JPS637537A - 記録媒体検査装置 - Google Patents

記録媒体検査装置

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JPS637537A
JPS637537A JP15102886A JP15102886A JPS637537A JP S637537 A JPS637537 A JP S637537A JP 15102886 A JP15102886 A JP 15102886A JP 15102886 A JP15102886 A JP 15102886A JP S637537 A JPS637537 A JP S637537A
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Hideo Goto
英夫 後藤
Toshinari Suematsu
末松 俊成
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Nakamichi Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は記録媒体検査装置に関し、データ処理により記
録媒体の性能(記録媒体上におけるエラーの位置、エラ
ー分布等)や記録再生装置の性能(光学系、サーボ系、
電気回路部、変調方式など記録データの品質等)の評価
、検討を行なうものである。
[従来の技術] 従来、ディスク上のエラー発生位置を検出する装置が実
開昭61−21060号公報により提案されている。こ
のエラー位置検出装置はディスク1回転の間で所定のグ
ロックパルスをカウントして位置情報を発生するカウン
タを備えており、前記ディスクを検査する過程で発生す
るエラー信号に同期して前記カウンタのカウント値をエ
ラー位置情報として記憶手段に記憶する。またディスク
回転速度の変動に対処するために、1回転分のカウント
値をその都度読取り、この1回転分のカウント値の大き
さに応じて前記記憶したエラー位置情報(カウント値)
を修正し、正しい位置情報を求めるものである。
口発明が解決しようとする問題点] 従来のエラー位置検出装置はエラー情報を記録するメモ
リのアドレスがクロックパルスをカウントするカウンタ
により決定され、各アドレスにはクロックパルスに応答
してエラー識別信号が書込まれる。このためメモリは大
容量を必要としコストの増大を招く。更にディスク回転
速度の変動に対処するために、1回転分のカウント値を
その都度読取る必要性がある等の欠点があった。
本発明は上述の点に鑑みてなされたものであり、ディス
ク型記録媒体の検査データを大容量のメモリを必要とす
ることなく記録することが可能な、ディスク型記録媒体
検査装置を提供するものである。
更に本発明の記録媒体検査装置はエラーパターン信号及
びディスク基準位置検出信号を全て取込む方式をとるた
め、コンピュータで本装置が取込んだデータを処理する
ことにより、ディスク上でエラー位置がどのように発生
しているか調べ、エラーの分布を知ることができる。ま
たソリッドバーストエラー長(誤ったシンボルが連続し
たもの)、EFラン長(正しいシンボルが連続したもの
)の分布を作図することによって、エラーがランダムに
発生するものなのか、バースト状に発生するものなのか
を知ること等、種々の評価、検討が可能となる。
[問題点を解決するための手段] 記録媒体に所定のデータを記録再生し、その過程で生じ
るエラーを検出することにより記録媒体の検査を行なう
、記録媒体検査装置において、前記データの単位データ
をもって、記録再生エラーの有無を検出し、該記録再生
エラー検出の有無に応じて第1及び第2の状態をとるエ
ラーパターン信号を発生するエラーパターン発生手段と
、前記単位データと同一周期のカウントパルスを発生す
るカウントパルス発生手段と、前記記録媒体の基準位置
表わす、基準位置検出信号を出力する位置検出手段と、
前記エラーパターン信号の状態反転時及び基準位置検出
信号入力時にクリアパルスを出力するクリアパルス発生
手段と、前記カウント。
パルスでカウントし、前記クリアパルスでカウント値を
クリアする第1のカウンタ手段と、前記クリアパルスで
カウントする第2のカウンタ手段と、書込み制御信号に
基づき、前記第2のカウンタ手段のカウント値で指定さ
れるアドレスに、前記エラーパターン信号及び前記第1
のカウンタ手段のカウント値からなる書込みデータをメ
モリするメモリ手段と、前記メモリ手段に書込み制御信
号を出力する書込み制御信号発生手段を備える。
[作用] 第1のカウンタ手段はカウントパルスをカウントするこ
とによって、そのカウント値がEFシランたはソリッド
バーストエラーの連続数を示し。
第2のカウンタ手段はクリアパルスをカウントすること
によって、そのカウント値がメモリ手段のアドレスを示
す。メモリ手段は第2のカウンタ手段により指定された
アドレスに、エラーパターン信号及び第1のカウンタ手
段のカウント値からなる書込みデータを記録する。この
