JPS6376194A - 半導体記憶装置 - Google Patents

半導体記憶装置

Info

Publication number
JPS6376194A
JPS6376194A JP61219588A JP21958886A JPS6376194A JP S6376194 A JPS6376194 A JP S6376194A JP 61219588 A JP61219588 A JP 61219588A JP 21958886 A JP21958886 A JP 21958886A JP S6376194 A JPS6376194 A JP S6376194A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
circuit
mask
supplied
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61219588A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Nagashima
永島 靖
Hitoshi Kawaguchi
仁 川口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP61219588A priority Critical patent/JPS6376194A/ja
Publication of JPS6376194A publication Critical patent/JPS6376194A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、半導体記憶装置に関するもので、例えば、
演算書き込み機能を有するデュアル・ポート・メモリ等
に利用して特に有効な技術に関するものである。
〔従来の技術〕
文字あるいは図形等をCRT (陰極線管)の画面上に
表示させるための画像用フレームパンツアメモリ等に用
いられ、マスク演算等を行うための演Nfき込み機能を
有するデュアル・ポート・メモリについて、例えば日経
マグロウヒル社発行、1986年3月24日イ寸r日経
エレクトロニクスjの243頁〜264頁に記載されて
いる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記のようなデュアル・ポート・メモリには、記憶デー
タを所定の複数ビット単位でランダムに入出力するラン
ダム・アクセス・ボートと、記憶データをワード線すな
わちメモリアレイの行単位でシリアルに入出力するシリ
アル・アクセス・ボートが設けられる。また、このラン
ダム・アクセス・ボートには、第3図に示すように、演
算論理ユニットALUが設けられ、外部からデータ人力
バッファDIBを介して入力される書き込みデータと指
定されたアドレスのメモリセルから予め読み出されデー
タラッチDLに保持される記憶データの各種演算が行わ
れる。データラッチDLに保持される記憶データと演算
論理ユニッ1−ALUの出力信号は、データマージ回路
DMによって選択され、さらにマスクデータラッチMD
Lに保持されるマスクデータに従って選択的に書き込み
アンプWAに伝達される。これにより、書き込みデータ
の演算処理とピント単位のマスク処理を行うことができ
る。
ところが、上記のようなデュアル・ポート・メモリを、
第3図に示すように、例えばパリティビットを含む9ビ
ツトのデータバス101−IO2及びIOPを介して誤
り検出機能を有する系に接続した場合、誤り検出機能が
正常に機能しないものとなる。すなわち、前述のように
、このデュアル・ポート・メモリは演算書き込み機能と
マスク機能を有するため、実際にメモリセルに書き込ま
れるデータは入力されたパリティビットを意識すること
なく更新されてしまう。したがって、その後デュアル・
ポート・メモリから読み出される記憶データは、正常な
パリティビットが付加されていないため、処理装置側で
パリティ異常が検出されてしまうものである。このこと
は、このデュアル・ポート・メモリが、例えばサイクリ
ックコード等を用いた誤り訂正機能を有する系に接続さ
れる場合も同様であり、せっかくの誤り検出機能又は誤
り訂正機能が無意味なものとなって系としての信頼性が
損なわれる。
この発明の目的は、新しい機能を有するデュアル・ポー
ト・メモリ等の半導体記憶装置を提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述および添付図面から明らかになるであ
ろう。
〔問題点を解決するための手段〕
本願において開示される実施例のうち代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記の通りである。すなわち、
演算書き込み機能及び/又はマスク機能を有するデュア
ル・ポート・メモリ等の半導体記憶装置に、論理演算処
理又はマスク処理が施された後の書き込みデータにさら
に誤り検出又は誤り訂正のための符号を付加する符号付
加回路を設けるものである。
〔作  用〕
上記手段によれば、論理演算処理又はマスク処理が施さ
れた後の書き込みデータにも正常な誤り検出又は誤り訂
正符号が付加されるため、演算暑き込み機能及び/又は
マスク機能を有する半導体記憶装置を含み、誤り検出機
能又は誤り訂正機能を有する系の信頼性を向上できる。
〔実施例〕
第2図には、この発明が通用されたデュアル・ポート・
メモリの一実施例のブロック図が示されている。同図の
