JPS6327833A - 耐熱性を有する画像の形成方法 - Google Patents

耐熱性を有する画像の形成方法

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JPS6327833A
JPS6327833A JP61172623A JP17262386A JPS6327833A JP S6327833 A JPS6327833 A JP S6327833A JP 61172623 A JP61172623 A JP 61172623A JP 17262386 A JP17262386 A JP 17262386A JP S6327833 A JPS6327833 A JP S6327833A
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heat
film
polymer
photoresist
temperature
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JP61172623A
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English (en)
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Kanichi Yokota
横田 完一
Akihiko Ikeda
章彦 池田
Hideo Ai
愛 英夫
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Publication date
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    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/027Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds
    • G03F7/032Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders
    • G03F7/037Non-macromolecular photopolymerisable compounds having carbon-to-carbon double bonds, e.g. ethylenic compounds with binders the binders being polyamides or polyimides

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  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、耐熱性を有する画像の形成方法に関し、特に
耐熱性を要求される半導体素子用絶縁膜、液晶表示素子
用配向膜、薄膜磁気ヘッド用絶縁膜、多層プリント基板
用絶縁膜等の用途において、効率良く、優れた画像を形
成する方法に関する。
〔従来の技術〕
従来、高密度配線等の絶縁層として、ポリイミドフェス
をコーティングし、フォトレジストを用いて湿式エツチ
ングして耐熱性の画像を形成する方法が用いられて来た
〔発明が解決しようとする問題点〕
この場合、絶縁層の膜厚にパイヤホール径が依存する欠
点を有し、高密度実装は困難となる。
この欠点を解決するためにフォトレジストをそのまま絶
縁層として用いる試みがなされ、例えば特開昭58−1
19695号公報に開示されている。しかしながら、開
示された樹脂の耐熱性が低いために、例えば、LSIを
実装する際にかかる熱に耐えられず、信頼性を欠く欠点
を有している。
又、特開昭59−242494号、特願昭59−248
940号において、本発明者らは感光性ポリイミド前駆
体等のフェスをスピンコーターやロールコータ−等を用
いて基材の上に塗布した後、乾燥し、露光・現像・熱処
理を行うことにより、フォトレジストを使用せずに直接
ポリイミド等の耐熱性を有する絶縁層を形成する技術を
提案した。このフェスを塗布する方式の場合、必要とす
る絶縁層の膜厚が厚くなると、フェス溶剤の乾燥時間が
長くなる等のプロセス上の欠点やブリベータ中高温に長
時間さらされるため、増感剤の光怒度を低下させる問題
を生じる恐れがある。更に、厚い膜厚の場合、基材を水
平に保たねばならず、水平に保たない場合、膜厚が不均
一なものになる問題点を有している。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者らは、このような事情に鑑み、十分なプロセス
