JPS63255843A - 光学式情報記録媒体及びその製造方法 - Google Patents
光学式情報記録媒体及びその製造方法Info
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- JPS63255843A JPS63255843A JP62089720A JP8972087A JPS63255843A JP S63255843 A JPS63255843 A JP S63255843A JP 62089720 A JP62089720 A JP 62089720A JP 8972087 A JP8972087 A JP 8972087A JP S63255843 A JPS63255843 A JP S63255843A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
(産業上の利用分野)
本発明はレーザビーム等の光ビームの照射により情報の
記録および再生を行う光学式情報記録媒体に係り、特に
透光性樹脂基板に対する記録層の密着不良を解決した光
学式情報記録媒体に関する。
記録および再生を行う光学式情報記録媒体に係り、特に
透光性樹脂基板に対する記録層の密着不良を解決した光
学式情報記録媒体に関する。
(従来の技術)
半導体レーザ等からの光ビームによって情報の記録再生
を行う光学式情報記録媒体、いわゆる光ディスクは ■ 記録密度が極めて高く大容量化が可能である。
を行う光学式情報記録媒体、いわゆる光ディスクは ■ 記録密度が極めて高く大容量化が可能である。
■ 情報の記録再生を非接触で行うので媒体の摩耗が無
い。
い。
(■ 数百m5ec以下の高速アクセスが可能である。
といった利点から、次世代の周辺メモリとして大いに期
待されている。
待されている。
このような光ディスクは基本的にはディスク状の基板と
、光ビームの照射によって何らかの光学的変化を生じる
記録層とから構成される。ここで記録層の光学的変化と
しては、 (a) 光ビーム照射部が変形(ビットあるいはバル
ブの形成)を起こし、その変形部の光反射率が変化する
。
、光ビームの照射によって何らかの光学的変化を生じる
記録層とから構成される。ここで記録層の光学的変化と
しては、 (a) 光ビーム照射部が変形(ビットあるいはバル
ブの形成)を起こし、その変形部の光反射率が変化する
。
(b) 光ビーム照射部が結晶質(非晶質)から非晶
質(結晶質)に、あるいはある結晶状態から他の結晶状
態に変化し、その変化部の光反射率が変化する。
質(結晶質)に、あるいはある結晶状態から他の結晶状
態に変化し、その変化部の光反射率が変化する。
(c) 光ビーム照射部の磁化が反転し、その磁化反
転部の偏光状態が変化する。
転部の偏光状態が変化する。
といった現象が挙げられる。
これらの光学的変化のいずれを利用した光ディスクにお
いてもディスク用基板には軽量、低価格、耐久性及び安
全性、並びに案内溝付き基板を大量に複製できることか
らポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイト、エポ
キシ等を代表とする透光性樹脂材料が使用されるように
なってきた。しかしこのような透光性樹脂基板はその上
に被着される記録層に比べて熱膨張係数が大きく、がが
る透光性樹脂基板に記録層を被着すると密着性が不十分
で剥がれ易く、記録層に局部的剥離(シワ)が生ずると
いう問題が有る。例えば現在、消去可能型光ディスクに
おける記録層として最も期待されている希土類−遷移金
属非晶質フェリ磁性膜(以下、RE−TM膜という)等
も透光性樹脂基板との密着性は乏しく、これがRE−T
M膜を記録層とする、光磁機ディスクの実用化を遅らせ
ている原因の1つとなっている。
いてもディスク用基板には軽量、低価格、耐久性及び安
全性、並びに案内溝付き基板を大量に複製できることか
らポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイト、エポ
キシ等を代表とする透光性樹脂材料が使用されるように
なってきた。しかしこのような透光性樹脂基板はその上
に被着される記録層に比べて熱膨張係数が大きく、がが
る透光性樹脂基板に記録層を被着すると密着性が不十分
で剥がれ易く、記録層に局部的剥離(シワ)が生ずると