各回路ブロックは、公知の半導体集積回路の製造技術に
よって、特に制限されないが、単結晶シリコンのような
1個の半導体基板上において形成される。
この実施例のデュアル・ポート・メモリには、ダイナミ
ック型RAMを基本構成としパリティビットを含む9ビ
ット単位の記憶データをランダムに入出力するランダム
・アクセス・ボートと、記憶データをワード線単位でシ
リアルに入出力するシリアル・アクセス・ボートが設け
られる。これにより、デュアル・ポート・メモリは、一
連のシリアル入出力動作を実行しながら同時にランダム
・アクセス・ボートによるランダムアクセスを行うこと
を可能にしている。
ランダム・アクセス・ボートに含まれるランダム入出力
回路RIOには、マスク演算等を行うための演算論理ユ
ニットALUが設けられ、この演算論理ユニソ)ALU
を制御するための機能制御回路FCが設けられる。また
、このランダム入出力回路RIOには、データマージ回
路DM及びマスクデータラッチMDLが設けられる。こ
れにより、この実施例のデュアル・ポート・メモリは、
演算論理ユニットALLIの出力信号をマスクデークラ
ッチMDLに保持されるマスクデータに従って選択的に
指定されたメモリセルに書き込むいわゆるマスク機能を
持つ。さらに、この実施例のランダム入出力回路RIO
には、データマージ回路DMの出力信号すなわち演算処
理とマスク処理が施された後の書き込みデータに、新し
くパリティビットを付加するためのパリティ付加回路P
Cが設けられる。
この実施例のデュアル・ポート・メモリには、外部の装
置から、通常のダイナミック型RAMで用いられるロウ
アドレスストローブ信号RAS。
カラムアドレスストローブ信号σAs及びライトイネー
ブル信号W1等の制御信号の他、ランダム・アクセス・
ボートとシリアル・アクセス・ボートとの間のデータ転
送制御に用いられるデータ転送制御信号DT10Eと、
シリアル・アクセス・ボートの入出力切り換え制御に用
いられるシリアル出力制御信号「テ下及びシリアル入出
力時において同期信号として用いられるシリアルクロッ
ク信号SCが入力される。
この実施例のデュアル・ポート・メモリのランダム・ア
クセス・ボートには、特に制限されないが、9個のメモ
リアレイM−ARY 1〜M−ARY8及びM−ARY
Pが設けられ、それぞれのメモリアレイに対応してセン
スアンプ5AI−3A8及びSAP、カラムスイッチC
3WI〜C5W8及びcswpが設けられる。また、メ
モリアレイM−ARY1〜M−ARY8及びM−ARY
Pに共通に、ランダム・アクセス・ボート用カラムアド
レスデコーダRCD及びロウアドレスデコーダRDが設
けられる。これらのアドレスデコーダは、半導体基板上
のメモリアレイの配置に応じて、複数個設けられること
もある。第2図には、メモリアレイM−ARY1とその
周辺回路が、例示的に示されている。なお、メモリアレ
イM−ARYP及びその周辺回路は、誤り検出用のパリ
ティビットを記憶するために用いられる。
第2図において、メモリアレイM−ARY1は、同図の
垂直方向に配置されるm+1本のワード線W O% W
 mと、同図の水平方向に配置されるn+1組の相補デ
ータ線DO・DO=Dn−Dn及びこれらのワード線と
相補データ線の交点に配置される(m+ 1)x (n
 +1)(囚のメモリセルにより構成される。
各ワード線は、ロウアドレスデコーダRDに結合され、
Xアドレス信号AXO〜AXiに指定される一本のワー
ド線が選択される。
ロウアドレスデコーダRDは、ロウアドレスバッファR
ADBから供給される相補内部アドレス信号上xO〜土
xi(ここで、例えば外部から供給されるXアドレス信
号AXOと同相の内部アドレス信号axQと逆相の内部
アドレス信号axQをあわせて相補内部アドレス信号a
xQのように表す、以下同じ)をデコードし、Xアドレ
ス信号AXO=AXiに指定される一本のワード線を選
択し、ハイレベルの選択状態とする。ロウアドレスデコ
ーダRDによるワード線の選択動作は、タイミング制御
回路TCから供給されるワード線選択タイミング信号φ
Xに従って行われる。
ロウアドレスバッファRADBは、アドレスマルチプレ
クサAMXから供給されるロウアドレス信号を受け、相
補内部アドレス信号axQ〜axiを形成して、ロウア
ドレスデコーダRDに(A給する。この実施例のダイナ
ミック型RA Mでは、ロウアドレスを指定するための
Xアドレス信号AXO〜AXiとカラムアドレスを指定
するためのYアドレス信号AYO〜AYiは、同一の外
部端子AO〜Aiを介して時分割されて供給されるいわ
ゆるアドレスマルチプレクス方式を採っている。
このため、Xアドレス信号AXO〜AXiはロウアドレ
スストローブ信号RASの立ち下がりに同期して外部端
子AO〜Ajに供給され、Yアドレス信号AYO〜AY
iはカラムアドレスストローブ信号CASの立ち下がり
に同期して外部端子AO〜Aiに供給される。さらに、
この実施例のダイナミック型RAMには、メモリセルの
記憶データを所定の周期内に読み出し・再書き込みする
ための自動リフレッシュモードが設けられ、この自動リ
フレッシュモードにおいてリフレッシュすべきワード線
を指定するためのリフレッシュアドレスカウンタREF
Cが設けられる。
アドレスマルチプレクサAMXは、タイミング制御回路
TCから供給されるタイミング信号φrefがロウレベ
ルとされる通常のメモリアクセスモードにおいて、外部
端子AO〜Atを介して外部の装置から供給されるXア
ドレス信号AXO〜AXiを選択し、タイミング信号φ
