JPS6353498B2

JPS6353498B2 -

Info

Publication number: JPS6353498B2
Application number: JP2712179A
Authority: JP
Inventors: Tomoyoshi Ishitani; Yasuo Nakayama; Shigeo Suzuki
Original assignee: Shizuoka Seiki Co Ltd
Current assignee: Shizuoka Seiki Co Ltd
Priority date: 1979-03-08
Filing date: 1979-03-08
Publication date: 1988-10-24
Also published as: JPS55119050A

Description

【発明の詳細な説明】【産業上の利用分野】

本発明は、穀物自動含水率測定装置における含
水率測定方法に係り、特にサンプル試料中に未熟
米を抽出した場合において、測定値に与える未熟
米の影響を防止して精度の高い測定値を得ること
のできる穀物自動含水率測定装置における含水率
測定方法に関する。

【従来の技術】

穀物は登熟する過程で遅速を避けられないため
大部分が登熟した段階でも未だ登熟しきらないも
の、あるいは成長不良なものなどの未熟粒が存在
し、これを取り除くことはできない。従つて、乾
燥機に付設し、乾燥中の穀物を自動的に抽出して
その含水率値を測定する自動含水率測定装置にお
いては、サンプルとしてこの未熟粒を抽出するこ
とは避けられない。同時にこの未熟粒を対象とし
て測定を行つた場合には、穀物の平均含水率値
（以下、平均値という）とかけはなれた値を検出
することとなつて好ましくない。従来、この問題に関連して、継続して測定する
際の前回の平均値が、乾燥を終了する目標含水率
値に近づいておれば一定値以上の測定含水率値
（以下、測定値という）についてはそれをカツト
して平均値を求める方法や、また、平均値に対し
所定範囲を超えてバラつく測定値を除外して再測
定する方法が採用されている。

【発明が解決しようとする問題点】

このような従来の方法の内で測定値をカツトす
る方法は、概略的な把握の仕方であるから測定精
度を低下する原因となり、また、バラつく測定値
を除外する方法は、制御が複雑となる欠点があつ
た。本発明の発明者が確認した穀物自動含水率測定
装置によれば、対向する電極間において試料穀物
を圧砕挾持して両電極間に発生した電気抵抗値を
検出したところ、即ち、所定の電極間隙で試料穀
物が圧砕された直後（以下、圧砕直後という）か
ら試料穀物の温度が電極温度に一致安定する数秒
後の時点（以下、圧砕放冷後という）にかけてそ
の電気抵抗値が種々変動し、特に試料中に未熟粒
が混入した場合は、圧砕直後から数秒後の圧砕放
冷後には含水率値にして0.5％を超えるような急
激な上昇変動が見られた。第１図はその変動状態
を示し、ａは正常の穀物における測定値である
が、ｂは未熟粒が混入した場合の測定値であり、
圧砕直後、数秒後に正常の測定値ａに対して急激
な変動Ｄが現われている。これは、未熟粒が他の
登熟粒に比して粒径が小さいために両電極により
完全に圧砕されるのではなく、単に粒が押しつぶ
された状態に止まり、内部の水分が表皮の裂け目
から滲出して局部的に電極間抵抗を減ずるためと
考えられる。そこで、本発明の目的は、上述の不具合を除去
するためにサンプル試料中に未熟米を抽出した場
合において、測定値に与える未熟米の影響を防止
して精度の高い測定値を得ることのできる穀物自
動含水率測定装置における含水率測定方法を実現
するにある。

【問題点を解決するための手段】

この目的を達成するためにこの発明は、採取し
た被乾燥穀物を電極間で圧砕挾持し、該電極間に
発生した電気抵抗値から該穀物の含水率値に相当
する測定値を出力する測定機を有する穀物自動含
水率測定装置において、１回の圧砕挾持に得られ
る測定値を、圧砕直後と圧砕放冷後とに分けてそ
れぞれ測定値MA、測定値MBとして入力測定
し、該測定値MBが前記測定値MAより所定値
ΔM以上超過変動するときは、測定値MBの該超
過分を除外して測定値MAに所定値ΔMを加えた
値を測定値とすることを特徴とするものである。

