JPS63263699A - サンプルホ−ルド回路 - Google Patents
サンプルホ−ルド回路Info
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- JPS63263699A JPS63263699A JP62099405A JP9940587A JPS63263699A JP S63263699 A JPS63263699 A JP S63263699A JP 62099405 A JP62099405 A JP 62099405A JP 9940587 A JP9940587 A JP 9940587A JP S63263699 A JPS63263699 A JP S63263699A
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- Japan
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- current
- circuit
- diode
- emitter
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はアナログ信号の瞬時値を標本化し保持するサン
プルホールド回路に関し、特に高速のアナログ信号を取
り扱い、集積回路に適用して有効な技術に関する。
プルホールド回路に関し、特に高速のアナログ信号を取
り扱い、集積回路に適用して有効な技術に関する。
(従来の技術)
従来、この種のサンプルホールド回路として、第2図に
示すような回路があるが、その動作を以下に述べる。
示すような回路があるが、その動作を以下に述べる。
いま、第2図において、サンプルホールド制御入力端子
3および4(通常、入力端子4には入力端子3に対して
位相が180度異金石矩形波の反転入力が入力される。
3および4(通常、入力端子4には入力端子3に対して
位相が180度異金石矩形波の反転入力が入力される。
)の制御入力電圧SH,SHがそれぞれハイレベル状態
“H”、ロウレベル状態“し” (以下、単に“H”お
よび“L”と示す、)にある場合には差動トランジスタ
対Qa+Qsおよび差動トランジスタ対Q6.Q7のう
ちトランジスタQ4.Q7が共に導通状態、トランジス
タQg、Q6は共にしゃ断状態となり本回路の状態はサ
ンプルモードとなる。すなわち、入力端子1から入力さ
れるアナログ入力信号ViaはトランジスタQ1のベー
スに印加され、Qlはエミッタフォロワ動作をするeQ
tのエミッタに接続されたダイオードD!ないしD3は
レベルシフト回路として動作し、その電流は定電流源I
4により供給される。Qlのペースエミッタ間電圧をV
BR1+ダイオードDsないしD3の順方向電圧をすべ
て等しいと仮定しv!1とおくと、トランジスタQ2の
ベースに印加される電圧はVln−Vaε1+3V!l
となる。定電流源14の電流とQlの動作電流とを加え
合せた電流はQ4を介して定電流源11の電流となる。
“H”、ロウレベル状態“し” (以下、単に“H”お
よび“L”と示す、)にある場合には差動トランジスタ
対Qa+Qsおよび差動トランジスタ対Q6.Q7のう
ちトランジスタQ4.Q7が共に導通状態、トランジス
タQg、Q6は共にしゃ断状態となり本回路の状態はサ
ンプルモードとなる。すなわち、入力端子1から入力さ
れるアナログ入力信号ViaはトランジスタQ1のベー
スに印加され、Qlはエミッタフォロワ動作をするeQ
tのエミッタに接続されたダイオードD!ないしD3は
レベルシフト回路として動作し、その電流は定電流源I
4により供給される。Qlのペースエミッタ間電圧をV
BR1+ダイオードDsないしD3の順方向電圧をすべ
て等しいと仮定しv!1とおくと、トランジスタQ2の
ベースに印加される電圧はVln−Vaε1+3V!l
となる。定電流源14の電流とQlの動作電流とを加え
合せた電流はQ4を介して定電流源11の電流となる。
エミッタにホールド容量C,が接続されエミッタフォロ
ワ動作をするQ2は上記V 1n −VBI、1+ 3
Vll f)電圧ヲヘースに受けCHを充電する。こ
の時のQ2のペースエミッタ間電圧をVBε2とおくと
C,の電位はVln −(Vaat +Vap−2)
+3VDとなり、Vlnに対して電位が3V!+ −(
VBEI +Vap2) レベルシフトされて追従する
。さらに、第2図に示すようにQ2のエミッタにベース
が接続されたトランジスタQ8および定電流源I3とか
らなるエミッタフォロワ回路を接続し、Qaのエミッタ
すなわち出力端子2より出力信号voを取り出すように
した場合には、Qaのペースエミッタ間電圧がVB+!
