JPS6345828A

JPS6345828A - Ｉｃハンドリング装置

Info

Publication number: JPS6345828A
Application number: JP61190115A
Authority: JP
Inventors: Naohiko Urasaki; 浦崎　直彦
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1986-08-13
Filing date: 1986-08-13
Publication date: 1988-02-26

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［発明の目的〕（発明の技術分野）本発明はＩＣハンドリング装置に関し、特にハンドリン
グにおける各機能を使用者側にて任意に組合わせできる
ようにしたＩＣハンドリング装置に係わる。

（従来の技術）従来、ＩＣハンドリング装置においては、マーク工程、
外観検査工程、パッキング工程、テスト工程等が同一ハ
ンドリング装置上で自動的に行われ、多工程を１工程化
し省力、自動化を行なうべく開発がなされている。とこ
ろで、こうしたハンドリング装置を開発する′場合、機
械的に連結した商−金属フレーム上に各種機能（テスト
ヘッド部、供給部、収納部、マーク部等）を持ったメカ
を組立て、一体ハンドリング装置として開発を行なう。

しかし、この場合、装置の大形化と機能の拡張、削除の
面で問題が生じる。特に、機能の拡張、削除の面では被
検査ＩＣの品種によっては、不要な機能、不足な機能が
発生してくる可能性が大きく、従来のような一体フレー
ム上での構成の場合は、この拡張、削除が不可能である
。

（発明が解決しようとする問題点）本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、検査すべき
ＩＣの品種に応じて供給／収納工程部以降の外観検査部
、テストヘッド部、マーキング部、分類部を任意に組合
わせできる省エネ型のＩＣハンドリング装置を提供する
ことを目的とする。

［発明の構成コ（問題点を解決するための手段と作用）本発明は、ＩＣ
の供給部と収納部を一体化した供給／収納部と、この供
給／収納部に対し独立して配置され、ＩＣの良否を試験
するテストヘッド部及びこのテストヘッド部の試験結果
に基づいてＩＣの分類を行な分類部とを具備することを
特徴とし、もって省エネを図ることができる。

（実施例）以下、本発明の一実施例を第１図及び第２図を参照して
説明する。ここで、第１図は本発明に係るＩＣハンドリ
ング装置の斜視図、第２図は同装置のＩＣの流れを示す
ブロック図である。

本発明に係る装置は、一体止された供給／収納部１と、
この供給／収納部１に順次近接して独立して配置された
テストヘッド部２ａ、２ｂ、マーキング部３及び分類部
４から構成される。

前記供給／収納部１はＩＣをプラスティック製のスティ
ックに収納した状態で供給するとともに、分類部４から
搬送された良品のＩＣを空のスティックに収納する機能
を有する。具体的には、供給／収納部１の上部には、未
試験のＩＣを収納したスティックを水平状態で所定の位
置に送るエレベータ機構５、水平状態のスティックを傾
斜させる部材（図示せず）、及び空のスティック６ａを
手前側に移動する搬送ベルト７が夫々設けられている。

また、この搬送ベルト７の上方には、ＩＣを搬送した後
のスティック６ｂを仮収納する第１ストツカー８、この
第１ストツカー８の底部のセンサーによりスティック６
ｂにＩＣが残っていった場合にのみそのスティック６ｂ
を収納する第２ストツカー９が設けられている。また、
前記供給／収納部１の側壁には、良品のＩＣを収納した
スティックを納める収納箱１０が設けられている。更に
、前記供給／収納部１には、テストヘッド部２ａ、２ｂ
、マーキング部３及び分類部４の夫々の制御部（図示せ
ず）が内蔵されている。なお。

この制御部から前記テストヘッド部２ａ等への制御は、
ケーブルを介して信号を送ることにより行われる。

前記テストヘッド部２ａには、ＩＣを中空搬送するロボ
ット１１ａが配置されている。このロボット１１ａによ
り前記供給／収納部１から固定レール１２に沿ってエア
ー搬送されてきた未試験のＩＣをチャッキングした後、
ソケット１３に挿着して例えばＩＣのＡＣ試験を行ない
、更にＡＣ試験済みのＩＣを次の固定レール１４へ搬送
する。

なお、図中の１５は、前記固定レール１２．１４に平行
に配置されて全ての試験を終了したＩＣを供給／収納部
１ヘエアー搬送する固定レールである。一方、前記テス
トヘッド部２ｂにもテストヘッド部２ａと同様にロボッ
ト１１ｂが配置され、ＡＣ試験済みのＩＣのＤＣ試験が
行われる。なお、図中の１６．１７は夫々固定レールで
ある。