【作用】

上述のように構成することにより、本願発明の
方法では、サンプル試料に混入していた未熟米に
よつて生ずる測定値MBの急激な上昇変動による
測定誤差分を除外して、精度の高い測定値を得る
ことができる。

【実施例】

以下、図面を参照して本発明の一実施例を説明
する。第２図において、符号１は籾を圧砕して電
気抵抗を測定し、この抵抗に反比例した信号を発
生する測定機、２は積分回路、３は測定レベル比
較回路、４は測定間隔制御回路、５は測定回数計
数回路、６は測定フラグ回路、７は1.75秒クロツ
クパルス発生回路、８は二段カツトオフフラグ回
路、９は測定タイマー回路、１０は未熟米抑制回
路、１２は停止回路である。測定機１では、試料皿が待機位置にあり、その
位置で待機リミツトスイツチWTLSが開いてい
る。試料皿は、試料を採取するためモータの作動
により前進し、前進端でリミツトスイツチFWLS
を開き停止するようになつている。更に、一定時
間後、モータが逆転し、後退端でリミツトスイツ
チBWLSを開くようになつている。電源が投入（第４図のスタート）されると、
INIT信号によりNORゲートＧ−１を介して測定
回数計数回路５のカウンタＣ−１がセツトされ、
カウント11にセツトされる。それにより出力QD
が高レベル（以下Ｈと称す）となりAUTO信号
が発生する。このAUTO信号は、自動測定中を
示す信号であり、測定回数計数回路５へのカウン
ト許可、積分回路２への積分許可、測定フラグ回
路６への停止解除等の指令信号として作用する。
またカウント11にセツトするのは、以後12、13、
14、15、０と計数して５回の測定が済むまで
AUTO信号をＨに保つためである。一方、
信号により測定フラグ回路６のフリツプフロツプ
FF−１をクリヤし、その出力Ｑは低レベル（以
下Ｌと称す）になる。試料皿は待機位置にあるの
で、リミツトスイツチWTLSは開き、FWLS、
BWLSは閉じている。ゲートＧ−ＡにはAUTO
信号のＬレベルにより禁止されているので、ゲー
トＧ−２の出力はハイレベルである。従つて、ゲ
ートＧ−３はオンとなり、モータ正転用リレー
FWDが作動し、モータが正転し、試料皿が前進
し乾燥機内に入る。前進端でリミツトスイツチ
FWLSが押されて開くと、ゲートＧ−２の入力が
Ｈとなり、その出力がＬとなり、ゲートＧ−３が
禁止され、リレーFWDが不作動となつてモータ
が停止する。一方、リミツトスイツチFWLSの作動により、
負入力ORゲートＧ−４の出力がＨとなり、イン
バータＩ−１を介して遅延カウンタＣ−２のクリ
ヤを解除し、1.75秒クロツクパルス発生回路７の
自走発振器Ｂ−１の出力Ｑから出力される1.75秒
クロツクパルスを計数し始める。この1.75秒クロ
ツクパルスは、主に後述の積分回路２の積分時間
を規制するために設定されたパルス信号である。
カウント８（14秒経過）になると、カウンタＣ−
２の出力QDがＨになり、ゲ−トＧ−５の入力が
共にＨになるので、その出力はＬとなる。16カウ
ント（28秒経過）目で前記出力QDがＬになる
と、ゲートＧ−５の出力はＨになり、測定フラグ
回路６のフリツプフロツプFF−１の出力ＱはＨ
となり、出力はＬとなる。リミツトスイツチ
BWLSは閉じているので、ゲートＧ−６は入力
が共にＨとなり、オンとなつてリレーBAKが作
動してモータが逆転し、試料皿は後退し始める。
このように、試料皿が前進して停止した後、一定
時間（28秒経過）後に後退させるのは、その間に
試料皿上に試料を確実に採取するためである。試料皿の後退により、リミツトスイツチFWLS
が閉じ、遅延カウンタＣ−２をクリヤする。試料
皿の後退端でリミツトスイツチBWLSが作動し
て開くと、ゲートＧ−６が禁止され、BAKが不
作動となり、モータが停止すると同時に、電極間