8の時・VOはVln−(Vaas +Vap:2+V
aag)+3Vnとなる。ここで、Q1+ 02 +Q
a + D sないしD3の各素子の電流密度が等し
くなるよう設定するとVaas +Vap2+Var:
g #3v!1とおくことができ、その結果V xo
#V oとすることが可能となる。すなわち、サンプル
モードにおいては出力信号Voは入力信号Vlnに等し
く追従することになる。
ワ動作をするQ2は上記V 1n −VBI、1+ 3
Vll f)電圧ヲヘースに受けCHを充電する。こ
の時のQ2のペースエミッタ間電圧をVBε2とおくと
C,の電位はVln −(Vaat +Vap−2)
+3VDとなり、Vlnに対して電位が3V!+ −(
VBEI +Vap2) レベルシフトされて追従する
。さらに、第2図に示すようにQ2のエミッタにベース
が接続されたトランジスタQ8および定電流源I3とか
らなるエミッタフォロワ回路を接続し、Qaのエミッタ
すなわち出力端子2より出力信号voを取り出すように
した場合には、Qaのペースエミッタ間電圧がVB+!
8の時・VOはVln−(Vaas +Vap:2+V
aag)+3Vnとなる。ここで、Q1+ 02 +Q
a + D sないしD3の各素子の電流密度が等し
くなるよう設定するとVaas +Vap2+Var:
g #3v!1とおくことができ、その結果V xo
#V oとすることが可能となる。すなわち、サンプル
モードにおいては出力信号Voは入力信号Vlnに等し
く追従することになる。
次に、SH,SHがそれぞれ11,1″、“H″の場合
、Q4.Q7が共にしゃ断状態、Q弓wQ6が共に導通
状態になり、本回路はホールドモードとなる。すなわち
、Q7.Q2がしゃ断状態となるからC,の充電動作は
停止され、ベースがCHの接地側でない一端に接続され
たトランジスタQ:1が動作を開始して、CHの電位v
1[l+v、の値は保持される。この時、定電流源t、
l I2の電流はダイオードD4およびQs 、Qaを
介して定電流源■4からと、QaおよびQ!1.Q6を
介して電源115より供給される。
、Q4.Q7が共にしゃ断状態、Q弓wQ6が共に導通
状態になり、本回路はホールドモードとなる。すなわち
、Q7.Q2がしゃ断状態となるからC,の充電動作は
停止され、ベースがCHの接地側でない一端に接続され
たトランジスタQ:1が動作を開始して、CHの電位v
1[l+v、の値は保持される。この時、定電流源t、
l I2の電流はダイオードD4およびQs 、Qaを
介して定電流源■4からと、QaおよびQ!1.Q6を
介して電源115より供給される。
以上に述べたように、第2図により、サンプルモードに
おいては入力信号V1nに出力信号voが追従(Vo
=V1n ) L、ホールドモードに状態が切り換わる
とV、Ilの瞬時値を保持するというサンプルホールド
回路の機能が実行される。
おいては入力信号V1nに出力信号voが追従(Vo
=V1n ) L、ホールドモードに状態が切り換わる
とV、Ilの瞬時値を保持するというサンプルホールド
回路の機能が実行される。
(発明が解決しようとする問題点)
上述した従来のサンプルホールド回路においてはホール
ドモードの際、ボールド容量CHに接続されたトランジ
スタのバイアス電流(ベース電流)!Bが原因で、出力
信号voがIS/CHなる率で漸時減少傾向を呈する、
いわゆるドループ特性を示す。
ドモードの際、ボールド容量CHに接続されたトランジ
スタのバイアス電流(ベース電流)!Bが原因で、出力
信号voがIS/CHなる率で漸時減少傾向を呈する、
いわゆるドループ特性を示す。
高速の入力信号を扱う場合には、一般に素子の動作電流
を大きく設定する必要があるのでバイアス電流も大きく
なり、第2図に示すような従来例においてはドループが
大きくなりすぎ、サンプルホールド回路本来の保持機能
を失うことになる。
を大きく設定する必要があるのでバイアス電流も大きく
なり、第2図に示すような従来例においてはドループが
大きくなりすぎ、サンプルホールド回路本来の保持機能
を失うことになる。
また、ドループを小さくする目的で、バイアス電流I1
1を小さくするためにホールド容量C,に接続されるト
ランジスタとして接合形電界効果トランジスタあるいは
電流増幅率の大きなトランジスタが用いられることがし
ばしばある。しかし、他の部分とは異なる型式のトラン