refがハイレベルとされる自動リフレッシュモードに
おいて・、リフレッシュアドレスカウンタREFCから
出力されるリフレッシュアドレス信号cxQ〜cxiを
選択する。
前述のように、Xアドレス信号AXO〜AXiはロウア
ドレスストローブ信号RASの立ち下がりに同期して外
部端子Ao−Aiに供給されるため、ロウアドレスバン
ファRADBによるロウアドレス信号の取り込みは、夕
・イミング制御回路TCにおいてロウアドレスストロー
ブ信号RASの立ち下がりを検出して形成されるタイミ
ング信号φarに従って行われる。
一方、メモリアレイM  ARYIの相補データ線DO
−Do〜Dn−σ1は、その一方において、カラムスイ
ッチC3WIの対応するスイッチMO3FETに結合さ
れ、さらにこれらのスイッチMOSFETを介して選択
的に相補共通データ線−g−DI(ここで、相補共通デ
ータ線を構成する非反転信号線CDI及び反転信号線C
DIをあわせて相補共通データ線見D1のように表す、
以下同じ)に接続される。
カラムスイッチC3WIは、それぞれ対応する相補デー
タ線に結合されるfi+l対のスイッチMOSFETに
よって構成される。これらのスイッチMO3FET対の
他方の端子は、相補共通データ線を構成する非反転信号
線CDI又は反転信号線CDIに共通に結合される。こ
れにより、カラムスイッチC3WIは相補データ線DO
・51〜Dn−真と共通相補データ線−CDIとを選択
的に接続させる。カラムスイッチC3WIを構成する各
対の二つのスイッチMO3FETのゲートはそれぞれ共
通接続され、ランダム・アクセス・ボート用カラムアド
レスデコーダRCDによって形成されるデータ線選択信
号が供給される。
ランダム・アクセス・ボート用カラムアドレスデコーダ
RCDは、カラムアドレスバッファCADBから供給さ
れる相補内部アドレス信号ayQ〜ayiをデコードし
、タイミング制御回路TCから供給されるデータ線選択
タイミング信号φyrに従って、上記データ線選択信号
を形成し、カラムスイッチC3WI−C3W4に供給す
る。 。
カラムアドレスバッファCADBは、タイミング制御回
路TCに8いてカラムアドレスストローブ信号CASの
立ち下がりを検出して形成されるタイミング信号φac
に従って、外部端子AO〜Aiを介して供給されるYア
ドレス信号AYO−AYiを入力し、保持するとともに
、相補内部アドレス信号ayQ−ayiを形成して、ラ
ンダム・アクセス・ボート用カラムアドレスデコーダR
CDに供給する。
メモリアレイM −A RY 1の相補データ線DO・
丁τ〜Dn−L)nは、その他方において、センスアン
プSAIの対応する単位回路に結合され、さらにシリア
ル・アクセス・ボートのデータレジスタDRIの対応す
る単位回路に結合される。
センスアンプSAOの各単位回路は、交差接続される二
つのCMOSイン八′−へ回路からなるラッチをその基
本構成とする。これらのセンスアンプ単位回路は、タイ
ミング制御回路TCから供給されるタイミング信号φp
aによって一斉に動作状態とされ、メモリセルからそれ
ぞれ対応する相補データ線に出力される微小読み出し信
号を増幅し、ハイレベル/ロウレベルの2値信号とする
Yアドレス信号AYO〜AYiにより指定される相補デ
ータ線が選択的に接続される相補共通データ線CDIは
、ランダム入出力回路RIOに結合される。このランダ
ム入出力回路RIOには、メモリアレイM−ARY2〜
M−ARY8及びM−ARYPに対応して設けられる相
補共通データ線−CD2〜旦D8及び旦DPが、同様に
結合される。
ランダム入出力回路RIOは、後述するように、データ
人カバフファDIB、データ出力バンファDOB、書き
込み増幅回路WA、読み出し増幅回路RA、データラッ
チDL、マスクデークランチMDL、演算論理ユニット
ALU、データマージ回路DM及びパリティ付加回路P
Cにより構成される。このうち、データ出力バッファD
OBは、デュアル・ポート・メモリのランダム読み出し
モードに8いて、タイミング制御回路TCから供給され
るタイミング信号φrrによって動作状態とされ、読み
出し増幅回路RAを介して読み出される記憶データを、
入出力端子101〜108及びIoPから外部の装置に
出力する。書き込み増幅回路WAは、デュアル・ポート
・メモリのランダム書き込みモードにおいて、タイミン
グ制御回路TCから供給されるタイミング信号φr−に
よって動作状態とされ、データマージ回路DMからパリ
ティ付加回路PCを介して供給される書き込みデータを
2値書き込み信号し、相補共通データ線旦D1〜−Ω−
D8及びCDPに伝達する。また、マスクデータラフチ
MDLは、デュアル・ポート・メモリの演算モード設定
サイクルにおいて、タイミング制御回路TCから供給さ
れるタイミング信号φ―Sに従って、入出力端子101
〜108及び10Pを介して外部の装置から供給される
マスクデータを取り込む。
さらに、演算論理ユニッ)ALUは、デュアル・ポート
・メモリの演算書き込みサイクルにおいて、指定された
アドレスのメモリセルから読み出されデータラッチDL
に保持される記憶デー、夕と外部から供給される書き込
みデータとの間で種々の演算処理を行う、この演算論理
ユニットALUには、ラスク演算等を行うための各種の
演算モードが用窓される。
演算論理ユニットALUの演算モードは、機能制御回路
FCによって選択・指定される0機能制御回路FCは、
デュアル・ポート・メモリの演算モード設定サイクルに
おいて、アドレス信号入力用外部端子AO〜A3を介し
