JPS6375642A - 赤外吸収スペクトル反射測定装置 - Google Patents
赤外吸収スペクトル反射測定装置Info
- Publication number
- JPS6375642A JPS6375642A JP61219598A JP21959886A JPS6375642A JP S6375642 A JPS6375642 A JP S6375642A JP 61219598 A JP61219598 A JP 61219598A JP 21959886 A JP21959886 A JP 21959886A JP S6375642 A JPS6375642 A JP S6375642A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- infrared light
- sample
- infrared
- light
- absorption spectrum
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/4738—Diffuse reflection, e.g. also for testing fluids, fibrous materials
- G01N21/474—Details of optical heads therefor, e.g. using optical fibres
Landscapes
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は反射法により赤外吸収スペクトルを測定する装
置に係り、特に高輝度赤外光が要求される微小点赤外反
射分光装置に関する。
置に係り、特に高輝度赤外光が要求される微小点赤外反
射分光装置に関する。
一般に、赤外分光光度計は公知のものであり、赤外光源
、赤外光の各波長ごとの測定信号を得るためのモノクロ
メータまたは複光束干渉計、および検知器等から構成さ
れている。標準的な赤外分光光度計では、試料保持部上
の試料の測定位置に赤外光の収束させ、試料中を透過せ
しめて測定するように形成されている。従って、赤外光
に透明な試料はかかる方法で測定出来るが、赤外光に不
透明な物質はその表面で、反射、拡散する反射光を測定
することが必要である。このための装置は特開昭５８−
１１７４３８号公報の記載にある第２図に示した様なも
ので、２つの対向する偏向平面反射鏡９．１０の一つ９
から出射する発散赤外光を平行化するコリメータ反射鏡
１１およびこの平行光を試料の測定部へ収束入射させ、
さらに測定部からの反射光を受ける放物面反射鏡１３及
びコリメータ反射鏡１２、さらにこの光を検出器へ変向
させる平面反射鏡１０からなる。
、赤外光の各波長ごとの測定信号を得るためのモノクロ
メータまたは複光束干渉計、および検知器等から構成さ
れている。標準的な赤外分光光度計では、試料保持部上
の試料の測定位置に赤外光の収束させ、試料中を透過せ
しめて測定するように形成されている。従って、赤外光
に透明な試料はかかる方法で測定出来るが、赤外光に不
透明な物質はその表面で、反射、拡散する反射光を測定
することが必要である。このための装置は特開昭５８−
１１７４３８号公報の記載にある第２図に示した様なも
ので、２つの対向する偏向平面反射鏡９．１０の一つ９
から出射する発散赤外光を平行化するコリメータ反射鏡
１１およびこの平行光を試料の測定部へ収束入射させ、
さらに測定部からの反射光を受ける放物面反射鏡１３及
びコリメータ反射鏡１２、さらにこの光を検出器へ変向
させる平面反射鏡１０からなる。
この装置は測定部を放物面反射鏡の焦点の位置に置く必
要が有り、放物面反射鏡の大きさで試料の大きさに制限
される欠点がある。また２つのコリメータ反射鏡のそれ
ぞれの焦点は赤外分光光度計の焦点第２図のｆｌ＋ｆ！
に一致させる必要があるが、この調整はかなり困難な作
業である。両者の焦点が一致してないと、コリメータ反
射鏡１１から出た赤外光は平行化出来ず散乱してしまう
ため、赤外光の放物面反射鏡による収束が悪く、測定部
に広がって当るため、微小試料では有効に赤外光が当ら
なくなる。また放物面反射鏡１３を出た赤外光も、コリ
メータ反射鏡１２の焦点が赤外分光光度計の焦点ｆ、と