で試料が圧砕される。同時に、前記のリミツトス
イツチFWLSが開いた時と同様に、遅延カウンタ
Ｃ−２は1.75秒クロツク発生回路７の出力パルス
をカウントし始める。カウンタＣ−２が８カウント（14秒経過）する
と、その出力QDはＨとなり、出力QAはＬとな
る。一方、リミツトスイツチBWLSは開いてい
るので、３入力NANDゲートＧ−７の入力が共
にＨとなり、その出力はＬとなり、スイツチ回路
Ｓ−１を作動させ、スイツチSW−１を閉じる。
つまり、試料が圧砕されて、16秒経過後の測定機
１の出力が十分安定した時点、即ち圧砕放冷後に
積分回路２は、その出力の積分を開始する。カウンタＣ−２が９カウント（16秒経過）する
と、出力QAはＨになり、３入力ゲートＧ−８の
入力条件が整い、その出力はＬとなる。この出力
Ｌは、１回の測定が終了したことを示すもので、
その信号は、ゲートＧ−９を介して測定フラグ回
路６のフリツプフロツプFF−１をリセツトし、
モータ正転用リレーFWDが作動し、モータが再
び正転し、試料皿が前進し始める。また、その信
号は、測定回数計数回路５のカウンタＣ−１に入
り、１カウント計数し、カウント12になり、１回
目の測定を終了する。上記カウントと同時に、カウンタＣ−２の出力
QAがＨとなり、ゲートＧ−７の出力がＨにな
り、スイツチSW−１が開き、１回目の積分は終
る。試料皿が前進すると、リミツトスイツチ
BWLSが閉じ、カウンタＣ−２は再びクリヤさ
れる。試料皿の前進途中において、待機リミツト
スイツチWTLSを開き、ゲートＧ−Ａへの入力
はＨとなるが、AUTO信号によりゲートＧ−Ａ
は禁止されたままなので、モータは停止しない。
即ち、上記カウンタＣ−１は、測定回数の計数用
に、上記カウンタＣ−２は、ゲートＧ−７，Ｇ−
８に接続して積分回路２、測定計数回路５、測定
フラグ回路６等の動作タイミング信号を出力する
ためにそれぞれカウント動作を行う。以上の作動が繰り返され、測定の回数が計数回
路５のカウンタＣ−１で計数され、５回目の測定
終了時にカウント０に戻り、出力QDはＬとな
る。これにより、AUTO信号によるゲートＧ−
Ａの禁止が解け、リミツトスイツチWTLSが開
いた時、ゲートＧ−Ａの出力がＨとなり、ゲート
Ｇ−２を介してゲートＧホ３が禁止され、リレー
FWDが不作動となり、試料皿はリミツトスイツ
チWTLSのところで停止する。以上の５回の各測定による測定値の積算値は、
比較回路３で比較レベルと比較される。比較回路
３には、３個の比較回路Ｆ−１，Ｆ−２，Ｆ−３
が設けられ、Ｆ−１が最も比較レベルが低く、こ
れが目標値となり、一方、Ｆ−３，Ｆ−２は、Ｆ
−１よりも高くなるように抵抗R₁，R₂，R₃から
なる分圧回路により互いに所定間隔をおいて上下
に設定されている。積算された電圧は抵抗R₄，
VR₁，R₅の分圧回路により各比較回路の反転入
力に供給される。更に、比較回路３の各比較レベ
ルとなる基準電圧は、抵抗R₁，R₂，R₃の分圧回
路に直列接続するロータリースイツチRSにより
抵抗VR₂の値を変えることにより変えることがで
きる。即ち、使用者が目標含水率値を選択設定す
るには、ロータリースイツチRSによりVR₂を変
えることによつて、各比較回路の比較レベル全体
を上下に変更できるようになつている。従つて、積分回路２で積分された電圧は、比較
回路で比較されるが、積算が進むにつれて、比較
回路Ｆ−１により順次Ｆ−２，Ｆ−３へと基準電
圧に達していき、積算値が各基準電圧より高くな
ると、各回路の出力はＬレベルになる。この場
合、水分が多ければ、Ｆ−３までＬになるが、含
水率が低ければ、Ｆ−３またはＦ−２はＬになら
ずＨのままとなる。例えば、Ｆ−３は水分18％以
下でそれぞれＨになり、Ｆ−２は16.3％以下で、
Ｆ−１は15％以下でＨになる。各比較回路の出力