書込みデータのエラーパターン信号は、EFシランソリ
ッドバーストエラーかの書込みデータ種類を示し、第1
のカウンタ手段のカウント値はその長さを示す。
[実施例] 以下、本発明の一実施例を図面を参照しながら詳細に説
明する。
第1図は本発明の記録媒体検査装置を示すブロック図、
また第2図(a)〜(c)は第1図に示される記録媒体
検査装置の一動作例を示すタイミングチャートである。
1はデータ発生器2にデータクロックRDCKを出力す
ると共に、コントロールラインC1により、データ系列
M s s qのスタート、ストップ等の制御を行なう
記録系コントローラである。2はディスクに記録するデ
ータ系列M s e qをデータクロックRDCKに同
期して出力するデータ発生器である。8ビットのシンボ
ル単位からなる。データ系列M s e qのパターン
を以下に示すが、各シンボルのデータ値は16進法によ
る値を用いている。
・・・・・・000000000000 FF FF 
FF FF FF MlM。
k−開始パターンーー→←− M、 ・−・”・・Mn−□Mn 000000000
00000 ・・・・・・−テストパターン−→に終了
パターン例上記データ系列M s e qは3回以上連
続するデータ[00]に続いて、データ[F F]が5
回連続することで示される開始パターンと、擬似ランダ
ム系列である20次のM系列(周期は2”−1ビット)
で示されるテストパターンと、データ[00Fが5回連
続することで示される終了パターンから形成されている
。またテストパターンの長さは記録時間に合わせて決め
られ、記録時間の長いときは同じ系列が繰返される。
3はEFM変調器を示し、記録系コントローラ1からの
データクロックRDCK及びデータ発生器2から出力さ
れる8ビットシンボルのデータ系列M s e qを夫
々入力してEFM変調を行なった後、データクロックR
DCKに同期して14ビットシンボルのデータ系列M、
Mseqを出力する。
4は光学的記録再生装置を示し、EFMFM変調器ら出
力されるデータ系列M、Mseqを、1フレーム588
チヤンネルビットからなる以下のフォーマットに従って
被検査ディスク(図示しない)に線速度−定(CLV制
御)で記録する。
l  5ync+Sub code IDxlDiID
ii・”・・・=・・lDi、1Dizlk44 ch
annel bit4e−32X17 channel
 bit−一に−I Frame (588chann
el bit)−一一箋上記フオーマットの各データ口
工〜D32はデータ系列M、Msaqの各データ(14
ビット)にエキストラビット(3ビット)を付は加えた
ものである。この記録フォーマットはコンパクトデイス
フ(CD)フォーマットに準じたもので、主に光学的記
録再生袋−4の再生時におけるCLV制御を正確に動作
させる為に必要とする。
また光学的記録再生装置4は、再生時において位置検出
手段(図示しない)により、ディスク1回転毎に1パル
スのディスク基準位置検出信号RSYNCを、後述する
再生系コントローラ8に出力する。この位置検出手段は
、例えば被検査ディスクのレーベル部に貼られたラベル
を光学的に検出することにより実現できる。また、ディ
スク駆動方式がダイレクトドライブ方式の場合はモータ
から信号を得ることも可能であるがディスクのエラー位
置を検出するためには前者が好ましい65はデータクロ
ックPDCKを出力すると共に、光学的記録再生装置4
から出力される再生データM、PBD (14ビット)
を再生データPBD(8ビット)にEFM復調するEF
M復調器である。
6はE F M復調器5から出力されるデータクロック
PDCKに同期して、データ系列M s e qを出力
するデータ発生器であるが、このデータ系列M s e
 qはデータ発生器2から出力されるデータ系列M s
 e qのテストパターンと同一のものである。
7はEFMFM復調器ら、データクロックPDCKに同
期してパラレル状態で出力される再生データPBDと、
データ発生器6からパラレル状態で出力されるデータ系
列M s e qを、シンボル単位(8ビット)毎に比
較するデータ比較器であり、再生データPBDとデータ
系列M s e qが同一の場合は“HI+倍信号、異
なる場合はIF L I+倍信号なるエラーパターンC
OMPを出力する。
8は再生系コントローラ、9は16ビットのラン長カウ
ンタ、10は14ビットのアドレスカウンタ、11は4
Kワード(1ワード=16ビット)のランダムアクセス
メモリ(以下RAMIIと略す)を夫々示す。
再生系コントローラ8は、EFMFM復調器ら出力され
るデータクロツタPDCK、再生データPBDが夫々入
力され、再生データPBDを読取ることにより開始パタ
ーン、終了パターンを検出する。そしてコントロールラ
インC2によりデータ発生器6から出力されるデータ系
列Mseqのスタート、ストップ制御を行なう。
再生系コントローラ8とラン長カウンタ9間、及びアド
レスカウンタ10間は夫々コントロールラインC3、C
