JPS6355406A - 光スポツト等の入射位置検出装置 - Google Patents

光スポツト等の入射位置検出装置

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JPS6355406A
JPS6355406A JP19985786A JP19985786A JPS6355406A JP S6355406 A JPS6355406 A JP S6355406A JP 19985786 A JP19985786 A JP 19985786A JP 19985786 A JP19985786 A JP 19985786A JP S6355406 A JPS6355406 A JP S6355406A
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JP
Japan
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light spot
light
plate
photoelectric conversion
incident position
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JP19985786A
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Takao Tawara
俵 隆雄
Jun Aketo
純 明渡
Yoshiyuki Iwashita
義之 岩下
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OPUTO ELECTRON KK
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、光スポットや放射線の入射位置を検出するた
めの光スポット等の入射位置検出装置に関するものであ
る。
[従来の技術] 従来から、光スポット等の入射位置を検出する二次元検
出装置としては、撮像管やCOD (電荷結合素子)等
が知られているが、何れも価格が高価となり処理回路が
複雑である。
本出願人は既に特願昭60−274499号において、
二次発光体を含有する板体を用いて、その入射位置を検
出する装置を提案したが、この場合は一次元又は多数個
の光電変換素子を必要とした。
[発明の目的] 本発明の目的は、更に簡易な構成により、光スポット等
の入射位置を検出し得る光スポット等の入射位置検出装
置を提供することにある。
[発明の概要] 上述の目的を達成するための本発明の要旨は、二次発光
体又は散乱材を含有する透明又は半透明の板体の端面に
密着して、同様に二次発光体又は散乱材を含有する透明
又は半透明の細条部材を配置し、該細条部材の少なくと
も一方の端部に光電変換素子を配置し、前記板体の表面
に光スポット又は放射線を入射させて、前記板体内で発
生する二次光又は散乱光を前記細条部材に導いて再び二
次元又は散乱光を発生させ、前記光電変換素子で得られ
た光強度から前記光スポット又は放射線の入射位置を検
出することを特徴とする光スポット等の入射位置検出装
置である。
[発明の実施例] 本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第1図において、lは蛍光剤を含有する例えば合成樹脂
から成る透明又は半透明の板体である。
この板体lの各端面1a−1dには、同様に蛍光剤を含
有し、透明又は半透明の合成樹脂から成る細条部材2a
〜2dが密着されている。そして、これらの細条部材2
a〜2dの端部には、例えば太陽電池等から成る光電変
換素子3a、3a’、3b、3b’、  ・・・、3d
’がそれぞれ取り付けられており、これらの光電変換素
子3a、3P1′、3b、3b゛、・会φ、3d”の出
力は図示しない演算処理回路に入力されている。
ここで、板体1の表面に光スポットSが入射すると、こ
の光スポットSにより板体1中の蛍光剤が励起されてラ
ンダムな方向に蛍光を発し、この蛍光は板体1中を伝播
して各端面1a−1dに到達する。この場合に、蛍光は
板体1を伝播中に減衰され、各端面1a〜1dのそれぞ
れの位置の光強度は、光スボッ)Sまでの距離に依存し
て単調増加又は減少することになる。端面1a〜1dか
ら出射された蛍光は、細条部材2a〜2dにそれぞれ入
射し、細条部材2a〜2d中に含まれる蛍光剤により再
びランダムな方向に発光し、細条部材2a〜2d中を伝
播し、その両端部に配置された光電変換素子3a、3a
’、6・・、3d”に入射する。
この場合に、蛍光剤は例えば約500nmを中心とする
波長帯域の光を吸収して、約600nmを中心とする波
長帯域の光を発光するものであり、・板体1から出射す
る波長帯域の光を細条部材2a〜2dの蛍光剤が吸収す
る関係にあることが望ましい、従って、板体lに含まれ
る蛍光剤と細条部材2a〜2d中に含まれる蛍光剤とは
異なる種類とすることが好適である。
第1図のX方向の光スポットSの位置を求めるためには
、X方向に配置した2つの細条部材2a、2Cの端部か
らの出力の割合、例えば光電変換素子3aと3a’の出
力の和と、光電変換素子3Cと3c”の出力の和の比を
求めることにより、板体1の表面上における光スポット
SのX方向の位置を入射光量に関係なく求めることがで
きる。
即ち、板体1の辺の長さをD、光スポットSから端面1
aまでの最短距離をXとすると、細条部材2a、2Cを
介して光電変換素子(3a、3a′)、(3c、3c’
)で得られる蛍光の光強度による出力Pa、 Pcはそ
れぞれ、 Pcmに/f(x) Pcm K / (D −f(x)) となる、ここで、Kは光スポットSの光強度・大きさ、
蛍光剤の光変換効率、板体1、細条部材2中の蛍光減衰
率に依存する定数である。このとき、両光電変換素子(
3a、3a゛)、(3c、30′)の出力の和Pa+P
cと差Pa−Pcをそれぞれ演算し、差Pa−Pcを和
Pa+Pcによって除算すれば、f(x)=Pc@D 
/ (Pa+Pc)となり、f(x)は予め特性を求め
ておくことができるので、光スポットSの光強度等によ
らずに距離Xを求めることが可能となる。
なお、この場合の板体1の端面からの出力特性は、第2
図(a)に示すように光スポットsが板体lの中央部に
位置するほど出力が大きい傾向にある。一方、細条部材
