JPS63734B2 - - Google Patents
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- JPS63734B2 JPS63734B2 JP52088569A JP8856977A JPS63734B2 JP S63734 B2 JPS63734 B2 JP S63734B2 JP 52088569 A JP52088569 A JP 52088569A JP 8856977 A JP8856977 A JP 8856977A JP S63734 B2 JPS63734 B2 JP S63734B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- container
- filling space
- container body
- fluorescent
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Optical Measuring Cells (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は螢光X線分析用微量試料容器に関す
る。
る。
一般に、螢光X線分析は、試料に一次X線を照
射することにより、試料中の測定成分から発せら
れるその成分固有の波長を有する螢光X線(特性
X線ともいう)を測定して試料中の測定成分濃度
を知る分析方法である。
射することにより、試料中の測定成分から発せら
れるその成分固有の波長を有する螢光X線(特性
X線ともいう)を測定して試料中の測定成分濃度
を知る分析方法である。
例えばこの螢光X線分析方法により石油中のイ
オウ濃度を測定しようとする場合、その石油が例
えばタンク内に溜められている石油であれば必要
な試料の量は十分に確保することができる。しか
しながら、その石油が例えば海上流出油のように
少量しか手に入らないようなものについては入手
可能な試料の量は限られており、有効にその試料
を使用する必要がある。
オウ濃度を測定しようとする場合、その石油が例
えばタンク内に溜められている石油であれば必要
な試料の量は十分に確保することができる。しか
しながら、その石油が例えば海上流出油のように
少量しか手に入らないようなものについては入手
可能な試料の量は限られており、有効にその試料
を使用する必要がある。
本発明はこのように入手可能な試料に量が限ら
れた場合に、特に有効な螢光X線分析用微量試料
容器に関するものである。
れた場合に、特に有効な螢光X線分析用微量試料
容器に関するものである。
従来より使用されているこの種微量試料容器
は、例えば第1図に示すように、上部及び底部が
共に開口している筒状の容器本体1の底部に放射
線透過膜(例えばポリエステル膜等)2を張着す
ると共に、この放射線透過膜2の周縁部を固定具
(外枠或いはOリング等)3によつて容器本体1
の外側に固定し、必要に応じて容器本体に蓋を取
り付けるようにしている。そして、試料4は底部
を放射線透過膜2で張着された容器本体1内に収
容されており、前記放射線透過膜2を通して試料
4に一次X線が照射され、この試料4より発生し
放射線透過膜2を通過して出てくる螢光X線を検
出するように構成されている。
は、例えば第1図に示すように、上部及び底部が
共に開口している筒状の容器本体1の底部に放射
線透過膜(例えばポリエステル膜等)2を張着す
ると共に、この放射線透過膜2の周縁部を固定具
(外枠或いはOリング等)3によつて容器本体1
の外側に固定し、必要に応じて容器本体に蓋を取
り付けるようにしている。そして、試料4は底部
を放射線透過膜2で張着された容器本体1内に収
容されており、前記放射線透過膜2を通して試料
4に一次X線が照射され、この試料4より発生し
放射線透過膜2を通過して出てくる螢光X線を検
出するように構成されている。
この場合、一定以上の試料の厚み及び一定以上
の試料照射面積が要求されるが、照射面積に関し
ては実効的に一次X線の照射時間により補足する
ことができるが、試料の厚みに関しては測定精度
の点からある一定以上の厚み(有効厚み;例えば
石油製品中のイオウ測定においては約3mm)が要
求される。試料の量が十分に多い場合には前記試
料厚みは十分に確保し得るが、試料の量が少ない
場合には照射面積を多少犠性にしても所定の試料
厚みを確保する必要があり、そのため、試料容器
自体を小さくすることにより照射面積を小さく
し、試料厚みを確保しなければならなかつた。
の試料照射面積が要求されるが、照射面積に関し
ては実効的に一次X線の照射時間により補足する
ことができるが、試料の厚みに関しては測定精度
の点からある一定以上の厚み(有効厚み;例えば
石油製品中のイオウ測定においては約3mm)が要
求される。試料の量が十分に多い場合には前記試