て供給される演算コードを保持する演算コードレジスタ
FORと、その演算コードをデコードし演算論理ユニ7
トALUの演算モードを選択・指定するための演算コー
ドデコーダFCDを含む。このうち、演算コードレジス
タFCRは、デュアル・ポート・メモリの演算モード設
定サイクルにおいて、タイミング制御回路TCから供給
されるタイミング信号φrasに従って、アドレス入力
用外部端子AO〜A3を介して供給される演算コードを
取り込み、機能制御回路FCの演算コードデコーダFC
Dに送る。演算コードデコーダFCDは、これらの演算
コードをデコードして演算モード選択信号amO〜am
15を形成し、ランダム入出力回路RIOの演算論理ユ
ニットALUの演算モードを指定する。
これらのランダム入出力回路RIO及び機能制御回路F
Cの構成と動作については、後で詳細に説明する。
一方、この実施例のデュアル・ポート・メモリのシリア
ル・アクセス・ポートは、メモリアレイM−ARYI−
M−ARY8及びM−ARYPの各相補データ線に対応
して設けられるn+lビフトのデータレジスタDRI−
DR8及びDRPと、データセレクタDSL l〜DS
L8及びDSLPと、これらの9個のデータレジスタ及
びデータセレクタに共通に設けられるポインタPNT、
  シリアル・アクセス・ポート用カラムアドレスデコ
ーダSCD及びシリアル入出力回路510によって構成
される。なお、ポインタPNT及びシリアル・アクセス
・ボート用カラムアドレスデコーダSCDは、半導体基
板上におけるメモリアレイの配置の関係で複数個設けら
れることもある。第2図には、メモリアレイM−ARY
Iに対応するデータレジスタL)R1及びデータセレク
タDSLIが例示的に示されている。
データレジスタDRIは、メモリアレイM−ARYIの
各相補データ線に対応して設けられるn+1ビットのフ
リップフロップを含む、これらのフリップフロップの入
出力ノードと対応する相補データ線の非反転信号線及び
反転信号線の間には、データ転送用のスイッチMO3F
ETがそれぞれ設けられる。これらのスイッチMO3F
ETは、タイミング制御回路TCから供給されるタイミ
ング信号φdtのハイレベルによって一斉にオン状態と
され、データレジスタDRIの各フリップフロ7ブと選
択されたワード線に結合されるn + 1 iiのメモ
リセルとの間で、記憶データの入出力が一斉にパラレル
に行われる。
データレジスタDRIの各ビットの入出力端子は、さら
にデータセレクタDSL 1の対応するスイッチMO3
FETに結合される。データセレクタDSL1は、上述
のカラムスイッチC3WIと同様な構成とされ、データ
レジスタDRIの各ビットとシリアル入出力用相補共通
データ線CD51を選択的に接続する。データセレクタ
DSLIの各対のスイッチMOS F ETのゲートは
それぞれ共通接続され、ポインタPNTから対応するデ
ータレジスタ選択信号が供給される。
ポインタPNTは、n+1ビットのシフトレジスタによ
り構成され、その最終ビットの出力端子psはその先頭
ビットの入力端子に結合される。
ポインタPNTは、デュアル・ポート・メモリのシリア
ル入出力モードにおいて、タイミング制御回路TCから
供給されるシフトクロック用タイミング信号φCに従っ
て、ループ状のシフト動作を行う、ポインタPNTの各
ピントは、さらにシリアル・アクセス・ボート用カラム
アドレスデコーダSCDの対応する出力端子に結合され
る。
シリアル・アクセス・ボート用カラムアドレスデコーダ
SCDは、カラムアドレスバッファCADBから供給さ
れる相補内部アドレス信号ayQ〜土yiをデコードし
、Yアドレス信号AY−0〜AYiで指定されるシリア
ル入出力の先頭ビットに対応するポインタPNTのビッ
トのみを論理“1”とする。すなわち、シリアル入出力
モードにおいては、Xアドレス信号AXO〜AXtによ
ってワード線が指定され、Yアドレス信号AYO〜AY
iによってシリアル入出力を開始する先頭のカラムアド
レスが指定される。シリアル・アクセス・ボート用カラ
ムアドレスデコーダSCDによってポインタPNTの指
定されたビットに書き込まれた論理“1”の信号は、タ
イミング信号φCに従ってポインタPNT内をループ状
にシフトされる。このように一つの論理″l”の信号が
シフトされることによって、データセレクタDSLIに
は順次ハイレベルのデータレジスタ選択信号が供給され
、データレジスタDRIの各ピントが次々にシリアル入
出力用相補共通データ線CDS 1に接続される。これ
により、この実施例のデュアル・ポート・メモリは、記
憶データのシリアル入出力を任意のカラムアドレスから
開始することができる。
シリアル入出力用相補共通データ線−CDS Lは、シ
リアル入出力回路SIOに結合される。このシリアル入
出力回路SIOには、データレジスタDR2〜DR8及
びDRPとデータセレクタDSL2〜DSL8及びDS
LPに対応して設けられるシリアル入出力用相補共通デ
ータ線CD52〜旦DS8及び−CD5Pが同様に結合
される。シリアル入出力回路SIOは、シリアル入出力
用相補共通データ線交DS1〜−CDS8及び旦DSP
とシリアル入出力端子5IOI〜5108及び5IOP
に対応して設けられる9個のメインアンプとデータ入カ
バソファ及びデータ出カバソファを含む。
シリアル入出力回路510のデータ出力バンファは、デ
ュアル・ポート・メモリの読み出しデータ転送サイクル
において、タイミング制御回路TCから供給されるタイ
ミング信号ψsrによって動作状態とされ、対応するシ