いう問題が有る。例えば現在、消去可能型光ディスクに
おける記録層として最も期待されている希土類−遷移金
属非晶質フェリ磁性膜(以下、RE−TM膜という)等
も透光性樹脂基板との密着性は乏しく、これがRE−T
M膜を記録層とする、光磁機ディスクの実用化を遅らせ
ている原因の1つとなっている。
この問題を解決するため、特開昭60−79543号公
報には基板と記録層との間にポリマー密着層を介在させ
た光ディスクが提案されている。この公知例においては
、密着層をスピンコード法により形成している。しかし
ながら、このようなウェット・プロセスで密着層を形成
した場合には、密着層によって案内溝の形状が萎えてし
まい、トラッキング、フォーカシング、ランダムアクセ
スといった光ディスクにおいて重要な機能を損なうとい
う問題が有った また特開昭6’O−201546号公報には基板と記録
層との間に硫化カドミウムCdSを介在させた光ディス
クが提案されている。しかしこの場合樹脂基板と記録層
との密着性はある程度改善されるが、高温−低温の熱履
歴で密着層あるいは記録層にクラックが生じるという問
題が有りまだ不充分であった。
報には基板と記録層との間にポリマー密着層を介在させ
た光ディスクが提案されている。この公知例においては
、密着層をスピンコード法により形成している。しかし
ながら、このようなウェット・プロセスで密着層を形成
した場合には、密着層によって案内溝の形状が萎えてし
まい、トラッキング、フォーカシング、ランダムアクセ
スといった光ディスクにおいて重要な機能を損なうとい
う問題が有った また特開昭6’O−201546号公報には基板と記録
層との間に硫化カドミウムCdSを介在させた光ディス
クが提案されている。しかしこの場合樹脂基板と記録層
との密着性はある程度改善されるが、高温−低温の熱履
歴で密着層あるいは記録層にクラックが生じるという問
題が有りまだ不充分であった。
(発明が解決しようとする問題点)
以上述べたように透光性樹脂基板と光ビームの照射によ
り光学的変化を生じる記録層とを有する光学式情報記録
媒体(光ディスク)において基板と記録層との密着性が
悪く、記録層に局部的剥離あるいはクラックが発生する
という問題が有り、それを解決した従来技術においては
案内溝の形状を損なうという問題が有った。
り光学的変化を生じる記録層とを有する光学式情報記録
媒体(光ディスク)において基板と記録層との密着性が
悪く、記録層に局部的剥離あるいはクラックが発生する
という問題が有り、それを解決した従来技術においては
案内溝の形状を損なうという問題が有った。
本発明は案内溝の形状を損なうことなく透光性樹脂基板
と記録層との密着性を向上させ、記録層に局部的剥離や
クラックを発生することの無い光学式情報記録媒体を提
供することを目的とする。
と記録層との密着性を向上させ、記録層に局部的剥離や
クラックを発生することの無い光学式情報記録媒体を提
供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明は上記目的を達成するため、透光性樹脂基板と記
録層との間に層状構造をもつ物質からなる密着層を介在
させたことを特徴とする。透光性樹脂基板の材料として
はポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイト、エポ
キシ等が使用され、また記録層としては光ビームの照射
によって光学的変化を生ずる金属、半金属、金属酸化物
等が使用される。層状構造をもつ物質としてはMo5s
yす5llTiS、 、 TaS、 、SeS、 、
C,BN、PbCQ、AgI等が使用される。
録層との間に層状構造をもつ物質からなる密着層を介在
させたことを特徴とする。透光性樹脂基板の材料として
はポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイト、エポ
キシ等が使用され、また記録層としては光ビームの照射
によって光学的変化を生ずる金属、半金属、金属酸化物
等が使用される。層状構造をもつ物質としてはMo5s
yす5llTiS、 、 TaS、 、SeS、 、
C,BN、PbCQ、AgI等が使用される。
さらに本発明は上記目的を達成するため、透光性樹脂基
板と記録層との間に一酸化珪素SiOを含んだ有機放電
重合膜からなる密着層を介在させたことを特徴とする。
