能となり、被測定
ウェハーの測定効率が向上できるという効果がある。
第1図は本発明に係るウェハープロービング装置の第1
の実施例を示すシステムブロック図、第2図はブロービ
ングステージの平面図、第3図はブロービングステージ
上に被測定ウェハーをセットした平面図、第4図はブロ
ービングステージ上の被測定ウェハーをブロービングす
る平面図、第5図は本発明の第2の実施例を示すブロー
ビングステージの平面図、第6図はブロービングステー
ジ上に被測定ウェハーをセットした同平面図、第7図は
ブロービングステージ上の被測定ウェハーをブロービン
グする同平面図である。
の実施例を示すシステムブロック図、第2図はブロービ
ングステージの平面図、第3図はブロービングステージ
上に被測定ウェハーをセットした平面図、第4図はブロ
ービングステージ上の被測定ウェハーをブロービングす
る平面図、第5図は本発明の第2の実施例を示すブロー
ビングステージの平面図、第6図はブロービングステー
ジ上に被測定ウェハーをセットした同平面図、第7図は
ブロービングステージ上の被測定ウェハーをブロービン
グする同平面図である。
Claims (1)
- (1)被測定ウェハーにプロービングするウェハープロ
ービング装置において、複数枚の被測定ウェハーをセッ
トし、該複数枚のウェハーの各々をアライメントするプ
ロービングステージと、該プロービングステージ上にセ
ットされた複数枚の被測定ウェハーを同時にプロービン
グするプローブカードとを有することを特徴とするウェ
ハープロービング装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62077304A JPS63244638A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | ウエハ−プロ−ビング装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62077304A JPS63244638A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | ウエハ−プロ−ビング装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63244638A true JPS63244638A (ja) | 1988-10-12 |
Family
ID=13630169
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62077304A Pending JPS63244638A (ja) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | ウエハ−プロ−ビング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63244638A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017003295A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 三菱電機株式会社 | 測定装置、半導体装置の測定方法 |
-
1987
- 1987-03-30 JP JP62077304A patent/JPS63244638A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2017003295A (ja) * | 2015-06-05 | 2017-01-05 | 三菱電機株式会社 | 測定装置、半導体装置の測定方法 |
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