リアル入出力用相補共通データ線−gよりS1〜−CD
S8及び旦DSPを介して出力され対応するメインアン
プによって増幅される読み出しデータを、対応するシリ
アル入出力端子5Io1〜5I08及び5IOPから外
部ノ装置に出力する。また、シリアル入出力回路Sl0
のデータ人カバソファは、デュアル・ポート・メモリの
シリアルデータ書き込みサイクルにおいて、タイミング
制御回路TCから供給されるタイミング信号φswによ
って動作状態とされ、対応するシリアル入出力端子5I
OI〜510B及ヒ510Pを介して外部の装置から供
給される書き込みデータを相補署き込み信号とし、対応
するシリアル入出力用相補共通データ線CDS 1〜立
DS8及び立DSPに伝達する。
タイミング制御回1i!1)TCは、外部から制御信号
として供給されるロウアドレスストローブ信号π忌、カ
ラムアドレスストローブ信号CAS、  ライトイネー
ブル信号W百、データ転送制御信号五下/σ了”及びシ
リアル出力制御信号「σ百によって、上記各種のタイミ
ング信号を形成し各回路に供給する。また、外部から供
給されるシリアルクロンク信号SCにより、シリアル入
出力動作を同期化するためのタイミング信号φCを形成
し、ポインタPNT及びシリアル入出力回路s■oに供
給する。
第1図には、この実施例のデュアル・ポート・メモリの
ランダム入出力回路RIO及びIa能制御回路FCの一
実施例の回路ブロック図が示されている。
第1図において、データ入出力端子101〜108及び
IOPは、ランダム入出力回路RIOのデータ人カバソ
ファDIBの入力端子にそれぞれ結合されるとともに、
データ出力バッファDOBの出力端子にそれぞれ結合さ
れる。データ人カバフフ7DIBは、図示されない9ビ
ツトのデータ入力回路及びデータ入力レジスタDIRに
より構成され、データ入出力端子101〜108及びI
OPを介して供給される書き込みデータを取り込み、保
持する。また、データ出力バッファDOBは、デュアル
・ポート・メモリのランダム読み出しサイクルにおいて
、タイミング制御回路TCから供給さiするタイミング
信号φrrに従って動作状態とされ、読み出し増幅回路
RAを介して伝達される読み出しデータをデータ入出力
端子101〜108及びIOPから外部の装置に出力す
る。タイミング信号φrrがロウレベルである場合、こ
のデータ出力バッファDOBの出力はハイインピーダン
ス状態とされる。
データ入カバソファDIBに保持される書き込みデータ
は、演算論理ユニ7)ALUの一方の入力端子に供給さ
れるとともに、マスクデータラッチME)Lに供給され
る。演算論理ユニソI−ALUの他方の入力端子には、
データラッチDLの出力信号か供給される。このデータ
ラッチDLには、演算書き込みサイクルにおいて、予め
指定されたメモリセルから読み出し増幅回路RAを介し
て読み出される記憶データが保持される。
演算論理ユニットALUには、論理積、論理和又は排他
的論理和等の演算を行うための各種の演算モードが用意
される。これらの演算モードは、機能制御回路FCの演
算コードデコーダFCDから供給される演算モード選択
信号a m O% a m 15によって選択される。
演算論理ユニットALUは、これらの演算モード選択信
号に従って、外部から供給されデータ人カバソファDI
Bのデータ入力レジスタDIRに保持される書き込みデ
ータと指定されたアドレスのメモリセルから読み出され
データラッチDLに保持される記憶データの演算を行う
。演算論理ユニットALUの出力信号は、データマージ
回路DMの一方の入力端子に供給される。
マスクデータラッチM D Lは、デュアル・ポート・
メモリの演算モード設定サイクルにおいて、タイミング
制御回路TCから供給されるタイミング信号φIsに従
って、データ入出力端子101〜108及びIOPを介
して外部の装置から供給されるマスクデータを取り込み
、保持する。マスクデータラッチMDLに保持されるマ
スクデータは、データマージ回路DMの選択信号として
、データマージ回路DMの対応するビットにそれぞれ供
給される。
データマージ回路DMの他方の入力端子には、データラ
ッチDLに保持される記憶データが供給される。データ
マージ回路DMは、9ビツトの選択回路により構成され
、各選択回路には、マスクデータラッチMDLの対応す
るビットに保持されるマスクデータが選択信号として供
給される。データマージ回路DMは、このマスクデータ
に従って、演算論理ユニフ1−ALUの出力信号又はデ
ータラッチDLから供給される記憶データを選択して、
パリティ付加回路PCに送る。すなわち、対応するマス
クデータが論理“1”である場合、データマージ回路D
Mの各選択回路はデータラッチDLの対応するビットか
ら供給される記憶データを選択する。また、対応するマ
スクデータが論理“0”である場合、データマージ回路
DMの各選択回路は演算論理ユニットALIJの対応す
るビットの出力信号を選択する。これにより、演算論理
ユニットALUの出力信号は、マスクデータに従って選
択的にメモリセルに伝達される。つまり、演算論理ユニ
ットALUの出力信号は、論理“l”のマスクデータに
よってマスクされ、マスクされたビットに対応するメモ
リセルには、そわまでそのメモリセルに記憶されている
記憶データが再度書き込まれる。
前述のように、この実施例のデュアル・ポート・メモリ
には、上記演算論理ユニットALUによって演算処理が
施されまた上記データマージ回路DMによってマスク処
理が施された書き込みデータに対して、新しくパリティ
