JPS6379968A - 磁気記録媒体の製造方法 - Google Patents
磁気記録媒体の製造方法Info
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- JPS6379968A JPS6379968A JP22560786A JP22560786A JPS6379968A JP S6379968 A JPS6379968 A JP S6379968A JP 22560786 A JP22560786 A JP 22560786A JP 22560786 A JP22560786 A JP 22560786A JP S6379968 A JPS6379968 A JP S6379968A
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- Japan
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- magnetic
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- alloy
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- sputtering
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、スパッタ法により形成した強磁性金属薄膜を
記録層とする磁気記録媒体の製造方法に関する。
記録層とする磁気記録媒体の製造方法に関する。
近年、磁気記録装置に用いられる磁気ディスクなどの磁
気記録媒体はまずます高密度記録化が要請されてきてお
り、それに対応するために、磁性層の薄膜化、磁力の強
化が必要であり、従来の非磁性基板上にγ−Fe203
粒子をバインダ中に分散させたものを塗布して焼成して
磁性層とする塗布型媒体にかわって、非磁性基板上にめ
っき法、真空蒸着法またはスパッタ法などで強磁性金属
からなる薄膜磁性層を形成する金属薄膜型磁気記録媒体
の開発がさかんに進められている。
気記録媒体はまずます高密度記録化が要請されてきてお
り、それに対応するために、磁性層の薄膜化、磁力の強
化が必要であり、従来の非磁性基板上にγ−Fe203
粒子をバインダ中に分散させたものを塗布して焼成して
磁性層とする塗布型媒体にかわって、非磁性基板上にめ
っき法、真空蒸着法またはスパッタ法などで強磁性金属
からなる薄膜磁性層を形成する金属薄膜型磁気記録媒体
の開発がさかんに進められている。
塗布型媒体では、現在0.7μm程度の膜厚が実用化さ
れている最も薄い膜厚であるのに対し、めっき、蒸着や
スパッタなどでは0.03〜0.05μmという塗布の
場合の1/10以下の薄膜が容易に実現できる。しかも
、塗布型媒体は磁性層が非磁性バインダを多量に含んだ
層であるのに対し、薄膜型媒体は磁性層が強磁性薄膜で
形成されるから非常に優れた磁気特性を有し、飽和磁化
が大きく保磁力も十分大きいので、このような薄膜化に
も特性上対応できるので、高密度記録化には金属薄膜型
媒体の方が好適である。
れている最も薄い膜厚であるのに対し、めっき、蒸着や
スパッタなどでは0.03〜0.05μmという塗布の
場合の1/10以下の薄膜が容易に実現できる。しかも
、塗布型媒体は磁性層が非磁性バインダを多量に含んだ
層であるのに対し、薄膜型媒体は磁性層が強磁性薄膜で
形成されるから非常に優れた磁気特性を有し、飽和磁化
が大きく保磁力も十分大きいので、このような薄膜化に
も特性上対応できるので、高密度記録化には金属薄膜型
媒体の方が好適である。
現在、高密度磁気記録装置として主流となってきている
固定磁気ディスク装置の記録媒体として用いられる金属
薄膜型の磁気ディスクは一般に第3図に模式的に示した
ような層構成である。第3図において、31は例えばア
ルミニウム合金からなるディスク状基板であり、その表
面はN1−P合金からなる非磁性基体層32で被覆され
ている。基体層32は記録・再生に際して媒体表面に磁
気ヘッドが接触し摺動するときの薄膜磁性層の機械的変
形損傷を防ぎ、かつ、媒体表面に十分な平滑性を付与す
るために設けられるもので、その表面は鏡面仕上げされ
ている。基体層32の上にCrからなる非磁性金属下地