4で接続され、再生系コントローラ8からは初期リセッ
ト信号が、またアドレスカウンタ10、ラン長カウンタ
9からはオーバーフロー検出信号が夫々出力される。
また再生系コントローラ8はカウントクロックECKを
ラン長カウンタ9の入力端子に、クリア信号CLRをラ
ン長カウンタ9のクリア端子とアドレスカウンタ1oの
入力端子に夫々出力する。
カウントクロックECKはデータクロックPDCKと同
一周期で所定時間遅延された信号であり、エラーパター
ンの測定中出力される。クリア信号CLRは、エラーパ
ターンGOMPの極性反転時またはラン長カウンタ9の
オーバーフロー検出時には1パルスのパルス信号として
、また基準位置検出信号RSYNCの入力時には2パル
スのパルス信号として、夫々後述するタイミングで出力
される。
ラン長カウンタ9は、カウントクロックECKを逐次カ
ウントしてこのカウントデータを常時RAMIIのデー
タ入力端子に出力するが、クリア信号CLRの入力毎に
0スタートを繰り返す。−方アドレスカウンタ10はク
リア信号CLRを逐次カウントし、このカウント値をア
ドレスとして常時RAMIIのアドレス入力端子に出力
する。
RAMIIはラン長カウンタ9のカウントデータと共に
、エラーパターンCOMPを遅延回路15及びインバー
タINV16を介して形成された極性信号KSを書込み
データとして入力する。そして、再生系コントローラ8
から出力される書込み制御信号WEがII L 11信
号になったときに、アドレスカウンタ1oのカウントデ
ータにより指定されるアドレスに書込みデータを書込む
なおRAMIIは、再生系コントローラ8から出力され
る読出し制御信号OEがNL11信号の時に、指定され
るアドレスのデータを出力する。また書込み制御信号W
EはデータクロツタPDCKと同一周期で遅延された反
転パルス信号であるが、基準位置検出信号R5YNCの
入力時には、2パルスの反転信号が後述するタイミング
で重畳される。
RAMIIに書込まれる書込みデータは、16ビットの
データをビット列とし、最上位ビットをビット極性信号
KSのデータとする第1のブロックと、下位15ビット
をラン長カウンタ9のカウントデータとする第2のブロ
ックとからなる。このビット列の最上位ビットのJF 
Qll 、 u il+は、ビット極性信号KSの”L
 11 、 n HI+に夫々対応し、後述する如く、
下位15ビットのデータ種類を表わしている。また下位
15ビットが全て0の場合は最上位ビットに関係なく基
準位置検出信号を示す。
次に、データクロックPDCKの1周期間において、上
記再生系コントローラ8から出力されるカウントクロッ
クECK、クリア信号CLR及び書込み制御信号WEの
出力順序を説明する。
1)エラーパターンCOMPの極性が同一の時は、カウ
ントクロックECK、書込み制御信号WEの順序で出力
される。
2)エラーパターンCOM、 Pの極性反転時またはラ
ン長カウンタ9のオーバーフロー検出時は、クリア信号
CLR、カウントクロックECK、書込み制御信号WE
の順序で出力される。
3)基準位置検出信号R8YNCが入力された時は、後
述するタイミングでクリア信号CLR1書込み制御信号
WEの順序で交互に2回づつ、追加出力される。
12はコンピュータであり、コンピュータ12と再生系
コントローラ8はコントロールラインC1により相互の
制御が行なわれる。コンピュータ12はアドレスカウン
タ10のカウントデータが入力され、テストデータの測
定終了時にそのカウント値をアドレスの最終値として読
取る。またコンピュータ12はRAMIIに書込まれた
データを取込むべく、コントロールラインC7によリコ
ントロールラインC6により再生系コントローラ8から
出力される読出し制御信号○Eを制御して、RAMII
のデータを取込む。
13はプリンタ、14はデイスプレィであり、コンピュ
ータ12が取込んだデータのデータ処理結果を表示する
以下、第2図(a)〜(c)のタイミングチャートに従
ってこれ等の一動作例を説明する。
なお、く 〉内に付した番号は動作順序を示し、[]内
に付した値はデータ値を示す。
再生データPBDはそのシンボル値[D□コ〜[Dnl
に記号′が付されるとエラーが発生したシンボル値とし
、またラン長カウンタ9及びアドレスカウンタ1oのカ
ウント値表現には10進法による値を用いている。
(1)データ系列の記録 データ発生器2は記録系コントローラ1の制御により、
開始パターン、テストパターン、終了パターンの順序で
データ系列M s e qを出力する。
このデータ系列MseqはEFM変調器3でEFM変調
され、光学的記録再生装置4Kより前記した規定のフォ
ーマットで被検査ディスク(図示しない)に記録される
(2)テストデータの測定 次にデータ系列M s e qが記録された被検査ディ
スクは光学的記録再生装置4Kより再生される。
光学的記録再生装置4から出力される再生データM、P
BDはEFMtx調器5によりEFM復調され、再生デ
ータPBDとなる。
