JPS642980B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS642980B2 JPS642980B2 JP56155086A JP15508681A JPS642980B2 JP S642980 B2 JPS642980 B2 JP S642980B2 JP 56155086 A JP56155086 A JP 56155086A JP 15508681 A JP15508681 A JP 15508681A JP S642980 B2 JPS642980 B2 JP S642980B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- instruction
- time
- execution
- check routine
- measured
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
- G06F11/30—Monitoring
- G06F11/34—Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
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- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は命令実行時間の測定方法、特に計算機
内で実行される命令の１つ１つについてその実行
時間を測定する方法に関する。
内で実行される命令の１つ１つについてその実行
時間を測定する方法に関する。
計算機は多種多数の命令によつて動作する。こ
の場合、各命令がどの位の時間をかけて実行され
るかを知ることがしばしば要求される。システム
の性能判定に重要な因子の１つとなるからであ
る。通常、これらの命令実行時間は設計段階で大
体の見当がつけられている。然し、正確にこれら
命令実行時間を測定することは容易ではない。
の場合、各命令がどの位の時間をかけて実行され
るかを知ることがしばしば要求される。システム
の性能判定に重要な因子の１つとなるからであ
る。通常、これらの命令実行時間は設計段階で大
体の見当がつけられている。然し、正確にこれら
命令実行時間を測定することは容易ではない。
従来、計時機構を備えた計算機において命令実
行時間を測定する場合、ある被測定命令の実行開
始時にSTCK（ストア・クロツク）という命令を
実行し、この時の時刻t1を読み取り、該被測定命
令の終了時に再び命令STCKを実行し、この時の
時刻t2を読み取る。そうすると、（t2−t1）がその
被測定命令の実行時間ということになる。然しこ
の従来の方法は、その被測定命令の実行時間が相
当に長くない限り精度が劣る。なぜなら、（t2−
t1）の中に、不要な命令STCKの実行時間まで包
含してしまうからである。このため、このような
命令STCKの実行時間を見かけ上零にするため、
被測定命令を例えば100万回繰り返し実行して、
前述した時間（t2−t1）相当の時間を測定し、そ
の時間を前記100万で除して１命令の実行時間を
測定するという提案がなされた。ところが、この
提案によると、前記100万回の繰返し実行に到達
するための分岐命令の実行時間が再び不要時間と
して含まれてしまい、結局正確な命令実行時間の
測定が実現されなかつた。
行時間を測定する場合、ある被測定命令の実行開
始時にSTCK（ストア・クロツク）という命令を
実行し、この時の時刻t1を読み取り、該被測定命
令の終了時に再び命令STCKを実行し、この時の
時刻t2を読み取る。そうすると、（t2−t1）がその
被測定命令の実行時間ということになる。然しこ
の従来の方法は、その被測定命令の実行時間が相
当に長くない限り精度が劣る。なぜなら、（t2−
t1）の中に、不要な命令STCKの実行時間まで包
含してしまうからである。このため、このような
命令STCKの実行時間を見かけ上零にするため、
被測定命令を例えば100万回繰り返し実行して、
前述した時間（t2−t1）相当の時間を測定し、そ
の時間を前記100万で除して１命令の実行時間を
測定するという提案がなされた。ところが、この
提案によると、前記100万回の繰返し実行に到達
するための分岐命令の実行時間が再び不要時間と
して含まれてしまい、結局正確な命令実行時間の
測定が実現されなかつた。
従つて本発明の目的は、従来に比して精度の高
い測定が行なえる、命令実行時間の測定方法を提
案することである。