層33が、蒸着、スパッタ、イオンブレーティングなど
で形成される。この下地層33は、その上に設けられる
磁性層の磁気特性を向上させるために設けられるもので
ある。下地層33の上に、蒸着、スパッタ、イオンブレ
ーティングなどでC。
固定磁気ディスク装置の記録媒体として用いられる金属
薄膜型の磁気ディスクは一般に第3図に模式的に示した
ような層構成である。第3図において、31は例えばア
ルミニウム合金からなるディスク状基板であり、その表
面はN1−P合金からなる非磁性基体層32で被覆され
ている。基体層32は記録・再生に際して媒体表面に磁
気ヘッドが接触し摺動するときの薄膜磁性層の機械的変
形損傷を防ぎ、かつ、媒体表面に十分な平滑性を付与す
るために設けられるもので、その表面は鏡面仕上げされ
ている。基体層32の上にCrからなる非磁性金属下地
層33が、蒸着、スパッタ、イオンブレーティングなど
で形成される。この下地層33は、その上に設けられる
磁性層の磁気特性を向上させるために設けられるもので
ある。下地層33の上に、蒸着、スパッタ、イオンブレ
ーティングなどでC。
合金からなる薄膜磁性層34が形成される。最後に、こ
の磁性層の上に1例えばカーボンからなる保護潤滑層3
5が形成される。この層は腐食、@耗し易い金属薄膜磁
性層を被覆保護し、耐食性、耐久性を向上させるために
設けるものである。
の磁性層の上に1例えばカーボンからなる保護潤滑層3
5が形成される。この層は腐食、@耗し易い金属薄膜磁
性層を被覆保護し、耐食性、耐久性を向上させるために
設けるものである。
以上のような各薄膜の形成技術としては、真空蒸着法、
スパッタ法、イオンブレーティング法。
スパッタ法、イオンブレーティング法。
めっき法、スピンコード法などがあるが、スパッタ法が
媒体作製法として注目されている。均質な組成の薄膜が
得られ易い、膜厚管理が比較的容易。
媒体作製法として注目されている。均質な組成の薄膜が
得られ易い、膜厚管理が比較的容易。
非磁性金属下地層以降をすべてスパッタ法で連続して行
うことができ量産に適しているなど利点が多いからであ
る。
うことができ量産に適しているなど利点が多いからであ
る。
CO合金薄膜磁性層は、従来、磁気テープによく使われ
てきたが、その際、斜め蒸着法が採られていた。斜め蒸
着法により00合金薄膜の磁化容易軸が面内に倒れ、磁
気異方性が現れて保磁力が大幅に向上することを利用し
ていたのである。一方、前述の金属薄膜型磁気ディスク
をスパッタ法で作製する場合には、非磁性基体層上に非
磁性金属下地層としてスパッタリングされたCr薄膜上
に、連続してスパッタリングされたCO合金はCr薄膜
上にエビクキシャル的に成長して薄膜磁性層を形成する
。このとき、下地層のCr薄膜の結晶配向性により、そ
の上に成長した00合金薄膜は磁化容易軸が膜面内に揃
うようになり、水平方向の磁気異方性が大きく現れて十
分高い保磁力が得られることになる。
てきたが、その際、斜め蒸着法が採られていた。斜め蒸
着法により00合金薄膜の磁化容易軸が面内に倒れ、磁
気異方性が現れて保磁力が大幅に向上することを利用し
ていたのである。一方、前述の金属薄膜型磁気ディスク
をスパッタ法で作製する場合には、非磁性基体層上に非
磁性金属下地層としてスパッタリングされたCr薄膜上
に、連続してスパッタリングされたCO合金はCr薄膜
上にエビクキシャル的に成長して薄膜磁性層を形成する
。このとき、下地層のCr薄膜の結晶配向性により、そ
の上に成長した00合金薄膜は磁化容易軸が膜面内に揃
うようになり、水平方向の磁気異方性が大きく現れて十
分高い保磁力が得られることになる。
スパッタ法により磁気ディスクを製造する場合、第1図
に要部を模式的に示すようなスパッタ装置が多く用いら
れる。図示されてはいない真空チャンバー内にCrター
ゲット13と00合金ターゲツト14が並置されており
、非磁性基体層で被覆されたディスク基板11がCrタ
ーゲット側から00合金ターゲツト側へ矢印Aのように
基板搬送レール12により搬送されなから[r下地層と
CO合金磁磁性層が順次スパッタにより積層形成される
。その後、基板は基板搬送レールにより図示はされてい
ない保護潤滑層用材料のターゲットのところまで搬送さ
れ、保護潤滑層をスパッタリングにより形成されて媒体
となる。
に要部を模式的に示すようなスパッタ装置が多く用いら