板と記録層との間に一酸化珪素SiOを含んだ有機放電
重合膜からなる密着層を介在させたことを特徴とする。
透光性樹脂基板の材料としてはポリメチルメタクリレー
ト、ポリカーボネイト、エポキシ等が使用され、また記
録層としては光ビームの照射によって光学的変化を生ず
る金属、半金属、金属酸化物等が使用される。有機放電
重合膜としてはメタン系炭化水素ガスの放電重合膜が使
用される。SiOを含んだ有機放電重合膜からなる密着
層はメタン系炭化水素ガス、あるいはこれと不活性ガス
との混合ガス中でSiOを蒸発°させ、これらの混合ガ
ス中で放電させることにより形成される。
ト、ポリカーボネイト、エポキシ等が使用され、また記
録層としては光ビームの照射によって光学的変化を生ず
る金属、半金属、金属酸化物等が使用される。有機放電
重合膜としてはメタン系炭化水素ガスの放電重合膜が使
用される。SiOを含んだ有機放電重合膜からなる密着
層はメタン系炭化水素ガス、あるいはこれと不活性ガス
との混合ガス中でSiOを蒸発°させ、これらの混合ガ
ス中で放電させることにより形成される。
(作 用)
MO52r’Js、tTis、 、Tea、 5ses
、 、C,BN、PbC4,AgI等の層状構造をもつ
物質からなる密着層は樹脂基板、記録層の両者との密着
性は良く、また熱膨張係数の大きな基板と熱膨張係数の
小さな記録層との間にあって緩衝層となって局部的剥離
やクラックが発生するのを防止する。
、 、C,BN、PbC4,AgI等の層状構造をもつ
物質からなる密着層は樹脂基板、記録層の両者との密着
性は良く、また熱膨張係数の大きな基板と熱膨張係数の
小さな記録層との間にあって緩衝層となって局部的剥離
やクラックが発生するのを防止する。
さらにSiO薄膜は樹脂基板とも無機記録層とも密着性
は良好であるが樹脂基板と記録層との間に単独で介在す
ると両者の熱膨張率の違いのために高温−低温の熱履歴
が加わった場合、Si0層あるいは記録層にクラックが
発生する。しかしSiOと柔軟性の有る有機放電重合物
とを混合した薄膜にすることによって密着性の良さを維
持したまま熱膨張率の大きく異なる基板と記録層との間
の緩衝層となって局部的剥離やクラックが発生するのを
防止することができる。
は良好であるが樹脂基板と記録層との間に単独で介在す
ると両者の熱膨張率の違いのために高温−低温の熱履歴
が加わった場合、Si0層あるいは記録層にクラックが
発生する。しかしSiOと柔軟性の有る有機放電重合物
とを混合した薄膜にすることによって密着性の良さを維
持したまま熱膨張率の大きく異なる基板と記録層との間
の緩衝層となって局部的剥離やクラックが発生するのを
防止することができる。
また本発明の密着層の形成方法ではメタン系炭化水素を
例えばメタンとした場合、放電によってメタンが解離し
て活性な−CH3基、−CH,基等が生成し、これらが
互いに、あるいは基板と衝突して重合し、るつぼから蒸
発してきたSiOと共に基板上に密着性良く唯積する。
例えばメタンとした場合、放電によってメタンが解離し
て活性な−CH3基、−CH,基等が生成し、これらが
互いに、あるいは基板と衝突して重合し、るつぼから蒸
発してきたSiOと共に基板上に密着性良く唯積する。
(実施例)
以下、本発明の詳細な説明する。第1図は本発明の光学
式情報記録媒体(光ディスク)の断面図であり、透光性
樹脂基板1上に層状構造をもつ物質からなる密着層2を
介して記録層3が形成されている。
式情報記録媒体(光ディスク)の断面図であり、透光性
樹脂基板1上に層状構造をもつ物質からなる密着層2を
介して記録層3が形成されている。
〈実施例〉
第1図の構造の光ディスクを次の手段で作製した。透光
性樹脂基板1としてφ120■、 1 、2 m tの
案内溝付きポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイ
ト、エポキシの3種類の基板を用意した。これらの基板
上に密着層2としてMo5s + WStt TiS、
。
性樹脂基板1としてφ120■、 1 、2 m tの
案内溝付きポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイ
ト、エポキシの3種類の基板を用意した。これらの基板
上に密着層2としてMo5s + WStt TiS、
。
TeS、 、SeS、 、C,8Nの7種類の層状構造