性を有する優れた耐熱性の画像の形成方法を提供すべく
鋭意研究をかさねた結果、本発明をなすに至った。
即ち、本発明は、(イ)加熱処理により熱重量減少開始
温度が310℃以上の耐熱性芳香族重合体に変換し得る
感光性芳香族前駆体、又は、熱重量減少開始温度が31
0℃以上の可溶性の感光性芳香族重合体及び、(ロ)光
重合開始剤を必須成分として含有してなるフォトレジス
トフィルムを、基材上、にラミネートし、フォトマスク
を介して該フォトレジスト層に活性光線を照射し、現像
後、加熱処理により高絶縁化する工程を含むことを特徴
とする耐熱性を有する画像の形成方法に関するものであ
る。
本発明で用いる重合体の熱重量減少開始温度とは、重合
体の耐熱性を示す尺度であり、熱天秤等を用いて重合体
を室温から昇温法により加熱し、重量減少が開始する温
度を測定する。熱重量減少開始温度が310℃未満の場
合は、蒸着等のプロセスにおける熱雰囲気に対して重合
体が一部分解しガスの発生やブリスターの原因となり、
使用が制限される。
フォトレジスフイルムに用いられる重合体は、その熱重
量減少開始温度が310℃以上、好ましくは350℃以
上のものであり、代表的なものとしては、ポリイミド又
はその前駆体が挙げられる。
本発明に用いるフィルムの(イ)成分として用いる、加
熱処理により熱重量減少開始温度が、310℃以上の耐
熱性芳香族重合体に変換し得る感光性芳香族前駆体は、
例えば、一般式CI)で示される繰り返し単位を有する
重合体である。
〔式中のXは(2+n)価の炭素環式基又は複素環式基
、Yは(2+mHil[iの炭素環式基又は複素Rは炭
素−炭素二重結合を有する基、Wは熱処理により、−C
OORのカルボニル基と反応して環を形成し得る基、n
は1又は2、mはOll又は2であり、かつ、C0OR
とZは互いにオルト位又はペリ位の関係にある。〕 一般式(1)におけるXとしては、例えば、ベンゼン、
ナフタレン、アントラセン、ピリジン又はチオフェン及
び(I、)で示される基が挙げられ、これらのうち(I
2)〜(I4)で示される基が好ましい。
てΣXa <Σ     (I1) −o−、−oQsQo−又は aはO又はl、X、はCH3、又はCF3である〕(r
z)    (1B)       (I、))又、一
般式CI)におけるYとしては、例えば、(I5)〜(
II。)で示される基が挙げられる。
〔式中のYaはH、(:H3−1(CH2)2CH,0
CH5、C0OH。
ハロゲン原子又は5o3H,YbはイCH,−(ただし
bはO又は1である)、 Yc及びYdは、H、CH5、C,H,、OCH3、ハ
ロゲン原子、C00H,503H又はNOl 、 Ye
及びYfは、H、CN。
ハロゲン原子、CH3、OCH3,5o3)1又はOH
である〕これらYの具体例としては、例えば以下の基が
挙げられる。
又、一般式(1)におけるRとしては、例えば、式(R
a)〜(Rg)で示される基が挙げられる。
〔式中のRoは、水素原子又はメチル基、R# は、炭
素数1ないし3のアルキレン基、Cは1又は2を表す。
〕 (Ra)の例としては、 (Rb)の例としては、 つ (Rc)の例としては、 (Rd)の例としては、 (Re)の例としては、 −CHz−CH−Ch  、−CH2−CH2−CH=
 CHz(Rf)の例としては、 (Rg)の例としては、 などが挙げられる。これらのうち、フィルムの保存時の
吸湿性の点で、エステル結合型である(Ra)〜(Rf
)が好ましく、光感度の点で(Ra)が好ましい。
前記一般式(I)におけるWは、熱処理により−COO
Rのカルボニル基と反応して環を形成し得る基であって
、この様なものとしては、特に−C−NH1が好適であ
る。又、nとしては、2が好ましい。
又、これら(イ)成分として用いる重合体は、−般式(
I)において、結合形式Zが同じものの範囲でX−R、
Y−の組合せのうちから、それぞれ1種類以上選んで共
重合することによっても得られる。又、ホモポリマー又
はコポリマーのうちから2種類以上を選び混合物として
用いることもできる。又、一般式(1)で示される繰り
返し単位を有する重合体の合成方法については、例えば
、特願昭60−9918号及び特願昭60−26739
5号明細書に記載されている。
又、(イ)成分として用いる熱重量減少開始温度が31
0℃以上の有機溶媒に可溶である感光性ポリイミドは、
例えば、一般式(Ir)で示した繰り返し単位を有する
ポリイミドである。
(以下余白) 〔但し、式中χ1%XJL、Xl、X4、X5は4価の
炭素環式基又は複素環式基、Y1’xYz、Y3は2価
の炭素環式基又は複素環式基、Zl、Z2のうち少なく