れる。図示されてはいない真空チャンバー内にCrター
ゲット13と00合金ターゲツト14が並置されており
、非磁性基体層で被覆されたディスク基板11がCrタ
ーゲット側から00合金ターゲツト側へ矢印Aのように
基板搬送レール12により搬送されなから[r下地層と
CO合金磁磁性層が順次スパッタにより積層形成される
。その後、基板は基板搬送レールにより図示はされてい
ない保護潤滑層用材料のターゲットのところまで搬送さ
れ、保護潤滑層をスパッタリングにより形成されて媒体
となる。
このようにして作製された磁気ディスクは、十分な保磁
力を有するものの、実際に記録装置に搭載し、磁気ヘッ
ドと組み合わせて書き込み、読み出しを行った場合、第
2図に示すように、再生出力のエンベロープ曲線Bが変
動し電磁変換特性が変動するという問題がしばしば発生
した。特に、保磁力を高くしたときにこのエンベロープ
曲線の変動率(Emax −Emin) / Eo X
100(%)が太き(なる。この原因について調査を行
ったところ、エンベロープ曲線の変動は磁性層内の場所
による磁気異方性の強さの差異によることが判った。
力を有するものの、実際に記録装置に搭載し、磁気ヘッ
ドと組み合わせて書き込み、読み出しを行った場合、第
2図に示すように、再生出力のエンベロープ曲線Bが変
動し電磁変換特性が変動するという問題がしばしば発生
した。特に、保磁力を高くしたときにこのエンベロープ
曲線の変動率(Emax −Emin) / Eo X
100(%)が太き(なる。この原因について調査を行
ったところ、エンベロープ曲線の変動は磁性層内の場所
による磁気異方性の強さの差異によることが判った。
この問題の解決方法の一つとして、磁性層をスパッタで
形成する際に、雰囲気の后ガスの圧力を高くしてスパッ
タ粒子とAr原子との衝突回数を増やし、スパッタ粒子
の基板への入射方向をランダムにすることが有効であっ
た。具体的にはArガス圧を3.5 Xl0−2Tor
r まで高めたときに、はぼ実用上問題のない程度の再
生出力のエンベロープ曲線が得られた。
形成する際に、雰囲気の后ガスの圧力を高くしてスパッ
タ粒子とAr原子との衝突回数を増やし、スパッタ粒子
の基板への入射方向をランダムにすることが有効であっ
た。具体的にはArガス圧を3.5 Xl0−2Tor
r まで高めたときに、はぼ実用上問題のない程度の再
生出力のエンベロープ曲線が得られた。
しかしながら、Arガス圧を3.5 Xl0−2Tqr
r まで高めると、スパッタリングによる成膜速度が非
常に低下し、かつ、下地層のCr膜への密着性の弱い膜
となる。さらに磁気特性の劣化も生じるようになる。
r まで高めると、スパッタリングによる成膜速度が非
常に低下し、かつ、下地層のCr膜への密着性の弱い膜
となる。さらに磁気特性の劣化も生じるようになる。
本発明は、前述の点に鑑みてなされたものであって、保
磁力が大きく、かつ、磁気特性の経時変化が少なく、ま
た、再生出力のエンベロープ曲線の均一化にみられるご
とく、優れた電磁変換特性をもつ磁気記録媒体の製造方
法を提供することを目的とする。
磁力が大きく、かつ、磁気特性の経時変化が少なく、ま
た、再生出力のエンベロープ曲線の均一化にみられるご
とく、優れた電磁変換特性をもつ磁気記録媒体の製造方
法を提供することを目的とする。
本発明は、真空チャンバー内に並設されたCrターゲッ
トとCo合金ターゲットとに対向して、所定の間隔をお
いて、CrターゲットからCo合金ターゲットの方向へ
搬送される非磁性基板上に設けられた非磁性基体層表面
に、非磁性金属下地層としてCrをスパッタリングし、
続いてその上に磁性層としてCO合金をスパッタリング
する磁気記録媒体の製造方法において、前記磁性層をス
パッタリングする際に基板表面からCo合金ターゲット
のエロージョン領域を見込む角度が、基板の法線に対し
て40°以内であるようにすることによって前記目的を
達成する。
トとCo合金ターゲットとに対向して、所定の間隔をお
いて、CrターゲットからCo合金ターゲットの方向へ
搬送される非磁性基板上に設けられた非磁性基体層表面
に、非磁性金属下地層としてCrをスパッタリングし、
続いてその上に磁性層としてCO合金をスパッタリング
する磁気記録媒体の製造方法において、前記磁性層をス
