JPS637528A - 光ピツクアツプ装置 - Google Patents

光ピツクアツプ装置

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JPS637528A
JPS637528A JP61150366A JP15036686A JPS637528A JP S637528 A JPS637528 A JP S637528A JP 61150366 A JP61150366 A JP 61150366A JP 15036686 A JP15036686 A JP 15036686A JP S637528 A JPS637528 A JP S637528A
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JP
Japan
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spot
beam splitter
recording medium
light
semiconductor laser
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JP61150366A
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Yutaka Yamanaka
豊 山中
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NEC Corp
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NEC Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光ピックアップ装置に関し、特に、光照射によ
り情報の記録、再生および消去を行う光情報記録装置に
適合する光ピックアップ装置に関する。
〔従来の技術〕
従来、この種の光ピックアップ装置においては、光照射
により情報の記録を行なう記録媒体としては、多結晶と
アモルファスとの間の相変化を利用するものがあシ、こ
の媒体材料としては、Te−0−G e −S n合金
系またはTe−8e−8n合金系などが用いられている
。これらの材料の特徴は、材料に温度変化を与える場合
、急速加熱、急速冷却を行なうとアモルファス化し、比
較的ゆっくりとした加熱、冷却を行なうと結晶化するこ
とである。
この相変化によって、その材料の表面の反射率も変化す
るので、微弱な+1照射することで相状態を知ることが
できる。この相変化を用いることにより、情報の記録、
再生および消去を行うことが可能である。
光デイスク形状において、結晶からアモルファスヘ、ア
モルファスから結晶へと、双方の相変化elトラック幅
内にて実現する手段としては、第3図の平面図に示され
るように、元ピックアップから記録媒体6上に対する円
形スポット102および長円形スポット103’に形成
するものがある。第3図において、記録媒体6が矢印1
01の方向に一定速度で移動しているものとすると、高
いパワーの円形スポット102により言m媒体6の急熱
、急冷が行われ、比較的低いパワーの長円形スポット1
03により記録媒体6の保熱、徐冷が行われて、前記手
段が実現される。この円形スポット102により情報ビ
ットの形成を行い、長円形スポット103により情報ビ
ットの消去を行えば、1トラック幅ごとに記録および消
去を実現することができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の光ピックアップ装置は、第4図に示され
るように、円形スポットと長円形スポットとを形成する
ために、波長の異なる二つの半導体レーザからの出射光
を合波する方法が用いられている。第4図において、半
導体レーザ12からの出射光は、コリメートレンズ14
によジコリメート化され、偏光ビームスプリッタ18に
おいて反射されて、%波長板17および集光レンズ16
を介して記録媒体6上に円形スポットとして集光される
。記録媒体6からの反射光は、集光レンズ16、%波長
板17、偏光ビームスプリ、り18、%波長板19およ
び波長フィルタ20を介して、検出光学系22に導かれ
る。−方、長円形スポットを形成する半導体レーザ13
かもの出射光は、コリメートレンズ15およびシリンド
リカルレンズ21を通過し、偏光ビームスプリ、り18
において反射されて、%波長板19を介して波長フィル
タ20に到達する。この波長の光は反射されて記録媒体
6上に集光される。しかしながら、この従来の光ビック
アップ装置は、その構成が複雑であシ形状も大型化する
とともに、円形スポットおよび長円形スポットの焦点位
置合わせが困難であるという欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の元ピックアップ装置は、半導体レーザの出射光
?微小スポットにして記録媒体に照射し、前記記録媒体
からの光を光検出器に導く光学系を備える光ピックアッ
プ装置において、前記半導体レーザとして、それぞれ独
立に駆動可能な複数の発光点を有し、且つ前記発光点の
内の少くとも一つの発光点の発振軸モードがマルチモー
ドである半導体レーザと、前記半導体レーザと前記記録
媒体との間に、透過型または反射型グレーティング素子
の回析光を利用する光路変換素子と、を備えて構成され
る。
〔作用〕
第2図において、ピッチがdの透過型のグレーティング
素子3に対して、波長λの光が入射角θにて入射される
場合を考えると、次式が成立する。
d sinθ=λ 入射光の波長が△λ変化すると、出射光のビーム角度は
次式のΔθだけ変化する。
Δθ=sinθ・(Δλ/λ) 集光レンズの焦点距離をfとすると、記録媒体上におい
てはf・(△θ)のスポット中心のずれとなる。θ=3
0°、λ=800nm(ナノ・メートル)、△λ”0.
3nmおよびf = 4 mm (ミリ・メートル)と
すると、f・(Δθ)〜0.7μm(ミクロン)となる
−方、共振器長300μmの半導体レーザの軸モード間
隔は約Q、3nmであるので、△λの波長変化に対応し
て、隣接軸モード間においてスポット位置が0.7μm
ずれることになる。一つの軸モードによる円形スポット
径の大きさが1μmφ程度でおるので、半導体レーザが
マルチモード発振をしている状態においては、モード数
に対応する長さの長円形スポットを記録媒体上に形成す
ることができる。このことは、グレーティング素子の代
りに反射型のグレーティング素子を用いる場合も、その
効果は同様である。グレーティング素子としては、単純
格子だけでなく、集光レンズ等の代りに使用されるオフ
アクシス型のゾーンプレートレンズでもよく、また、ブ
レーズ型格子でも回折効率が十分に得られる。
光源としては、複数の発光点を独立に駆動することがで
きるアレイ凰の半導体レーザを用い、少くとも一つの発
光点の軸モードがマルチモードであり、他の発光点が単
一モードであれば、グレーティング素子により容易に円
形スポットと長円形スポットとの両スボ、トヲ形成する
ことができる。
光源の発光点が三つ以上ある場合には、記録および消去
だけでなく、記録前後または消去前後のディスク状態の
チエ、り等が可能となる。
〔実施例〕
以下、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は、本発明の一実施例の構成を示す図である。第
1図に示されるように、本実施例は、アレイ型半導体レ
ーザ1と、コリメートレンズ2と、グレーティング素子
3と、ビームスプリッタ4と、集光レンズ5と、収束レ
ンズ7と、ビームスプリ、り8と、トラ、クエラー検出
器9と、ナイフエ、ジ10と、フォーカスエラー検出器
11と、を備えており、記録媒体6に対応して構成され
る。
第1図において、アレイ型半導体レーザ1からの出射ビ
ームは、コリメートレンズ2によりコリメートされグレ
ーティング素子3により光路が曲ケラれて、ビームスプ
リッタ4に送られる。更に。
ビームスプリッタ4および集光レンズ5を介して記録媒
体6上にスポットとして収束される。この場合、発光点
が単一モードであれば円形スポットが形成され、マルチ
モードであれば長円形スポットが形成される。記録媒体
6からの反射光は、ビームスプリッタ4および収束レン
ズ7を経由してビームスプリッタ8に入射され、ビーム
スプリッタ8において分離されて、−部はトラックエラ
ー検出器9に、−部はナイフェツジ10を介してフォー
カスエラー検出器11に、それぞれ入射される。これら
の反射光よりスポット位置エラーが検出される。本実施
例の構成においては、グレーティング素子3は撰円ビー
ムを円形化するビーム整形機能をも兼え備えている。な
お、グレーティング素子3の配置位置は、ビームスプリ
ッタ4と集光レンズ5との間に設定されてもよい。
なお、アレイ型半導体レーザの複数の発光点を同時に発
光させ、それぞれの発光点に対応する各スポットからの
反射光を個別に受光する場合には、反射ビームを集束し
て分離し、アレイ型光検出器等によシ、それぞれの元を
受光すればよい。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明は、比較的簡易な構成によ
り、所定の円形スポットおよび長円形スポットを容易に
形成することのできる元ピックアップ装置を提供するこ
とができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明の一実施例の構成を示す図、第2図は本
発明の詳細な説明するための透過型グレーティング素子
の概念図、第3図は記録媒体上のビームスポットを示す
図、第4図は、従来の光ピックアップ装置の構成を示す
図である。 図において、1・・・・・・アレイ型半導体レーザ、2
゜14.15・・・・・・コリメートレンズ、3・・・
・・・グレーティング素子、4,8・・・・・・ビーム
スプリッタ、5゜16・・・・・・集光レンズ、6・・
・・・・記録媒体、7・・・・・・集束レンズ、9・・
・・・・トラックエラー検出器、10・・・・・・ナイ
フェツジ、11・・・・・・フォーカスエラー検出器、
12.13・・・・・・半導体レーザ、17.19・・
・・・・〆波長板、18・・・・・・偏光ビームスプリ
ッタ、20・・・・・・波長フィルタ、21・・・・・
・シリンドリカルレンズ、第 / 図 乎2 図 喰3 図 皇4 面