とも一方は反応性炭素−炭素二重結合を有する基であり
、NSpはともに0ではない0ないし2oの整数を示し
、x、yは0なしル2oの整数を示す、〕一般式(n)
におけるX5としては、例えば炭素数6ないし2oの芳
香族炭化水素基、チオフェン、ピリジン及び式(Xd)
で示される基が挙げられ、(Xd−1)及び(χd−2
)が好ましい。
(、:、、1mテdは0又は1、x゛は−0−、−C−
、−CH2−1又、一般式(I[)におけるX、〜X4
としては、例えば、炭素数6ないし20の芳香族炭化水
素基、チオフェン、ピリジン及び式(Xe)で示される
基が挙げられ、光感度の点で(Xe−1)が好ましい。
OCF。
一般式(n)におけるY、〜Y3としては、例支ば、式
Yg、 Yhで示される基が挙げられ、これらのうち光
感度の点でYkで示される基が好ましい。
R゛2 〔但し、R2、R4はそれぞれ炭素数1〜6のアルキル
基を示し、R3、R3はそれぞれ水素原子又は炭素数1
〜6のアルキル基を示す。〕 −O−、−S−を示し、R4、P、はそれぞれ炭素数1
〜6のアルキル基を示し、R,、R1はそれぞれ水素原
子又は炭素数1〜6のアルキル基を示す。〕〔但し、R
6、R8は、それぞれ−CH,、−CI(、cH3、又
は−CH(C)+3)2を示し、Rワ、R9はそれぞれ
−H,−C13、−CH2Cl2、又は−C)I(C1
b)zを示す。〕(Yg)の具体例としては、 (Yh)の具体例としては、 又、一般式(n)におけるZl、Z2のうち反応性炭素
−炭素二重結合を有する基としては、例えば、式(Za
)〜(Zf)で示される基が挙げられる。
R1に れらのうち、光感度の点から、Zg=Ziで示される基
が好ましい。
又、一般式〔If)におけるZl、Z2のうち反応性炭
素−炭棄二重結合を有しない基としては、例えば、炭素
数6ないし30の芳香族炭化水素基が好ましく、具体例
として、Zj=Zmが挙げられる。
して、加熱処理により、ガラス転移温度が350℃以下
で、熱重量減少開始温度が310℃以上の耐熱性重合体
器こ変換し得る感光性前駆体を用いると、ラミネート時
の基材との接着性を向上させることができる0本発明に
おける加熱処理とは、前駆体を脱水閉環してポリイミド
等の耐熱性骨格に変換する工程を意味し、この条件とし
ては、例えば、250〜500℃の温度範囲で、30〜
180分等が挙げられる。又、ガラス転移温度は線膨張
係数から求めた。即ち、フィルムの線膨張係数をTMA
の引張りモードで測定し、その変曲点から求めたもので
ある。これらの前駆体の例としては、例えば、前記の式
(1)で示した繰り返し単位を有する重合体のうち、加
熱処理により得られたポリイミド構造のガラス転移温度
が350 ’C以下のものが挙げられる。これらは、例
えば、式(I[a )〜(Inc )に示した繰り返し
単位を有する感光性ポリイミド前駆体である。
BP      (Ub ) 〔8175モル%、2525モル%のコポリマー〕「こ
こで、Sは0又は1、R及びXは式(II)中の前記R
及びXと同じ意味を持ち、Y゛は式(n)中の前記Yの
うち2個以上のベンゼン環を有する基を意味し、R1°
〜R−はそれぞれ−CH3、−CI(2C13、−C)
l (C)13 )、のうち何れかを示す。〕(IIa
 )の好ましい具体例としては、(nb )の好ましい
具体例としては、B             P しHl (nc )の好ましい具体例としては、又、(イ)成分
の重合体として、可溶性の感光性ポリイミド又は、加熱
処理により、ガラス転移温度が350℃以上の耐熱性重
合体に変換し得る感光性前駆体を用い場合、これら加熱
処理によりガラス転移温度が350℃以下の耐熱性重合
体に変換し得る感光性前駆体を接着層として含む2層構
造のドライフィルムを用いると、良好な基材との接着性
を与えることができる。
本発明に用いる光重合開始剤は、周知のものであり、例
えば、ベンゾフェノン、0−ベンゾイル安息香酸メチル
、4,4°−ビス(ジメチルアミノ)ベンゾフェノン、
4.4’−ビス(ジエチルアミン)ベンゾフェノン) 
、4.4’−ジクロロベンゾフェノン、4−ベンゾイル
−4゛−メチルジフエ互ルケトン、ジベンジルケトン、
フルオレノン等ベンゾフェノン誘導体;2.2’−ジェ
トキシアセトフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチルプ
ロピオフェノン、p−t−ブチルジクロロアセトフェノ
ン等のアセトフェノン誘導体;1−ヒドロキシシクロへ
キシルフェニルケトン、チオキサントン、2−メチルチ
オキサントン、2−クロロチオキサントン、2−イソプ
ロピルチオキサントン、ジエチルチオキサントン等のチ
オキサントン誘導体;ベンジル、ベンジルジメチルケタ