再生系コントローラ8はEFM復調器5から出力される
データクロックPDCKのタイミングで再生データM、
PBDの値を読取り、その開始パターンの検出を行なう
。再生系コントローラ8は開始パターンを検出すると、
コントロールラインC2によりデータ発生器6を制御し
、再生データPBDとデータ発生器6から出力されるデ
ータ系列M s e qのテストパターンの同期を取る
。以後再生データPBDとデータ系列M s e qは
データクロックPDCKに同期して出力される。
また再生系コントローラ8は再生データPBDの開始パ
ターンを検出すると、コントロールラインC1、C4K
よりラン長カウンタ9及びアドレスカウンタ10を夫々
初期リセットし、そのカウント値をクリアする6 データ比較器7は、同期した再生データPBDとデータ
系列M s e qのデータ値を比較し、再生データP
BDのエラーを判別する。
第2図(a)に示されるように、データ比較器7はデー
タクロックPDCK<O>に同期する再生データPBD
<1>のシンボル値[D工]とデータ系列Msaq<1
>のシンボル値[dエコを同一と判断し、エラーパター
ンGOMP<2>をII H1+信号とする。次に、ラ
ン長カウンタ9は再生系コントローラ8から出力される
カウントクロックECK<3>により、そのカウント値
く4〉を口1]とする。RAMIIは書込み制御信号W
E〈5〉により、アドレスカウンタ10のカウント値(
以下アドレス値と称す)[0コのアドレスに書込みデー
タを書込むが、このとき書込みデータの第1のブロック
である最上位ビットは極性信号KSの′″L I+倍信
号対応する[○コとなり、また第2のブロックである下
位15ビットで示す値はラン長カウンタ9のカウント値
[1コとなる。
次にデータ比較器7はデータクロックPDCKく6〉に
同期する再生データPBD<7>のシンボル値[D2′
コとデータ系列Mseq<7>のシンボル値[d2]を
異なると判断し、エラーパターンCOMP<8>をIT
 L”信号とする。これに伴って再生系コントローラ8
からクリア信号CLR<9>が出力され、ラン長カウン
タ9のカウント値〈10〉はクリアされて[0コとなり
、アドレスカウンタ10のカウント値く11〉は[1コ
となる。次にラン長カウンタ9はカウントクロックEC
K<12>により、そのカウント値<13〉を[1]と
する。ここでエラーパターンG OMPく8〉がI+L
++信号になってからの経過時間が遅延回路15で設定
した遅延時間となり、極性信号KS<14>がII H
″′′信号る0次にRA Mllは書込み制御信号WE
<15>により、アドレス値[1コのアドレスに、第1
のブロックの値[1]、第2のブロックの値[1]の書
込みデータを書込む。
次にデータ比較器7はデータクロックPDCK〈16〉
に同期する再生データPBD<17>のシンボル値[D
、′コとデータ系列M s e q (17〉のシンボ
ル値[d1]を異なると判断し、エラーパターンCOM
P<18>をITL11信号とする。従って、ラン長カ
ウンタ9はカウントクロックECK<19>により、そ
のカウント値<20〉を[2]とする。RAMIIは書
込み制御信号WE<21>により、アドレス値[1コの
アドレスに、第1のブロックの値[1]、第2のブロッ
クの値[2]の書込みデータを書き込んで、その書込み
データを更新する。
次にデータ比較器7はデータクロックPDCKく22〉
に同期する再生データPBD<23>のシンボル値[D
4コとデータ系列Mseq<23〉のシンボル値[d4
]を同一と判断し、エラーパターンCOMP<24>を
”H”信号とする。
この極性反転に伴って出力されるクリア信号CLR<2
5>により、ラン長カウンタ9のカウント値く26〉が
クリアされて[O]となり、アドレスカウンタIQのカ
ウント値く27〉は〔2コとなる0次にラン長カウンタ
9はカウントクロックECK<28>により、そのカウ
ント値く29〉を[1]とする。ここでエラーパターン
COMP〈24〉の極性反転から所定時間経過し、極性
信号KS<30>がPtL11信号となる。RAM11
は書込み制御信号WE<31>により、アドレス値[2
]のアドレスに、第1のブロック値[0]、第2のブロ
ック値[1]の書込みデータを書込む。
次にデータ比較器7はデータクロックPDCKく32〉
に同期する再生データPBD<33>のシンボル値[D
、]とデータ系列Mseq<33〉のシンボル値[d、
]を同一と判断し、エラーパターンCOMP<34>を
It )(I+倍信号する。
従ってラン長カウンタ9はカウントクロックECK<3
5>により、そのカウント値〈36〉を[2コとする。
以下同様にデータ比較器7はデータクロックPDCK<
38>、く44〉に同期する両シンボル値を同一と判断
するもので、ラン長カウンタ9はカウントクロックEC
K<41>、く47〉によりそのカウント値く42〉、
く48〉を[3コ、[4コとし、書込み制御信号WE<
43>、く49〉によりRAMIIのアドレス値[2コ
のアドレスに書き込まれる。書込みデータの第2のブロ