パッタリングする際に基板表面からCo合金ターゲット
のエロージョン領域を見込む角度が、基板の法線に対し
て40°以内であるようにすることによって前記目的を
達成する。
以下、本発明の実施例について、図面を参照しながら説
明する。
明する。
本発明の実施に際しては、第1図に装置の要部を模式的
に示したような従来から使用されているスパッタリング
装置を用いることができる。基板11としてはディスク
状A1合金基板の表面に非磁性基体層としてN1−P合
金を無電解めっきで形成し鏡面研磨を施したものを用い
る。基板11は図示されていない真空槽内に並置された
Crターゲット13゜Co−30at%Ni−7,5a
t%CrのCo合金ターゲット14の上を基板搬送レー
ル12により矢印Δの方向に90mmZ分の速さで搬送
されながら、その表面にまず下地層としてCrを膜厚1
500人に成膜され、続いてこの下地層の上にCO合金
を膜厚500人に成膜されて磁性層とされる。基板11
は、さらに搬送されていって図示されていないカーボン
ターゲットからカーボンを500人の厚みに成膜されて
保護潤滑層とされ、磁気記録媒体とされる。これらの成
膜は、すべて后ガス雰囲気中でDCマグネトロン方式の
スパッタで行われる。
に示したような従来から使用されているスパッタリング
装置を用いることができる。基板11としてはディスク
状A1合金基板の表面に非磁性基体層としてN1−P合
金を無電解めっきで形成し鏡面研磨を施したものを用い
る。基板11は図示されていない真空槽内に並置された
Crターゲット13゜Co−30at%Ni−7,5a
t%CrのCo合金ターゲット14の上を基板搬送レー
ル12により矢印Δの方向に90mmZ分の速さで搬送
されながら、その表面にまず下地層としてCrを膜厚1
500人に成膜され、続いてこの下地層の上にCO合金
を膜厚500人に成膜されて磁性層とされる。基板11
は、さらに搬送されていって図示されていないカーボン
ターゲットからカーボンを500人の厚みに成膜されて
保護潤滑層とされ、磁気記録媒体とされる。これらの成
膜は、すべて后ガス雰囲気中でDCマグネトロン方式の
スパッタで行われる。
ターゲットにはマスク15が設けられているが、このマ
スク15の形状およびマスク15と基板11との間隔に
より、基板上からターゲットのエロージョン領域16を
見込む基板の法線に対する最大角度θmaXが決まる。
スク15の形状およびマスク15と基板11との間隔に
より、基板上からターゲットのエロージョン領域16を
見込む基板の法線に対する最大角度θmaXが決まる。
この角度は、スパッタ粒子が基板に入射する最大角度で
あり、スパッタ粒子がこの角度以上に傾いて斜めに基板
に入射することはない。
あり、スパッタ粒子がこの角度以上に傾いて斜めに基板
に入射することはない。
Cr下地層を形成された基板が00合金ターゲツトの方
へ搬送されてくると、はぼ角度θmaX の位置からC
O合金のスパッタ粒子が基板上に付着しはじめ、磁性層
の成膜がはじまる。その後、基板が搬送されるにつれて
、スパッタ粒子の入射角は小さくなり、基板がCo合金
ターゲットの上にきたとき垂直となり、その後基板が0
0合金ターゲツト上を通過して、離れていくにつれてス
パッタ粒子の入射角は増大していき、最大角度θmaX
となった位置でスパッタ粒子の基板への伺着は止まり
、磁性層の成膜は終了する。
へ搬送されてくると、はぼ角度θmaX の位置からC
O合金のスパッタ粒子が基板上に付着しはじめ、磁性層
の成膜がはじまる。その後、基板が搬送されるにつれて
、スパッタ粒子の入射角は小さくなり、基板がCo合金
ターゲットの上にきたとき垂直となり、その後基板が0
0合金ターゲツト上を通過して、離れていくにつれてス
パッタ粒子の入射角は増大していき、最大角度θmaX
となった位置でスパッタ粒子の基板への伺着は止まり
、磁性層の成膜は終了する。
このように、基板がターゲットに対して移動しながらス
パッタが行われるために、基板へのスパッタ粒子の入射
角が変化し、基板内の場所により形成された膜の結晶の
成長方向が変わり、その結果、磁性層の磁気特性が場所
により変わることになる。このことが、媒体の再生出力
のエンベロープ曲線が変動し、電磁変換特性が変動する
原因と考えられる。基板へのスパッタ粒子の入射角の変
化が少ない程、磁性層内の磁気特性の変動幅は小さくな