は、測定間隔制御回路４のカウンタＣ−３の入力
Ｂ，Ｃ，Ｄに加えられており、測定回数計数回路
５のカウンタＣ−１のキヤリー出力CAがＬにな
るとロードされ、入力Ｂ，Ｃ，Ｄに応じたカウン
トにロードされる。カウンタＣ−３は、7.5分ク
ロツクパルス発生回路Ｂ−２のパルスを計数し、
カウント15から０に戻る際に、キヤリー出力CA
がＬになる。例えば、Ｆ−３の出力がＨになる18
％以下になると、カウント８で64分、Ｆ−３とＦ
−２がＨになればカウント12で32分、全部Ｈでは
カウント14で16分にそれぞれロードされるように
なつてる。従つて、その時の水分に応じて時間が
設定され、その時間が経過するとキヤリー出力
CAにより、カウンタＣ−１が再びロードされ、
次の測定を開始する。次に、水分が目標値以下に達すると、比較回路
Ｆ−１まで全て出力がＨとなる。この時のＦ−１
の出力（出力COFFとする）は、二段カツトオフ
フラグ回路８の初段のフリツプフロツプFF−２
の入力Ｄに印加され、測定回数計数回路５のキヤ
リー出力CAのＨにより、ゲートＧ−１０を経て
フリツプフロツプFF−２を作動させ、出力Ｑが
Ｈになり、乾燥が目標値に達したことを記憶す
る。次に、約15分後に測定が再開され、５回測定が
行なわれたとき、その積算値が再び目標値を割つ
ていると、二段カツトオフフラグ回路８の次段の
フリツプフロツプFF−３の入力Ｄに、出力
COFFと初段フリツプフロツプFF−２の出力Ｑ
が印加されているので、測定回数計数回路５のキ
ヤリー出力CAにより、フリツプフロツプFF−３
が動作する。そして、その出力Ｑにより燃料リレ
ーFUELが作動し、燃料が止められる。続いて数
分後にタイマＢ−２の出力ＱのＨによりゲート−
１１がオンとなり、送風機リレーFANが作動し、
送風機が止まり乾燥が終る。同時に測定間隔制御
回路４をクリヤし、自動測定機能が停止する。このような穀物自動含水率測定装置において、
本発明によれば未熟粒抑制回路１０がオペアンプ
AMP−１とそのフイードバツク回路に設けられ
たオペアンプAMP−３とで構成され、AMP−３
の反転入力にサンプルホールドコンデンサCHが
接続され、その接続端がAMP−１の出力にサン
プルホールドスイツチSWを介して接続されてい
る。このスイツチSWは第１図に示すようにモー
タが逆転すると同時に閉じ、11秒後に開く、即
ち、圧砕直後に開くように構成されている。従つて、圧砕直後で、スイツチSWが閉じてい
る間、コンデンサCHにオペアンプAMP−１の
出力が充電され、スイツチが開いた後でも電圧を
保持しこれがホールド電圧VH、即ち圧砕直後の
測定値MAとなる。未熟粒が混入して圧砕直後か
ら数秒後の圧砕放冷の時点の測定値MBがホール
ド電圧VHより上昇した場合、オペアンプAMP
−３の反転入力に与えられるホールド電圧VHに
よりAMP−１の出力が略VHX（R₆＋R₇）／R₇以
上、つまりMBが（MA＋ΔM）以上になること
を防止する。従つて、未熟粒による測定値の変動
を防ぐことができる。以上に説明した第２図に基づく乾燥開始から乾
燥終了までの機能、動作は、第４図のフローチヤ
ートにより、より明確に説明されている。第３図はコンピユータを用いて本発明の測定方
方法の第２実施例を示す。１５においてモータが
正転し試料皿が前進し、所定時間後、表示装置を
作動させ、モータが逆転し、１６で圧砕直後の測
定を行い、所定の圧砕放冷時点１７でその測定値
MAを記憶データＭにセツトすると同時に、１８
で再度測定を行い、１９でその測定値MBがMA
より0.5％を超えていなければ、２０で測定値
MBを記憶データＭに再セツトし、測定値MBが
0.5％を超えていれば２０を通らずに、即ち測定
値MAを記憶した記憶データＭを測定値として入
力し測定を終る。従つて、未熟粒による測定値の
変動を防ぐことができる。

