JPS63282576A - パタ−ン検査装置 - Google Patents

パタ−ン検査装置

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Publication number
JPS63282576A
JPS63282576A JP62117673A JP11767387A JPS63282576A JP S63282576 A JPS63282576 A JP S63282576A JP 62117673 A JP62117673 A JP 62117673A JP 11767387 A JP11767387 A JP 11767387A JP S63282576 A JPS63282576 A JP S63282576A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pattern
area
inspected
measurement area
missing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62117673A
Other languages
English (en)
Inventor
Tatsuro Ozawa
達郎 小沢
Hideki Kobayashi
秀樹 小林
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
Priority to JP62117673A priority Critical patent/JPS63282576A/ja
Publication of JPS63282576A publication Critical patent/JPS63282576A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Image Analysis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 本発明はテレビカメラ、マイクロコンピュータ等を用い
てパターンの欠け等の欠陥を検査するパターン検査装置
に関するものである。
〈従来技術とその問題点〉 従来パターンを検査する装置においては、検査すべきパ
ターン以外のパターンが混在した場合、誤動作の原因と
なっていた。従って、撮像エリア内にいわゆるウィンド
ウを設けて、検査範囲を限定している。もちろんウィン
ドウ内に検査すべきパターン以外のものが入ったならば
誤動作を起こす、しかし、箔押しの生産ラインにおいて
、抜かれた箔をロールに巻き上げて行(時ピッチがぶれ
る為、箔の抜き跡から検査する際テレビカメラに対し定
位置に箔の抜き跡のパターンが停止しない。
従ってピッチぶれを許容する為、検査範囲を大きく取る
必要がある。ところが、位置ずれ許容範囲を太き(取る
と検査すべきパターン以外のパターンも同時に検査範囲
に入って(る、この場合、通常の検査装置においてi誤
動作になる。
く問題点を解決するための手段〉 本発明は上記の点に鑑みてなされたものであり、テレビ
カメラで次々に送られてくるパターンを検査する検査装
置に於いて。
テレビカメラが取り入れる検査エリアに対して。
パターンを認識することによりパターンに対応した測定
エリアを設定する測定エリア手段を設け。
該測定エリア内のパターンについて、パターンの欠けを
検査するようにしたことで、検査範囲を広く取り、検査
すべきパターン以外のパターンを同時に撮像してもこれ
の影響をほとんど受けずに検査する事ができるパターン
検査装置を提供するものである。
〈実施例〉 以下本発明について図面を参照しなから一実施例により
詳細に説明する。
第1図は本発明の装置全体を示すブロック図である。先
ず画像の取り込みについて説明する。被検査物(1)が
測定位置に到達すると、光源(2)により照明され、物
体検知センサー(3)は被検査物(1)を感知してDM
A割り込み回路0!JはCP U (5)に対しコント
ロール信号群(22)のひとつであるホールド信号を出
力して一時CP U (5)を停止させていわゆるホー
ルド状態とする。更にDMA割り込み回路θ″!Jは画
像RA M (8)に画像を記憶させるため、アドレス
信号、書き込み信号を出力する。被検査物(1)の画像
はテレビカメラ(4)により撮像され、二値化回路θυ
でデジタル信号に変換され、DMA割り込み回路α3が
出力するアドレス信号、書き込み信号に基づき画像RA
 M (8)に記憶される。なお同期信号発生回路(+
21は一定の同期パルスを発生しており、テレビカメラ
(4)とDMA割り込み回路0■との同期をとるように
しである0画像の取り込みが終了すると、DMA割り込
み回路03はCP U (5)に対しホールド状態解除
の信“号を出力した後、CP U (5)に割り込み信
号を出力する。CP U (5)は割り込み信号を受け
ると割り込み信号としての画像処理プログラムを実行し
始める。なおテレビカメラ(4)から出力されるアナロ
グ画像、二値化回路θ0による二値化後のデジタル画像
、画像RA M (8)から出力されるメモリ画像の三
つの画像は切り替えスイッチ09を切り替えることによ
り切り替え回路0ωが動作し、モニターテレビ(9)に
より上述した三つの画像のうち任意の画像を観察するこ
とが出来る。CPU(5)はF ROM (6)に書き
込まれているプログラムの手順により、画像RA M 
(8)内の画像を処理してその結果をワーキングRAM
(7)に記憶させる。またC P U (5)はアドレ
スバス(至)データバス(21)コントロール信号線群
(22)を通じて周辺回路に接続されており、周辺回路
へデータを送り込む。
次に画像処理結果の出力に関して説明する。
I10命令デコード回路aωはCP U (5)で画像
処理をして得られた結果を外部に表示するため、アドレ
スバス(至)及びコントロール信号線群(22)を取り