ックの値は[3]、[4]と更新される。
次にデータ比較器7はデータクロックPDCK〈50〉
に同期する再生データPBD<51>のシンボル値[D
、’ ]とデータ系列Mseq(51〉のシンボル値[
d8コを異なると判断し、エラーパターンCOMP<5
2>をII Ll+信号とする。この極性反転に伴って
出力されるクリア信号CLR<53>により、ラン長カ
ウンタ9のカウント値く54〉がクリアされて[0コと
なり、アドレスカウンタ10のカウント値〈55〉は[
3コとなる。次にラン長カウンタ9はカウントクロック
ECK<56>により、そのカウント値〈57〉を[1
]とする。ここでエラーパターンCOMP<52>の極
性反転から所定時間が経過し、極性信号KS<58>が
jlH1+信号となる。RAM11は書込み制御信号W
E<59>により、アドレス値[3]のアドレスに第1
のブロックの値[1コ、第2のブロックの値[1コの書
込みデータを書込む。
以上のようにRAMIIにはEFラン長及びソリッドバ
ーストエラー長の書込みデータが順次書込まれていく。
次にEFラン長をカウント中に基準位置検出信号R3Y
NCが入力された場合を第2図(b)に想定して説明す
る。
データ比較器7はデータクロックPDCK<60〉に同
期する再生データPBD<61>のシンボル値[D、]
とデータ系列Msaq<61>のシンボル値cd、]を
同一と判断し、エラーパターンCOMP<62>を”H
”信号とする。この極性反転に伴って出力されるクリア
信号CLR<63〉により、ラン長カウンタ9のカウン
ト値〈64〉がクリアされて[0コとなり、アドレスカ
ウンタ1oのカウント値〈65〉は[4]となる。
次にラン長カウンタ9はカウントクロックECKく66
〉により、そのカウント値く67〉を[1]とする。こ
こでエラーパターンCOM P < 62 >の極性反
転から所定時間が経過し、極性信号KS〈68〉がII
 L”信号となる。RAM11は書込み制御信号WE<
74>により、アドレス値[4コのアドレスに第1のブ
ロックの値[0] 、第2のブロックの値[1]の書込
みデータを書込む。
以下同様にデータ比較器7は、データクロックPDCK
<70>、(76>に同期する両シンボル値を夫々同一
と判断し、ラン長カウンタ9はカウントクロックECK
<73>、く79〉によりそのカウント値く74〉、〈
80〉を[2]、[3]とし、RAMIIアドレス値[
4コのアドレスに書き込まれる書込みデータの第2のブ
ロックの値は、書込み制御信号WE<75>、 <81
〉により[2コ、[3コと更新される。
次にデータ比較器7はデータクロックPDCKく82〉
に同期して再生データPBD<83>のシンボル値[D
工2コとデータ系列Mseq(83〉のシンボル値[d
、、]を同一と判断し、エラーパターンCOMP<85
>を”HI+倍信号する。
再生系コントローラ8は、光学的記録再生装置4から出
力される基準位置検出信号R5YNCを、書込み制御信
号WEの立下りのタイミングで取込む。そして次のカウ
ントクロックECKを出力する間にクリア信号CLR,
,?込み制御信号WEの順序で交互に2同各パルス信号
を出力するが、1回目のクリア信号の出力タイミングは
、エラーパターンCOMPの極性反転時に出力するクリ
ア信号のタイミングと一致するように設定されている。
従って書込み制御信号WE<81>の立下り時に、基準
位置検出信号5YNCを取込むと、1パルス目のクリア
信号CLR<85>により、そのカウント値〈86〉が
クリアされて[01となり、アドレスカウンタ10のカ
ウント値く87〉は[5コとなる。RAMIIはクリア
信号CLR<85>の後に出力される書込み制御信号W
E<88>により、アドレス値[5]のアドレスに第1
のブロックの値[0] +第2のブロックの値[0]の
書込みデータを書込む。そして2パルス目のクリア信号
CLR<89>により、ラン長カウンタ9のカウント値
く90〉は再度クリアされて[0コとなり、アドレスカ
ウンタ10はそのカウント値〈91〉は[6]となる。
RAMIIはクリア信号CLR<89>の後に出力され
る書込み制御信号WE<92>により、アドレス値[6
コのアドレスに第1のブロックの値[0]、第2のブロ
ックの値[0]の書込みデータを書込む。そしてラン長
カウンタ9はカウントクロックECK<93>により、
そのカウント値く94〉を[1]とする。
RAMIIは書込み制御信号WE<95>により、アド
レスカウンタ1oのカウント値[6]のアドレスに、第
1のブロックの値[0]、第2のブロックの値[1コの
書込みデータを再び書込む。
以下同様にして、書込みデータの書込みが行なわれ、カ
ウントクロックECK<114>の出力までに、RAM
IIのアドレス値[6コのアドレスに書き込まれる書込
みデータの第2のブロックの値は[4]となる。
次にEFシラン連続し、ラン長カウンタ9の下位15ビ
ットがオーバーフロー(カウント値[32767])し
た場合を第2図(C)に想定して説明する。
