JPS6355456A - 渦流探傷器用傷判別装置 - Google Patents
渦流探傷器用傷判別装置Info
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- JPS6355456A JPS6355456A JP20042186A JP20042186A JPS6355456A JP S6355456 A JPS6355456 A JP S6355456A JP 20042186 A JP20042186 A JP 20042186A JP 20042186 A JP20042186 A JP 20042186A JP S6355456 A JPS6355456 A JP S6355456A
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- Japan
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- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 claims description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 37
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 5
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は現在入手可能な渦流探傷器に付加される傷判別
装置に関するものである。
装置に関するものである。
[従来の゛技術]
第4図は金属製の線、条、管などに発生した傷を渦流電
流方式で検出するために現在広く用いられている渦流探
傷器の一例を示すブロック図である。図示のように、発
振器1、ブリッジ2、増幅器3、同期検波器4、フィル
タ5および比較器6は、この順番に縦続接続されている
。発振器1の出力は検出コイル7に与えられ、この検出
コイル7はブリッジ2に接続されている。増幅器3とブ
リッジ2の間には、ブリッジ2の平衡点を調節するため
の平衡器8が接続されている。また、発振器1と同期検
波器4の間には、発振器1の出力を位相させるための位
相器9が接続されている。
流方式で検出するために現在広く用いられている渦流探
傷器の一例を示すブロック図である。図示のように、発
振器1、ブリッジ2、増幅器3、同期検波器4、フィル
タ5および比較器6は、この順番に縦続接続されている
。発振器1の出力は検出コイル7に与えられ、この検出
コイル7はブリッジ2に接続されている。増幅器3とブ
リッジ2の間には、ブリッジ2の平衡点を調節するため
の平衡器8が接続されている。また、発振器1と同期検
波器4の間には、発振器1の出力を位相させるための位
相器9が接続されている。
このように構成された渦流探傷器において、同期検波器
4による同期検波後の信号は、X、Y2構成が得られ、
その代表的な例を第5図に示す。
4による同期検波後の信号は、X、Y2構成が得られ、
その代表的な例を第5図に示す。
この第5図において、FSは欠陥信号を表わし、また±
ygは欠陥信号FSのY成分の設定値を表わす。欠陥信
号FSに対して比較器6は、通常、Y成分の絶対値が設
定値ygを越えたかどうかを判断し、もしIY成分I〉
1yg1が満されるならばそれを傷と判断する。このた
め、目的とする欠陥に対し、出来るだけ大きな欠陥信号
FSが得られるように発信器1の周波数を選択しかつ位
相器9を調整することにより、X成分とY成分によって
描かれるリサージュ波形を原点を中心に回転させ、Y成
分を出来るだけ大きくすることが可能である。
ygは欠陥信号FSのY成分の設定値を表わす。欠陥信
号FSに対して比較器6は、通常、Y成分の絶対値が設
定値ygを越えたかどうかを判断し、もしIY成分I〉
1yg1が満されるならばそれを傷と判断する。このた
め、目的とする欠陥に対し、出来るだけ大きな欠陥信号
FSが得られるように発信器1の周波数を選択しかつ位
相器9を調整することにより、X成分とY成分によって
描かれるリサージュ波形を原点を中心に回転させ、Y成
分を出来るだけ大きくすることが可能である。
渦流探傷器が検出しようとする金属材料の欠陥は1種類
でなく、その場合の欠陥の形態や種類によって第5図の
りサージュ波形が変形することが良く知られている。そ
の際、X成分とY成分の割合も変化し、リサージュの傾
きも大きく変化するゎこのため、従来の渦流探傷器では
、特定の欠陥の検出感度が最大となるように調整すると
、他の欠陥を有効に検出出来ない場合が生じるという問
題点かあった。
でなく、その場合の欠陥の形態や種類によって第5図の