台ないため、検出器に入る赤外光の強度が弱くなり、Ｓ
／Ｎの悪いスペクトルしか得らｎないなどの問題があっ
た。
要が有り、放物面反射鏡の大きさで試料の大きさに制限
される欠点がある。また２つのコリメータ反射鏡のそれ
ぞれの焦点は赤外分光光度計の焦点第２図のｆｌ＋ｆ！
に一致させる必要があるが、この調整はかなり困難な作
業である。両者の焦点が一致してないと、コリメータ反
射鏡１１から出た赤外光は平行化出来ず散乱してしまう
ため、赤外光の放物面反射鏡による収束が悪く、測定部
に広がって当るため、微小試料では有効に赤外光が当ら
なくなる。また放物面反射鏡１３を出た赤外光も、コリ
メータ反射鏡１２の焦点が赤外分光光度計の焦点ｆ、と
台ないため、検出器に入る赤外光の強度が弱くなり、Ｓ
／Ｎの悪いスペクトルしか得らｎないなどの問題があっ
た。
本発明の目的は、上記問題点を解決するためになされた
ものである。
ものである。
赤外光が有効に微小試料に当るために、赤外光が散乱し
ない様に赤外光光源から出た赤外光を試料まで導く必要
がある。赤外光の散乱のない光路をガスクロマトグラフ
−フーリエ変換赤外分光光度計の検出部に用いられてい
る金製の細管（ライトパイプ）を用いる事にした。この
ライトパイプの外径は２〜３Ｍφ程度であるので、赤外
光の入射角度大きくとっても試料が邪魔にならない。赤
外光の散乱を小さくするためにライトパイプの先端は試
料に近くする必要がある。このためライトパイプの径が
大きい場合、赤外光の入射角を大きくとると試料に当る
ため試料を小さくする必要がある。また有効にライトパ
イプに赤外光を入ｉＬるために、集光鏡または集光レン
ズを用いる墨にした。またライトパイプから出た赤外光
を集光鏡または集光レンズを用いる事にした。
ない様に赤外光光源から出た赤外光を試料まで導く必要
がある。赤外光の散乱のない光路をガスクロマトグラフ
−フーリエ変換赤外分光光度計の検出部に用いられてい
る金製の細管（ライトパイプ）を用いる事にした。この
ライトパイプの外径は２〜３Ｍφ程度であるので、赤外
光の入射角度大きくとっても試料が邪魔にならない。赤
外光の散乱を小さくするためにライトパイプの先端は試
料に近くする必要がある。このためライトパイプの径が
大きい場合、赤外光の入射角を大きくとると試料に当る
ため試料を小さくする必要がある。また有効にライトパ
イプに赤外光を入ｉＬるために、集光鏡または集光レン
ズを用いる墨にした。またライトパイプから出た赤外光
を集光鏡または集光レンズを用いる事にした。
金製の細管（ライトパイプ）は赤外光源から出た赤外光
を散乱させる事なく、光源から試料まで赤外光を導く光
の通路である。集光鏡または集光レンズは赤外光源の赤
外光を有効にライトパイプに導くためのもので、またラ
イトパイプから出た赤外光を有効に微小試料に当てるも
のである。
を散乱させる事なく、光源から試料まで赤外光を導く光
の通路である。集光鏡または集光レンズは赤外光源の赤
外光を有効にライトパイプに導くためのもので、またラ
イトパイプから出た赤外光を有効に微小試料に当てるも
のである。
以下本発明の一実施例を第１図により説明する。
第１図において、１は赤外光光源からの赤外光２を通過
させて試料３に照射する金製の内径１ｆｌφ外径２關φ
、長さ５０１ｍの金製のライトパイプ（細管）、４は試
料の反射光を集光して検出器５へ送り込む集光系をなす
軸外し型だ円面反射鏡である。
させて試料３に照射する金製の内径１ｆｌφ外径２關φ
、長さ５０１ｍの金製のライトパイプ（細管）、４は試
料の反射光を集光して検出器５へ送り込む集光系をなす
軸外し型だ円面反射鏡である。
６はライトパイプを赤外光を有効に導入するためのＫＢ
ｒｆｆの集光レンズ、７はライトパイプから出た赤外光
を有効に試料の微小部に邑てるための１０３ｒ製の集光
レンズである。８は試料の一部だけを測定するためのア
パチュア−である。この構成で、赤外光光源からの赤外
光２はライトパイプ１内を通過して、分析試料４の極微
小部に当る。この時の入射角度は４５度とする。この分
析試料４の測定部は反射光の集光系をなす軸外し型だ円
面反射鏡４のほぼ一つの焦点位置にあって、分析試料４
からの反射光はこの軸外し型だ円面反射鏡により集光さ
れ他の焦点位置に置れた検出器５に集光される。また試