データ比較器7はデータクロックPDCK<114〉に
同期する再生データPBD<115>のシンボル値CD
、、コとデータ系列Mseq<115〉のシンボル値[
clig]を同一と判断し、エラーパターンCOMP<
116>をIt HTt信号とする。その後もEFシラ
ン連続することにより、データ比較器7は両データを同
一と判断し続ける。
そして書込み制御信号WE<123>が出力された段階
において、RAMIIのアドレス値[6]のアドレスに
書き込まれる書込みデータの第2のブロックの値は[3
2766]となる。
更に、データ比較器7はデータクロツタPDCK<12
4>に同期する再生データPBD<125〉のシンボル
値[D 327 ?□コとデータ系列Mseq<125
>のシンボル値Cd 3zttiコを同一と判断し、エ
ラーパターンGOMP<126>をrJ H”信号とす
る。ラン長カウンタ9はカウントクロックECK<12
7>により、そのカウント値<128>を[32767
コとする。この時点で、ラン長カウンタ9はオーバーフ
ロー検出信号を再生系コントローラ8に出力する。再生
系コントローラ8はこのオーバーフロー検出信号を入力
すると、エラーパターン信号COMPの極性反転時に出
力するクリア信号の出力タイミングでクリア信号CLR
<133>を出力する。RAM11は書込み制御信号W
E<129>により、アドレス値[6]のアドレスに第
1のブロックの値[○]、第2のブロックの値[:32
767]の書込みデータを書込む。
次にデータ比較器7はデータクロックPDCK<130
>に同期する再生データPBD<131〉のシンボル値
CD、□77、]とデータ系列Mseq<131>のシ
ンボル値Cd s27%g]を同一と判断し、エラーパ
ターンGOMP<132>をII H”信号とする。こ
こで前述したラン長カウンタ9のオーバーフロー検出に
よるクリア信号CLR<133>により、ラン長カウン
タ9のカウント値<1.34>がクリアされて[01と
なり、アドレスカウンタ1oのカウント値<135>は
[7コとなる。次にラン長カウンタ9はカウントクロッ
クE:CK<136>により、そのカウント値<137
>を[1]とする。Rlbillは書込み制御信号WE
<138>により、アドレス値[7]のアドレスに、第
1のブロック値[○]、第2のブロックの値[1コの書
込みデータを書込む。
以下同様にデータ比較器7はデータクロックPDCK<
139>、<145>、<151>に同期する両シンボ
ル値を夫々同一と判断するもので、RAMIIのアドレ
ス値[7コのアドレスに書き込まれる書込みデータの第
2のブロックの値は[2]、[3コ、[4]と更新され
る。
以上のようにテストデータが順次比較され、RAMII
は本発明のビット列表示方法による書込みデータを記録
していく。そして再生系コントローラ8が再生データP
BDの終了パターンを検出するとテストデータの測定を
終了する。
上記動作例においてRAMIIに記録された書込みデー
タ内容を表1に示す。
なお、アドレス[7コのデータ値[oooo。
00000000100]は必ずしも最終値テハなく、
例えば次の再生データP B D [Dzz7−3コと
データ系列M s a CZ [dizt*ilが同一
であれば増加する。
表1に示されるように、RAM11の各アドレスにはテ
ストデータの測定開始後、EFラン長が1シンボル、ソ
リッドバーストエラー長が2シンボル、EFラン長が4
シンボル、ソリッドバーストエラー長が1シンボル、E
Fラン長が3シンボル、基準位置検出信号、EFラン長
が32767シンボル、EFラン長が4シンボル、・・
・・・・と記録媒体の検査結果が順次記録されている。
(3)データ処理 テストデータの測定が終了するとコンピュータ12はR
AMIIのデータを取込み、各種のプログラムによりデ
ータ処理を行なう。
コンピュータ12はRAMIIの使用されたアドレスの
最終値を知るためアドレスカウンタ10のカウントデー
タを読み取る。次に、コンピュータ12は所要のプログ
ラムにより、順次アドレスを0から最終値まで指定し、
また再生系コントローラ8から出力される読出し制御信
号OEを所要のタイミングで”L”信号にして、RAM
IIに記録されたデータを読出し、内部RAM (図示
しない)に取込む。次にコンピュータ12は所要の評価
プログラムによりデータ処理を行ない、その結果をプリ
ンタ13、デイスプレィ14K表示をする。
第3図、第4図は実際の測定結果を表示したもので、そ
のときの測定データは以下の通りである。
ディスク      : 追記型光デイスク記録レーザ
ーパワー :  4.8 (mW)再生レーザーパワー
 :  0.3 (mW)線速度       :  
1.8 (m/s)測定時間      :  59 
 (sec)総データ数     :  4096 総シンボル数    :  14046359誤リシン
ポル数  :  2896 シンボル誤り率   :  2.06D−04基準位置
検出信号  = 591 第3図(a)は横軸をシンボル数、縦軸をトラック数と