る。スパッタ粒子の入射角の変化はθmaXが小さい程
少なくなる。従って、θmaXを小さくすると、再生出
力のエンベロープ曲線の変動率を小さく抑えることがで
きる。
パッタが行われるために、基板へのスパッタ粒子の入射
角が変化し、基板内の場所により形成された膜の結晶の
成長方向が変わり、その結果、磁性層の磁気特性が場所
により変わることになる。このことが、媒体の再生出力
のエンベロープ曲線が変動し、電磁変換特性が変動する
原因と考えられる。基板へのスパッタ粒子の入射角の変
化が少ない程、磁性層内の磁気特性の変動幅は小さくな
る。スパッタ粒子の入射角の変化はθmaXが小さい程
少なくなる。従って、θmaXを小さくすると、再生出
力のエンベロープ曲線の変動率を小さく抑えることがで
きる。
そこで、磁性層を形成するときのスパッタ雰囲気のAr
ガス圧が、5 X 1O−3Torrの場合と、1×1
0−2Torrの場合とについて、θmaXを20°、
406゜50°、60°と変化させて磁気記録媒体を作
製し、これらの媒体について、再生出力のエンベロープ
曲線の変動率を調べた。その結果、どちらのArガス圧
の場合にも、θmaXが20°、40°のときにはエン
ベロープ曲線の変動率が±10%以内であって、十分に
実用に供せられるものであった。これ以外の媒体につい
ては、エンベロープ曲線の変動率が±15%から±25
%の間にあり実用上問題であった。
ガス圧が、5 X 1O−3Torrの場合と、1×1
0−2Torrの場合とについて、θmaXを20°、
406゜50°、60°と変化させて磁気記録媒体を作
製し、これらの媒体について、再生出力のエンベロープ
曲線の変動率を調べた。その結果、どちらのArガス圧
の場合にも、θmaXが20°、40°のときにはエン
ベロープ曲線の変動率が±10%以内であって、十分に
実用に供せられるものであった。これ以外の媒体につい
ては、エンベロープ曲線の変動率が±15%から±25
%の間にあり実用上問題であった。
また、Arガス圧I Xl0−2TorrでθmaXを
40°。
40°。
60°として作製した前記媒体について、温度60℃。
相対湿度90%の雰囲気中に2週間放置する環境試験を
行った。その結果、電磁変換特性において、θma×4
0°で作製した媒体はエラー数の増加はみられなかった
が、θma×60°で作製した媒体においては5個/面
のエラー数の増加が観測された。
行った。その結果、電磁変換特性において、θma×4
0°で作製した媒体はエラー数の増加はみられなかった
が、θma×60°で作製した媒体においては5個/面
のエラー数の増加が観測された。
以上の結果により、θmaXを40°以内にすると、圧
力1O−2Torr以下のArガス雰囲気において、成
膜速度をおとすことなく、CO合金をスパッタして磁性
層を形成し、再生出力のエンベロープ曲線の変動率が十
分小さくて実用上問題とならない媒体を作製できること
が判る。
力1O−2Torr以下のArガス雰囲気において、成
膜速度をおとすことなく、CO合金をスパッタして磁性
層を形成し、再生出力のエンベロープ曲線の変動率が十
分小さくて実用上問題とならない媒体を作製できること
が判る。
この実施例においては、磁性層材料としてC0−3Qa
t%Ni−7,5at%Crを用いたが、この組成に限
られることはなく、N1の含有量20at%〜35at
%、 Crの含有量5at%〜1Qat%で残部がCO
であるような組成比の合金は好適に用いることができ、
さらに他の組成のCO合金を用いてもよい。
t%Ni−7,5at%Crを用いたが、この組成に限
られることはなく、N1の含有量20at%〜35at
%、 Crの含有量5at%〜1Qat%で残部がCO
であるような組成比の合金は好適に用いることができ、
さらに他の組成のCO合金を用いてもよい。
また、Cr下地層の上に形成されたCo−30at%N
i−7、5at%Crからなる磁性層の磁気特性は、第
4図に示すとおり、下地層としてのCr膜の膜厚に依存
する。実施例においては、このCr膜厚を1500人と
したが、1000八以上あれば実用上問題ない。
i−7、5at%Crからなる磁性層の磁気特性は、第
4図に示すとおり、下地層としてのCr膜の膜厚に依存
する。実施例においては、このCr膜厚を1500人と