ジスタを衝く一部とはいえ採用すると、集積回路化にお
いて、標準的な集積回路プロセスに加え上記の特殊なト
ランジスタを同時に作り込むためのプロセスを必要とす
ることになるので集積化プロセスが複雑かつ高価なもの
になるという不都合が生ずる。
1を小さくするためにホールド容量C,に接続されるト
ランジスタとして接合形電界効果トランジスタあるいは
電流増幅率の大きなトランジスタが用いられることがし
ばしばある。しかし、他の部分とは異なる型式のトラン
ジスタを衝く一部とはいえ採用すると、集積回路化にお
いて、標準的な集積回路プロセスに加え上記の特殊なト
ランジスタを同時に作り込むためのプロセスを必要とす
ることになるので集積化プロセスが複雑かつ高価なもの
になるという不都合が生ずる。
ドループ特性を改善するために、ホールド容量CHに接
続されるトランジスタをダーリントン接続形式としたり
、あるいはバイアス電流補償回路を新たに設けること等
の回路技術を用いたり、ホールド容量CHの値を大きく
したりする処置のように、複雑かつ高価な集積回路プロ
セスを必要としない対策が考えられる。しかし、このよ
うな回路の採用は本質的に回路応答の高速化には適当で
はなく、サンプルモードにおける速い変化の入力信号に
回路の応答が追従できなくなるという問題を生ずる。
続されるトランジスタをダーリントン接続形式としたり
、あるいはバイアス電流補償回路を新たに設けること等
の回路技術を用いたり、ホールド容量CHの値を大きく
したりする処置のように、複雑かつ高価な集積回路プロ
セスを必要としない対策が考えられる。しかし、このよ
うな回路の採用は本質的に回路応答の高速化には適当で
はなく、サンプルモードにおける速い変化の入力信号に
回路の応答が追従できなくなるという問題を生ずる。
(問題点を解決するための手段)
本発明のサンプルホールド回路は、カレントミラー回路
と、サンプルホールドされるアナログの入力信号がベー
スに入力されコレクタが前記カレントミラー回路のダイ
オード形式接続点に接続された第1のトランジスタと、
前記第1のトランジスタのエミッタにカソード側が接続
されアノード側が前記カレントミラー回路の出力点に接
続された単一若しくは複数のダイオードまたはダイオー
ド接続されたトランジスタからなる第1のダイオード素
子と、前記第1のトランジスタのエミッタにアノード側
が接続されカソード側が前記第1のダイオード素子のア
ノード側に接続された第2のダイオードまたはダイオー
ド接続されたトランジスタと、一方のトランジスタのコ
レクタが前記第1のトランジスタのエミッタに接続され
他方のトランジスタのコレクタが前記第1のダイオード
素子のアノード側に接続された第1の差動回路と、ベー
スが前記第1のダイオード素子のアノード側に接続され
コレクタが電源に接続されエミッタにホールド容量が接
続された第2のトランジスタと、一方のトランジスタの
コレクタが電源に接続され他方のトランジスタのコレク
タが前記第2のトランジスタのエミッタに接続された第
2の差動回路とを有している。
と、サンプルホールドされるアナログの入力信号がベー
スに入力されコレクタが前記カレントミラー回路のダイ
オード形式接続点に接続された第1のトランジスタと、
前記第1のトランジスタのエミッタにカソード側が接続
されアノード側が前記カレントミラー回路の出力点に接
続された単一若しくは複数のダイオードまたはダイオー
ド接続されたトランジスタからなる第1のダイオード素
子と、前記第1のトランジスタのエミッタにアノード側
が接続されカソード側が前記第1のダイオード素子のア
ノード側に接続された第2のダイオードまたはダイオー
ド接続されたトランジスタと、一方のトランジスタのコ
レクタが前記第1のトランジスタのエミッタに接続され
他方のトランジスタのコレクタが前記第1のダイオード
素子のアノード側に接続された第1の差動回路と、ベー
スが前記第1のダイオード素子のアノード側に接続され
コレクタが電源に接続されエミッタにホールド容量が接
続された第2のトランジスタと、一方のトランジスタの
コレクタが電源に接続され他方のトランジスタのコレク
タが前記第2のトランジスタのエミッタに接続された第
2の差動回路とを有している。
(作用)
本発明では、動作電流を差動スイッチにより制御する形
式のアナログスイッチを入力回路として用いてサンプル