し以下の条件によりディスク上のエラー分布を示したも
のである。
1)RAMIIの各アドレスに記録された書込みデータ
の第2ブロツクのカウント値を、横軸のスケールに従っ
て左から右ヘアドレス順に並べる。
2)書込みデータの第1のブロックの値が[0コの場合
、即ち第2のカウント値がEFラン長を示すときは、相
当する長さだけ黒印字し、第1のブロックの値が[1コ
の場合、即ち第2のブロックのカウント値がバーストエ
ラー長を示すときは、相当する長さだけ空白とする。
3)書込みデータの第2のブロックの値が[01の基準
位置検出信号のときは、次のトラックに移る。
以上の条件で表示することにより、ディスク上のキズ、
ホコリ等による記録再生時のエラー部分を視覚的に確認
できる。また各トラック毎のシンボル数(グラフ上の右
端部の位置)を比較することで光学的記録再生装置4の
CLV制御状態が判る。
第3図(b)は第3図(a)の横軸をディスクの回転角
度として表示したもので、この表示方法によればエラー
位置およびその大きさがトラック数及び角度から正確に
検出することができる。
第4図(a)及び(b)は、夫々横軸をシンボル数、縦
軸をその発生回数としたEFラン長分布及びソリッドバ
ーストエラー長分布を示している。
また1図中の実線A、Bはエラーがランダムに発生する
場合の分布を計算によって求めたものである。第4図の
例ではこの実線から大きくはずれており、バースト状の
エラーが多く発生していることが判る。
なお、本発明は上記実施例に限定されることなく1種々
の態様を取得るものである。
例えば第5図に示す如く、第2図(a)の極性信号KS
以下の動作タイミングをΔtだけずらすことも出来る。
またこの場合には書込み制御信号WEの出力回数を減ら
すことも出来る。つまりエラーパターンGOMPの極性
反転を検出した後、書込み制御信号WEを出力するよう
に構成すれば、最終的にRAMIIにメモリされる書込
みデータを変えることなく、極性反転を検出しないとき
の書込み制御信号WE (第5図中、<18>、<34
〉、〈4o〉、<46>)は省略することが出来る。
上記実施例ではエラーパターン信号G OM Pを再生
データPBDとデータ系列M s e qをシンボル単
位の比較によって検出しているが、ビット単位の比較に
よって検出したり、誤り訂正用エンコーダ、デコーダを
用いることによる検出や、再生信号のドロップアウトに
よって検出することも出来る。またテストパターンに擬
似ランダム系列を用いているが一定系列を用いることも
出来る。
また光学的記録再生装置4はディスク型記録媒体に記録
再生を行うものとしているが、カード型記録媒体等、記
録媒体の形式に関係はなく、また記録再生方法も光学的
に限定されることなく、磁気的等によることも出来る。
更に検査ディスクの記録再生に際して、変調方式、フォ
ーマットの方式の変更や、誤り訂正用エンコーダ、デコ
ーダを介することもできる。
[発明の効果] 以上のように本発明装置によると、記録再生のエラー情
報を大量のメモリを必要とすることなく検出できる、記
録媒体検査装置が提供できる。
更に本発明の記録媒体検査装置によるとエラーパターン
信号及び基準位置検出信号を全て取込む方式をとるため
、コンピュータで本装置が取込んだデータを演算処理、
作図することによって、ディスク上でエラーがどのよう
に発生しているかを刺入、エラーの分布を知ることがで
きる。またEFクランソリッドバースト分布を同様に作
図することによって、エラーがランダムに発生するもの
か、バースト上に発生するものなのかを知ることができ
る等、種々の評価、検討に用いることができる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明に係る記録媒体検査装置の一実施例を示
すブロック図、第2図(a)〜(c)及び第5図は第1
図に示される記録媒体検査装置の一動作例を示すタイミ
ングチャート、第3図(a)(b)及び第4図(a)、
(b)は第1図に示される記録媒体検査装置の表示例を
示す図である。 1・・・記録系コントローラ、2.6・・・データ発生
器、3・・・変調器、4・・・光学的記録再生装置、5
・・・復調器、7・・・データ比較器、8・・・再生系
コントローラ、9・・・ラン長カウンタ、10・・・ア
ドレスカウンタ、11・・・RAM、12・・・コンピ
ュータ、13・・・プリンタ、14・・・デイスプレィ
、15・・・遅延回路、16・・・インバータINV。 手続補正書(自発) 1.事件の表示 昭和61年特許願第151028号 2、発明の名称 記録媒体検査装置 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 住所 東京都小平市鈴木町1丁目153番地〒187 
     (0423) 42−14605、補正の内
容 (1)明細書の第5頁第16行目の「ディスク型」を削
除する。 (2)明細書の第5頁第18行目の「ディスク型」を削
除する。 (3)明細書の第17頁第1行目の「コントロールライ