い測定が行なえる、命令実行時間の測定方法を提
案することである。
上記目的に従い本発明は、計時機構を有する計
算機において、 命令実行時間を測定すべき被測定命令と所定の
環境設定命令とこれら２つの命令を回数Ｎだけ繰
り返し実行させる分岐命令とからなる第１チエツ
クルーチンを設定し、そのルーチン実行の開始時
刻Ts1および終了時刻Te1を計時する第１工程と、 前記所定の環境設定命令とこの命令を前記所定
の回数Ｎだけ繰り返し実行させる前記分岐命令と
からなる第２チエツクルーチンを設定し、そのル
ーチン実行の開始時刻Ts2および終了時刻Te2を
計時する第２工程と、 ｔ＝（Te1−Ts1）−（Te2−Ts2）／Ｎを演算して１ つの前記被測定命令の実行時間ｔを得る第３工
程、 とからなることを特徴とするものである。
算機において、 命令実行時間を測定すべき被測定命令と所定の
環境設定命令とこれら２つの命令を回数Ｎだけ繰
り返し実行させる分岐命令とからなる第１チエツ
クルーチンを設定し、そのルーチン実行の開始時
刻Ts1および終了時刻Te1を計時する第１工程と、 前記所定の環境設定命令とこの命令を前記所定
の回数Ｎだけ繰り返し実行させる前記分岐命令と
からなる第２チエツクルーチンを設定し、そのル
ーチン実行の開始時刻Ts2および終了時刻Te2を
計時する第２工程と、 ｔ＝（Te1−Ts1）−（Te2−Ts2）／Ｎを演算して１ つの前記被測定命令の実行時間ｔを得る第３工
程、 とからなることを特徴とするものである。
以下図面に従つて本発明を説明する。
第１Ａ図は本発明に係る第１チエツクルーチン
を図解的に説明するための図であり、第１Ｂ図は
本発明に係る第２チエツクルーチンを図解的に説
明するための図である。第１Ａ図に示す第１チエ
ツクルーチンでは、命令実行時間を測定すべき被
測定命令と引続く環境設定命令とが対になつてお
り、これらの命令の対が、Ｎ回、分岐命令によつ
て繰り返し実行される。この第１チエツクルーチ
ンの実行開始時刻Ts1および終了時刻Te1が、当
接計算機に内蔵された計時機構により読取られ
る。そうすると、第１チエツクルーチンの実行時
間は（Te1−Ts1）で与えられる。
を図解的に説明するための図であり、第１Ｂ図は
本発明に係る第２チエツクルーチンを図解的に説
明するための図である。第１Ａ図に示す第１チエ
ツクルーチンでは、命令実行時間を測定すべき被
測定命令と引続く環境設定命令とが対になつてお
り、これらの命令の対が、Ｎ回、分岐命令によつ
て繰り返し実行される。この第１チエツクルーチ
ンの実行開始時刻Ts1および終了時刻Te1が、当
接計算機に内蔵された計時機構により読取られ
る。そうすると、第１チエツクルーチンの実行時
間は（Te1−Ts1）で与えられる。
次に第１Ｂ図に示す第２チエツクルーチンで
は、（ ）を付した被測定命令を除いて、前
述と同様の環境設定命令とＮ回の分岐命令を実行
し、前記計時機構により、該ルーチンの実行開始
時刻Ts2および終了時刻Te2を読取る。そうする
と、第２チエツクルーチンの実行時間は（Te2−
Ts2）で与えられる。
は、（ ）を付した被測定命令を除いて、前
述と同様の環境設定命令とＮ回の分岐命令を実行
し、前記計時機構により、該ルーチンの実行開始
時刻Ts2および終了時刻Te2を読取る。そうする
と、第２チエツクルーチンの実行時間は（Te2−
Ts2）で与えられる。
ここで前記実行時間（Te1−Ts1）および
（Te2−Ts2）についてみると、 （Te1−Ts1）＞（Te2−Ts2） である。このような大小関係が生じたのは、第１
Ｂ図の第２チエツクルーチンで、被測定命令のＮ
回の実行を排除したからである。このことから、
被測定命令をＮ回実行するに要した時間は
｛（Te1−Ts1）−（Te2−Ts2）｝であることが判明
し、さらに１つの被測定命令を実行するに要した
時間ｔは、これをＮで除して求められる（ｔ＝
｛（Te1−Ts1）−（Te2−Ts2）｝×１／Ｎ）。かくして
従 来の方法における不都合、すなわち既述した、命
令STCKに要した時間の混入、ならびに分岐命令
に要した時間の混入が避けられる。前記命令
STCKに要した時間の混入が防げたのは、第１お
よび第２チエツクルーチンで同一命令STCK（時
刻読取り）を行なうことにより両者を相殺できる
からである。又、前記分岐命令に要した時間の混
入が防げたのは、環境設定命令を導入したからで
あり、この命令はいわばダミー命令とも考えられ
る。前記分岐命令に要した時間は、被測定命令を
組み入れた第１チエツクルーチンの実行時間と被