ール、ベンジル−β−メトキシエチルアセタール等のベ
ンジル誘導体;ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル
、ベンゾインブチルエーテル等のベンゾイン誘導体;ア
ントラキノン、2−t−ブチルアントラキノン、2−ア
ミルアントラキノン、β−クロルアントラキノン等のア
ントラキノン誘導体;アントロン、ベンズアンスロン、
ジベンゾスベロン、メチレンアントロン等アントロン誘
導体:ナフタレンスルホニルクロラド、キノリンスルホ
ニルクロライド、N−フェニルチオアクリドン、4,4
“−アゾビスイソブチロニトリル、ジフェニルジスルフ
ィド、ペンズチアゾールジ畢イド、トリフェニルホスフ
ィン、カンファーキノン、四JL化炭素、トリブロモフ
ェニルスルホン、過酸化ベンゾイル及びエオシン、メチ
レンブルー等光還元性色素と7スコルビン酸、トリエタ
ノールアミン等の還元剤の組合せ、2,6−ジ(4°−
ジアジドベンザル)−4−メチルシクロヘキサノン、2
,6−ジ(4゛−ジアジドベンザル)シクロヘキサノン
等のアジド類、1−フェニル−1,2−ブタンジオン−
2−(o−メトキシカルボニル)オキシム、1−フェニ
ル−プロパンジオン−2−(0−エトキシカルボニル)
オキシム、1−フェニル−プロパンジオン−2−(0−
ベンゾイル)オキシム、1.2−ジフェニル−エタンジ
オン−1−(0−ベンゾイル)オキシム、1.3−ジフ
ェニル−プロパントリオン−2−(0−エトキシカルボ
ニル)オキシム等オキシム類、及びミヒラーズケトン、
4,4゛−ビス−(ジエチルアミノ)−ベンゾフェノン
等のビスアルキルアミノベンゾフェノン類が挙げられ、
光感度の点で、オキシム類とビスアルキルアミノベンゾ
フェノン類との組合せが好ましい。
又、本発明に用いるフィルムの組成物には、反応性炭素
−炭棄二重結合を有する化合物を用いることもできる。
これらの化合物の例としては、例えば、2−エチルへキ
シルアクリレート、2−ヒドロキシエチルアクリレート
、N−ビニル−2−ピロリドン、カルピトールアクリレ
ート、テトラヒドロフルフリルアクリレート、イソボル
ニルアクリレート、1.6−ヘキサンジオールジアクリ
レート、ネオペンチルグリコールジアクリレート、エチ
レングリコールジアクリレート、ポリエチレングリコー
ルジアクリレート、ペンタエリスリトールジアクリレー
ト、トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタ
エリスリトールトリアクリレート、ジペンタエリスリト
ールへキサアクリレート、テトラメチロールメタンテト
ラアクリレート、テトラエチレングリコールジアクリレ
ート、ノナエチレングリコールジアクリレート、メチレ
ンビスアクリルアミド、N−メチロールアクリルアミド
及び上記のアクリレート又はアクリルアミドをメタクリ
レート又はメタクリルアミドに変えたもの等が挙げられ
る。
これらのうち2以上のアクリレート基を有するポリアク
リレートが好ましく、光感度の点から構造式Mで示され
る化合物が特に好ましい。
(p−1〜20) 又、本発明に用いるフィルムの組成物には、増感剤を添
加することもできる。この増感剤は該フィルムの感度を
向上させ得るものであり、例えば、ミヒラーズケトン、
4.4”−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、2
,5−ビス(4゛−ジエチルアミノベンザル)シクロペ
ンタノン、2.6−ビス(4゛−ジエチルアミノベンザ
ル)シクロヘキサノン、2.6−ビス(4”−ジメチル
アミノベンザル)−4−メチルシクロヘキサノン、2,
6−ビス(4°−ジエチルアミノベンザル)−4−メチ
ルシクロヘキサノン、4,4゜−ビス(ジメチルアミノ
)カルコン、4.4’−ビス(ジエチアミノ)カルコン
、p−ジメチルアミノシンナミリデンインダノン、p−
ジメチルアミノベンジリデンインダノン、2−(p−ジ
メチルアミノフェニルビニレン)ベンゾチアゾール、2
− <p−ジメチルアミノフェニルビニレン)イソナフ
トチアゾール、1.3−ビス(4°−ジメチルアミノベ
ンザル)アセトン、1,3−ビス(4′−ジエチルアミ
ノベンザル)アセトン、3.3’−カルボニル−ビス(
7−ジニチルアミノクマリン)、ジェタノールアニリン
、トリルジェタノールアミン、トリエチルアミン、ジメ
チルアミノ安息香酸イソアミル、ジエチルアミノ安息香
酸イソアミル等が挙げられるが、これに限定されるもの
ではない。
更に本発明に用いるフィルムの組成物にメルカプタン化
合物を添加することにより、光感度を更に向上させるこ
とができる。メルカプタン化合物の例としては、例えば
