JPS63318760A - 高放熱性絶縁基板 - Google Patents

高放熱性絶縁基板

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Publication number
JPS63318760A
JPS63318760A JP62154325A JP15432587A JPS63318760A JP S63318760 A JPS63318760 A JP S63318760A JP 62154325 A JP62154325 A JP 62154325A JP 15432587 A JP15432587 A JP 15432587A JP S63318760 A JPS63318760 A JP S63318760A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mullite
substrate
aluminum nitride
thickness
whole
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62154325A
Other languages
English (en)
Inventor
Akira Yamakawa
晃 山川
Masaya Miyake
雅也 三宅
Hitoshi Sakagami
坂上 仁之
Akira Sasame
笹目 彰
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Electric Industries Ltd filed Critical Sumitomo Electric Industries Ltd
Priority to JP62154325A priority Critical patent/JPS63318760A/ja
Publication of JPS63318760A publication Critical patent/JPS63318760A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W70/00—Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
    • H10W70/60—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
    • H10W70/67—Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their insulating layers or insulating parts
    • H10W70/69—Insulating materials thereof
    • H10W70/692—Ceramics or glasses

Landscapes

  • Inorganic Insulating Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はIC基板等の高放熱性絶縁基板に関する。
[従来の技術] 窒化アルミニウム系セラミックスは、高強度性及び金属
なみの要放熱性と共に、電気絶縁性をも兼ね備えている
ため、半導体基板等各種の部品用材料として近年注目さ
れている。
窒化アルミニウムを用いたIC基板を開発するためには
、ガラス封止に適した構成の窒化アルミニウム基板を得
る必要がある。というのは窒化アルミニウム焼結体は従
来のアルミナ焼結体と比較して、封止ガラスとの密着性
が悪く、剥離やリークの問題を生ずることが知られてい
るからである。これは主として窒化アルミニウム焼結体
と封止ガラスとの濡れ性の悪さに起因するものと考えら
れる。これに対してA I N基板表面を酸化させ、A
 I 203で被覆する方法(特開昭62−46986
号公報参照)が提案されている。
[発明が解決しようとする問題点コ 従来のAIN基板上に直接ガラス層を形成する方法やA
l2O3膜を形成する方法では、ガラス封止気密、メタ
ライズ層形成等が容易には得られなかった。
[問題点を解決するための手段コ 本発明者らは上記問題点を解決すべく種々検討した結果
、本発明に到達したものである。
すなわち、本発明は窒化アルミニウム系セラミックス基
板の表面の全面又は1部がムライトにて被覆されている
ことを特徴とする高放熱性絶縁基板でおる。
本発明では常法によって得られた窒化アルミニウム基板
の全面、又は一部をムライト層で被覆することによって
、後工程におけるガラス封止、メタライズ、ロー付等が
高信頼性かつ低価格で実現可能となる。これはAINと
ムライトの熱膨張率がそれぞれ4.5X10−6.4.
 OX 10−6程度と極めて近いために、工程中の加
熱による熱応力の発生が小さいこと、ムライトは酸化物
であり、ガラス、金属とのヌレ性がAINに比べ秀れて
いることによると考えられる。
ムライト層の厚みとしては0.1mm以下o、 oiμ
以上が望ましい。これは、o、 oiμ未満ではガラス
封止時にガラスに吸収されてしまうし、0.1mmを越
える厚みでは、熱抵抗が大きくなり、高放熱性の特性を
失ってしまうからである。
ムライト層の形成方法としては種々の方法が可能であり
、例えばAl2O3とSiO2がムライト組成となる様
調節したアルコキシド溶液に浸漬、乾燥をくり返したの
ち、加熱焼結する方法、ムライト組成粉、末を塗布し、
焼結する方法、蒸着あるいは気相成長による方法等が可
能であるが、いずれも実施できる。
又、ムライト層は気密性を保持する必要がある。これは
AIN基板は耐環境性に問題があり、それを改善するた
めにムライト層が効果が大きく、気密性を確保すること
で達成される。又、パッケージとして用いる場合の素子
の保護目的にも不可欠である。
[実施例] 実施例1 高純度のAIN粉末にY2O3を1%添加し、1−IP
焼結により、緻密なAIN焼結体を得た。
得られた焼結体は熱伝導率180W/mk 、平均粒度
5μであった。これより10m1llX 10mmX 
1mDI厚基板を切出して、A1アルコキシド、S i
アルコキシドをAl2O3と8102の比が3:2とな
る組成の混合溶液への浸漬、加水分解、乾燥を50回く
り返したのち、1300℃の大気中にて焼成したのち、
ざらに1500℃のAr中で加熱した。その結果、基板
全面がムライト1μで被覆された基板が得られた。本基
板は従来のムライト基板と同様のメタライズ、ガラス付
は技術によってパッケージ化が可能であった。
実施例2 実施例1で得たAIN基板の上下面にムライト組成のペ
ーストを印刷したのち、1600℃の水蒸気流中で焼成
したところ、上下面に50μのムライト層が形成され、
ムライト層は緻密でしかもクランク等は一切観察されな
かった。
本基板をさらにムライト基板と同様条件でメタライド、
ガラス付けを行った結果、問題なく処理可能であった。
比較例1 実施例]、2の条件を種々検討し、ムライト層厚を変え
て試験をしたところ、厚みが0.01μ未満のものは、
ガラス付は時にムライトがガラス層へ拡散し、ガラス封
止が不十分であることがわかった。
比較例2 AIN基板へ直接メタライド、ガラス付けすることは不
可能であった。
[発明の効果] 本発明は熱伝達率の高いAIN基板のメタライズ、ガラ
ス封止および耐環境性が、従来の酸化物系のものに対す
ると同様の技術によって可能となるばかりでなく、高周
波特性等の改良、基板製造コストの低下等大きな効果が
得られるものである。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)窒化アルミニウム系セラミックス基板の表面の全
    面または1部がムライトにて被覆されていることを特徴
    とする高放熱性絶縁基板。
  2. (2)ムライトの厚みが0.1mm以下0.01μ以上
    である特許請求の範囲第(1)項記載の高放熱絶縁基板
    。
JP62154325A 1987-06-23 1987-06-23 高放熱性絶縁基板 Pending JPS63318760A (ja)

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JP62154325A JPS63318760A (ja) 1987-06-23 1987-06-23 高放熱性絶縁基板

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JP62154325A JPS63318760A (ja) 1987-06-23 1987-06-23 高放熱性絶縁基板

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JPS63318760A true JPS63318760A (ja) 1988-12-27

Family

ID=15581673

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62154325A Pending JPS63318760A (ja) 1987-06-23 1987-06-23 高放熱性絶縁基板

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JP (1) JPS63318760A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6483584A (en) * 1987-09-24 1989-03-29 Toshiba Ceramics Co Production of oxidation-resistant nonoxide based ceramics
JPS6483585A (en) * 1987-09-24 1989-03-29 Toshiba Ceramics Co Production of oxidation-resistant nonoxide based ceramics

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6483584A (en) * 1987-09-24 1989-03-29 Toshiba Ceramics Co Production of oxidation-resistant nonoxide based ceramics
JPS6483585A (en) * 1987-09-24 1989-03-29 Toshiba Ceramics Co Production of oxidation-resistant nonoxide based ceramics

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