したが、1000八以上あれば実用上問題ない。
本発明においては、並設されたCrターゲットと00合
金ターゲツトとの上を搬送される基板表面に、Cr下地
層、 Co合金磁性層を順次スパッタにより形成して媒
体を作製するときに、基板から00合金ターゲツトのエ
ロージョン領域を見込む角度が基板の法線に対して40
°以内であるようにする。このようにして、Co合金ス
パッタ粒子の基板への入射角の変動幅を小さくすること
により、基板内の磁気特性の変動を抑えて均一にするこ
とができ、再生出力のエンベロープ曲線の変動率が小さ
く均一で、電磁変換特性が優れ、かつ、保磁力の大きい
磁気記録媒体を製造することが可能となる。
金ターゲツトとの上を搬送される基板表面に、Cr下地
層、 Co合金磁性層を順次スパッタにより形成して媒
体を作製するときに、基板から00合金ターゲツトのエ
ロージョン領域を見込む角度が基板の法線に対して40
°以内であるようにする。このようにして、Co合金ス
パッタ粒子の基板への入射角の変動幅を小さくすること
により、基板内の磁気特性の変動を抑えて均一にするこ
とができ、再生出力のエンベロープ曲線の変動率が小さ
く均一で、電磁変換特性が優れ、かつ、保磁力の大きい
磁気記録媒体を製造することが可能となる。
また、本発明の方法によれば、スパッタを行う雰囲気の
Arガス圧を高くする必要がないので、C。
Arガス圧を高くする必要がないので、C。
合金膜の成膜速度が低下することなく、密着性良好でし
かも磁気特性の劣化の少ない磁性層が形成でき、この点
でも優れた磁気記録媒体を得ることができる。
かも磁気特性の劣化の少ない磁性層が形成でき、この点
でも優れた磁気記録媒体を得ることができる。
第1図は本発明を実施できるスパッタ装置の要部の模式
図、第2図は磁気記録媒体の再生出力のエンベロープ曲
線を示す図、第3図は磁気記録媒体の一例の層構成を示
す模式的断面図、第4図はCr下地層のCr膜厚と、C
o−3Qat%Ni−7,5at%Crの磁性層の磁気
特性との関係を示す線図である。 11 基板、12 基板搬送レール、13− Cr
クーゲット、]、t−Co合金ターゲット、15 マ
スク、16エロージヨン領域。 第 1 図 第3図 cr膜厚<A> 當゛ l M
図、第2図は磁気記録媒体の再生出力のエンベロープ曲
線を示す図、第3図は磁気記録媒体の一例の層構成を示
す模式的断面図、第4図はCr下地層のCr膜厚と、C
o−3Qat%Ni−7,5at%Crの磁性層の磁気
特性との関係を示す線図である。 11 基板、12 基板搬送レール、13− Cr
クーゲット、]、t−Co合金ターゲット、15 マ
スク、16エロージヨン領域。 第 1 図 第3図 cr膜厚<A> 當゛ l M
Claims (1)
- 1)真空チャンバー内に並設されたクロム(Cr)ター
ゲットとコバルト(Co)合金ターゲットとに対向して
、所定の間隔をおいてクロム(Cr)ターゲットからコ
バルト(Co)合金ターゲットの方向へ搬送される非磁
性基板を被覆している非磁性基体層表面上に、非磁性金
属下地層としてクロム(Cr)をスパッタし、続いてそ
の上に磁性層としてコバルト(Co)合金をスパッタす
る磁気記録媒体の製造方法において、前記磁性層をスパ
ッタで形成する際、前記基板表面から前記コバルト(C
o)合金ターゲットのエロージョン領域を見込む角度が
、前記基板の法線に対して40°以内であることを特徴
とする磁気記録媒体の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22560786A JPH0647722B2 (ja) | 1986-09-24 | 1986-09-24 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22560786A JPH0647722B2 (ja) | 1986-09-24 | 1986-09-24 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6379968A true JPS6379968A (ja) | 1988-04-09 |
| JPH0647722B2 JPH0647722B2 (ja) | 1994-06-22 |
Family
ID=16831972