【発明の効果】

以上詳細に説明したように、この発明によれ
ば、採取した被乾燥穀物を電極間で圧砕挾持し、
該電極間に発生した電気抵抗値から該穀物の含水
率値に相当する測定値を出力する測定機を有する
穀物自動含水率測定装置において、１回の圧砕挾
持に得られる測定値を、圧砕直後と圧砕放冷後と
に分けてそれぞれ測定値MA、測定値MBとして
入力測定し、該測定値MBが前記測定値MAより
所定値ΔM以上超過変動するときは、測定値MB
の該超過分を除外して測定値MAに所定値ΔMを
加えた値を測定値としたので、圧砕開始数秒後に
未熟米のサンプル試料混入によつて生ずる測定値
MBの急激な上昇変動による測定誤差分を除去し
て、測定値に与える未熟米の影響を防止した精度
の高い測定値を得ることができる。また、前記測定値MBが前記測定値MAより所
定値ΔM以上超過変動するときは、前記所定値
ΔMを測定値としてもよい。即ち、０〜0.5％の
水分値に相当する範囲の前記所定値ΔMを採用す
るようにしてもよい。

【図面の簡単な説明】

第１図は水分測定中の測定値の変動状態を示す
図、第２図は本発明の一実施例を示す回路図、第
３図はコンピユータを用いた本発明の他の測定方
法を示す図、第４図は本発明のフローチヤートで
ある。１……測定機、２……積分回路、３……比較回
路、４……測定間隔制御回路、５……測定回数計
数回路、６……測定フラグ回路、７……パルス発
生回路、８……フラグ回路、９……タイマー回
路、１０……未熟米抑制回路、１２…停止回路。

Claims

【特許請求の範囲】１採取した被乾燥穀物を電極間で圧砕挾持し、
該電極間に発生した電気抵抗値から該穀物の含水
率値に相当する測定値を出力する測定機を有する
穀物自動含水率測定装置において、１回の圧砕挾持に得られる測定値を、圧砕直後
と圧砕放冷後とに分けてそれぞれ測定値MA、測
定値MBとして入力測定し、該測定値MBが前記
測定値MAより所定値ΔM以上超過変動するとき
は、測定値MBの該超過分を除外して測定値MA
に所定値ΔMを加えた値を測定値とすることを特
徴とする穀物自動含水率測定装置における含水率
測定方法。２前記所定値ΔMを０〜0.5％の水分値に相当
する値にしたことを特徴とする特許請求の範囲第
１項記載の穀物自動含水率測定装置における含水
率測定方法。