ンC3により」を削除する。 (4)明細書の第27頁第8行目のrSYNCJをrR
SYNCノに訂正する。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)記録媒体に所定のデータを記録再生し、その過程
    で生じるエラーを検出することにより記録媒体の検査を
    行なう、記録媒体検査装置において、前記データの単位
    データをもって、記録再生エラーの有無を検出し、該記
    録再生エラー検出の有無に応じて第1及び第2の状態を
    とるエラーパターン信号を発生するエラーパターン発生
    手段と、前記単位データと同一周期のカウントパルスを
    発生するカウントパルス発生手段と、 前記記録媒体の基準位置表わす、基準位置検出信号を出
    力する位置検出手段と、 前記エラーパターン信号の状態反転時及び基準位置検出
    信号入力時にクリアパルスを出力するクリアパルス発生
    手段と、 前記カウントパルスでカウントし、前記クリアパルスで
    カウント値をクリアする第1のカウンタ手段と、 前記クリアパルスでカウントする第2のカウンタ手段と
    、 書込み制御信号に基づき、前記第2のカウンタ手段のカ
    ウント値で指定されるアドレスに、前記エラーパターン
    信号及び前記第1のカウンタ手段のカウント値からなる
    書込みデータをメモリするメモリ手段と、 前記メモリ手段に書込み制御信号を出力する書込み制御
    信号発生手段を備えたことを特徴とする記録媒体検査装
    置。
  2. (2)前記エラーパターン発生手段は復調器5、データ
    発生器6、データ比較器7及びパターン同期制御手段か
    らなり、該パターン同期制御手段は前記復調器5から出
    力される再生データPBDと前記データ発生器6から出
    力されるデータ系列Mseqの同期制御を行ない、また
    データ比較器7は前記再生データPBDと前記データ系
    列Mseqをシンボル単位で比較することを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の記録媒体検査装置。
  3. (3)前記データ比較器7は前記再生データPBDと前
    記データ系列Mseqが同一の場合に”H”信号、また
    異なる場合に”L”信号となるエラーパターン信号を出
    力することを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の記
    録媒体検査装置。
  4. (4)前記第1のカウンタ手段は16ビットのカウンタ
    で構成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の記録媒体検査装置。
  5. (5)前記メモリ手段は1ワード16ビットからなる4
    Kワードのランダムアクセスメモリで構成したことを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の記録媒体検査装置
  6. (6)前記メモリ手段の前記書込みデータは最上位ビッ
    トが遅延回路15を介したエラーパターン信号COMP
    とし、下位15ビットをラン長カウンタ9のカウント値
    とすることを特徴とする特許請求の範囲第3項、第4項
    及び第5項記載の記録媒体検査装置。
  7. (7)前記カウントパルス発生手段、前記クリアパルス
    発生手段および書込み制御信号発生手段は再生系コント
    ローラ8で構成されたことを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の記録媒体検査装置。
JP15102886A 1986-06-27 1986-06-27 記録媒体検査装置 Granted JPS637537A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5272326A (en) * 1988-06-21 1993-12-21 Kyodo Printing Co., Ltd. Optical card having light absorbing layer
US6699999B2 (en) 2001-08-08 2004-03-02 Nippon Shokubai Co., Ltd. Process for producing pyromellitic anhydride

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5272326A (en) * 1988-06-21 1993-12-21 Kyodo Printing Co., Ltd. Optical card having light absorbing layer
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