ビットを付加するためのパリティ付加回路PCが設けら
れる。パリティ付加回路PCは、データマージ回路DM
の出力信号を受け、8ビツトの書き込みデータに対する
パリティビットを形成する。すなわち、特に制限されな
いが、このデュアル・ポート・メモリを含む系は奇数パ
リティ方式とされる。したがって、パリティ付加回路P
Cは、8ビツトの書き込みデータに含まれる論理“1”
のビットの数が偶数であると、パリティビットを論理“
1”とし、また8ピントの書き込みデータに含まれる論
理“1”のビットの数が奇数であると、パリティビット
を論理″0″とする。
パリティ付加回路PCから出力される苦き込みデータは
、パリティビットを含めて、書き込み増幅回路WAに伝
達される。書き込み増幅回路WAは、デュアル・ポート
・メモリの演算書き込みサイクルにおいて、タイミング
制御回路TCから供給されるタイミング信号φrwによ
って動作状態とされ、パリティ付加回路PCから供給さ
れる計9ビットの署き込みデータを相補署き込み信号と
し、相補共通データは−CDI−CD8及び旦DPを介
して対応するメモリセルに入力する。タイミング信号φ
rwがロウレベルであると、書き込み増幅回路WAの出
力信号はハイインピーダンス状態とされる。
機能制御回路FCは、演算コードレジスタFCRと演算
コードデコーダFCDにより構成される。
演算コードレジスタFORは、デュアル・ポート・メモ
リの演算モード設定サイクルにおいて、タイミング制御
回路TCから供給されるタイミング信号φmsに従って
、アドレスバスAO〜A3を介して供給される演算コー
ドを取り込み、保持する。
演算コードレジスタNCRの出力信号は、演算コードデ
コーダFCDに供給される。演算コードデコーダFCD
は、4ビツトの演算コードをデコートして演算モード選
択信号a m O〜a m l 5を形成し、ランダム
入出力回路RIOの演算論理ユニットALUに供給する
以上のように、この実施例のデュアル・ポート・メモリ
には、演算論理ユニットALUによって演算処理が施さ
れデータマージ回路DMによってマスク処理が施された
書き込みデータに対し、新しくパリティビットを付加す
るためのパリティ付加回路PCが設けられる。このため
、演算処理及びマスク処理によって、外部からデータバ
スを介して入力されるパリティビットを意識することな
く杏き込みデータが更新されるにもかかわらず、実際に
メモリセルに書き込まれる書き込みデータには、更新さ
れた正常なパリティビットが付加される。これにより、
このデュアル・ポート・メモリを、パリティビットを用
いた誤り検出機能を有する系に接続することができ、系
としての信頼性を向上できるものである。
以上の本実施例に示されるように、この発明を演算書き
込み機能を有するデュアル・ポート・メモリ等の半導体
記憶装置に通用した場合、次のような効果が得られる。
すなわち、 (D演算書き込み機能及び/又はマスク機能を有するデ
ュアル・ポート・メモリ等の半導体記憶装置に、論理演
算処理又はマスク処理が施された後の書き込みデータに
さらに誤り検出又は誤り訂正のための符号を付加する符
号付加回路を設けることで、論理演算処理又はマスク処
理が施された後の書き込みデータにも正常な誤り検出符
号又は誤り訂正符号を付加できるという効果が得られる
(2)上記(1)項により、演算書き込み機能及び/又
はマスク機能を有するデュアル・ポート・メモリ等の半
導体記憶装置を、誤り検出機能又は誤り訂正機能を有す
る系に接続することができるという効果が得られる。
(3)上記(1)項及び(2)項により、演算書き込み
機能及び/又はマスク機能を有するデュアル・ポート・
メモリ等の半導体記憶装置を含み、誤り検出機能又は誤
り訂正機能を有する系の信頼性を向上できるという効果
が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を進展しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない0例えば、この実施例の
デュアル・ポート・メモリが接続される系は、奇数パリ
ティ方式による誤り検出機能を持つものとしているが、
例えばサイクリックコード等を用いた誤り訂正機能を持
つものとしてもよい、この場合、デュアル・ポート・メ
モリのデータマージ回路DMと書き込み増幅回路WAの
間に、更新された書き込みデータに新しくサイクリック
コードを付加するための回路を設ければよい、また、デ
ュアル・ポート・メモリに、入出力端子を介して供給さ
れる書き込みデータやメモリアレイから読み出された記
憶データをチェックするためのパリティチェック回路を
設けてもよい。第1図のランダム入出力回路RIOは、
演算書き込み機能かマスク機能のうち一方の機能のみを
持つものとしてもよいし、演算モードの数や書き込みデ
ータのビット数等、第1図の実施例に制限されるもので
はない、さらに、第2図のデュアル・ポート・メモリは
、ランダム・アクセス・ボート用カラムアドレスデコー
ダRCDとシリアル・アクセス・ポート用カラムアドレ
スデコーダSCDを共通にしたり、それぞれのメモリア
レイを複数のメモリマントによって構成するなど、その
ブロック構成や制御信号の組み合わせは種々の実施形態
を採りうるものである。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるデュアル・ポート・
メモリに通用した場合について説明したが、それに限定
されるものではなく、例えばスタティック型RA M等