りサージュ波形が変形することが良く知られている。そ
の際、X成分とY成分の割合も変化し、リサージュの傾
きも大きく変化するゎこのため、従来の渦流探傷器では
、特定の欠陥の検出感度が最大となるように調整すると
、他の欠陥を有効に検出出来ない場合が生じるという問
題点かあった。
また、渦流探傷器は、欠陥だけでなく、振動や材料表面
の加工状態の変化などにも反応し、これらが傷判別上の
外乱となる。この外乱に対する感度を抑制するには、第
6図に示すように外乱による信号DSのY成分を最小に
しかつ欠陥信号FSのY成分を最大にするように位相器
9を調整する。
の加工状態の変化などにも反応し、これらが傷判別上の
外乱となる。この外乱に対する感度を抑制するには、第
6図に示すように外乱による信号DSのY成分を最小に
しかつ欠陥信号FSのY成分を最大にするように位相器
9を調整する。
しかし、欠陥信号FSと外乱信号DSの間に90°の傾
き差すなわち位相差が有る場合は稀れであり、第6図の
ような位相差分離を行なうことが困難となる場合が多い
。その場合は、欠陥に対する感度を犠牲にするか、外乱
に対する誤動作を成る程度容認するしか仕方がなく、信
頼性が大11に損われる。また、この位相差は発振器1
の発振周波数に依存するため、位相差が90°に近づく
周波数依存性があり、位相差が90°に近い時に必ずし
も注目している欠陥に対する強度信号が大きくなるとは
限らず、従って十分な検出感度が得られないという問題
点があった。
き差すなわち位相差が有る場合は稀れであり、第6図の
ような位相差分離を行なうことが困難となる場合が多い
。その場合は、欠陥に対する感度を犠牲にするか、外乱
に対する誤動作を成る程度容認するしか仕方がなく、信
頼性が大11に損われる。また、この位相差は発振器1
の発振周波数に依存するため、位相差が90°に近づく
周波数依存性があり、位相差が90°に近い時に必ずし
も注目している欠陥に対する強度信号が大きくなるとは
限らず、従って十分な検出感度が得られないという問題
点があった。
更に、位相差による分離が良好であっても、第7図のよ
うに外乱信号DSのリサージュ波形が大きなふくらみを
もつ場合には、外乱を傷と誤認してしまうことがある。
うに外乱信号DSのリサージュ波形が大きなふくらみを
もつ場合には、外乱を傷と誤認してしまうことがある。
このため、より小さい欠陥を検出可能とする目的でly
glを小さく設定すれば、欠陥以外の検出頻度が極度に
増加し、有効な品質保証手段とはなり得ないことになる
。このため、従来の渦流探傷器だけを用いて微小な欠陥
を検出したり、外乱の大きい環境下で欠陥を検出したり
する場合には、上述した種々の問題点があった。
glを小さく設定すれば、欠陥以外の検出頻度が極度に
増加し、有効な品質保証手段とはなり得ないことになる
。このため、従来の渦流探傷器だけを用いて微小な欠陥
を検出したり、外乱の大きい環境下で欠陥を検出したり
する場合には、上述した種々の問題点があった。
本発明の目的は、前記した従来技術の諸問題点を解決し
、欠陥信号と外乱信号を容易に分離出来る渦流探傷器用
傷判別装置を提供とすることにある。
、欠陥信号と外乱信号を容易に分離出来る渦流探傷器用
傷判別装置を提供とすることにある。
[問題点を解決するための手段]
本発明に係る渦流探傷器用傷判別装置は、渦流探傷器が
検出した信号のX成分およびY成分が入力されると、そ
れぞれ、前記信号の強度に関する強度信号を発生する回
路、前記信号の位相に関する位相信号を発生する回路と
、前記強度信号が入力されるとその極大値を検出する回
路とを設けたものである。
検出した信号のX成分およびY成分が入力されると、そ
れぞれ、前記信号の強度に関する強度信号を発生する回
路、前記信号の位相に関する位相信号を発生する回路と
、前記強度信号が入力されるとその極大値を検出する回
路とを設けたものである。
[作 用]
本発明では、渦流検出器からの信号のX成分おで表わさ
れる強度信号を発生させると共にY/Xまたはt a
n −’ (Y/ X)で表わされる位相信号を発生さ
せ、かつ強度信号の極大値を検出して精度の良い位相分
離と信号波形のふくらみによる影響を取り除く。
れる強度信号を発生させると共にY/Xまたはt a
n −’ (Y/ X)で表わされる位相信号を発生さ
せ、かつ強度信号の極大値を検出して精度の良い位相分
離と信号波形のふくらみによる影響を取り除く。
[実施例コ
第1図は本発明に係る渦流探傷器用傷判別装置の一実施
例を示すブロック図であり、例えば第4図に示した渦流
探傷器から出力された信号FSまたはDSのX成分、Y
成分はそれぞれ増幅回路11A、IIBで増幅された後
に強度信号発生回路12および位相信号発生回路13へ