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22560786A Expired - Lifetime JPH0647722B2 (ja) | 1986-09-24 | 1986-09-24 | 磁気記録媒体の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0647722B2 (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63310965A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-19 | Anelva Corp | スパッタリング装置 |
| US4950548A (en) * | 1988-05-27 | 1990-08-21 | Hitachi, Ltd. | Magnetic recording medium and method of producing same |
| JPH02258975A (ja) * | 1988-12-22 | 1990-10-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | スパッタリング方法 |
| JPH03127329A (ja) * | 1989-10-13 | 1991-05-30 | Fuji Electric Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
| JPH03219067A (ja) * | 1989-02-15 | 1991-09-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | スパッタリング方法 |
| US5527438A (en) * | 1994-12-16 | 1996-06-18 | Applied Materials, Inc. | Cylindrical sputtering shield |
| JP2013014806A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Denso Corp | 結晶軸傾斜膜の製造方法 |
-
1986
- 1986-09-24 JP JP22560786A patent/JPH0647722B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63310965A (ja) * | 1987-06-11 | 1988-12-19 | Anelva Corp | スパッタリング装置 |
| US4950548A (en) * | 1988-05-27 | 1990-08-21 | Hitachi, Ltd. | Magnetic recording medium and method of producing same |
| JPH02258975A (ja) * | 1988-12-22 | 1990-10-19 | Fuji Photo Film Co Ltd | スパッタリング方法 |
| JPH03219067A (ja) * | 1989-02-15 | 1991-09-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | スパッタリング方法 |
| JPH03127329A (ja) * | 1989-10-13 | 1991-05-30 | Fuji Electric Co Ltd | 磁気記録媒体の製造方法 |
| US5527438A (en) * | 1994-12-16 | 1996-06-18 | Applied Materials, Inc. | Cylindrical sputtering shield |
| JP2013014806A (ja) * | 2011-07-04 | 2013-01-24 | Denso Corp | 結晶軸傾斜膜の製造方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0647722B2 (ja) | 1994-06-22 |
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