をもつ材料をそれぞれスパッタリングによって形成し、
その厚みを1On+i〜50nmとした。 lon+m
より薄いとその効果は小さく、また50n厘より厚いと
光ビームの透過が減少するため、基板側から光ビームを
照射して記録再生する場合には好ましくない、続いてこ
の密着層の上にTb2s co、 、の組成の記録層3
を同じくスパッタリングにより形成した。いずれの層も
スパッタリング条件は以下であった。
をもつ材料をそれぞれスパッタリングによって形成し、
その厚みを1On+i〜50nmとした。 lon+m
より薄いとその効果は小さく、また50n厘より厚いと
光ビームの透過が減少するため、基板側から光ビームを
照射して記録再生する場合には好ましくない、続いてこ
の密着層の上にTb2s co、 、の組成の記録層3
を同じくスパッタリングにより形成した。いずれの層も
スパッタリング条件は以下であった。
到達圧力 <I×10′″”TOPFスパッタ
ガス 99.999%AP5 X 10−” To
、Fスパッタ電力 RF150W 〈実施例2〉 密着層2としてPbCら、 AgIをそれぞれ真空蒸着
で10nm〜50nl+形成し、他は実施例1と同様に
して光磁気ディスクを製作した。
ガス 99.999%AP5 X 10−” To
、Fスパッタ電力 RF150W 〈実施例2〉 密着層2としてPbCら、 AgIをそれぞれ真空蒸着
で10nm〜50nl+形成し、他は実施例1と同様に
して光磁気ディスクを製作した。
実施例1,2で製作した光磁気記録ディスクをポーラー
カーヒステリシスループによって測定したところ、いず
れも垂直磁化膜が形成されていた。
カーヒステリシスループによって測定したところ、いず
れも垂直磁化膜が形成されていた。
基板との密着性は粘着テープによるピールオフテストで
ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイト、エポキ
シのいずれの基板からも剥離しない程度に強固で、さら
に65℃−90%RHの高温高湿雰囲気下24H,−1
0℃の低温雰囲気化IHのサイクル加速劣化試験を4サ
イクル継続した後にも、上記9種類のいずれの密着層の
場合も、上記3種類の基板のいずれからも局部的剥離あ
るいはクラックが発生することはなかった。
ポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイト、エポキ
シのいずれの基板からも剥離しない程度に強固で、さら
に65℃−90%RHの高温高湿雰囲気下24H,−1
0℃の低温雰囲気化IHのサイクル加速劣化試験を4サ
イクル継続した後にも、上記9種類のいずれの密着層の
場合も、上記3種類の基板のいずれからも局部的剥離あ
るいはクラックが発生することはなかった。
〈比較例〉
層状構造をもつ物質からなる密着層2に代えて5%N2
分圧N、−A、混合ガスでSi、 N、ターゲットをR
F電力300WでスパッタしてSi、 N、下地層を形
成し、他は実施例1と同じとしたものを同様に評価した
。ピールオフテストではポリメチルメタクリレート、ポ
リカーボネイト、エポキシ基板からは容易に剥離した。
分圧N、−A、混合ガスでSi、 N、ターゲットをR
F電力300WでスパッタしてSi、 N、下地層を形
成し、他は実施例1と同じとしたものを同様に評価した
。ピールオフテストではポリメチルメタクリレート、ポ
リカーボネイト、エポキシ基板からは容易に剥離した。
また上記と同様のサイクル加速劣化試験を4サイクル継
続した後ではいずれの基板の場合にも局部的剥離(10
p程度の幅のシワが膜面に寄る)が発生した。
続した後ではいずれの基板の場合にも局部的剥離(10
p程度の幅のシワが膜面に寄る)が発生した。
上記実施例では密着層上に直接記録層を形成した例を示
したが1本発明はこれに限らず第2図のように、密着層
2と記録層3との間に例えばSi、 N4膜、AQN膜
等からなる第1の干渉層4を設けてもよく、さらにこの
記録層上に例えばSi、N4膜、ON膜等からなる第2
の干渉層5.および光反射層6を形成してもよい。
したが1本発明はこれに限らず第2図のように、密着層
2と記録層3との間に例えばSi、 N4膜、AQN膜
等からなる第1の干渉層4を設けてもよく、さらにこの
記録層上に例えばSi、N4膜、ON膜等からなる第2
の干渉層5.および光反射層6を形成してもよい。