、2−メルカプトベンズイミダゾール、2−メルカプト
ベンゾチアゾール、1−フェニル−5−メルカプトIH
−テトラゾール、2−メルカプトチアゾリン、2−メル
カプト−4−フェニルチアゾール、2−アミノ−5−メ
ルカプト−1,3,4−チアジアゾール、2−メルカプ
トイミダゾール、2−メルカプト−5−メチル−1,3
,4−チアジアゾール、5−メルカプト−1−メチル−
IH−テトラゾール、2,4.6−ドリメルカブトーs
−)リアジン、2−ジブチルアミノ−4,6−ジメルカ
ブトーs−トリアジン、2,5−ジメルカプト−1,3
,4−チアジアゾール、5−メルカプト−1,3,4−
チアジアゾール、1−エチル−5−メルカプト−1,2
,3,4−テトラゾール、2−メルカプト−6−ニトロ
チアゾール、2−メルカプトベンゾオキサゾール、4−
フェニル−2−メルカプトチアゾール、メルカプトピリ
ジン、2−メルカプトキノリン、1−メチル−2−メル
カプトイミダゾール、2−メルカプト−β−ナフトチア
ゾールなどが挙げられる。
又、更に本発明に用いるフィルムの組成物には、必要に
応じて官能性ジアルコキシシラン化合物を添加又は基材
にプレコートして用いることができる。このジアルコキ
シシラン化合物は、本発明組成物の耐熱性高分子膜と基
材であるSi及び無機絶縁膜等との界面の接着性を向上
するような化合物であって、これらの例としては、例え
ば、γ−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、N−
(β−アミノエチル)γ−アミノプロピルメチルジメト
キシシラン、T−グリシドキシプロピルメチルジメトキ
シシラン、T−メルカプトプロピルメチルジメトキシシ
ラン、3−メタクリロキシプロピルジメトキシメチルシ
ラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン
、ジメトキシメチル−3−ピペリジノプロピルシラン、
ジェトキシ−3−グリシドキシプロピルメチルシラン、
N−(3−ジェトキシメチルシリルプロビル)スクシン
イミド等が挙げられる。これらジアルコキシシラン化合
物の使用方法及び効果については、例えば、特願昭60
−38242号明細書に詳しく記載されている。
−又、本発明フィルムの組成物の溶液の保存安定性を向
上させるために、重合禁止剤を添加することもできる。
この重合禁止剤としては、例えば、ハイドロキノン、N
−ニトロソジフェニルアミン、p−tert−ブチルカ
テコール、フェノチアジン、N−フェニルナフチルアミ
ン、エチレンジアミン四酢酸、1,2−シクロヘキサン
ジアミン四酢酸、グリコールエーテルジアミン四酢酸、
2.6−シーtert−ブチル−p−メチルフェノール
等が挙げられる。
本発明に用いるフィルムの組成物において、前記重合開
始剤及び増感剤の含有割合は、(イ)成分又は(ロ)成
分の重合体に対して、0.1〜20M量%が好ましく、
5〜15重量%が更に好ましい。
又、前記反応性炭素−炭素二重結合を有する化合物の含
有割合は、(イ)成分又は(ロ)成分の重合体に対して
、20重量%以下が好ましい。前記官能性ジアルコキシ
シラン化合物を添加して用いる場合、その含有割合は、
(ロ)成分の前駆体に対して、0.05〜10重量%、
好ましくは0.1〜4重量%である。また、前記重合禁
止剤の含有割合は、(イ)成分又は(ロ)成分の重合体
に対して、5重量%以下、好ましくは0.5重量%以下
である。
本発明に用いるフィルムは、該組成物をそのすべての成
分を熔解し得る溶媒に熔解して所定の支持体上に、バー
コーター又はブレードコーター等を用いて塗布し、乾燥
することにより得られ、支持体又は剥離可能な保護フィ
ルムと共に用いられるか、又は、支持体フィルムから剥
離することにより単独で用いられる。
前記溶媒としては、極性溶媒であり、がっ、沸点が高す
ぎないものが好ましく、例えば、N−メチルピロリドン
シクロペンタノン、シクロヘキサノン等及びこれらの混
合溶媒を用いることができる。
支持体としては、透明で十分な強度を持ち、使用する溶
剤に不溶のものが好ましく、ポリエチレンテレフタレー
ト、ポリプロピレン等のフィルムを用いることができる
。保護フィルムとしても同種のフィルムを用いることが
好ましい。塗布したフィルムの乾燥条件は、40〜10
0℃の循環オーブンで10〜120分である。又、第2
層を形成する場合は、同様の方法で、第1層上に塗布す
る。第1r4の厚さは10〜100 μm、第21ii
iの厚さは、3〜20μmが好ましい。
このようにして形成さたフィルムは、カバーフィルムを
剥離した状態で、又は剥離しながら支持体フィルムと共
に、加熱及び加圧により基材上に積層される。