込み、アドレスバスの上位8ビツトから最大256個の
I10機器アドレスを生成する。データ表示回路(2)
はデータバス(21)に乗ったC P U (5)の処
理結果を表示する。その際データ表示器09のうちどの
表示器に処理結果を表示するかは、上記I10機器アド
レスに基づいて選択される。また機械停止信号回路Cl
7)及び警報信号回路q印は、上記I10機器アドレス
によりそれぞれの回路が選択された時動作し、生産ライ
ンの停止やブザーの鳴動、警報灯の回転動作等をおこさ
しめる。
2二で本発明の具体的動作について、第2図に示すTの
文字パターンが打ち抜かれた打抜きシートに対して正確
に打ち抜かれているかどうかをチェックする場合につい
て述べる。
該シートはコンベアに載せられて次々とテレビカメラ4
の位置に送られており、該テレビカメラ4は該シートの
パターンを捉え検査エリアデータとして取り込み二値化
回路で、白、黒のパターンとしてデジタルデータ変換さ
れ画像RAMに送られてメモリされる。
次に予めFROM (6)内に設定されである測定エリ
ア設定プログラムに従って第2図に示す検索エリアのパ
ターンをY軸に投影することにより。
第3図に示す如くのパターンが得られる。即ち箔の黒の
部分を加算したものであり、同図においてはす、fの部
分がもっとも黒が多いため、グラフ上でもそれに対応す
るす、rの部分がもつとも高くなっている。
さらに詳しく処理を第4図、第5図のフローチャートに
基づき説明すれば、Slにより画像RAMのデータをY
軸に投影したデータに基づき、S2によりYTABLE
中の最大値を求め、MAXとする。ところがここでMA
X(22)の値は測定の際の誤差も考慮に入れるため誤
差値(YBIAS)の例えば1を差し引いたMAX ’
を最大値としてS3により補正してお(。
次にS4とS5によりi=1より順にMAX ’との大
小比較を行いMAX ’よりYTABLEiが大となる
i=6を探しだし9次にS6とS7によりYTABLE
iがMAX  より小となる点9を探し、このi=6よ
り1を引いてi=5の値をS8によりHEAVENIに
X線(205)として格納する。
次にS9とSIOによりMAX ’ <YTABLE 
i トナルiヲ求メ、  1(7)値11ヲ地m (2
06)としてSllによりEARTHに格納する。
さらに312とS13により再びMAX ’ >YTA
BLEiとなる1=20を求め、S14によりその1−
1=19を次のX線(207)さしてHEAVEN21
に格納、する。
次に測定エリアの在線と布線を求める手段について述べ
る。
まず上述した如くにより測定エリアにおけるX線(20
5)、地線(206)の巾の分のみについてX軸上への
データ投影を行い、その黒ドツトのパターンの和SAj
とする。また前にメモリーしておいたEARTH= 1
7と、HEAVENI=8さらに誤差値であるBIAS
=1を基に(EARTH)−(HEAVENI)−B 
IASを計算して全部が黒パターンの場合である8をH
IGHT’としてメモリーする。
次にS16とSi2によりSAj>HIGH’となる値
を求め箔シートの左端部の値となる。そして31Bと3
19によりSAj<HIGHT’となる値jを算出し、
さらにS20によって(j−1)を在線(208)とし
てLEFTに格納する。そしてここでjを検査エリアの
最右端であるmに設定し、右側から検証していく。すな
わちS21とS22によりSAj<)IIGHT’とな
るjを求め箔シートの右端を検知し5次に323とS2
4によりSAj<HIGH’となる値jを求めて、さら
にS25によりj+1を布線(209)としてRIGH
Tに格納する。
このような処理手順を実行することで、検査エリア内で
対象とする文字パターンの必要最小限の測定エリアが決
定される。
次に測定エリア内の箔欠け(204)等パターンの欠け
等を検査する手段であるが、これにはいくつかあり、検
査すべきパターンにより異なる。
例えば、ワタで囲まれたエリア内の白ビットの数を数え
て標準パターンの数と比較する手段、上記エリア内をさ
らに細かく分割し、各々のエリア毎に、白ビツト数を数
え標準パターンの白ビツト数と比較する面積法、あるい
は、標準パターンとのパターンの一敗具合を見るパター
ンマツチング法あるいは、被検パターンを太めて、さら
に細め、欠けのないパターンとし、このパターンと被検
パターンとのEXORを取る方法等がある。
く効果〉 以上詳述した様に本発明によれば検査すべきパターン以
外のパターンが同時に検査エリアに存在しても、この影
響を受けずに確実に検査する事ができる箔欠け検査装置
となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による検査装置のブロック図第2図は被
検査物を示す説明図、第3図はY軸投影図、第4図、5
図はフローチャート。 (1)被検査体     5(2)光源(3)物体検知
センサ   (4)テレビカメラ(5) CP U  
      (6) F ROM(7)ワーキングRA
M   (8)画像RAM(9)モニタテレビ    
(10)切換え回路(11)二値化回路   (12)
同期信号発生回路(13)DMA割込み回路(14)デ
ータ表示画・路(15)データ表示器  (16) I
 10命令デコード回路        (17)機械
停止信号回路(18)警報信号回路  (19)切換え
スイッチ(20)アドレスバス   (21)データバ
ス(22)コントロール信号線群 (201)箔抜き跡パターン (202)箔抜き跡パターン (203) M抜き跡パターン (204>箔欠け    (205)第1天線(206
>地線     (207)第2天線(208)在線 
    (209)布線(210)検査エリア 特   許   出   願   人 凸版印刷株式会社 代表者 鈴木和夫 植ギ1に1ヒイネ 1 第1図 第3図 第tm

