JPS6419103U - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6419103U
JPS6419103U JP11313587U JP11313587U JPS6419103U JP S6419103 U JPS6419103 U JP S6419103U JP 11313587 U JP11313587 U JP 11313587U JP 11313587 U JP11313587 U JP 11313587U JP S6419103 U JPS6419103 U JP S6419103U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
light reflected
measured
reflecting mirror
irradiated
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11313587U
Other languages
English (en)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority to JP11313587U priority Critical patent/JPS6419103U/ja
Publication of JPS6419103U publication Critical patent/JPS6419103U/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例を示す概略構成図、第
2図は光検出器面上に入射する2光線の光路差を
説明するための図面、及び第3図は従来の光学的
測距装置を示す概略構成図である。 1……低コヒーレントな光源、2……ビームス
プリツタ、3……可動鏡、4……測定物、5……
光検出器、6……増幅器、7……最大値検出回路
、8a,8b……ビームエクスパンダ、9……多
数の光検出素子を一次元状に配列した一次元アレ
ー光検出器、10……鏡、11……第4の経路の
光、12……第3の経路の光。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 低コヒーレントな光源を使用し、光の干渉
    を利用して測定物までの距離を測定する装置にお
    いて、ビームスプリツタを用いて前記光源からの
    光を反射光と透過光とに分離して一方を測定物に
    他方を反射鏡に照射し、前記測定物から反射した
    光と前記反射鏡から反射した光とを互いに異なる
    入射角で、複数の光検出素子を一次元に配列して
    構成された一次元アレー光検出器上に照射して干
    渉させ、最も強い干渉を生じた光検出素子の位置
    を検出し、該光検出素子の位置を利用して前記測
    定物までの距離を測定することを特徴とする光学
    的測距装置。 (2) 実用新案登録請求の範囲第1項において、
    前記測定物から反射した光と、前記反射鏡で反射
    した光とを前記一次元アレー光検出器に照射する
    前に、夫々レンズを含むビームエクスパンダを用
    いてビーム径を拡大することを特徴とする光学的
    測距装置。
JP11313587U 1987-07-23 1987-07-23 Pending JPS6419103U (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11313587U JPS6419103U (ja) 1987-07-23 1987-07-23

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11313587U JPS6419103U (ja) 1987-07-23 1987-07-23

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6419103U true JPS6419103U (ja) 1989-01-31

Family

ID=31352704

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11313587U Pending JPS6419103U (ja) 1987-07-23 1987-07-23

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6419103U (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS524260A (en) * 1975-06-28 1977-01-13 Canon Inc Physical factor measuring system
JPS6176902A (ja) * 1984-09-25 1986-04-19 Yamazaki Mazak Corp 非接触形プロ−ブ

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS524260A (en) * 1975-06-28 1977-01-13 Canon Inc Physical factor measuring system
JPS6176902A (ja) * 1984-09-25 1986-04-19 Yamazaki Mazak Corp 非接触形プロ−ブ

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3122892B2 (ja) 分光測定を行なう装置
US4022532A (en) Sample point interferometric system for optical figure monitoring
US5260761A (en) Apparatus for the measurement of surface shape
US4504147A (en) Angular alignment sensor
CN105674875B (zh) 一种全视场低频外差点衍射干涉仪
US20160238631A1 (en) Optical knife-edge detector with large dynamic range
JP2533514B2 (ja) 凹部深さ・膜厚測定装置
US3664739A (en) Method and device for measuring strain and other changes in dimension
JPS6419103U (ja)
US4687332A (en) Self-referencing scan-shear interferometer
JPH07503547A (ja) 距離測定用干渉型プローブ
JPS6338091B2 (ja)
US5100227A (en) Translation insensitive keratometer using moire deflectometry
JPS6241224Y2 (ja)
JPH0623922Y2 (ja) 厚さ監視装置
JPH0454405A (ja) 光学式変位計
JP2780868B2 (ja) 放散的に反射する対象物の表面輪郭を決定する方法および装置
JP2923859B2 (ja) 屈折率測定装置
JPH0512753Y2 (ja)
JPH0243638U (ja)
JP2502092B2 (ja) 干渉装置
JPS61105805U (ja)
JPH02110813U (ja)
JPH01107905U (ja)
Tiziani Optical methods for surface measurements: state of the art