料厚みは十分に確保し得るが、試料の量が少ない
場合には照射面積を多少犠性にしても所定の試料
厚みを確保する必要があり、そのため、試料容器
自体を小さくすることにより照射面積を小さく
し、試料厚みを確保しなければならなかつた。
しかしながら、試料の量が変わる毎に試料容器
自体の大きさを変えるという方法は、多くの試料
容器(それもそれぞれ大きさの異なるもの)を、
予め準備しておく必要があること、又、試料容器
の設定に関しては、試料容器の設置位置の微妙な
変化が測定する螢光X線の量に大きく影響するた
め、たえず一定の位置に置く必要があり、各試料
容器に応じたアダプタを別途製作し、分析部に取
り付ける等の改造が必要であつた。
自体の大きさを変えるという方法は、多くの試料
容器(それもそれぞれ大きさの異なるもの)を、
予め準備しておく必要があること、又、試料容器
の設定に関しては、試料容器の設置位置の微妙な
変化が測定する螢光X線の量に大きく影響するた
め、たえず一定の位置に置く必要があり、各試料
容器に応じたアダプタを別途製作し、分析部に取
り付ける等の改造が必要であつた。
本発明は上記の事柄に留意してなされたもの
で、試料の量が少ない場合でも所定の試料厚みを
確保することができる螢光X線分析用微量試料容
器を提供することを目的とする。
で、試料の量が少ない場合でも所定の試料厚みを
確保することができる螢光X線分析用微量試料容
器を提供することを目的とする。
以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説
明する。
明する。
第2図イ乃至ハは本発明に係る螢光X線分析用
微量試料容器の容器本体の種々の例を示す。
微量試料容器の容器本体の種々の例を示す。
先ず、同図イにおいて、31は容器本体で、そ
の略中央には上下に開口部を有する試料充填空間
部35が形成してあり、その底面31aは試料充
填空間部35の下部開口周端縁32aから外縁部
31cにかけて上向きに傾斜したテーパ面に形成
されており、他方、上面31bも試料充填空間部
35の上部開口周端縁32bから外縁部31cに
かけて上向きに傾斜したテーパ面に形成されてい
る。そして、前記試料充填空間部35はその内径
が容器本体31の外径寸法の1/2〜1/3程度に設定
してあり、容器本体31の外形寸法に相当する容
積に比して小さい容積を有する空間に形成されて
いる。
の略中央には上下に開口部を有する試料充填空間
部35が形成してあり、その底面31aは試料充
填空間部35の下部開口周端縁32aから外縁部
31cにかけて上向きに傾斜したテーパ面に形成
されており、他方、上面31bも試料充填空間部
35の上部開口周端縁32bから外縁部31cに
かけて上向きに傾斜したテーパ面に形成されてい
る。そして、前記試料充填空間部35はその内径
が容器本体31の外径寸法の1/2〜1/3程度に設定
してあり、容器本体31の外形寸法に相当する容
積に比して小さい容積を有する空間に形成されて
いる。
上記構成の容器本体31においては、上面31
bは試料充填空間部35の上部開口周端縁32b
から外縁部31cにかけて上向きに傾斜したテー
パ面に形成されており、つまり、該上面31bは
開口部が形成されている中央部が外縁部31cよ
りも低くなるように形成されているので、試料充
填空間部35に対して試料を確実に充填すること
ができる。又、底面31aは試料充填空間部35
の下部開口周端縁32aから外縁部31cにかけ
て上向きに傾斜したテーパ面に形成されているの
で、該底面31aに沿わせて放射線透過膜を張設
したとき、底面31aとの間に隙間を生ずること
なく放射線透過膜を形成することができ、従つ
て、試料充填空間部35内の試料が外部に漏れ出
ることがない。
bは試料充填空間部35の上部開口周端縁32b
から外縁部31cにかけて上向きに傾斜したテー
パ面に形成されており、つまり、該上面31bは
開口部が形成されている中央部が外縁部31cよ
りも低くなるように形成されているので、試料充
填空間部35に対して試料を確実に充填すること
ができる。又、底面31aは試料充填空間部35
の下部開口周端縁32aから外縁部31cにかけ
て上向きに傾斜したテーパ面に形成されているの
で、該底面31aに沿わせて放射線透過膜を張設
したとき、底面31aとの間に隙間を生ずること
なく放射線透過膜を形成することができ、従つ
て、試料充填空間部35内の試料が外部に漏れ出
ることがない。
次に、同図ロにおいて、41は容器本体で、そ
の底面41a、上面41bは前記容器本体31と
同様に、それぞれ上向きに傾斜したテーパ面に形
成されている。41cは外縁部である。そして、
この容器本体41の下方(底面41a側)には、
所定の試料厚みを形成し得る高さを有する試料充
填空間部45が開設されている。この試料充填空
間部45の内径も前記容器本体31における試料
充填空間部35と同様に、容器本体41の外径寸