本発明はさらに、次のような種々の実施態様を゛とるこ
とが可能である0例えば以上の実施例では記録層として
光磁気効果を利用するTbCo膜を例示したが、他のR
E−TM膜であってもよく、またRE−TM膜膜外外記
録層を有する光ディスク、例えば結晶の構造変化を利用
するAgZn膜等、あるいは結晶質−非晶質間の相変化
を利用するカルコゲナイド系物質等であってもよく、本
発明は要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施するこ
とができる。
とが可能である0例えば以上の実施例では記録層として
光磁気効果を利用するTbCo膜を例示したが、他のR
E−TM膜であってもよく、またRE−TM膜膜外外記
録層を有する光ディスク、例えば結晶の構造変化を利用
するAgZn膜等、あるいは結晶質−非晶質間の相変化
を利用するカルコゲナイド系物質等であってもよく、本
発明は要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施するこ
とができる。
以下、第2の発明の詳細な説明する。第3図は本発明の
一実施例に係る光学式情報記録媒体(光ディスク)の断
面図であり、透光性樹脂基板1上にSiOを含む有機放
電重合膜からなる密着層2を介して記録層3が形成され
ている。透光性樹脂基板1としては例えばポリカーボネ
イト基板が使用され、その表面には案内溝が形成されて
いる。
一実施例に係る光学式情報記録媒体(光ディスク)の断
面図であり、透光性樹脂基板1上にSiOを含む有機放
電重合膜からなる密着層2を介して記録層3が形成され
ている。透光性樹脂基板1としては例えばポリカーボネ
イト基板が使用され、その表面には案内溝が形成されて
いる。
記録層3は例えばTbCo膜のようなRE−TM膜から
なる。
なる。
第4図は本発明の密着層を形成するのに用いた装置の概
略図である。11は密着層形成室、12は第1図の透光
性樹脂基板1を保持する基板ホルダ、13は13.56
MHzのRF電源、14は電極コイル、15はSi01
6蒸発のるつぼ、17はシャッタ、18はガス供給系、
19は排気系である。供給ガスはメタン系炭化水素ガス
、あるいはこれと不活性ガスとの混合ガスが使用され、
その圧力は10−4〜I T6FFが好ましい。ガス圧
力がI To??以上ではるつぼ15から蒸発したSi
Oが基板に到達しにくく、また放電が電極コイルの内部
にのみ局在して基板上にSiOを含んだ膜を一様に形成
しにくい。またガス圧が1×10−’TO,,以下では
放電を起こしにくい、特に好ましいガス圧力はlXl0
−”〜I X 1O−1Torrで、この範囲では放電
は安定して電極近傍に一様に広がり。
略図である。11は密着層形成室、12は第1図の透光
性樹脂基板1を保持する基板ホルダ、13は13.56
MHzのRF電源、14は電極コイル、15はSi01
6蒸発のるつぼ、17はシャッタ、18はガス供給系、
19は排気系である。供給ガスはメタン系炭化水素ガス
、あるいはこれと不活性ガスとの混合ガスが使用され、
その圧力は10−4〜I T6FFが好ましい。ガス圧
力がI To??以上ではるつぼ15から蒸発したSi
Oが基板に到達しにくく、また放電が電極コイルの内部
にのみ局在して基板上にSiOを含んだ膜を一様に形成
しにくい。またガス圧が1×10−’TO,,以下では
放電を起こしにくい、特に好ましいガス圧力はlXl0
−”〜I X 1O−1Torrで、この範囲では放電
は安定して電極近傍に一様に広がり。
るつぼから蒸発したSiOは十分に基板に到達し得る。
有機放電重合膜中のSiOの混合比率はガスの圧力、放
電電力、るつぼからの蒸発速度によって任意に設定でき
る。
電電力、るつぼからの蒸発速度によって任意に設定でき
る。
第4図の密着層形成装置、および図示しないスパッタリ
ングによる記録層形成装置を使用して、第3図の構造の
光ディスクを次の手順で作製した。
ングによる記録層形成装置を使用して、第3図の構造の
光ディスクを次の手順で作製した。
透光性樹脂基板としてφ120m、1.2mtの案内溝
付きポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイト、エ
ポキシの3種類の基板を用意した。これらの基板を密着
層形成装置の基板ホルダ12に設置し、排気系19によ
って密着層形成室11内を5 Xl0−’ToP。