前記マーキング部３は、搬送されてきたＡＣ。

ＤＣ試験済みＩＣをレーザによりマーキングする。

また、前記分類部５は、試験済みのＩＣをその試験結果
により良品・不良品別に分類し、不良品ＩＣは予め用意
されたスティック６ｃに収納し、良品ＩＣは固定レール
１５を通ってマーキング部３、テストヘッド部２ｂ、２
ａを経て供給／収納部１ヘエアー搬送する。なお、供給
／収納部１へ搬送された良品ＩＣは、空のスティック６
ａに収納する。

次に、上記構造のＩＣハンドリング装置の動作について
、第２図を参照して説明する。

■まず、供給／収納部１で未試験のＩＣを収納したステ
ィックをエレベータ機構５等により所定の位置に傾斜し
てセットする。つづいて、この傾斜したスティック中の
Ｉｃをテストヘッド部２ａ。

２ｂへ順次送る。ここで、一方のテストヘッド部２ａで
はロボット１１ａによりＩＣをソケット１３ａへ挿着し
てＡＣ試験を行い、他方のテストヘッド部２ｂではロボ
ット１１ｂによりＩＣをソケラト１３ｂへ挿着してＤＣ
試験を行なう。

■ＤＣ試験終了したＩＣは、マーキング部３へ搬送し、
レーザによりマーキングを行なう。そして、マーキング
したＩＣを固定レール１８に沿って分類部４へ搬送する
。

■分類部４では、ＩＣのＡＣ，ＤＣ試験結果に基づき、
不良品ＩＣは固定レール２０に沿って搬送して予め備付
けたスティック６ｃに収納し、良品ＩＣは固定レール１
５に沿ってマーキング部３、テストヘッド部２ｂ、２ａ
を経て供給／収納部１ヘエアー搬送する。ここで、良品
のＩＣは、空のスティック６ｂに収納した後、収納箱１
０に収納する。

上記実施例によれば、テストヘッド部２ａ。

２ｂ、マーキング部３及びを頚部４が供給／収納部１に
対して夫々独立して配置された構造となっているため、
搬送されるＩＣの品種が変わった場合でも、必要な機能
の追加、不必要な機能の削除を任意に行なうことができ
る。つまり、搬送すべきＩＣが多ビン化して多機能にな
った場合、従来は待ち時間が長くなったが、本発明の場
合２か所のテストヘッド部２ａ、　２ｂで夫々ＡＣ，Ｄ
Ｃ試験を行なうので持ち時間が著しく短くなり、従来と
比べ省エネを図ることができる。

なお、上記実施例では、ＩＣハンドリング装置が供給／
収納−１２つのテストヘッド部（ＡＣ。

ＤＣ試験用）、マーキング部及び分類部から構成される
場合について述べたが、これに限らない。

例えば、供給／収納部とテストヘッド部（ＡＣ用）との
間に外観検査部を設けてもよいし、あるいはテストヘッ
ド部をＡＣ試験用、ＤＣ試験用及び機能試験用から構成
する等積々の構造のものでもよい。

［発明の効果］以上詳述した如く本発明によれば、供給／収納部以降の
テストヘッド部等を任意に組合わせることにより、搬送
すべきＩＣの品種が変わっても省エネ型のＩＣハンドリ
ング装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例に係るＩＣハンドリング装置
の斜視図、第２図は同装置のＩＣの流れを示すブロック
図である。１・・・供給／収納部、２ａ１２ｂ・・・テストヘッド
部、３・・・マーキング部、４・・・分類部、５・・・
エレベータ曙構、６ａ〜６Ｃ・・・スティック、７・・
・搬送ベルト、８．９・・・ストッカー、１１ａ、１１
ｂ・・・ロボット、１２〜１８・・・固定レール。出願人代理人　弁理士　鈴江武彦第２図

Claims

【特許請求の範囲】

（１）ＩＣの供給部と収納部を一体化した供給／収納部
と、この供給／収納部に対し独立して配置され、ＩＣの
良否を試験するテストヘッド部及びこのテストヘッド部
の試験結果に基づいてＩＣの分類を行なう分類部とを具
備することを特徴とするＩＣハンドリング装置。
（２）前記供給／収納部から搬送されたＩＣの外観をチ
ェックする外観検査部と、試験終了したＩＣにマーキン
グを行なうマーキング部とを夫々具備することを特徴と
する特許請求の範囲第１項記載のＩＣハンドリング装置
。