供給される。
例を示すブロック図であり、例えば第4図に示した渦流
探傷器から出力された信号FSまたはDSのX成分、Y
成分はそれぞれ増幅回路11A、IIBで増幅された後
に強度信号発生回路12および位相信号発生回路13へ
供給される。
強度信号発生回路12は、例えば強度信号X2+Y2を
発生するための2乗和の発生回路または強度信号〜C7
7E層1−を発生するための2乗和平方根発生回路など
である。位相信号回路13は、例えば位相信号Y/Xを
発生するための除算回路または位相信号t an−1(
Y/X)を発生するための逆正接回路などである。強度
信号発生回路12によって発生された強度信号は、その
極大値が極大値検出回路14によって検出され、また強
度判別用比較器15A、15Bにおいて強度のそれぞれ
上限、下限と比較される。同様に、位相信号発生回路1
3によって発生された位相信号は、位相判別用窓型比較
器16A、16Bにおいて位相のそれぞれ」二限、下限
と比較される。比較器15Aおよび16Aの出力は論理
積回路17Aに供給されるが、比較器15Bおよび16
Bの出力は論理積回路17Bに供給される。このように
比較器出力を対にして組み合わせ、その論理積を得るこ
とにより、第2図に斜線で示す欠陥検出領域FDHに信
号が存在するかどうかを判別することが可能になる。な
お、各比較器の限界値は、これを任意に設定することが
出来、またそれを可変にしたり固定にしたりすることが
出来る。今、第2図に斜線で示した欠陥検出領域FDR
を設定したとすると、論理積回路17Aと17Bの出力
の論理和を論理和回路18で得ることによってどちらの
欠陥検出領域FDRに信号が含まれているかを判別出来
、更に論理和回路18の出力と極大値検出回路14の出
力との論理積を論理積回路17Cで得ることによって信
号の極大点MLPが欠陥検出領域FDRにあるかどうか
を判別出来る。この第2図から明らかなように、本発明
によれば、第7図に示したような場合でも欠陥に対する
検出感度を下げることなく、外乱を有効に制御出来る。
発生するための2乗和の発生回路または強度信号〜C7
7E層1−を発生するための2乗和平方根発生回路など
である。位相信号回路13は、例えば位相信号Y/Xを
発生するための除算回路または位相信号t an−1(
Y/X)を発生するための逆正接回路などである。強度
信号発生回路12によって発生された強度信号は、その
極大値が極大値検出回路14によって検出され、また強
度判別用比較器15A、15Bにおいて強度のそれぞれ
上限、下限と比較される。同様に、位相信号発生回路1
3によって発生された位相信号は、位相判別用窓型比較
器16A、16Bにおいて位相のそれぞれ」二限、下限
と比較される。比較器15Aおよび16Aの出力は論理
積回路17Aに供給されるが、比較器15Bおよび16
Bの出力は論理積回路17Bに供給される。このように
比較器出力を対にして組み合わせ、その論理積を得るこ
とにより、第2図に斜線で示す欠陥検出領域FDHに信
号が存在するかどうかを判別することが可能になる。な
お、各比較器の限界値は、これを任意に設定することが
出来、またそれを可変にしたり固定にしたりすることが
出来る。今、第2図に斜線で示した欠陥検出領域FDR
を設定したとすると、論理積回路17Aと17Bの出力
の論理和を論理和回路18で得ることによってどちらの
欠陥検出領域FDRに信号が含まれているかを判別出来
、更に論理和回路18の出力と極大値検出回路14の出
力との論理積を論理積回路17Cで得ることによって信
号の極大点MLPが欠陥検出領域FDRにあるかどうか
を判別出来る。この第2図から明らかなように、本発明
によれば、第7図に示したような場合でも欠陥に対する
検出感度を下げることなく、外乱を有効に制御出来る。
また、欠陥検出領域FDRを第3図に示すように設定す
れば、位相の異なる2種類の外乱が存在する場合でも、
欠陥信号FSのみを高感度に検出出来る。更に、第2図
および第3図から明らかなように、一部の位相範囲にあ
る信号は、全く検出しないようにすることも当然可能で
ある。
れば、位相の異なる2種類の外乱が存在する場合でも、
欠陥信号FSのみを高感度に検出出来る。更に、第2図
および第3図から明らかなように、一部の位相範囲にあ
る信号は、全く検出しないようにすることも当然可能で
ある。
第1図に示した回路において、強度判別用比較器と位相
判別用比較器を2組以上設け、より細分化した判別を可
能とすることは容易に実現出来、またその組数に関する
制限は事実上無い。更に、その際、設定値を一部の比較
器において共通化することも当然可能である。
判別用比較器を2組以上設け、より細分化した判別を可
能とすることは容易に実現出来、またその組数に関する