付きポリメチルメタクリレート、ポリカーボネイト、エ
ポキシの3種類の基板を用意した。これらの基板を密着
層形成装置の基板ホルダ12に設置し、排気系19によ
って密着層形成室11内を5 Xl0−’ToP。
以下迄排気した後、ガス供給系18よりメタンCH4ガ
スを5 secm供給してガス圧力を501To2、P
とした。
スを5 secm供給してガス圧力を501To2、P
とした。
この状態でるつぼ15を通電加熱してSiOをるつぼか
ら蒸発させると共にRF電′g13をオンにして電極コ
イル14に100vのRFパワを供給して放電を励起し
、放電が安定したところでシャッタ17を開けて樹脂基
板1上にSiOを含むCH4放電重合膜からなる密着層
2をまず1000人ずつ形成した。密着層中のSiOの
混合比は放電電力を一定にしてSiOの蒸発速度を変化
させることにより変え、体積比にして0%(SiOを蒸
発させなイ)、10%、20%、30%、40%。
ら蒸発させると共にRF電′g13をオンにして電極コ
イル14に100vのRFパワを供給して放電を励起し
、放電が安定したところでシャッタ17を開けて樹脂基
板1上にSiOを含むCH4放電重合膜からなる密着層
2をまず1000人ずつ形成した。密着層中のSiOの
混合比は放電電力を一定にしてSiOの蒸発速度を変化
させることにより変え、体積比にして0%(SiOを蒸
発させなイ)、10%、20%、30%、40%。
50%、60%、70%、80%、および比較のために
放電をさせずSiOを真空蒸着しただけの100%の膜
、計10種類とした。得られた膜はいずれの組成の場合
も無色透明で、耐薬品性は30分間のアセント中超音波
洗浄で変質が皆無である程度に良好であった。
放電をさせずSiOを真空蒸着しただけの100%の膜
、計10種類とした。得られた膜はいずれの組成の場合
も無色透明で、耐薬品性は30分間のアセント中超音波
洗浄で変質が皆無である程度に良好であった。
続いてこれらの密着層が形成された基板を記録層形成装
置に移して密着層の上にrb、 5 co ff 5の
組成の記録層3を500人ずつスパッタリングにより形
成した。スパッタリング条件は以下であった。
置に移して密着層の上にrb、 5 co ff 5の
組成の記録層3を500人ずつスパッタリングにより形
成した。スパッタリング条件は以下であった。
到達真空度 (l X 10””TarPスパッ
タガス 99,999%AF 5111TOI−F
以上のようにして製作した光磁気ディスクを基板側から
波長830nmのレーザ光を照射してポーラカーヒステ
リシスループによって測定したところ、いずれの場合に
も垂直磁化膜が形成されていた。
タガス 99,999%AF 5111TOI−F
以上のようにして製作した光磁気ディスクを基板側から
波長830nmのレーザ光を照射してポーラカーヒステ
リシスループによって測定したところ、いずれの場合に
も垂直磁化膜が形成されていた。
また65℃−90%RHの高温高温雰囲気下24H,−
10℃の低温雰囲気下IHのサイクル加速劣化試験を5
サイクル継続した後の評価結果を表−1に示す。表中X
は記録層あるいは密着層に局部的剥離(シワ)が生じた
もの、Δはクラックが生じたもの、Oは局部的剥離もク
ラックも生じなかったものを示す。SiOの混合比の小
さいものは基板との密着性が乏しく局部的剥離が発生し
、SiOの混合比の大きいものは密着性が良く局部的剥
離は発生しないがクラックが発生した。SiOの混合比
が30%〜70%の密着層は局部的剥離もクラックも発
生しなかった。
10℃の低温雰囲気下IHのサイクル加速劣化試験を5
サイクル継続した後の評価結果を表−1に示す。表中X
は記録層あるいは密着層に局部的剥離(シワ)が生じた
もの、Δはクラックが生じたもの、Oは局部的剥離もク
ラックも生じなかったものを示す。SiOの混合比の小
さいものは基板との密着性が乏しく局部的剥離が発生し
、SiOの混合比の大きいものは密着性が良く局部的剥
離は発生しないがクラックが発生した。SiOの混合比
が30%〜70%の密着層は局部的剥離もクラックも発
生しなかった。
表−1
上記実施例ではSiOを含むCH4放電重合膜からなる
密着層上に直接記録層を形成した例を示したが、本発明
はこれに限らず第4図のように密着層2と記録層3との
間に例えばSi3N、膜、AQN膜からなる第1の干渉