の各種の半導体記憶装置にも通用できる。本発明は、少
なくとも記憶データを複数ビット単位で入出力し、演算
書き込み機能又はマスク機能等を有する半導体記憶装置
には通用できる。
〔発明の効果〕
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次のとおりである
。すなわち、演算書き込み機能及び/又はマスク機能を
有するデュアル・ポート・メモリ等の半導体記憶装置に
、論理演算処理又はマスク処理が施された後の書き込み
データにさらに誤り検出又は誤り訂正のための符号を付
加する符号付加回路を設けることで、論理演算処理又は
マスク処理が施された後の書き込みデータに正常な誤り
検出符号又は誤り訂正符号を付加することができ、演算
書き込み機能及び/又はマスク機能を有する半導体記憶
装置を含み誤り検出機能又は誤り訂正機能を有する系の
信頼性を向上できるものである。
【図面の簡単な説明】 第1図は、この発明が通用されたデュアル・ポート・メ
モリのランダム入出力回路及び機能制御回路の一実施例
を示す回路ブロック図、第2図は、第1図のランダム入
出力回路及び機能制御回路を含むデュアル・ポート・メ
モリの一実施例を示すブロック図、 第3図は、従来のデュアル・ポート・メモリのランダム
入出力回路及び機能制御回路の回路ブロック図である。 RIO・・・ランダム入出力回路、FC・・・機能制御
回路、pc・・・パリティ付加回路、DIB・・・デー
タ人カバソファ、DOB・・・データ出カバソファ、D
L・・・データラッチ、MDL・・・マスクデータラ7
チ、ALU・・・演算論理ユニット、DM・・・データ
マージ回路、RA・・・読み出し増幅回路、WA・・・
書き込み増幅回路、FCR・・・演算コードレジスタ、
FCD・・・演算コードデコーダ。 M −A RY l・・・メモリアレイ、SAI・・・
センスアンプ、C3WI・・・カラムスインチ、DRI
・・・データレジスタ、DSLI・・・データセレクタ
、P N T・・・ポインタ、RD・・・ロウアドレス
デコーダ、RCD・・・ランダム・アクセス・ポート用
カラムアドレスデコーダ、SCD・・・シリアル・アク
セス・ポート用カラムアドレスデコーダ、CADB・・
・カラムアドレスバッファ、RADB・・・ロウアドレ
スバッファ、AMX・・・アドレスマルチプレクサ、S
lO・・・シリアル入出力回路、TC・・・タイミング
制御回路、REFC・・・リフレッシュアドレスカウン
タ。 第1図 第2 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、指定されたアドレスから読み出される記憶データと
    外部から供給される書き込みデータの演算を行う論理演
    算回路及び/又は上記書き込みデータをマスクデータに
    従って選択的にマスクするマスク回路と、上記論理演算
    回路又は上記マスク回路の出力信号を受け誤り又は誤り
    訂正用の符号を形成する符号付加回路と、上記論理演算
    回路又はマスク回路の出力信号及び上記符号付加回路の
    出力信号を受け指定されたアドレスに書き込む書き込み
    回路とを具備することを特徴とする半導体記憶装置。 2、上記半導体記憶装置はデュアル・ポート・メモリで
    あり、上記論理演算回路は上記記憶データを保持するデ
    ータラッチ回路と外部から供給される演算モード信号に
    従って上記データラッチ回路に保持される記憶データと
    上記書き込みデータの各種演算を行う演算論理ユニット
    を含み、上記マスク回路は外部から供給される上記マス
    クデータを保持するマスクデータラッチ回路と上記デー
    タラッチ回路又は上記演算論理ユニットの出力信号を上
    記マスクデータラッチ回路に保持されるマスクデータに
    従って選択的に上記符号付加回路に伝達するデータマー
    ジ回路を含むものであることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の半導体記憶装置。
JP61219588A 1986-09-19 1986-09-19 半導体記憶装置 Pending JPS6376194A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61219588A JPS6376194A (ja) 1986-09-19 1986-09-19 半導体記憶装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61219588A JPS6376194A (ja) 1986-09-19 1986-09-19 半導体記憶装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6376194A true JPS6376194A (ja) 1988-04-06

Family

ID=16737885

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61219588A Pending JPS6376194A (ja) 1986-09-19 1986-09-19 半導体記憶装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6376194A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007016552A (ja) * 2005-07-11 2007-01-25 France Bed Co Ltd ドア用隙間閉塞装置