法の1/2〜1/3程度に設定してある。そして、前記
容器本体41の中央部には試料充填空間部45の
開口径よりも小径で、かつ、上面41bから試料
充填空間部45に通ずる試料注入孔46が形成し
てある。
の底面41a、上面41bは前記容器本体31と
同様に、それぞれ上向きに傾斜したテーパ面に形
成されている。41cは外縁部である。そして、
この容器本体41の下方(底面41a側)には、
所定の試料厚みを形成し得る高さを有する試料充
填空間部45が開設されている。この試料充填空
間部45の内径も前記容器本体31における試料
充填空間部35と同様に、容器本体41の外径寸
法の1/2〜1/3程度に設定してある。そして、前記
容器本体41の中央部には試料充填空間部45の
開口径よりも小径で、かつ、上面41bから試料
充填空間部45に通ずる試料注入孔46が形成し
てある。
上記構成の容器本体41においては、上面41
bが上向きの傾斜を有するテーパ面に形成してあ
るので、試料注入孔46が細径であつても試料充
填空間部45に対して確実に試料を充填すること
ができる。
bが上向きの傾斜を有するテーパ面に形成してあ
るので、試料注入孔46が細径であつても試料充
填空間部45に対して確実に試料を充填すること
ができる。
又、同図ハにおいて、51は容器本体で、この
容器本体51の外形は上記容器本体41と殆ど同
じであるが、更に、上面51bから試料充填空間
部55に通ずる試料注入孔56と平行に空気抜き
孔57を設けてある。51aは底面、51cは外
縁部である。
容器本体51の外形は上記容器本体41と殆ど同
じであるが、更に、上面51bから試料充填空間
部55に通ずる試料注入孔56と平行に空気抜き
孔57を設けてある。51aは底面、51cは外
縁部である。
尚、上記各図において、60は容器本体31,
41,51のそれぞれ外縁部31c,41c,5
1cに周設された環状溝で、容器外枠又はOリン
グ等を係止するためのものである。又、容器本体
31,41,51は通常円筒形に形成され、従つ
て、その底31a,41a,51a及び上面31
b,41b,51bが上述のようにテーパ面をな
すとき、これらの底面31a,41a,51a及
び上面31b,41b,51bは略逆円錐形状を
呈し、更に、試料充填空間部35,45,55及
び試料注入孔46,56の平面視形状は円形であ
る。
41,51のそれぞれ外縁部31c,41c,5
1cに周設された環状溝で、容器外枠又はOリン
グ等を係止するためのものである。又、容器本体
31,41,51は通常円筒形に形成され、従つ
て、その底31a,41a,51a及び上面31
b,41b,51bが上述のようにテーパ面をな
すとき、これらの底面31a,41a,51a及
び上面31b,41b,51bは略逆円錐形状を
呈し、更に、試料充填空間部35,45,55及
び試料注入孔46,56の平面視形状は円形であ
る。
次に、第3図は第2図ロに示す容器本体41を
用いた場合の螢光X線分析用微量試料容器の一例
を示し、ステンレス等の金属製(プラスチツク製
でもよい)の容器本体41の底面41a側に、例
えばポリエステルフイルムからなる放射線透過膜
42を張設し、この放射線透過膜42の周縁部を
プラスチツク製の筒状容器外枠又はOリング等の
固定具43により上方へ引き込んで容器本体41
の外側面に固定することによつて螢光X線分析用
微量試料容器を形成する。そして、容器本体41
の上面41b側から試料44を流し込み、試料注
入孔46を介して試料充填空間部45に試料44
を充填させている。48はX線照射管、49は検
出器である。
用いた場合の螢光X線分析用微量試料容器の一例
を示し、ステンレス等の金属製(プラスチツク製
でもよい)の容器本体41の底面41a側に、例
えばポリエステルフイルムからなる放射線透過膜
42を張設し、この放射線透過膜42の周縁部を
プラスチツク製の筒状容器外枠又はOリング等の
固定具43により上方へ引き込んで容器本体41
の外側面に固定することによつて螢光X線分析用
微量試料容器を形成する。そして、容器本体41
の上面41b側から試料44を流し込み、試料注
入孔46を介して試料充填空間部45に試料44
を充填させている。48はX線照射管、49は検
出器である。
この場合、容器本体41の底面41aは試料充
填空間部45の下部開口周端縁45′から外縁部
41cにかけて上向きの傾斜を有するテーパ面に
形成されているから、放射線透過膜42が試料充
填空間部45の下部開口を密閉するように底面4
1aに張設されることとなり、試料充填空間部4
5内に充填された試料44の漏出又は滲出が効果
的に防止される。
填空間部45の下部開口周端縁45′から外縁部
41cにかけて上向きの傾斜を有するテーパ面に
形成されているから、放射線透過膜42が試料充
填空間部45の下部開口を密閉するように底面4
1aに張設されることとなり、試料充填空間部4
