JPS6329559A - 回路基板へのダムリングの接合方法 - Google Patents
回路基板へのダムリングの接合方法Info
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- JPS6329559A JPS6329559A JP17350086A JP17350086A JPS6329559A JP S6329559 A JPS6329559 A JP S6329559A JP 17350086 A JP17350086 A JP 17350086A JP 17350086 A JP17350086 A JP 17350086A JP S6329559 A JPS6329559 A JP S6329559A
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- circuit board
- dam ring
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- 239000000853 adhesive Substances 0.000 claims description 19
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 claims description 19
- 238000007872 degassing Methods 0.000 claims description 13
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 2
- 229920002379 silicone rubber Polymers 0.000 description 8
- 239000004945 silicone rubber Substances 0.000 description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 230000009172 bursting Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 2
- 235000002597 Solanum melongena Nutrition 0.000 description 1
- 244000061458 Solanum melongena Species 0.000 description 1
- 238000005273 aeration Methods 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 235000013399 edible fruits Nutrition 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は外部引出用のリードピンを多数備える回路基板
へダムリングを接合するための接合方法に関するもので
ある。
へダムリングを接合するための接合方法に関するもので
ある。
〈従来の技術とその問題点〉
通常、リードピンを多数備える回路基板へのダムリング
の接合は、マウント部及びボンディングリード部を除く
回路基板上面に熱硬化性の接着剤を塗布してダムリング
を接合した後、該接着剤中の気泡を脱気していた。
の接合は、マウント部及びボンディングリード部を除く
回路基板上面に熱硬化性の接着剤を塗布してダムリング
を接合した後、該接着剤中の気泡を脱気していた。
これは、接着剤中に気泡があると、接着強度が減少され
ると共に、接着剤を熱硬化させる際に気泡の破裂により
飛散した油分が、ボンディングリード部に付着してボン
ディング不能の原因となったり、或いは気泡の破裂によ
り回路基板端部側に位置するリードピンのが頭部が露出
して、錆でしまうということがあるためである。
ると共に、接着剤を熱硬化させる際に気泡の破裂により
飛散した油分が、ボンディングリード部に付着してボン
ディング不能の原因となったり、或いは気泡の破裂によ
り回路基板端部側に位置するリードピンのが頭部が露出
して、錆でしまうということがあるためである。
ところが、従来は接着中の気泡を全て脱気させるために
は、1.5torrの真空中で約30分〜90分の時間
がかかつていたため、非常に非能率的であった。
は、1.5torrの真空中で約30分〜90分の時間
がかかつていたため、非常に非能率的であった。
〈発明が解決しようとする技術的課題〉以上の問題を解
決しようとする本発明の技術的課題は、回路基板へダム
リングを接合する際に、該回路基板上面に塗布された接
着剤中の気泡を短時間で脱気することである。
決しようとする本発明の技術的課題は、回路基板へダム
リングを接合する際に、該回路基板上面に塗布された接
着剤中の気泡を短時間で脱気することである。
〈技術的課題を達成するための技術的手段〉以上の技術
的課題を達成するための本発明の技術的手段は、リード
ピンを多数備える回路基板上面に接着材を塗布する塗布
工程と、該接着剤が塗布された回路基板とダムリングと
を真空室に入れて接着剤中及びダムリ・ング接合面の気
泡を脱気する第1脱気工程と、第1脱気工程後の回路基
板上面にダムリングを接合した後接着剤中及びダムリン
グ接合面の気泡を脱気する第2脱気工程とによりなる回