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1)テレビカメラで次々に送られてくるパターンを検査
    する検査装置に於いて、 テレビカメラが取り入れる検査エリアに対して、パター
    ンを認識することによりパターンに対応した測定エリア
    を設定する測定エリア手段を設け、該測定エリア内のパ
    ターンについて、パターンの欠けを検査するようにした
    ことを特徴とする、テレビカメラの視野内に検査すべき
    パターン以外のパターンが共に存在していてもパターン
    の欠け等の欠陥を検査し得るようにしたパターン検査装
    置。
JP62117673A 1987-05-14 1987-05-14 パタ−ン検査装置 Pending JPS63282576A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62117673A JPS63282576A (ja) 1987-05-14 1987-05-14 パタ−ン検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62117673A JPS63282576A (ja) 1987-05-14 1987-05-14 パタ−ン検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63282576A true JPS63282576A (ja) 1988-11-18

Family

ID=14717455

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62117673A Pending JPS63282576A (ja) 1987-05-14 1987-05-14 パタ−ン検査装置

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JP (1) JPS63282576A (ja)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55119782A (en) * 1979-03-09 1980-09-13 Daihen Corp Pattern automatic inspection method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55119782A (en) * 1979-03-09 1980-09-13 Daihen Corp Pattern automatic inspection method

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