モードとホールドモードとの切り換えを行なう、そして
、ホールドモードにおける一方の差動対の動作電流とし
て、第1のトランジスタから第2のダイオード(又はダ
イオード接続されたトランジスタ)の経路で流れるカレ
ントミラー回路の基準電流とカレントミラー回路の出力
電流との和を供給し、第2のトランジスタ(ホールド容
量充電用トランジスタ)をしゃ断することによりバイア
ス電流に起因するドループを無くしている。
式のアナログスイッチを入力回路として用いてサンプル
モードとホールドモードとの切り換えを行なう、そして
、ホールドモードにおける一方の差動対の動作電流とし
て、第1のトランジスタから第2のダイオード(又はダ
イオード接続されたトランジスタ)の経路で流れるカレ
ントミラー回路の基準電流とカレントミラー回路の出力
電流との和を供給し、第2のトランジスタ(ホールド容
量充電用トランジスタ)をしゃ断することによりバイア
ス電流に起因するドループを無くしている。
(実施例)
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図である。
いま、サンプルホールド制御入力端子13およびその反
転入力端子14の入力電圧SH,SHがそれぞれ“H″
、“H″の状態、すなわち本回路の状態がサンプルモー
ドの場合には、差動トランジスタ対Q14.Q□5およ
び差動トランジスタ対Q16゜(hyのうちトランジス
タ(h41 Q*yが共に導通状態となり、トランジス
タ(hs+ Qleaが共にしゃ断状態となる。入力端
子11から入力されるアナログ信号V1nはトランジス
タ(hlのベースに印加され、Qllはエミッタフォロ
ワ動作をするaQtrのエミッタに接続されたダイオー
ドD11〜D13は、トランジスタQ1e*Q2oから
なるカレントミラー回路の出力電流がその動作電流とな
りレベルシフト回路として動作する。エミッタにホール
ド容量C。
転入力端子14の入力電圧SH,SHがそれぞれ“H″
、“H″の状態、すなわち本回路の状態がサンプルモー
ドの場合には、差動トランジスタ対Q14.Q□5およ
び差動トランジスタ対Q16゜(hyのうちトランジス
タ(h41 Q*yが共に導通状態となり、トランジス
タ(hs+ Qleaが共にしゃ断状態となる。入力端
子11から入力されるアナログ信号V1nはトランジス
タ(hlのベースに印加され、Qllはエミッタフォロ
ワ動作をするaQtrのエミッタに接続されたダイオー
ドD11〜D13は、トランジスタQ1e*Q2oから
なるカレントミラー回路の出力電流がその動作電流とな
りレベルシフト回路として動作する。エミッタにホール
ド容量C。
が接続されたトランジスタQ12はエミッタフォロワ動
作をし、CHを充電する* Qlll C112のペー
スエミッタ間電圧をそれぞれvBal 1 + ” I
IB 12、ダイオードD11ないしD13の順方向電
圧をすべて等しくvllと仮定できるとすればcHの電
位は、V五a−(Var+sx+Vaa*z) +3V
!1 トオ<、ニドtjEでき、Vム。に対し”C3V
n−(Var:s1+Vaat2>だけレベルシフトし
て入力に追従する。さらに、第1図に示すように(h2
のエミッタにベースが接続されたトランジスタQ1aお
よび定電流源113とからなるエミッタフォロワ回路を
付加し、Qjaのエミッタすなわち出力端子12から出
力信号v。
作をし、CHを充電する* Qlll C112のペー
スエミッタ間電圧をそれぞれvBal 1 + ” I
IB 12、ダイオードD11ないしD13の順方向電
圧をすべて等しくvllと仮定できるとすればcHの電
位は、V五a−(Var+sx+Vaa*z) +3V
!1 トオ<、ニドtjEでき、Vム。に対し”C3V
n−(Var:s1+Vaat2>だけレベルシフトし
て入力に追従する。さらに、第1図に示すように(h2
のエミッタにベースが接続されたトランジスタQ1aお
よび定電流源113とからなるエミッタフォロワ回路を
付加し、Qjaのエミッタすなわち出力端子12から出
力信号v。
を取り出すようにした場合、Qlgのペースエミッタ間
電圧がvaalaであるとするとVO=VI11−(V
aa*x+Vat*2+Vaasa) + 3 VB
トナ4 、 、:こでQlll Q121 Q1a+
DltないしD13の各素子の電流密度を等しく設定す
るとVaa*1+V@ε第2#2 Vn + vBpt