制限は事実上無い。更に、その際、設定値を一部の比較
器において共通化することも当然可能である。
極大値検出回路14の出力と各比較器出力とのための論
理回路は、第1図に示した構成が唯一のものではなく、
他の論理回路構成でも良い。
理回路は、第1図に示した構成が唯一のものではなく、
他の論理回路構成でも良い。
実時間性を容易にかつ経済的に実現するには、論理回路
以外の全ての回路をアナログ回路で実施すれば良く、ア
ナログ回路は現在入手可能な汎用演算増幅器や乗除算器
を組み合わせることによって安価に実現出来る。しかし
ながら、論理回路以外の回路の一部または全部をディジ
タル回路およびマイクロプロセッサとソフトウェアに置
き換えることも可能である。ただし、マイクロプロセッ
サとソウトウエアに置き換えた場合には、強度信号発生
回路12および極大値検出回路14について、実時間処
理中または単なる処理中に並行してX、、Y成分の処理
装置への入力をどんな遅延もなく行なわせることが本発
明における必要条件になる。
以外の全ての回路をアナログ回路で実施すれば良く、ア
ナログ回路は現在入手可能な汎用演算増幅器や乗除算器
を組み合わせることによって安価に実現出来る。しかし
ながら、論理回路以外の回路の一部または全部をディジ
タル回路およびマイクロプロセッサとソフトウェアに置
き換えることも可能である。ただし、マイクロプロセッ
サとソウトウエアに置き換えた場合には、強度信号発生
回路12および極大値検出回路14について、実時間処
理中または単なる処理中に並行してX、、Y成分の処理
装置への入力をどんな遅延もなく行なわせることが本発
明における必要条件になる。
本発明において、強度信号および位相信号は、」二連し
た信号に加えて、単調に増加するかほぼ単調に増加する
ことを満すX、Yの関数であれば、どんな関数の信号で
も良い。
た信号に加えて、単調に増加するかほぼ単調に増加する
ことを満すX、Yの関数であれば、どんな関数の信号で
も良い。
本発明は、殆ど全ての渦流探傷器に適用出来、被検査材
の形状や材質には全く左右されずに使用可能である。そ
して、被検査材上に断続して存在する欠陥をもれなく検
出するため、本発明の傷判別装置は被検香材全長に対応
する渦流探傷器のX1Y成分出力を中断することなく連
続的に取り込み可能とする手段を備えることかが不可欠
である。
の形状や材質には全く左右されずに使用可能である。そ
して、被検査材上に断続して存在する欠陥をもれなく検
出するため、本発明の傷判別装置は被検香材全長に対応
する渦流探傷器のX1Y成分出力を中断することなく連
続的に取り込み可能とする手段を備えることかが不可欠
である。
[発明の効果]
本発明には下記の効果がある。
(1)渦流探傷器の欠陥検出能力を大幅に向上させるこ
とが出来る。
とが出来る。
(2)無視出来ない強さの外乱が存在する条件下におい
て、欠陥信号と外乱信号の間にたとえわずかでも明確な
位相差が存在すれば、両者を判別出来る。
て、欠陥信号と外乱信号の間にたとえわずかでも明確な
位相差が存在すれば、両者を判別出来る。
(3)位相の異なる多種類の外乱が存在する場合にも、
欠陥信号と外乱信号の間に明確な位相差が存在すれば、
両者を容易に判別出来る。
欠陥信号と外乱信号の間に明確な位相差が存在すれば、
両者を容易に判別出来る。
(4)他種類の欠陥が存在する可能性のある対象の 場
合、欠陥の種類に応じてその危険度が異なることが多い
が、欠陥の種類に対応する信号に位相差が存在すれば、
各々独自の検出限界により欠陥の検出を行なうことが可
能になる。
合、欠陥の種類に応じてその危険度が異なることが多い
が、欠陥の種類に対応する信号に位相差が存在すれば、
各々独自の検出限界により欠陥の検出を行なうことが可
能になる。
第1図は本発明の一実施例を一部ブロック図で示す回路
構成図、第2図および第3図は本発明の動作説明波形図
、第4図は従来の渦流探傷器を示すブロック図、第5図
ないし第7図は第4図の渦流探傷器の動作説明用波形図
である。 11A、IIB:増幅回路、 12:強度信号発生回路、 13:位相信号発生回路、 14:極大値検出回路、 15A、15B:強度判別用比較器、 16A、16B:位相判別用比較器、 17A、17B、17C:論理積回路、18:論理和回
路、 FS:欠陥信号、 DS:外乱信号、 FDR:欠陥検出領域、 MLP:信号の極大点である。 × x
構成図、第2図および第3図は本発明の動作説明波形図
、第4図は従来の渦流探傷器を示すブロック図、第5図
ないし第7図は第4図の渦流探傷器の動作説明用波形図
である。 11A、IIB:増幅回路、 12:強度信号発生回路、 13:位相信号発生回路、 14:極大値検出回路、 15A、15B:強度判別用比較器、 16A、16B:位相判別用比較器、 17A、17B、17C:論理積回路、18:論理和回