2に同じ光量で入射した蛍光を両端部の光電変換素子3
で検出しその和をとると、第2図(b)に示すように光
量の減衰のために中央部への入射量はど小さくなる。従
って、最終的には両者の曲線は相殺されて、両端部の光
電変換素子3から得られる出力は第2r!4(C)に示
すようにほぼ平担となる。
また、Y方向についても2つの細条部材2b、2dの端
面に設けた光電変換素子(3b、3b’、3d、3d゛
)の出力から光スポットSの位置を同様に求めることが
でき、X方向と併せて二次元的な光スポットSの位置を
検出することが可能である。
なお第1図においては、板体1の光スポットSの位置を
細条部材2a、2Cに投影し、光電変換素子3aと3a
’の出力の比又は光電変換素子3Cと3c’の出力の比
によって光スボッ)SのY方向の位置を求めることもで
きる。
前述したように、光スボッ)Sの入射光の波長或いは蛍
光剤の種類によって、励起される蛍光の波長は異なるが
、細条部材2に含まれる蛍光材の励起光のみを透過する
フィルタを各光電変換素子3a、3a’、・・・、3d
’の前面に設ければ、雑音の影響を無視して精度の良い
測定を行うことができる。勿論、板体lの表面のみを露
出して、その他は外光から遮断することが望ましいが、
完全な暗箱を形成できない場合には光スポットSの入射
光を変調して、この変調光に同期した光電変換素子3a
、3a’、3b、3b’、・・・、3d’からの出力の
みを検出して外光の影響を除去するようにしてもよい。
また第3図においては、板体1の直交する2つの端面1
a、1bのみにそれぞれ細条部材2a、2bが配置され
ており、その端部に設けた光電変換素子3a、3a’、
3b、3b’から光スポットSの位置を求めるようにし
ている。更には、光電変換素子3は細条部材2の両端に
設けるようにしているが、入射光の特性が判っていれば
片端のみに設けても測定は可能である。
また、板体lは実施例のような平面ではなく曲面であっ
てもよく、球面や円筒形など使用目的に応じて使い分け
ることができる。更に、板体lの表面を粗に加工するこ
とにより入射強度を減少させることができるので、表面
に粗さ分布を与えて第2図に示す特性をより直線化する
ことが可能となる。
更には、測定対象は必ずしも光スポットとは限らず、放
射線の点状入射によっても板体1内に光点を得ることが
できる。この場合には、板体1内にはシンチレータを散
在しておくことが好ましい、また、板体1内に混入する
材料は、蛍光剤、シンチレータ以外に、光強度は小さく
なるものの、単なるアルミニウム粉のような光拡散材を
混入してもよい。
なお、この光スポット等の入射位置検出装置の用途とし
ては、一般に計測装置が考えられるが、その他には計算
機等のデジタイザ入力装置等に使用することも可能であ
る。また1図形入力であっても時系列的に光スポットを
移動するようにすれば十分に認識ができる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明に係る光スポット等の入射位
置検出装置は、極めて簡素な構成により、光スポットや
放射線の位置を求めることができ、従来装置では価格的
に不可能な大型の検出装置も安価に製作することができ
る。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明に係る光スポット等の入射位置検出装置の
実施例を示し、第1図はその斜視図、第2図(a)は板
体の出力特性図、(b)は細条部材の出力特性図、(C
)は総合の出力特性図、第3図は他の実施例の斜視図で
ある。 符号1は板体、1a−1dは端面、2a〜2dは細条部
材、3a〜3d’は光電変換素子である。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、二次発光体又は散乱材を含有する透明又は半透明の
    板体の端面に密着して、同様に二次発光体又は散乱材を
    含有する透明又は半透明の細条部材を配置し、該細条部
    材の少なくとも一方の端部に光電変換素子を配置し、前
    記板体の表面に光スポット又は放射線を入射させて、前
    記板体内で発生する二次光又は散乱光を前記細条部材に
    導いて再び二次元又は散乱光を発生させ、前記光電変換
    素子で得られた光強度から前記光スポット又は放射線の
    入射位置を検出することを特徴とする光スポット等の入
    射位置検出装置。 2、前記二次発光体を蛍光剤とした特許請求の範囲第1
    項に記載の光スポット等の入射位置検出装置。 3、前記板体の相対向する端面に前記細条部材を配置し
    、これらの細条部材に配置した前記光電変換素子の出力
    の割合から、前記細条部材の長手方向と直交する方向の
    入射位置を検出するようにした特許請求の範囲第1項に
    記載の光スポット等の入射位置検出装置。 4、前記細条部材の両端部に前記光電変換素子を配置し
    、両光電変換素子の出力の割合から、前記板体の入射位
    置を前記細条部材に投影し、前記細条部材の長手方向の
    入射位置を検出するようにした特許請求の範囲第1項に
    記載の光スポット等の入射位置検出装置。
JP19985786A 1986-08-26 1986-08-26 光スポツト等の入射位置検出装置 Granted JPS6355406A (ja)

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JPS6355406A true JPS6355406A (ja) 1988-03-09
JPH0421122B2 JPH0421122B2 (ja) 1992-04-08

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5005979A (en) * 1988-07-30 1991-04-09 Dornier Gmbh Optical position detection

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US5005979A (en) * 1988-07-30 1991-04-09 Dornier Gmbh Optical position detection

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