この基板としては、シリコーンウェハー、セラミック基
板、銅、アルミニウム等の金属板及び金属配線層を有す
るセラミック基板等を用いることができる。又、この基
材上に予め前記の官能性ジアルコキシシラン化合物又は
接着層をブレニートすることにより、基材とフィルムと
のより優れた接着性を得ることができる。この接着層と
しては、前記の感光性芳香族前駆体や、可溶性の感光性
芳香族重合体及び光重合開始剤等からなる組成物が好ま
しく、特に、本発明に用いるフィルム又は2層フィルム
の場合、第2層と同一の組成物であることが好ましい。
これら接着層の組成物は、前記のうち適当な溶媒に熔解
し、スピンコーター、バーコーター、ブレードコーター
、スクリーン印刷法等を用いて基材に塗布される。又、
ドライフィルムの好ましい積層の条件は、ホントロール
ラミネーターを用いて、ロール温度40〜150℃及び
ロール圧力0.5〜5Kg/caTであり、特に好まし
くは80〜120℃及び2〜4Kg/an!である。
又、ラミネート部を真空にでき、るチャンバーを有する
真空ラミネートロールを使用する方法は、マイクロエア
ーの混入を防ぐために好ましい方法である。
フォトレジストフィルムをラミネートした導体回路板を
、必要ならば加熱させ、残存溶媒の乾燥やラミネート時
の張力の緩和を行う。
フォトレジストフィルムを構成する支持フィルムは、露
光前又は露光後で現像前に剥離される。
残存溶媒を乾燥する場合は、支持フィルムを露光前に剥
離する必要がある。又、現像液に溶解する支持フィルム
の場合は剥離する必要がない。
露光は通常のフォトマスクを通して行われる。
この際用いる活性光線としては、例えば、紫外線、X線
、電子線などが挙げられ、これらの中で紫外線が好まし
く、その光源としては、例えば、低圧水銀灯、高圧水銀
灯、超高圧水銀灯、ハロゲンランプ、殺菌灯などが挙げ
られる。これらの光源の中で超高圧水銀灯が好適である
。又、露光は真空又は窒素雰囲気下で行うことが好まし
い。又、必要ならば露光後に35〜120℃の範囲で加
熱処理を行うことも可能である。
このようにして露光及び加熱処理をした後、未照射部を
除去すべく、浸漬法やスプレー法などを用いて現像を行
う。この際用いる現像液としては、未露光膜を適当な時
間内に完全に溶解除去し得るようなものが好ましく、例
えばγ−ブチルラクトン、α−アセチル−T−ブチロラ
クトン、N−メチルピロリドン、N−アセチル−2−ピ
ロリドン、N、N−ジメチルホルムアミド、N、N−ジ
メチルアセトアミド、ジメチルスルホキシド、ヘキサメ
チルホスホリックトリアミド、N−ベンジル−2−ピロ
リドンなどの非プロトン性極性溶媒を単独で用いてもよ
いし、或いはこれらに第2成分として、例えば、水又は
メタノール、エタノール、イソプロパツールなどのアル
コール、トルエン、キシレンなどの芳香族炭化水素化合
物、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトンなど
のケトン、酢酸エチル、プロピオン酸メチルなどのエス
テル、テトラヒドロフラン、ジオキサンのようなエーテ
ルなどの溶媒を混合して用いても良い。
更に、現像直後に前記第2成分として示したような溶媒
でリンスすることが好ましい。
こうして得られた画像は、250〜500℃の温度範囲
で加熱することにより、イミド環、イソインドロキナゾ
リンジオン環、オキサジンジオン環、キナゾリンジオン
環などを有する熱重量減少開始温度が310℃の耐熱性
高分子化合物に変換され、高絶縁性を有する絶縁層等が
形成される。
〔発明の効果〕
本発明の耐熱性を有する画像の形成方法は、従来の方法
と比べ多くの利点を有している。この利点としては、ま
ずドライフィルムを用いることが挙げられ、これにより
従来のこの種の材料で書法とされていたスピンコート工
程が省略できる。即ち、スピンコードでは限界のある十
分な膜厚の均一性が得られ、又基体の前処理からラミネ
ート、露光、現像、乾燥及び加熱処理までのすべて工程
を連続作業で行うことによりスループット性の向上が得
られ、製造工程の自動化も可能となる。又、厚い絶縁層
における画像形成も容易となり、各層を平坦な構造にす
ることができる。
本発明の耐熱性を有する画像の形成方法を半導体素子用
の眉間絶縁膜や表面保護膜及び銅ポリイミド基板等に代
表される多層配線基板などに用いれば、前記の特性を反
映してプロセスが短縮、クリーン化及び自動化され、微
細加工等が容易になる等の特徴を発揮する。
〔実施例〕
次に、実施例により本発明を更に詳細に説明するが、本
発明はこれらの例によって何ろ限定されるものではない
参考例1 500ml 容のセパラブルフラスコに、ベンゾフェノ