5内に充填された試料44の漏出又は滲出が効果
的に防止される。
尚、1c.c.程度の試料の量の場合、例えば上記容
器本体41の外径d1を40mm、試料注入孔46の内
径d2を5mm、試料充填空間部45の内径Dを20
mm、試料充填空間部45の高さ、即ち、分析に必
要な有効厚みHを3mmとすればよい。
器本体41の外径d1を40mm、試料注入孔46の内
径d2を5mm、試料充填空間部45の内径Dを20
mm、試料充填空間部45の高さ、即ち、分析に必
要な有効厚みHを3mmとすればよい。
更に、上記容器本体31,41,51は試料の
性質に応じてプラスチツク材その他の適当な材料
によつて作ることができる。又、容器本体31,
41,51の上部には必要に応じて蓋を装着でき
るようにしてあつてもよい。
性質に応じてプラスチツク材その他の適当な材料
によつて作ることができる。又、容器本体31,
41,51の上部には必要に応じて蓋を装着でき
るようにしてあつてもよい。
以上説明したように、本発明に係る螢光X線分
析用微量試料容器においては、容器本体には底面
の中央において下方に開口すると共に上面と連通
し、かつ、容器本体の外形寸法に相当する容積に
比して小さい容積を有する試料充填空間部が形成
してあるので、試料の量が少ない場合であつても
十分な試料厚みを確保することができる。そし
て、容器本体の上面には中央部から外縁部にかけ
て上向きに傾斜したテーパ面が形成してあるの
で、試料を試料充填空間部内に確実に充填するこ
とができ、更に、容器本体の下面にも中央部から
外縁部にかけて上向きに傾斜したテーパ面を形成
してあるので、試料充填空間部の下部開口側は放
射線透過膜によつて完全密封とすることができ、
従つて、試料が少ない場合であつてもこれを無駄
にすることなく、試料充填空間部内に保持するこ
とができるので、分析を確実に行うことができ
る。又、容器本体の形状は比較的簡単であるか
ら、安価に製作できるといつた利点がある。
析用微量試料容器においては、容器本体には底面
の中央において下方に開口すると共に上面と連通
し、かつ、容器本体の外形寸法に相当する容積に
比して小さい容積を有する試料充填空間部が形成
してあるので、試料の量が少ない場合であつても
十分な試料厚みを確保することができる。そし
て、容器本体の上面には中央部から外縁部にかけ
て上向きに傾斜したテーパ面が形成してあるの
で、試料を試料充填空間部内に確実に充填するこ
とができ、更に、容器本体の下面にも中央部から
外縁部にかけて上向きに傾斜したテーパ面を形成
してあるので、試料充填空間部の下部開口側は放
射線透過膜によつて完全密封とすることができ、
従つて、試料が少ない場合であつてもこれを無駄
にすることなく、試料充填空間部内に保持するこ
とができるので、分析を確実に行うことができ
る。又、容器本体の形状は比較的簡単であるか
ら、安価に製作できるといつた利点がある。
第1図は従来の試料容器を示す断面図、第2図
イ,ロ,ハは本発明に係る螢光X線分析用微量試
料容器の容器本体の種々の例を示す断面図、第3
図は本発明に係る螢光X線分析用微量試料容器の
一例を示す断面図である。 31,41,51…容器本体、31a,41
a,51a…底面、31b,41b,51b…上
面、31c,41c,51c…外縁部35,4
5,55…試料充填空間部、42…放射線透過
膜、43…固定具、44…試料、46,56…試
料注入孔、57…空気抜き孔。
イ,ロ,ハは本発明に係る螢光X線分析用微量試
料容器の容器本体の種々の例を示す断面図、第3
図は本発明に係る螢光X線分析用微量試料容器の
一例を示す断面図である。 31,41,51…容器本体、31a,41
a,51a…底面、31b,41b,51b…上
面、31c,41c,51c…外縁部35,4
5,55…試料充填空間部、42…放射線透過
膜、43…固定具、44…試料、46,56…試
料注入孔、57…空気抜き孔。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 中央部から外縁部にかけて上向きに傾斜した
テーパ面をそれぞれ有する上面及び底面と、該底
面の中央において下方に開口すると共に前記上面
と連通する試料充填空間部とを備えてなる容器本
体と、前記底面に張設され前記試料充填空間部の
下部開口側を閉塞する放射線透過膜と、該放射線
透過膜を固定するための固定具とからなり、前記
試料充填空間部が容器本体の外径寸法に対応する
容積に比して十分小さい容積を有するように構成
したことを特徴とする螢光X線分析用微量試料容
器。 2 容器本体の中央部に、試料充填空間部の開口
径よりも小径であつて、容器本体の上面から前記
試料充填空間部に通ずる試料注入孔を設けてなる
特許請求の範囲第1項に記載の螢光X線分析用微
量試料容器。 3 容器本体の上面から試料充填空間部に通じて
いる空気抜き孔を設けてなる特許請求の範囲第1
