JPS6370065U - - Google Patents

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JPS6370065U
JPS6370065U JP16527386U JP16527386U JPS6370065U JP S6370065 U JPS6370065 U JP S6370065U JP 16527386 U JP16527386 U JP 16527386U JP 16527386 U JP16527386 U JP 16527386U JP S6370065 U JPS6370065 U JP S6370065U
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optical disk
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JP16527386U
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第１図および第２図は本考案の光デイスク検査
装置校正用基準板の一実施例を示す構成図、第３
図は本考案の光デイスク検査装置校正用基準板を
光デイスク検査装置に装着した状態の一例を示す
構成図である。 Ｓ０〜Ｓ１１…標準試料片、１…基板部、２…
クランプ部、３…反射膜、４…クランプ機構、５
…光学ヘツド。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 所定の基準値に値付けされた複数の標準試
    料片と、光デイスクのクランプ機構により共通に
    クランプされるクランプ部を有し前記複数の標準
    試料片を同一円周上に配置するとともにこれら複
    数の標準試料片をその反射膜面または透過膜面の
    位置およびクランプ面からの高さが前記クランプ
    機構にクランプされる通常の光デイスクの記録膜
    面と一致するように保持する基板部とを具備して
    なる光デイスク検査装置校正用基準板。 (2) 前記複数の標準試料片はそれぞれ所定の値
    付けが行なわれているとともに、標準の光デイス
    クと同じ板厚を有してなる前記実用新案登録請求
    の範囲第１項記載の光デイスク検査装置校正用基
    準板。 (3) 前記複数の標準試料片は板厚測定時の校正
    に使用されるものであり、それぞれ所定の値付け
    に応じた板厚を有するとともに、標準の光デイス
    クと同じ反射率を有してなる前記実用新案登録請
    求の範囲第１項記載の光デイスク検査装置校正用
    基準板。
JP16527386U 1986-10-28 1986-10-28 Expired JPH0443814Y2 (ja)

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JP16527386U JPH0443814Y2 (ja) 1986-10-28 1986-10-28

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JP16527386U JPH0443814Y2 (ja) 1986-10-28 1986-10-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6370065U true JPS6370065U (ja) 1988-05-11
JPH0443814Y2 JPH0443814Y2 (ja) 1992-10-15

Family

ID=31095163

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JP16527386U Expired JPH0443814Y2 (ja) 1986-10-28 1986-10-28

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JP (1) JPH0443814Y2 (ja)

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JPH0443814Y2 (ja) 1992-10-15

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