路、 FS:欠陥信号、 DS:外乱信号、 FDR:欠陥検出領域、 MLP:信号の極大点である。 × x
Claims (5)
- (1)渦流探傷器によって検出された信号のX成分およ
びY成分が入力されると、それぞれ前記信号の強度に関
する強度信号を発生する回路、前記信号の位相に関する
位相信号を発生する回路と、前記強度が入力されるとそ
の極大値を検出する回路とを備えたことを特徴とする渦
流探傷器用傷判別装置。 - (2)強度信号が入力され、この強度信号が任意に設定
可能な限界値を越えているかどうかを判別する手段と、
位相信号が入力され、この位相信号が任意に設定可能な
範囲内にあるかどうかを判別する手段とを備えたことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の渦流探傷器用傷
判別装置。 - (3)各判別手段が少なくとも2個の比較器から成る特
許請求の範囲第2項記載の渦流探傷器用傷判別装置。 - (4)強度信号発生回路および極大値検出回路が実時間
処理可能手段であることを特徴とする特許請求の範囲第
1項記載の渦流探傷器用傷判別装置。 - (5)各判別手段および極大値検出回路に接続されてこ
れらの出力の論理積をとる手段を備えたことを特徴とす
る特許請求の範囲第2項記載の渦流探傷器用傷判別装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61200421A JPH0776764B2 (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 渦流探傷器用傷判別装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61200421A JPH0776764B2 (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 渦流探傷器用傷判別装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6355456A true JPS6355456A (ja) | 1988-03-09 |
| JPH0776764B2 JPH0776764B2 (ja) | 1995-08-16 |
Family
ID=16424026
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61200421A Expired - Fee Related JPH0776764B2 (ja) | 1986-08-27 | 1986-08-27 | 渦流探傷器用傷判別装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0776764B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005201778A (ja) * | 2004-01-16 | 2005-07-28 | Japan Techno Mate Corp | 渦流探傷装置及び渦流探傷装置のノイズ除去方法 |
| JP2006029838A (ja) * | 2004-07-13 | 2006-02-02 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定装置 |
| JP2006208312A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Jfe Steel Kk | 内部欠陥測定方法および装置 |
| JP2009141060A (ja) * | 2007-12-05 | 2009-06-25 | Sumitomo Electric Printed Circuit Inc | フレキシブルプリント配線板およびその製造方法 |
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| JPS5835455A (ja) * | 1981-08-28 | 1983-03-02 | Hitachi Ltd | 渦流探傷装置 |
-
1986
- 1986-08-27 JP JP61200421A patent/JPH0776764B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0776764B2 (ja) | 1995-08-16 |
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