ンテトラカルボン酸無水物32.2g 、 2−ヒドロ
キシエチルメタクリレート27.0g 、γ−ブチロラ
クトン100a+1を入れ、水冷下、攪拌しながらピリ
ジン17.0gを加えた。室温で16時間攪拌した後、
ジシクロへキシルカルボジイミド41.28のT−ブチ
ロラクトン40m1の溶液を水冷下、10分間で加え、
続いて4,4゛−ジアミノジフェニルエーテル16.0
gを15分間で加えた。室温で3時間攪拌した後、エタ
ノール5mlを加えて更に1時間攪拌し、沈澱を濾過し
た後、得られた溶液を11のエタノールに加え、生成し
た沈澱をエタノールで洗浄した後、真空乾燥してポリマ
ー粉末を得た。このポリマーをP−1とする。P−1の
対数粘度は0.15であった。P−1の10gをN−メ
チルピロリドン(NMP ’)13gに熔解し、アルミ
箔上にスピンコードし、乾燥して約30μ厚の塗膜を得
た。これを400℃、1時間加熱処理して、ポリイミド
に変換し、IN塩酸でアルミ箔を溶解してポリイミドフ
ィルムを得た。この厚さ約15μのポリイミドフィルム
(3I!5mm)をTMA  (υLVAC真空理工製
TM3000)で、荷重10g昇温速度5℃/分の引張
りモードにかけ、線膨張係数を測定した。この線膨張係
数の変曲点からガラス転移温度を求めたところ325℃
であった。又、同上のポリイミドを用いて、示差熱天秤
(TGA 、セイコー電子工業■)を用い、10℃/分
の昇温速度にて熱重量減少開始温度を測定したところ4
40℃であった。
参考例2 3.3°、 4.4’−ベンゾフェノンテトラカルボン
酸二無水物4 、85gの43.6mlDMF溶液に、
25°Cで攪拌しなから4,4”−メチレンジー2.6
−ジニチルアニリン9.3gの57.6mlDMF溶液
を加え、25℃で1時間攪拌した0次に、マレイン酸無
水物0.55g 、イタコン酸無水物0.63g及びピ
リジン1mlを加え、25℃で  ・1時間攪拌した。
次に、3.3’、4,4°−ベンゾフェノンテトラカル
ボン酸二無水物6.06g及びピリジン1+wlを加え
、25℃で1時間攪拌した。次に、3,3゜、4.4’
−テトラアミノビフェニルエーテル1.08g及びピリ
ジン1 mlを加え、25℃で4時間攪拌し、16時間
放置した。得られたポリアミド酸溶液に無水酢酸14.
2ml及びピリジン9.7mlを加え40℃で3時間攪
拌してイミド化反応を行った。反応液を攪拌している3
I!の水中に滴下してポリマーを析出させ濾取した後、
31の水で3回洗浄し、真空乾燥した。このポリマーを
P−2とする。P−2の熱重量減少開始温度は430℃
であり、対数粘度は0.3であった(NMP中1 g 
/dL 23℃で測定)。
参考例3〜6 参考例1と同様にして表1の原料を用いて、P−3〜P
−6を合成した。同様の方法で測定したこれらのポリマ
ーの対数粘度及びイミド構造に変換後のガラス転移温度
、熱重量減少開始温度を表1に示す。
注:’I’BTDA:ペンゾフェノンテトラカルボン酸
二無水物PMD^:ピロメリト酸無水物 ’4’*NMP:1%溶液 30℃で測定実施例1 ポリマーとしてP−1を100g、七ツマ−としてトリ
メチロールプロパントリアクリレートを1081開始剤
としてベンジル4g、増感剤としてミヒラーズケトン4
g SN−フェニルエタノールアミン2g及び2−メル
カプトベンゾチアゾール2gをシクロペンタノン150
gに溶解し、溶液C−1を得た。
溶液C−1を、25μm厚みのポリエレンテレフタレー
トCPET >  フィルム上にコーティングし、70
℃の循環オーブンで60分間乾燥して、40μm厚みの
フィルムを得た。このフィルムを、ホントロールラミネ
ーターを用いて、110℃、2Kg/cIl!の条件で
、脱脂洗浄したセラミック基板に、ラミネートした。ラ
ミネートされたフィルム上のPETフィルムを剥離し、
超高圧水銀灯(8mW/ crA )を用いて、マスク
フィルムを通して、窒素雰囲気下で3分間露光した。こ
れをN−メチルピロリドン/キシレン(1:1容)の現
像液で現像し、イソプロピルアルコールでリンスしたと
ころ、シャープなパ ゛ターンが得られた0次にこの基
板を、窒素雰囲気下で140℃2時間、400℃1時間
加熱処理して、イミド化し、十分な基板との密着性を有
するポリイミドパターンを得た。
実施例2.3 第2rfi用組成物のポリマーとして、P−1の代わり
にP−4及びP−5を用いる以外、実施例1と同様の方
法により、十分な基板との密着性を有するポリイミドパ
ターンを得た。
実施例4 ポリマーとしてP−2を100g、七ツマ−としてノナ
エチレングリコールジアクリレー)15g、及び実施例
1と同様の開始剤、増感剤、溶媒を用いて、溶液C−2