層4を設けてもよく、さらにこの記録層上に第2の干渉
層5、および光反射層6を形成してもよい。
密着層上に直接記録層を形成した例を示したが、本発明
はこれに限らず第4図のように密着層2と記録層3との
間に例えばSi3N、膜、AQN膜からなる第1の干渉
層4を設けてもよく、さらにこの記録層上に第2の干渉
層5、および光反射層6を形成してもよい。
本発明はさらに1次のような種々の実施態様をとること
が可能である0例えば以上の実施例では記録層として光
磁気効果を利用するTbCo膜を例示したが、他のRE
−TM膜であってもよく、またRE−TM膜膜外外記録
層を有するディスク、例えば結晶−結晶相転移を利用す
るAgZn膜等、あるいは結晶質−非晶質間の相変化を
利用するカルコゲナイド系物質であってもよく、本発明
は要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが
できる。
が可能である0例えば以上の実施例では記録層として光
磁気効果を利用するTbCo膜を例示したが、他のRE
−TM膜であってもよく、またRE−TM膜膜外外記録
層を有するディスク、例えば結晶−結晶相転移を利用す
るAgZn膜等、あるいは結晶質−非晶質間の相変化を
利用するカルコゲナイド系物質であってもよく、本発明
は要旨を逸脱しない範囲で種々変形して実施することが
できる。
本発明の層状構造をもつ物質からなる密着層を記録層と
基板の間に介在させることにより、樹脂基板を使用した
場合の基板と記録層との密着性不良の問題が解決され、
高温高湿化に放置しても、あるいは高温←低温の熱履歴
が加わっても記録層の剥離あるいはクラックが生じるこ
とのない長期信頼性の高い光学式情報記録媒体(光ディ
スク)が得られる。
基板の間に介在させることにより、樹脂基板を使用した
場合の基板と記録層との密着性不良の問題が解決され、
高温高湿化に放置しても、あるいは高温←低温の熱履歴
が加わっても記録層の剥離あるいはクラックが生じるこ
とのない長期信頼性の高い光学式情報記録媒体(光ディ
スク)が得られる。
また本発明の層状構造をもつ物質からなる密着層はスパ
ッタリング法や真空蒸着法といったドライプロセスによ
って成膜できるため、基板上に形成されている微細な案
内溝をその形状を損なうことなく記録層上に正しく反映
させることが可能である。従って、案内溝を利用してト
ラッキング。
ッタリング法や真空蒸着法といったドライプロセスによ
って成膜できるため、基板上に形成されている微細な案
内溝をその形状を損なうことなく記録層上に正しく反映
させることが可能である。従って、案内溝を利用してト
ラッキング。
フォーカシングおよびランダムアクセス等の各種制御を
安定に行うことができる。
安定に行うことができる。
さらに第2の発明ではSiOを含む有機放電重合膜から
なる密着層を基板と記録層との間に介在させることによ
り、樹脂基板を利用した場合の基板と記録層との密着性
不良の問題が解決され、高温高湿下に放置しても、ある
いは高温−低温の熱履歴が加わっても記録層の局部的剥
離あるいはクラックが生じることの無い長期信頼性の高
い光学式情報記録媒体(光ディスク)が得られる。
なる密着層を基板と記録層との間に介在させることによ
り、樹脂基板を利用した場合の基板と記録層との密着性
不良の問題が解決され、高温高湿下に放置しても、ある
いは高温−低温の熱履歴が加わっても記録層の局部的剥
離あるいはクラックが生じることの無い長期信頼性の高
い光学式情報記録媒体(光ディスク)が得られる。
また本発明のSiOを含む有機放電重合膜の製造方法で
は任意の混合化の膜を制御性良く形成できる。さらにS
iOを含んだ有機物の薄膜がドライプロセスによって成
膜できるため、基板上に形成されている微細な案内溝を
その形状を損なうことなく記録層上に正しく反映させる
ことが可能である。
は任意の混合化の膜を制御性良く形成できる。さらにS
iOを含んだ有機物の薄膜がドライプロセスによって成
膜できるため、基板上に形成されている微細な案内溝を
その形状を損なうことなく記録層上に正しく反映させる
ことが可能である。
従って案内溝を利用してトラッキング、フォーカシング
、およびランダムアクセス等の各種制御を安定に行うこ
とができる。
、およびランダムアクセス等の各種制御を安定に行うこ
とができる。
第1図は本発明の一実施例に係る光学式情報記録媒体(