路基板へダムリングを接合するこである。
的課題を達成するための本発明の技術的手段は、リード
ピンを多数備える回路基板上面に接着材を塗布する塗布
工程と、該接着剤が塗布された回路基板とダムリングと
を真空室に入れて接着剤中及びダムリ・ング接合面の気
泡を脱気する第1脱気工程と、第1脱気工程後の回路基
板上面にダムリングを接合した後接着剤中及びダムリン
グ接合面の気泡を脱気する第2脱気工程とによりなる回
路基板へダムリングを接合するこである。
〈発明の効果〉
本発明は以上の様な方法によりダムリングを回路基板へ
接合したので下記の効果を有する。
接合したので下記の効果を有する。
■ 回路基板へのダムリングの接合の際において、該回
路基板に塗布した接着剤中の気泡わを従来と比較して類
時間(従来の完全脱気の時間約30分〜90分に対して
本発明は3分〜6分)ですべて脱気するとてかできるの
でダムリングの接合作業の能率を大幅に向上させること
ができる。
路基板に塗布した接着剤中の気泡わを従来と比較して類
時間(従来の完全脱気の時間約30分〜90分に対して
本発明は3分〜6分)ですべて脱気するとてかできるの
でダムリングの接合作業の能率を大幅に向上させること
ができる。
■ 接着剤のみが塗布された回路基板を真空室に入れて
脱気するので該脱気による気泡の破裂により回路基板端
部に位買するリードビンの頭部が露出した場合でも、そ
れを目測で発見することができる。
脱気するので該脱気による気泡の破裂により回路基板端
部に位買するリードビンの頭部が露出した場合でも、そ
れを目測で発見することができる。
〈実茄例〉
本発明の実施例を図面により説明する。
第1図〜第4図は本発明の回路基板へのダムリングの接
合方法を示す作動図である。
合方法を示す作動図である。
本発明においては、まず初めに大気中で回路基板(1)
の上面に接着剤(2)を塗布する(第1図の塗布工程)
。
の上面に接着剤(2)を塗布する(第1図の塗布工程)
。
回路基板(1)はガラスエポキシ樹脂、セラミック等で
適宜大きさに形成された基板(m)に、縦横方向に等間
隔をもって多数のリードピン(3)が取り付けられると
共に、マウント部(4)に前記リート−ピン(3)とリ
ード線を介して連結されたICチップ(4a)が搭載し
て形成されている。
適宜大きさに形成された基板(m)に、縦横方向に等間
隔をもって多数のリードピン(3)が取り付けられると
共に、マウント部(4)に前記リート−ピン(3)とリ
ード線を介して連結されたICチップ(4a)が搭載し
て形成されている。
接着剤く2)はシリコンゴム(2a)などの熱硬化性樹
脂が使用され、練磨250〜350c pのものをマウ
ンド部、ボーンディングリード部及び基板(m)の周縁
から適宜幅を除いた上面に塗布される。
脂が使用され、練磨250〜350c pのものをマウ
ンド部、ボーンディングリード部及び基板(m)の周縁
から適宜幅を除いた上面に塗布される。
すなわち、該シリコンゴム(2a)は基板(m)上面に
突出したリードピン(3)の頭部(3a)を全て被覆す
る状態で適宜厚さに塗布される。
突出したリードピン(3)の頭部(3a)を全て被覆す
る状態で適宜厚さに塗布される。
次に、シリコンゴム(2a)が塗布された回路基板(1
)と、該回路基板上面に接合されるダムリング(5)と
を接合装置(n)に装置した状態で真空’J(S)に入
れる。タムリング(5)はアルマイト処理が施されたア
ルミニュム板で回路基板よりもやや小さな平面方形に形
成されると共に、マウント部及びボンディングリード部
に対応する中央部には開口部が設けられている。
)と、該回路基板上面に接合されるダムリング(5)と
を接合装置(n)に装置した状態で真空’J(S)に入
れる。タムリング(5)はアルマイト処理が施されたア
ルミニュム板で回路基板よりもやや小さな平面方形に形
成されると共に、マウント部及びボンディングリード部
に対応する中央部には開口部が設けられている。
該接合装置(n)は基台(6)と該基台(6)の上方に
適宜間隔をもって取り付けられた保持板(7)とにより
構成される。また該基台(6)の上面には回路基板(1
)を載置するための載置部(6a)が縦横方向に答間隔
をもって多数凹設されると共に、該載置部(6a)と対
向する保持板(7)の下面にはダムリング(5)を保持
するためのホルダー(8)が取り付けられている。該ホ
ルダー(8)は開閉自在に構成された挟持片(8a)に
よりダムリング(5)の両側面を挟持して、該ダムリン
グ(5)を保持するためのものであり、電気的に連結さ
れた操作部の操作スイッチ(図示せず)の操作により挟
持片(8a)を開閉動させてダムリング(5)を保持或
いは落下させるものである。
適宜間隔をもって取り付けられた保持板(7)とにより
構成される。また該基台(6)の上面には回路基板(1
)を載置するための載置部(6a)が縦横方向に答間隔
をもって多数凹設されると共に、該載置部(6a)と対
向する保持板(7)の下面にはダムリング(5)を保持
するためのホルダー(8)が取り付けられている。該ホ
ルダー(8)は開閉自在に構成された挟持片(8a)に
よりダムリング(5)の両側面を挟持して、該ダムリン
グ(5)を保持するためのものであり、電気的に連結さ
れた操作部の操作スイッチ(図示せず)の操作により挟