測定命令を組み入れない第２チエツクルーチンの
実行時間との差をとれば、相殺される。
（Te2−Ts2）についてみると、 （Te1−Ts1）＞（Te2−Ts2） である。このような大小関係が生じたのは、第１
Ｂ図の第２チエツクルーチンで、被測定命令のＮ
回の実行を排除したからである。このことから、
被測定命令をＮ回実行するに要した時間は
｛（Te1−Ts1）−（Te2−Ts2）｝であることが判明
し、さらに１つの被測定命令を実行するに要した
時間ｔは、これをＮで除して求められる（ｔ＝
｛（Te1−Ts1）−（Te2−Ts2）｝×１／Ｎ）。かくして
従 来の方法における不都合、すなわち既述した、命
令STCKに要した時間の混入、ならびに分岐命令
に要した時間の混入が避けられる。前記命令
STCKに要した時間の混入が防げたのは、第１お
よび第２チエツクルーチンで同一命令STCK（時
刻読取り）を行なうことにより両者を相殺できる
からである。又、前記分岐命令に要した時間の混
入が防げたのは、環境設定命令を導入したからで
あり、この命令はいわばダミー命令とも考えられ
る。前記分岐命令に要した時間は、被測定命令を
組み入れた第１チエツクルーチンの実行時間と被
測定命令を組み入れない第２チエツクルーチンの
実行時間との差をとれば、相殺される。
前記所定の回数Ｎ、すなわち分岐回数は原理的
に１でも構わないが、時刻読取り命令の実行だけ
でもμSオーダの時間を費やしてしまうので、nS
オーダの測定時間を問題とする本発明にあつて
は、例えば被測定命令（および環境設定命令）を
100万回程度繰り返し実行し時間的なバランスを
とるのが望ましい。100万回実行したとしても、
チエツクルーチンの一巡は高々数秒以内で終了す
る。
に１でも構わないが、時刻読取り命令の実行だけ
でもμSオーダの時間を費やしてしまうので、nS
オーダの測定時間を問題とする本発明にあつて
は、例えば被測定命令（および環境設定命令）を
100万回程度繰り返し実行し時間的なバランスを
とるのが望ましい。100万回実行したとしても、
チエツクルーチンの一巡は高々数秒以内で終了す
る。
第２Ａ図および第２Ｂ図は本発明の測定方法を
実施した第１例を図解的に示す図である。被測定
命令としてはＡ（ADD命令）を対象とする。動作
は次のとおりである。
実施した第１例を図解的に示す図である。被測定
命令としてはＡ（ADD命令）を対象とする。動作
は次のとおりである。
GR１５に繰り返しの回数Ｎを置く（図中の
………参照、以下同様）。ＬはLoadの意味で
あり、１５は汎用レジスタの意味であり、Ｆは
16進でという意味である。なお前記のGR１５
は汎用レジスタからなるカウンタを意味する。
………参照、以下同様）。ＬはLoadの意味で
あり、１５は汎用レジスタの意味であり、Ｆは
16進でという意味である。なお前記のGR１５
は汎用レジスタからなるカウンタを意味する。
チエツクルーチンの実行開始時刻を命令
STCKにより読取る。
STCKにより読取る。
ADD命令はレジスタ４のデータとメモリ内
のデータ１（Ａ０１）とを加算する。被加算デ
ータはレジスタ４にあり演算結果は再びレジス
タ４に戻される。これが前記被測定命令の実行
の具体例である。
のデータ１（Ａ０１）とを加算する。被加算デ
ータはレジスタ４にあり演算結果は再びレジス
タ４に戻される。これが前記被測定命令の実行
の具体例である。
DRは割算命令を意味し、
NOPRは何もしないことを意味する。これ
らおよびは前記環境設定命令であり、いわ
ばダミー命令である。従つて、どのような命令
を置いても構わない。この第１例では、ベクト
ルプロセツサを用いたパイプライン処理を想定
しているので、パイプラインのつまりを無くす
ため、なるべく処理時間のかかる命令を選択し
ただけである。なお、図中、、欄の８，
９，０はレジスタを意味している。
らおよびは前記環境設定命令であり、いわ
ばダミー命令である。従つて、どのような命令
を置いても構わない。この第１例では、ベクト
ルプロセツサを用いたパイプライン処理を想定
しているので、パイプラインのつまりを無くす
ため、なるべく処理時間のかかる命令を選択し
ただけである。なお、図中、、欄の８，
９，０はレジスタを意味している。
ここで前記の分岐命令BCTが行なわれ、レ
ジスタ１５にストアにされた回数Ｎだけ、
、のステツプを繰り返し実行する。
ジスタ１５にストアにされた回数Ｎだけ、
、のステツプを繰り返し実行する。
チエツクルーチンの実行終了時刻を命令
STCKにより読取る。
STCKにより読取る。