料３の微小部だけを測定するために、他の不要部の赤外
光を８のアパチュアによって除くが可能である。
ｒｆｆの集光レンズ、７はライトパイプから出た赤外光
を有効に試料の微小部に邑てるための１０３ｒ製の集光
レンズである。８は試料の一部だけを測定するためのア
パチュア−である。この構成で、赤外光光源からの赤外
光２はライトパイプ１内を通過して、分析試料４の極微
小部に当る。この時の入射角度は４５度とする。この分
析試料４の測定部は反射光の集光系をなす軸外し型だ円
面反射鏡４のほぼ一つの焦点位置にあって、分析試料４
からの反射光はこの軸外し型だ円面反射鏡により集光さ
れ他の焦点位置に置れた検出器５に集光される。また試
料３の微小部だけを測定するために、他の不要部の赤外
光を８のアパチュアによって除くが可能である。
以上のような本実施例によれば、赤外光が通過才、Ｚ、
ｎ−ｈｉりｎ ｉｔｍ （１”＋了、ぐキー了ん…Ｌ
ｓ Ｚ 虜１．ｒ ｈ ｊＱ ＝ｄ’ ＬＷ上の１０μ
ｍ径の有機物の赤外スペクトルが高感度で測定出来た。
ｎ−ｈｉりｎ ｉｔｍ （１”＋了、ぐキー了ん…Ｌ
ｓ Ｚ 虜１．ｒ ｈ ｊＱ ＝ｄ’ ＬＷ上の１０μ
ｍ径の有機物の赤外スペクトルが高感度で測定出来た。
本発明によれば、赤外光光源から出た赤外光を少ない散
乱で試料の微小部に導く事が出来るため試料上微小部の
赤外スペクトルが高感度で測定出来る。
乱で試料の微小部に導く事が出来るため試料上微小部の
赤外スペクトルが高感度で測定出来る。
第１図は本発明の一実施例を示した構成図、第２図は従
来装置の概要を示した構成図である。 １・・・金製の細管 ２・・・赤外光３・・・試
料 ４・・・軸外しだ円面反射鏡５・・・
検出器 ６，７・・・集光レンズ８・・・ア
パチュア ９ 、１０山平面反射光１１ 、１２
・・・コリメータ反射鏡 １３・・・放物面反射鏡 代理人 弁理士 小 川 勝 男 ４ 隼光、しり又− ７，Ｓたし〉ス ヌλ 図
来装置の概要を示した構成図である。 １・・・金製の細管 ２・・・赤外光３・・・試
料 ４・・・軸外しだ円面反射鏡５・・・
検出器 ６，７・・・集光レンズ８・・・ア
パチュア ９ 、１０山平面反射光１１ 、１２
・・・コリメータ反射鏡 １３・・・放物面反射鏡 代理人 弁理士 小 川 勝 男 ４ 隼光、しり又− ７，Ｓたし〉ス ヌλ 図
Claims (1)
- １、試料台の上に試料をのせ、試料表面の赤外スペクト
ルを反射法で測定する装置において、赤外光源からの赤
外光を導き上記試料に照射する金または内部金めっき製
の細管と、上記試料からの反射光を集光する集光系とか
ら成る事を特徴とする赤外吸収スペクトル反射測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61219598A JPS6375642A (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | 赤外吸収スペクトル反射測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61219598A JPS6375642A (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | 赤外吸収スペクトル反射測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6375642A true JPS6375642A (ja) | 1988-04-06 |
Family
ID=16738044
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61219598A Pending JPS6375642A (ja) | 1986-09-19 | 1986-09-19 | 赤外吸収スペクトル反射測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6375642A (ja) |
-
1986
- 1986-09-19 JP JP61219598A patent/JPS6375642A/ja active Pending
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