JPH01162122U - - Google Patents
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- Publication number
- JPH01162122U JPH01162122U JP5710088U JP5710088U JPH01162122U JP H01162122 U JPH01162122 U JP H01162122U JP 5710088 U JP5710088 U JP 5710088U JP 5710088 U JP5710088 U JP 5710088U JP H01162122 U JPH01162122 U JP H01162122U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical disk
- standard sample
- film
- sample pieces
- same circumference
- Prior art date
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- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 3
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 2
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- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Manufacturing Optical Record Carriers (AREA)
Description
第１図および第２図は本考案の光デイスク検査
装置校正用基準板の一実施例を示す構成図および
断面図、第３図は標準試料片Ｓ０〜Ｓ１１の形成
例を示す断面図、第４図は本考案の基準板を光デ
イスク検査装置に装着した状態の一例を示す構成
図である。 Ｓ０〜Ｓ１１……標準試料片、１……基板部、
２……クランプ部、３１……ガラス基板、３２…
…反射膜または透過膜、３３……反射防止膜、４
……クランプ機構、５……光学ヘツド。
装置校正用基準板の一実施例を示す構成図および
断面図、第３図は標準試料片Ｓ０〜Ｓ１１の形成
例を示す断面図、第４図は本考案の基準板を光デ
イスク検査装置に装着した状態の一例を示す構成
図である。 Ｓ０〜Ｓ１１……標準試料片、１……基板部、
２……クランプ部、３１……ガラス基板、３２…
…反射膜または透過膜、３３……反射防止膜、４
……クランプ機構、５……光学ヘツド。
Claims (1)
- 通常の光デイスクと等しい板厚を有するガラス
基板の一方の面に誘電体多層膜よりなる反射膜ま
たは透過膜が形成されるとともに他方の面に反射
防止膜が形成され所定の基準値に値付けされた複
数の標準試料片と、光デイスクのクランプ機構に
より共通にクランプされるクランプ部を有し前記
複数の標準試料片を同一円周上に配置するととも
にこれら複数の標準試料片をその反射膜面の位置
およびクランプ面からの高さが前記クランプ機構
にクランプされる通常の光デイスクの記録膜面と
一致するように保持する基板部とを具備してなる
光デイスク検査装置校正用基準板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5710088U JP2505761Y2 (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 光ディスク検査装置校正用基準板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5710088U JP2505761Y2 (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 光ディスク検査装置校正用基準板 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01162122U true JPH01162122U (ja) | 1989-11-10 |
| JP2505761Y2 JP2505761Y2 (ja) | 1996-07-31 |
Family
ID=31282955
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5710088U Expired - Lifetime JP2505761Y2 (ja) | 1988-04-27 | 1988-04-27 | 光ディスク検査装置校正用基準板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2505761Y2 (ja) |
-
1988
- 1988-04-27 JP JP5710088U patent/JP2505761Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2505761Y2 (ja) | 1996-07-31 |
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