JPS6348809A - スパイラルインダクタ - Google Patents

スパイラルインダクタ

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Publication number
JPS6348809A
JPS6348809A JP19422286A JP19422286A JPS6348809A JP S6348809 A JPS6348809 A JP S6348809A JP 19422286 A JP19422286 A JP 19422286A JP 19422286 A JP19422286 A JP 19422286A JP S6348809 A JPS6348809 A JP S6348809A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
conductive part
insulating layer
semiconductor substrate
winding
conductor part
Prior art date
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Pending
Application number
JP19422286A
Other languages
English (en)
Inventor
Michio Kotani
小谷 三千男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP19422286A priority Critical patent/JPS6348809A/ja
Publication of JPS6348809A publication Critical patent/JPS6348809A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体基板上に形成される超高周波用のス
パイラルインダクタに関するものである。
〔従来の技術〕
第3図(、)は従来のストリップライン形スパイラルイ
ングクタの構成例を示す上面図、第3図(b)は第3図
(a)のB−B’綿における断面図である。これらの図
において、1は半導体基板、2は信号取出し導体部、3
は巻線導体部、4は信号入力導体部、5は絶縁層で、交
叉部において巻線導体部3と信号取出し導体部2とを絶
縁するために低誘電率のポリイミド樹脂または絶縁性半
導体から構成される。6は前記半導体基板1の裏面のス
トリップライン用接地金属層である。
第3図(a)、(b)に示した従来のス)・リップライ
ン形スパイラルインダククは、半導体基板1上の全面に
金属蒸着を施した後、光露光法により微細パターンを形
成して構成される。この構成では、信号取出し導体部2
と巻線導体部3との間は絶縁層5で絶縁されている。
また、超高周波用のスパイラルインダクタでは、その導
体幅が数μmから10μm、導体金属厚が数μm前後、
絶縁層5の厚さが数μm前後の値をもつ。このような構
成でのスパイラルインダクタは、半導体基板1の表面に
一層のスパイラル構成で形成され、信号取出し導体部2
は、巻線導体部3の厚さと絶縁層5の厚さとの和の高さ
の段差を越して配線する必要がある。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記のような従来のスパイラルインダクタでは、半導体
基板1の表面に一層のスパイラル構成で形成されるため
、電磁界が洩れて外部筐体等の影響を受はインダクタン
ス値が変わる。また、巻線導体部3の厚さとその上の絶
縁層5の厚さとの和の高さの段差を越して微細な信号取
出し導体部2を形成するので、信号取出し導体部2の断
線および線路抵抗の増加を招くという問題点があった。
この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、電磁界が洩れず、また、信号取出し導体部の断線
および線路抵抗の増加を招くことのないスパイラルイン
ダクタを得ろことを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明に係るスパイラルインダクタは、半導体基板の
表面をスパイラル状に掘り込んだグループ状溝内に形成
した巻線導体部と、グループ状溝を平面状に埋め込む絶
縁層を介して巻線導体部上を横切るとともに、絶縁層中
に形成した貫通金属層を介して@線導体部と接続される
信号入力導体部または信号取出し導体部と、半導体基板
上に形成され、同じく絶縁層中に形成した貫通金属層を
介して巻線導体部と接続される信号取出し導体部または
信号入力導体部とから構成しなものである。
〔作用〕
この発明においては、巻線導体部の電磁界が半導体基板
および絶縁層によって遮断され、信号入力導体部または
信号取出し導体部は平坦に形成される。
〔実施例〕
第1図(a)はこの発明のスパイラルインダクタの一実
施例を示す平面図、第1図(b)は第1図(a)のA−
A’線における断面図である。これらの図において、第
3図(a)、(b)と同一符号は同一部分を示し、3a
は前記信号取出し導体部2の直下の巻線導体部、7は前
記半導体基板1の表面をスパイラル状に堀り込んだグル
ープ状溝、8は前記絶縁層5中の貫通金属層である。
すなわち、この発明のスパイラルインダクタは、第2図
(a)、(b)に示すように形成したグループ状溝7内
に巻線導体部3を形成し、グループ状溝7を平面状に埋
め込む絶縁層5を介して信号取出し導体部2を形成した
ので、電磁界が洩れない。
また、信号取出し導体部2を平面上に形成し、貫通金属
層8を介して巻線導体部3に接続したので、断線および
線路抵抗の増加を招くことがない。
なお、信号取出し導体部2の直下の巻線導体部3a以外
の巻線導体部3の上部には必ずしも絶縁層5は必要でな
いが、さらに、電磁界洩れを防ぐためには、高誘電率の
絶縁層をスパッタ等で埋め込めばよい。
また、上記実施例では、グループ状溝7の断面形状を四
角形としたが、これを円形としてもよいことはいうまで
もない。
〔発明の効果〕
この発明は以上説明したとおり、半導体基板の表面をス
パイラル状に堀り込んだグループ状溝内に形成した巻線
導体部と、グループ状溝を平面状に埋め込む絶縁層を介
して巻線導体部上を横切るとともに、絶縁層中に形成し
た貫通金属層を介して巻線導体部と接続される信号入力
導体部または信号取出し導体部と、半導体基板上に形成
され、同じく絶縁層中に形成した貫通金属層を介して巻
線導体部と接続される信号取出し導体部または信号入力
導体部とから構成したので、S磁界が洩れることによる
外部筐体等の影響を少なくすることができるうえ、信号
取出し導体部に段差が生じず、断線や線路抵抗の増大を
避けることができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)はこの発明のスパイラルインダクタの一実
施例を示す平面図、第1図(b)は第1図(a)のA−
A’線におけろ断面図、第2図はこの発明におけるグル
ープ状溝を示す図、第3図(a)は従来のスパイラルイ
ンダクタの構成例を示す上面図、第3図(b)は第3図
(&)のB−B’綿における断面図である。 図において、1は半導体基板、2は信号取出し導体部、
3,3aは巻線導体部、4は信号入力導体部、5は絶縁
層、6はス)・リップライン用接地金属層、7はグルー
プ状溝、8は貫通金属層である。 なお、各図中の同一符号は同一または相当部分を示す。 代理人 大 岩 増 雄   (外2名)第1図 第2図 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  半導体基板上に構成される一層の巻線状のスパイラル
    インダクタにおいて、前記半導体基板の表面をスパイラ
    ル状に堀り込んだグループ状溝内に形成した巻線導体部
    と、前記グループ状溝を平面状に埋め込む絶縁層を介し
    て前記巻線導体部上を横切るとともに、前記絶縁層中に
    形成した貫通金属層を介して前記巻線導体部と接続され
    る信号入力導体部または信号取出し導体部と、前記半導
    体基板上に形成され、同じく前記絶縁層中に形成した貫
    通金属層を介して前記巻線導体部と接続される信号取出
    し導体部または信号入力導体部とから構成したことを特
    徴とするスパイラルインダクタ。
JP19422286A 1986-08-19 1986-08-19 スパイラルインダクタ Pending JPS6348809A (ja)

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JP19422286A JPS6348809A (ja) 1986-08-19 1986-08-19 スパイラルインダクタ

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