第２Ｂ図は第２チエツクルーチンであり、第
2A図の被測定命令(A)が実行対象から外されただ
けで、各ステツプ〜の内容は第２Ａ図の第１
チエツクルーチンの場合と変らない。
2A図の被測定命令(A)が実行対象から外されただ
けで、各ステツプ〜の内容は第２Ａ図の第１
チエツクルーチンの場合と変らない。
第３Ａ図および第３Ｂ図は本発明の測定方法を
実施した第２例を図解的に示す図である。第３Ａ
図が第１チエツクルーチン、第３Ｂ図が第２チエ
ツクルーチンであることについては前述のとおり
であり、基本的には何ら変わるところはない。た
だし、被測定命令がEdit命令EDである点が異な
る。このEdit命令EDはあるパターンがあつて、
あるソースがあるとき、このソースをみながら編
集をかけていくという性質の命令であり、１回命
令が実行されるごとにそのパターンは全く変わつ
たものとなつてしまう。このようにパターンがく
るくる変わつて行くものに対して命令実行時間を
測定しても意味がなくなる。そこでこの種の命令
EDを対象とする場合には、パターンを戻して再
設定し直すことが必要である。このため、環境設
定命令の中にムーブ命令MVCを導入し、元のパ
ターン（オペランドOP１）に戻すという操作を
加える。OP１の(8)は８バイトを意味する。又、
OP２は第２オペランドであり、編集される前の
元のパターンであつて、メモリに一旦ストアされ
るべきパターンを意味する。前記命令MVCはこ
のメモリ内のパターンOP２を、元のパターンOP
１として再読出しすることを役目とする。
実施した第２例を図解的に示す図である。第３Ａ
図が第１チエツクルーチン、第３Ｂ図が第２チエ
ツクルーチンであることについては前述のとおり
であり、基本的には何ら変わるところはない。た
だし、被測定命令がEdit命令EDである点が異な
る。このEdit命令EDはあるパターンがあつて、
あるソースがあるとき、このソースをみながら編
集をかけていくという性質の命令であり、１回命
令が実行されるごとにそのパターンは全く変わつ
たものとなつてしまう。このようにパターンがく
るくる変わつて行くものに対して命令実行時間を
測定しても意味がなくなる。そこでこの種の命令
EDを対象とする場合には、パターンを戻して再
設定し直すことが必要である。このため、環境設
定命令の中にムーブ命令MVCを導入し、元のパ
ターン（オペランドOP１）に戻すという操作を
加える。OP１の(8)は８バイトを意味する。又、
OP２は第２オペランドであり、編集される前の
元のパターンであつて、メモリに一旦ストアされ
るべきパターンを意味する。前記命令MVCはこ
のメモリ内のパターンOP２を、元のパターンOP
１として再読出しすることを役目とする。
以上説明したように本発明によれば、従来法に
比して高精度に１命令の実行時間を測定すること
ができる。又、本発明の測定方法はプログラム化
が容易なので、測定結果をＩ／Ｏに出力できる
し、必要であれば、期待値との差も求められる。
さらに又、本発明は相殺方式をベースにしている
ので、ダイナミツクメモリのリフレツシユに要す
る時間（普通数10μSに１回メモリの書直しを定
期的に行なう）が混入しても第１および第２チエ
ツクルーチン間で相殺され、被測定命令の実行時
間の精度に何ら悪影響を及ぼさない。
比して高精度に１命令の実行時間を測定すること
ができる。又、本発明の測定方法はプログラム化
が容易なので、測定結果をＩ／Ｏに出力できる
し、必要であれば、期待値との差も求められる。
さらに又、本発明は相殺方式をベースにしている
ので、ダイナミツクメモリのリフレツシユに要す
る時間（普通数10μSに１回メモリの書直しを定
期的に行なう）が混入しても第１および第２チエ
ツクルーチン間で相殺され、被測定命令の実行時
間の精度に何ら悪影響を及ぼさない。
第１Ａ図は本発明に係る第１チエツクルーチン
を図解的に説明するための図、第１Ｂ図は本発明
に係る第２チエツクルーチンを図解的に説明する
ための図、第２Ａ図および第２Ｂ図は本発明の測
定方法を実施した第１例を図解的に示す図、第３
Ａ図および第３Ｂ図は本発明の測定方法を実施し
た第２例を図解的に示す図である。 Ts1，Ts2……チエツクルーチンの実行開始時
刻、Te1，Te2……チエツクルーチンの実行終了
時刻、Ｎ……分岐命令の繰り返し数、STCK……
時刻読取り命令。
を図解的に説明するための図、第１Ｂ図は本発明
に係る第２チエツクルーチンを図解的に説明する
ための図、第２Ａ図および第２Ｂ図は本発明の測
定方法を実施した第１例を図解的に示す図、第３