JP2008198330A (ja) * 2007-02-13 2008-08-28 Samsung Electronics Co Ltd バイトマスキング動作のための半導体メモリ装置及びパリティデータ生成方法
JP2009070456A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Renesas Technology Corp 半導体記憶装置
US9106260B2 (en) * 2012-12-19 2015-08-11 Advanced Micro Devices, Inc. Parity data management for a memory architecture

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5622292A (en) * 1979-07-30 1981-03-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Memory element

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5622292A (en) * 1979-07-30 1981-03-02 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> Memory element

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007016552A (ja) * 2005-07-11 2007-01-25 France Bed Co Ltd ドア用隙間閉塞装置
JP2008198330A (ja) * 2007-02-13 2008-08-28 Samsung Electronics Co Ltd バイトマスキング動作のための半導体メモリ装置及びパリティデータ生成方法
JP2009070456A (ja) * 2007-09-12 2009-04-02 Renesas Technology Corp 半導体記憶装置
US9106260B2 (en) * 2012-12-19 2015-08-11 Advanced Micro Devices, Inc. Parity data management for a memory architecture

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8077492B2 (en) Semiconductor memory device
US5321652A (en) Microcomputer having a dual port memory of supplying write data directly to an output
US8027203B2 (en) Pipe latch circuit of multi-bit prefetch-type semiconductor memory device with improved structure
JPS62152050A (ja) 半導体メモリ
US7426683B2 (en) Semiconductor memory device equipped with error correction circuit
JPS63211198A (ja) 半導体記憶装置
JP2549209B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH07211077A (ja) 半導体記憶装置
US6219283B1 (en) Memory device with local write data latches
US6310818B1 (en) Semiconductor memory device and method of changing output data of the same
US6542392B2 (en) Content addressable memory devices determining entry data priority by valid data length
JPH079751B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS6376194A (ja) 半導体記憶装置
JP2575090B2 (ja) 半導体記憶装置
US6967882B1 (en) Semiconductor memory including static memory
JPS63239676A (ja) 半導体記憶装置
JP2624680B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH1125696A (ja) RambusDRAM用バイアステスト回路
JPS61289596A (ja) 半導体記憶装置
JP2607432B2 (ja) 半導体記憶装置
JPS6379296A (ja) 半導体記憶装置
JPH07118189B2 (ja) 半導体記憶装置
JPH023199A (ja) 半導体記憶装置
JP2002008398A (ja) シリアルアクセスメモリおよびデータライト/リード方法
JPH0750551B2 (ja) 半導体記憶装置