lj+vllE12+vBa18岬3 VF6とするこ
とが可能であり、従ってCHの電位はv Ia +V1
1、出力電圧V O= V 111となり、それぞれサ
ンプルモードにおいては入力信号Vtaに追従する。
電圧がvaalaであるとするとVO=VI11−(V
aa*x+Vat*2+Vaasa) + 3 VB
トナ4 、 、:こでQlll Q121 Q1a+
DltないしD13の各素子の電流密度を等しく設定す
るとVaa*1+V@ε第2#2 Vn + vBpt
lj+vllE12+vBa18岬3 VF6とするこ
とが可能であり、従ってCHの電位はv Ia +V1
1、出力電圧V O= V 111となり、それぞれサ
ンプルモードにおいては入力信号Vtaに追従する。
SH,SHがそれぞれ“L n、“H”の場合、すなわ
ちQ141Q17が共にしゃ断状態、QlN。
ちQ141Q17が共にしゃ断状態、QlN。
Q16が共に導通状態になると、本回路はホールドモー
ドとなる。サンプルモードにおいてはエミッタフォロワ
動作をし、CMの充電を行なっていたQs2がダイオー
ドD14の導通によりしゃ断状態となり、充電動作を停
止し、C,4の電位v 、Il+ v Bの瞬時値が保
持される。すなわち、導通状態にあるQ16の動作電流
は電源15から供給され、QJgの動作電流は、Q t
p + Q 20からなるカレントミラー回路の出力
電流およびQ1111h4の経路で流れるカレントミラ
ー回路の基準電流を加えた電流となる。したがって、ト
ランジスタ(haのVC1=電圧が上昇し、結局トラン
ジスタ(h2のベース電圧が降下し、トランジスタ(h
2はしゃ断状態となる。
ドとなる。サンプルモードにおいてはエミッタフォロワ
動作をし、CMの充電を行なっていたQs2がダイオー
ドD14の導通によりしゃ断状態となり、充電動作を停
止し、C,4の電位v 、Il+ v Bの瞬時値が保
持される。すなわち、導通状態にあるQ16の動作電流
は電源15から供給され、QJgの動作電流は、Q t
p + Q 20からなるカレントミラー回路の出力
電流およびQ1111h4の経路で流れるカレントミラ
ー回路の基準電流を加えた電流となる。したがって、ト
ランジスタ(haのVC1=電圧が上昇し、結局トラン
ジスタ(h2のベース電圧が降下し、トランジスタ(h
2はしゃ断状態となる。
第1図に示すように、負荷を駆動するなめ実用上出力部
にエミッタフォロワを付加した例においては、トランジ
スタQraとホールド容量C,の漏れ電流は無視し得る
ものとしてQsaの電流増幅率いては、トランジスタQ
3 、Qsの電流増幅率をhpaと仮定すると となるため、各定電流源の値を仮にl、=12=13
=I鵞i It =2・14と設定するととなる。第
1図の実施例のドループレイトはとなるから、本実施例
の回路によればトループレ能となる。
にエミッタフォロワを付加した例においては、トランジ
スタQraとホールド容量C,の漏れ電流は無視し得る
ものとしてQsaの電流増幅率いては、トランジスタQ
3 、Qsの電流増幅率をhpaと仮定すると となるため、各定電流源の値を仮にl、=12=13
=I鵞i It =2・14と設定するととなる。第
1図の実施例のドループレイトはとなるから、本実施例
の回路によればトループレ能となる。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によればアナログ信号の瞬
時値を標本化し、さらにこれを保持する回路すなわちサ
ンプルホールド回路において、特に集積回路化を考慮し
た場合、標本化時の追従速度を損わずに、かつ接合形電
界効果トランジスタ等の特殊な素子を同時に作り込むた
めの複雑すなわち高価な集積回路プロセスを要すること
がなく、標準的なプロセスにより、その保持特性を従来
の回路に比較して2倍以上向上させることが可能となる
効果がある。
時値を標本化し、さらにこれを保持する回路すなわちサ
ンプルホールド回路において、特に集積回路化を考慮し
た場合、標本化時の追従速度を損わずに、かつ接合形電
界効果トランジスタ等の特殊な素子を同時に作り込むた
めの複雑すなわち高価な集積回路プロセスを要すること
がなく、標準的なプロセスにより、その保持特性を従来
の回路に比較して2倍以上向上させることが可能となる
効果がある。
第1図は本発明の一実施例を示す回路図、第2図は従来