持片(8a)を開閉動させてダムリング(5)を保持或
いは落下させるものである。
而して、接合装置(n)に回路基板(1)及びダムリン
グ(5)を装置するには該回路基板(1)を載置部(6
a)に載置すると共に、ダムリングをホルダー(8)で
挟持することである。
グ(5)を装置するには該回路基板(1)を載置部(6
a)に載置すると共に、ダムリングをホルダー(8)で
挟持することである。
そして、該接合装置<n)に装置した状態で真空Z(S
)に入れられた回路基板(1)上面の接着剤中及びとダ
ムリング(5)接合面の気泡は約3分間脱気される(第
1鋭気工程)。
)に入れられた回路基板(1)上面の接着剤中及びとダ
ムリング(5)接合面の気泡は約3分間脱気される(第
1鋭気工程)。
この際、シリコンゴム中及びダムリング(5)下面、す
なわち回路基板(1〉上面との接合面(5a)の微細な
凹部にある気泡がほとんど脱気される。
なわち回路基板(1〉上面との接合面(5a)の微細な
凹部にある気泡がほとんど脱気される。
次に、第1脱気工稈の終了後、操作部における操作スイ
ッチの操作によりホルダー(8)の挟持片(8a)が開
放されて、ダムリング(5)が載置部(6a)の回路基
板上面に落下し、シリコンゴム(2a)を介して接合さ
れる。
ッチの操作によりホルダー(8)の挟持片(8a)が開
放されて、ダムリング(5)が載置部(6a)の回路基
板上面に落下し、シリコンゴム(2a)を介して接合さ
れる。
そして、この接合された状態で再び3分間脱気すること
により、第1脱気工程で脱気されなかったシリコンゴム
(2a)中及びダムリング(5)の下面(5a)におけ
る気泡は完全に脱気される(第2脱気工程〉。また、前
記第1J152気工程及び第2脱気工程における脱気時
間は、実験結果による最適値として導ひき出されたもの
である。
により、第1脱気工程で脱気されなかったシリコンゴム
(2a)中及びダムリング(5)の下面(5a)におけ
る気泡は完全に脱気される(第2脱気工程〉。また、前
記第1J152気工程及び第2脱気工程における脱気時
間は、実験結果による最適値として導ひき出されたもの
である。
最後に、ダムリング(5)が接合された回路基板(1)
を真空室(S)中から取り出しいて加熱することにより
、シリコンゴム(2a)を熱硬化させて完全固定する(
第4図)。
を真空室(S)中から取り出しいて加熱することにより
、シリコンゴム(2a)を熱硬化させて完全固定する(
第4図)。
第1図〜第4図は本発明の回路基板へのダムリングの接
合方法を示す作動断面図である。 尚、図中 (1):回路基板 (2):接着剤 (3):リードビン (5):ダムリング(S):真空
室 を夫々示す。 特許出願人 田中電子工業株式会社代 理
人 早 川 政
η −〜゛べ゛−1′
合方法を示す作動断面図である。 尚、図中 (1):回路基板 (2):接着剤 (3):リードビン (5):ダムリング(S):真空
室 を夫々示す。 特許出願人 田中電子工業株式会社代 理
人 早 川 政
η −〜゛べ゛−1′
Claims (1)
- リードピンを多数備える回路基板上面に接着剤を塗布す
る塗布工程と、該接着剤が塗布された回路基板とダムリ
ングとを真空室に入れて接着剤中及びダムリング接合面
の気泡を脱気する第1脱気工程と、第1脱気工程後の回
路基板上面にダムリングを接合した後接着剤中及びダム
リング接合面の気泡を脱気する第2脱気工程とによりな
る回路基板へのダムリングの接合方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17350086A JPH07123152B2 (ja) | 1986-07-22 | 1986-07-22 | 回路基板へのダムリングの接合方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17350086A JPH07123152B2 (ja) | 1986-07-22 | 1986-07-22 | 回路基板へのダムリングの接合方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6329559A true JPS6329559A (ja) | 1988-02-08 |
| JPH07123152B2 JPH07123152B2 (ja) | 1995-12-25 |
Family
ID=15961669
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17350086A Expired - Lifetime JPH07123152B2 (ja) | 1986-07-22 | 1986-07-22 | 回路基板へのダムリングの接合方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07123152B2 (ja) |
-
1986
- 1986-07-22 JP JP17350086A patent/JPH07123152B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07123152B2 (ja) | 1995-12-25 |
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