項または第2項に記載の螢光X線分析用微量試料
容器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8856977A JPS5423593A (en) | 1977-07-22 | 1977-07-22 | Microsample container |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8856977A JPS5423593A (en) | 1977-07-22 | 1977-07-22 | Microsample container |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5423593A JPS5423593A (en) | 1979-02-22 |
| JPS63734B2 true JPS63734B2 (ja) | 1988-01-08 |
Family
ID=13946486
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8856977A Granted JPS5423593A (en) | 1977-07-22 | 1977-07-22 | Microsample container |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5423593A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001255289A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Horiba Ltd | 液体試料セルおよびこれを用いた上面照射型x線分析方法および装置 |
| US9402426B2 (en) | 2008-04-10 | 2016-08-02 | Asics Corporation | Upper garment |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3791384B2 (ja) * | 2001-10-11 | 2006-06-28 | 株式会社島津製作所 | 光分析用多連装セル |
| US7222406B2 (en) | 2002-04-26 | 2007-05-29 | Battelle Memorial Institute | Methods for making a multi-layer seal for electrochemical devices |
| JP4873188B2 (ja) * | 2008-08-04 | 2012-02-08 | 株式会社島津製作所 | 分光光度計 |
| JP2024001708A (ja) * | 2022-06-22 | 2024-01-10 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 流動試料用試料セル及びこれを用いた蛍光x線分析装置並びに蛍光x線分析方法 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE1232765B (de) * | 1964-12-28 | 1967-01-19 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Fluessigkeitskuevette fuer Polarimeter |
| US3847777A (en) * | 1972-05-08 | 1974-11-12 | Instrumentation Labor Inc | Electrochemical analyzer |
| JPS49134196U (ja) * | 1973-03-20 | 1974-11-18 |
-
1977
- 1977-07-22 JP JP8856977A patent/JPS5423593A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001255289A (ja) * | 2000-03-08 | 2001-09-21 | Horiba Ltd | 液体試料セルおよびこれを用いた上面照射型x線分析方法および装置 |
| US9402426B2 (en) | 2008-04-10 | 2016-08-02 | Asics Corporation | Upper garment |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5423593A (en) | 1979-02-22 |
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