例の回路図である。 1.11・・・入力端子、2.12・・・出力端子、3
.4゜13、14・・・制御入力端子、5.6,15.
16・・・電源線、Qs 〜Qa 、Qss〜Qzo−
)ランジスタ、D1〜D 4 + D 11〜D14・
・・ダイオード、C,・・・ホールド容量、11〜14
slSj〜1鵞3・・・定電流源。
例の回路図である。 1.11・・・入力端子、2.12・・・出力端子、3
.4゜13、14・・・制御入力端子、5.6,15.
16・・・電源線、Qs 〜Qa 、Qss〜Qzo−
)ランジスタ、D1〜D 4 + D 11〜D14・
・・ダイオード、C,・・・ホールド容量、11〜14
slSj〜1鵞3・・・定電流源。
Claims (1)
- カレントミラー回路と、サンプルホールドされるアナロ
グの入力信号がベースに入力されコレクタが前記カレン
トミラー回路のダイオード形式接続点に接続された第1
のトランジスタと、前記第1のトランジスタのエミッタ
にカソード側が接続されアノード側が前記カレントミラ
ー回路の出力点に接続された単一若しくは複数のダイオ
ードまたはダイオード接続されたトランジスタからなる
第1のダイオード素子と、前記第1のトランジスタのエ
ミッタにアノード側が接続されカソード側が前記第1の
ダイオード素子のアノード側に接続された第2のダイオ
ードまたはダイオード接続されたトランジスタと、一方
のトランジスタのコレクタが前記第1のトランジスタの
エミッタに接続され他方のトランジスタのコレクタが前
記第1のダイオード素子のアノード側に接続された第1
の差動回路と、ベースが前記第1のダイオード素子のア
ノード側に接続されコレクタが電源に接続されエミッタ
にホールド容量が接続された第2のトランジスタと、一
方のトランジスタのコレクタが電源に接続され他方のト
ランジスタのコレクタが前記第2のトランジスタのエミ
ッタに接続された第2の差動回路とを具備してなること
を特徴とするサンプルホールド回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62099405A JPS63263699A (ja) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | サンプルホ−ルド回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62099405A JPS63263699A (ja) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | サンプルホ−ルド回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63263699A true JPS63263699A (ja) | 1988-10-31 |
Family
ID=14246579
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62099405A Pending JPS63263699A (ja) | 1987-04-21 | 1987-04-21 | サンプルホ−ルド回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63263699A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5243235A (en) * | 1990-10-30 | 1993-09-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Sample-and-hold circuit |
-
1987
- 1987-04-21 JP JP62099405A patent/JPS63263699A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5243235A (en) * | 1990-10-30 | 1993-09-07 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Sample-and-hold circuit |
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