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 半導体レーザの出射光を微小スポットにして記録媒体に
    照射し、前記記録媒体からの光を光検出器に導く光学系
    を備える光ピックアップ装置において、前記半導体レー
    ザとして、それぞれ独立に駆動可能な複数の発光点を有
    し、且つ前記発光点の内の少くとも一つの発光点の発振
    軸モードがマルチモードである半導体レーザと、前記半
    導体レーザと前記記録媒体との間に、透過型または反射
    型グレーティング素子の回析光を利用する光路変換素子
    と、を備えることを特徴とする光ピックアップ装置。
JP61150366A 1986-06-25 1986-06-25 光ピツクアツプ装置 Expired - Lifetime JPH0792926B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61150366A JPH0792926B2 (ja) 1986-06-25 1986-06-25 光ピツクアツプ装置

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JP61150366A JPH0792926B2 (ja) 1986-06-25 1986-06-25 光ピツクアツプ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS637528A true JPS637528A (ja) 1988-01-13
JPH0792926B2 JPH0792926B2 (ja) 1995-10-09

Family

ID=15495424

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61150366A Expired - Lifetime JPH0792926B2 (ja) 1986-06-25 1986-06-25 光ピツクアツプ装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111337901A (zh) * 2020-04-03 2020-06-26 深圳煜炜光学科技有限公司 一种远距离探测的激光雷达及其探测方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56158319A (en) * 1980-05-09 1981-12-07 Mitsubishi Electric Corp Light projecting device
JPS59146013A (ja) * 1983-12-23 1984-08-21 Sony Corp 光学装置
JPS6154688A (ja) * 1984-08-25 1986-03-18 Fujitsu Ltd 半導体発光装置

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JPH0792926B2 (ja) 1995-10-09

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