光ディスク)の断面図、第2図は他の実施例に係る光デ
ィスクの断面図、第3図は本発明の一実施例に係る光学
式情報記録媒体(光ディスク)の断面図、第4図は本発
明の密着層を形成するための装置の概略図である。 1・・・透光性樹脂基板 2・・・密着層3
・・・記録層 4・・・第1干渉層
5・・・第2干渉層 6・・・光反射層
11・・・密着層形成室 12・・・基板
ホルダ13・・・RF電源 14・・
・電極コイル15・・・るつぼ 1
6・・・5iO17・・・シャッタ
18・・・ガス供給系19・・・排気系
光ディスク)の断面図、第2図は他の実施例に係る光デ
ィスクの断面図、第3図は本発明の一実施例に係る光学
式情報記録媒体(光ディスク)の断面図、第4図は本発
明の密着層を形成するための装置の概略図である。 1・・・透光性樹脂基板 2・・・密着層3
・・・記録層 4・・・第1干渉層
5・・・第2干渉層 6・・・光反射層
11・・・密着層形成室 12・・・基板
ホルダ13・・・RF電源 14・・
・電極コイル15・・・るつぼ 1
6・・・5iO17・・・シャッタ
18・・・ガス供給系19・・・排気系
Claims (6)
- (1)透光性樹脂基板と、光ビームの照射により光学的
変化を生じる記録層とを有する光学式情報記録媒体にお
いて、前記透光性樹脂基板と前記記録層との間に層状構
造をもつ物質からなる密着層を介在させたことを特徴と
する光学式情報記録媒体。 - (2)層状構造をもつ物質が二硫化モリブデンMoS_
2、二硫化タングステンWS_2、二硫化チタンTiS
_2、二硫化テルルTeS_2、二硫化セレンSeS_
2、グラファイトC、窒化ホウ素BN、塩化鉛PbCl
_2、沃化銀AgIのうち少くとも1種からなることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の光学式情報記録
媒体。 - (3)透光性樹脂基板と、光ビームの照射により光学的
変化を生じる記録層とを有する光学式情報記録媒体にお
いて、前記透光性樹脂基板と前記記録層との間に一酸化
珪素SiOを含んだ有機放電重合膜からなる密着層を介
在させたことを特徴とする光学式情報記録媒体。 - (4)密着層におけるSiOの混合比が体積比で30%
〜70%であることを特徴とする特許請求の範囲第3項
記載の光学式情報記録媒体。 - (5)有機放電重合膜がメタン系炭化水素ガスの放電重
合膜であることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載
の光学式情報記録媒体。 - (6)メタン系炭化水素ガス、あるいはこれと不活性ガ
スとの混合ガス中でSiOを蒸発させ、これらの混合ガ
ス中で放電させることにより密着層を形成させることを
特徴とする光学式情報記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62089720A JPS63255843A (ja) | 1987-04-14 | 1987-04-14 | 光学式情報記録媒体及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62089720A JPS63255843A (ja) | 1987-04-14 | 1987-04-14 | 光学式情報記録媒体及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63255843A true JPS63255843A (ja) | 1988-10-24 |
Family
ID=13978603
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62089720A Pending JPS63255843A (ja) | 1987-04-14 | 1987-04-14 | 光学式情報記録媒体及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63255843A (ja) |
-
1987
- 1987-04-14 JP JP62089720A patent/JPS63255843A/ja active Pending
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