を得た。溶液C−2を、25μのPUTフィルム上にコ
ーティングし、乾燥して10μm厚の第1層フィルムを
得た。この上に実施例1の溶液C−1をコーティングし
、乾燥して5μ…厚で第2層を積層した。この2層フィ
ルムを第2層側からラミネートし、露光時間が5分間で
ある以外、実施例1と同様の方法により、十分な基板と
の接着性を有するポリイミドパターンを得た。
実施例5.6 ポリマーとして、P−2の代わりにP−3及びP−6を
用いて、第1層コーティング膜厚が、35μ−であり、
露光時間が3分間である以外、実施例4と同様の方法に
より、十分な基板との密着性を有するポリイミドパター
ンを得た。
実施例7 ポリマーとして、P−3を100g、モノマーとしてテ
トラエチレングリコールジアクリレートを881開始剤
として1−フェニル−プロパンジオン−2−(0−エト
キシカルボニル)オキシムを5g1ミヒラーズケトンを
3g、増感剤としてジェタノールアニリンを1.5g、
メルカプタン化合物として2−メルカプトベンゾチアゾ
ールをtg、官能性ジアルコキシシラン化合物としてジ
ェトキシ−3−グリシドキシプロビルメチルシランを2
g、重合禁止剤としてN−ニトロソジフェニルアミン0
.2gを、シクロペンタノン100g及びN−メチルピ
ロリドン50gの混合溶媒に溶解し、溶液C,−3を得
た。溶液C−3をスピンコード法により、厚さ6μm、
幅20μ■の形状のアルミニウム配線層を有するシリコ
ーンウェハー上に10μm厚さに積゛層した。次に溶液
C−34−125μ謹厚のPETフィルム上にコーティ
ングして得た40μm厚のドライフィルムを、ホットロ
ールラミネーターを用いて、130℃、2Kg/C!l
Iの条件で、このシリコーンウェハー上にラミネートし
た。ラミネートされたフィルム上のPETフィルムを剥
離し、超高圧水銀灯(8mW/cj)を用いて、マスク
フィルムを通して、窒素雰囲気下、3分間露光した。こ
れをN−メチルピロリドン/キシレン(1:1容)の現
像液で現像し、イソプロピルアルコールでリンスしたと
ころ、シャープなパターンが得られた0次に、この基板
を窒素雰囲気下で、140℃、2時間、400℃、1時
間加熱処理してイミド化し、配線層段差部分においても
十分な密着性を有するポリイミドパターンを得た。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(イ)加熱処理により熱重量減少開始温度が31
    0℃以上の耐熱性芳香族重合体に変換し得る感光性芳香
    族前駆体、又は、熱重量減少開始温度が310℃以上の
    可溶性の感光性芳香族重合体及び、(ロ)光重合開始剤
    を必須成分として含有してなるフォトレジストフィルム
    を、基材上にラミネートし、フォトマスクを介して該フ
    ォトレジスト層に活性光線を照射し、現像後、加熱処理
    により高絶縁化する工程を含むことを特徴とする耐熱性
    を有する画像の形成方法。
JP61172623A 1986-07-22 1986-07-22 耐熱性を有する画像の形成方法 Pending JPS6327833A (ja)

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EP87110407A EP0254230A3 (en) 1986-07-22 1987-07-17 Heat-resistant photoresist film
KR8707982A KR920009128B1 (en) 1986-07-22 1987-07-22 Thermostable photoresist film
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0263144A (ja) * 1988-08-29 1990-03-02 Toshiba Chem Corp 樹脂封止型半導体装置
JPH0263145A (ja) * 1988-08-29 1990-03-02 Toshiba Chem Corp 樹脂封止型半導体装置
JPH0282558A (ja) * 1988-09-20 1990-03-23 Toshiba Chem Corp 樹脂封止型半導体装置
JPH02101764A (ja) * 1988-10-08 1990-04-13 Toshiba Chem Corp 樹脂封止型半導体装置
JP5494479B2 (ja) * 2008-04-25 2014-05-14 三菱化学株式会社 ケトオキシムエステル系化合物及びその利用

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