JPS6363744U - - Google Patents

Description

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の一実施例の載置台の模式図、
第２図は本考案の一実施例の温度制御系のプロツ
ク図、第３図は従来の温度試験装置を説明するた
めのブロツク図を示している。 図において、１は載置台、２は光学系、３，８
―１〜８―ｎは加熱器、４，９―１〜９―ｎは冷
却器、５は基準位置温度センサ、６，１１は温度
差検出回路、７―１〜７―ｎは薄い金属板、１０
―１〜１０―ｎは温度センサ、１２は第１の制御
回路、１３は第２の制御回路を示している。

Claims (1)

1. 【実用新案登録請求の範囲】 撮像装置の光学系２を載置台１上に載置し、前
   記載置台１を介して前記光学系２の温度を規定温
   度に設定して試験する温度試験装置において、 前記載置台１を複数枚の金属板７―１〜７―ｎ
   で積層形成するとともに、該積層板の面方向に加
   熱器８―１〜８―ｎと温度センサ１０―１〜１０
   ―ｎと冷却器９―１〜９―ｎとをそれぞれ複数個
   配設し、前記温度センサ１０―１〜１０―ｎ間の
   温度差を検出する温度差検出回路１１と、該検出
   温度差に応じて載置台の面方向における温度分布
   が均一となるよう前記加熱器および冷却器を制御
   する制御回路１３とを付設したことを特徴とする
   温度試験装置。