Ａ図および第３Ｂ図は本発明の測定方法を実施し
た第２例を図解的に示す図である。 Ts1，Ts2……チエツクルーチンの実行開始時
刻、Te1，Te2……チエツクルーチンの実行終了
時刻、Ｎ……分岐命令の繰り返し数、STCK……
時刻読取り命令。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 計時機構を有する計算機において、 命令実行時間を測定すべき被測定命令と、該被
測定命令に付加される環境設定命令と、これら２
つの命令を所定の回数Ｎだけ繰り返し実行させる
分岐命令とからなる第１チエツクルーチンであつ
て、該環境設定命令は該分岐命令に要する時間の
混入を防ぐためのダミー命令であつて、かつ、前
記被測定命令を繰り返し実行することによつて該
被測定命令の対象とするパターンが変化する場合
には、この変化したパターンを元に戻すための命
令を含んでなる該第１チエツクルーチンを設定
し、そのチエツクルーチン実行の開始時刻Ts1お
よび終了時刻Te1を計時する第１工程と、 前記環境設定命令と該環境設定命令を前記所定
の回数Ｎだけ繰り返し実行させる前記分岐命令と
からなる第２チエツクルーチンを設定し、そのチ
エツクルーチン実行の開始時刻Ts2および終了時
刻Te2を計時する第２工程と、 ｔ＝（Te1−Ts1）−（Te2−Ts2）／Ｎ を演算して１つの前記被測定命令の実行時間ｔを
得る第３工程、とからなることを特徴とする命令
実行時間の測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56155086A JPS5856163A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 命令実行時間の測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56155086A JPS5856163A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 命令実行時間の測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5856163A JPS5856163A (ja) | 1983-04-02 |
| JPS642980B2 true JPS642980B2 (ja) | 1989-01-19 |
Family
ID=15598340
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56155086A Granted JPS5856163A (ja) | 1981-09-30 | 1981-09-30 | 命令実行時間の測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5856163A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6365543A (ja) * | 1986-09-08 | 1988-03-24 | Hitachi Ltd | 命令性能の測定方式 |
| JPH0394341A (ja) * | 1989-09-07 | 1991-04-19 | Furuno Electric Co Ltd | タイマ装置 |
| JPH03116245A (ja) * | 1989-09-28 | 1991-05-17 | Hitachi Ltd | 命令性能測定装置 |
| JP5553351B2 (ja) * | 2010-09-17 | 2014-07-16 | 株式会社Ｎｔｔドコモ | 負荷量推定システム、負荷量推定方法、及び負荷量推定プログラム、並びに、負荷係数生成システム、負荷係数生成方法、及び負荷係数生成プログラム |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5816356A (ja) * | 1981-07-20 | 1983-01-31 | Nec Corp | コンピユ−タインストラクシヨン実行時間測定装置 |
-
1981
- 1981-09-30 JP JP56155086A patent/JPS5856163A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5856163A (ja) | 1983-04-02 |
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