JPS63257945A - 光学ヘツド - Google Patents

光学ヘツド

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Publication number
JPS63257945A
JPS63257945A JP9367787A JP9367787A JPS63257945A JP S63257945 A JPS63257945 A JP S63257945A JP 9367787 A JP9367787 A JP 9367787A JP 9367787 A JP9367787 A JP 9367787A JP S63257945 A JPS63257945 A JP S63257945A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
change
recording medium
optical
light
beams
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9367787A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshinori Sasaki
佐々木 義則
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP9367787A priority Critical patent/JPS63257945A/ja
Priority to US07/148,310 priority patent/US4951274A/en
Publication of JPS63257945A publication Critical patent/JPS63257945A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は磁気光学的に情報を記録再生する光磁気ディス
ク装置に関し、特に光学ヘッドに関する。
〔従来の技術〕
従来この種の光学ヘッドは第3図に示す様にサーボニラ
−検出光学系と読み取シ信号検出光学系の両方の検出光
学系を必要としていた。
半導体レーザ1から、出射し九光はコリメートレンズ2
にて、平行光となシ、第一のビームスプリツタ20i通
過後、第二のビームスプリータ20を通過する。ビーム
スプリツタ20i通過した一部の光は対物レンズ3にて
記録媒体100に集光される。記録媒体100にて反射
された光は、対物レンズ3を逆行し第二のビームスプリ
ッタ20に一部反射される。一部反射され九九は集光レ
ンズ21通過後ウオーラストンプリズム23にて、偏光
状態に応じて分離され分離された2つのビームは元検出
七ン+j24に入射して、読み取カ信号検出が行なわれ
る。第二のビームスプリータ20にて通過した光は、第
一のビームスプリッタ10にて、一部反射され、集光レ
ンズ11に入射する。
集光レンズ11にて集光されt光はナイフ12によって
一部の光が遮光され検出センサ13に入射し、ナイフェ
ツジ法等によりフォーカスエラー信号等のエラー検出信
号が得られる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の光学ヘッドは%2つの検出光学系を有し
ている為、形状が犬きく小型化がむずかしいという欠点
があり九。
〔問題点を解決する之めの手段〕
本発明の光学ヘッドは記録媒体にての反射光または透過
光の光路に配置され前記反射光ま九は透過光をその偏光
状態に応じて強度の変化する2つのビームと偏光による
光強度の変化のない1つのビームに分離するウォラスト
ンプリズムと、前記ウオーラストンプリズムと対物レン
ズとの間に前記反射光又は透過光光軸に対して、直交し
て回動可能に配置されたλ/2位相板と、前記ウオーラ
ストンプリズムを通過し几3つのビーム全それぞれ分離
して受光する素子を同一面上に配置し九九検出器とを備
え、前記偏光状態により強度変化?生ずる2つのビーム
の強度差によ少記録媒体の磁気光学的変化全検出し偏光
による強度変化のないビームよ少記録媒体の反射率変化
及びサーボ制御の為の誤差信号を検出するように構成し
友ことを特徴とする。
〔実施例〕
次に本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例1示す構成図であシ、第2図
は第1図の部分斜視説明図である。
第1図において、半導体レーザ1から出射した光束はコ
リメートレンズ2にて平行光束となり、透過率70%、
反射率30%に構成されたビームスプリッタ30を透過
し対物レンズ3によ少記録媒体100に集光される。記
録媒体100によって反射された光束は、対物レンズを
逆行し、再びビームスプリータ30に入射する。ビーム
スプリータ30によって反射された光束は、集光レンズ
31、λ/2位相板41及び、シリンドリカルレンズ3
2t−透過してウオーラストンプリズム33に入射する
ウォラストンプリズム33は、第2図に示すように、シ
リンドリカルレンズ32を透過後の光束中心軸200に
直交し、かつ、その偏光方向に対して光学軸510が1
@45°の傾きを持つ水晶等の一軸結晶物の第一のプリ
ズム500と、光束中心軸200と直焚し光学軸610
が第一のプリズム500の光学軸と略結晶物の第二のプ
リズム600で構成されている。
ウオーラストンプリズム33によって第2図に示す様に
、入射偏光状態に応じて強度変化をするビーム700お
よび900と、入射光偏光による強度変化のないビーム
800とに分離される。
強度変化のないビーム800は光検出センサ34の4分
割検出センサ部すに入射し、非点収差法によるフォーカ
スエラー検出信号を得る。強度変化ラスるビーム700
および901j、、記録媒体100に記録されたtW@
ピット部にンいて出気光学効果によりわずかにその偏光
方向全変化させられる。
センサ34は、これらの光束が入射する事により生ずる
強度変化を光検出センt34の3部及び0部で灸出する
。記録情報の読取シは、a部出力とC部比出力の差動信
号により行なわれる。
λ/2位相板41は、上記差動出力が無記録部にて最小
となる様にウオーラストンプリズム33への入射偏光方
向(第2図プリズムA300の光学軸に対し、45°に
なる)を微調する様に回動調整して記録情報ピット部の
微少な強度変化全演出する。
なお、本実施列中のビームスプリッタの透過率及び非点
収差法によるフォーカス検出手段は本溝成に限定される
ものではない。
本実施例中のセン+j34のa出力およびC出力の差動
検出にb出力iCて、反射率及び光出力変動による補正
を加える等の変更も可能である。
シリンドリカルレンズ32に代えて平行平面ガラス板を
光束に傾斜させて挿入する事も可能である。又、コリノ
ートレンズ2を対物レンズ3と、一体で樋成し泉元レン
ズ31を削除する事も可能でちる。
さらに、λ/2立相仮41の位置は本ガに限定されるも
ので11なく、フォーラストンプリズムへの、入射光直
前−までその配置を移動する事ができる。狗えは、λ/
2位相板41t71Jンドリカルレンズ32とフォーラ
ストンプリズム33の間に配置する事も可能である。
〔兜明の効果〕
以上説明した様に、本発明によれは簡単な構成で磁気光
字的に情@を記録及び74羊可能な光学ヘッドが得られ
る。
【図面の簡単な説明】
第it!ii3は1本発明の一実施例の光学ヘッドの構
成図、第2図社第1図に示した光学ヘッドの一部分を示
す斜視1孟、第3図は従来の光学ヘッドの構成口である
。 l・・・・・・半導体レーザ、2・・・・・・コリメー
トレンズ、3・・・・・・対物レンズ、11,21.3
1・・・・・・集光レンズ、lO・・・・・・Aビーム
スプリッタ、20・・・・・・Bビームスプリッタ、3
0・・・・・・ビームスプリッタ。 12・・・・・・ナイフエ、ツジ、13,24.34・
・・・・・光a 出−+=ンブ、23.33・・・・・
・フォーラストンプリズム、32・・・・・・シリンド
リカルレンズ、41・・・・・・λ/2位相板、20θ
・・・・・・光束中心(ψ、50【)・・・・・・紀−
のプリズム、600・・・・・・第二のプリズム。 510.610・・・・・・光学軸。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 磁気光学的に情報が記録される記録媒体に対し、集束光
    を照射し記録媒体からの反射光または透過光の偏光状態
    の変化により磁気光学的に記録された情報を検出する光
    ヘッドにおいて、前記反射光又は透過光の光路上に配置
    され前記反射光または透過光を偏光状態に応じて強度の
    変化する第一および第二のビームと偏光による光強度の
    変化のない第三のビームとに分離するウォーラストンプ
    リズムと、前記ウォーラストンプリズムと対物レンズと
    の間に前記反射光又は透過光光軸に対して直交して回動
    可能に配置されたλ/2位相板と、前記ウォーラストン
    プリズムを通過した第一、第二および第三のビームをそ
    れぞれ分離して受光する素子を同一面上に配置した光検
    出器とを具備し、前記第一および第二のビームの強度差
    により記録媒体の磁気光学的変化を検出し、前記第三の
    ビームにより記録媒体の反射率変化及びサーボ制御のた
    めの誤差信号を検出することを特徴とする光学ヘッド。
JP9367787A 1987-01-23 1987-04-15 光学ヘツド Pending JPS63257945A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9367787A JPS63257945A (ja) 1987-04-15 1987-04-15 光学ヘツド
US07/148,310 US4951274A (en) 1987-01-23 1988-01-25 Magneto-optical head capable of separating beams for reading recorded information and servo information by use of one optical element

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9367787A JPS63257945A (ja) 1987-04-15 1987-04-15 光学ヘツド

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63257945A true JPS63257945A (ja) 1988-10-25

Family

ID=14089038

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9367787A Pending JPS63257945A (ja) 1987-01-23 1987-04-15 光学ヘツド

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JP (1) JPS63257945A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7088645B2 (en) * 1997-07-11 2006-08-08 Ricoh Company, Ltd. Optical pickup apparatus compatible with different types of optical recording mediums

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JPS63222355A (ja) * 1987-03-12 1988-09-16 Nec Home Electronics Ltd 光磁気ヘツド

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