JPS649897B2 - - Google Patents
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- JPS649897B2 JPS649897B2 JP1447584A JP1447584A JPS649897B2 JP S649897 B2 JPS649897 B2 JP S649897B2 JP 1447584 A JP1447584 A JP 1447584A JP 1447584 A JP1447584 A JP 1447584A JP S649897 B2 JPS649897 B2 JP S649897B2
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- pulse
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- WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N lead(0) Chemical compound [Pb] WABPQHHGFIMREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
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Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B21—MECHANICAL METAL-WORKING WITHOUT ESSENTIALLY REMOVING MATERIAL; PUNCHING METAL
- B21H—MAKING PARTICULAR METAL OBJECTS BY ROLLING, e.g. SCREWS, WHEELS, RINGS, BARRELS, BALLS
- B21H9/00—Feeding arrangements for rolling machines or apparatus manufacturing articles dealt with in this subclass
- B21H9/02—Feeding arrangements for rolling machines or apparatus manufacturing articles dealt with in this subclass for screw-rolling machines
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(イ) 産業上の利用分野
本発明は固定ダイスと移動ダイスを具備した平
ダイス式転造機およびセグメント式転造機等のね
じ転造機によりねじを転造するに際し、転造時に
発生するスベリ不良品を検出する装置に関するも
のである。
ダイス式転造機およびセグメント式転造機等のね
じ転造機によりねじを転造するに際し、転造時に
発生するスベリ不良品を検出する装置に関するも
のである。
(ロ) 従来技術
ねじを平ダイス式転造機等によつて転造する場
合その転造工程において、固定ダイスと移動ダイ
ス間に挟持されたねじが転造中に浮き上り現象で
正しく転造されなかつたり、ねじのころがり長さ
が長くなつたり短かくなつたりして転造が完了し
たねじの排出位置が変化する所謂スベリ現象によ
つて正しく転造されないためのねじ不良が発生す
ることがある。
合その転造工程において、固定ダイスと移動ダイ
ス間に挟持されたねじが転造中に浮き上り現象で
正しく転造されなかつたり、ねじのころがり長さ
が長くなつたり短かくなつたりして転造が完了し
たねじの排出位置が変化する所謂スベリ現象によ
つて正しく転造されないためのねじ不良が発生す
ることがある。
前者の浮き上り現象によるねじ不良に対しては
例えば特公昭54―40502号で提案された装置等が
ある。
例えば特公昭54―40502号で提案された装置等が
ある。
しかしながら後者のスベリ現象によるねじ不良
を検出する装置としては現在迄のところ有効な提
案がなされていなかつた。
を検出する装置としては現在迄のところ有効な提
案がなされていなかつた。
(ハ) 発明の目的
そこで本願では、前記スベリ現象によるねじ不
良を検出するための装置を提供し、該装置により
検出されたスベリ不良ねじを遂次排除する装置等
と連繋させることにより生産性の向上と品質の確
保を計ることに寄与せんとするものである。
良を検出するための装置を提供し、該装置により
検出されたスベリ不良ねじを遂次排除する装置等
と連繋させることにより生産性の向上と品質の確
保を計ることに寄与せんとするものである。
(ニ) 発明の背景
本願の背景となつたスベリ検出の考え方に付い
て説明する。
て説明する。
第１図は移動ダイスに連繋されたクランク機構
のローリング１サイクルにおける転造状態を示す
説明図、第２図は固定ダイスと移動ダイスの関係
を示す説明図である。クランク機構に連繋された
移動ダイスは、クランク軸が180度回転する迄は
固定ダイス側に往動するが、その間に移動ダイス
と固定ダイスとでねじ素材を挟持する態様で喰い
付き、所定のねじを転造したのち転造ねじを排出
し、180度を経たのちは固定ダイスから遠ざかる
ように復動する。この喰い付き位置から排出位置
に至る間における固定ダイス上のねじのころがり
長さはLs、移動ダイス上のねじのころがり長さ
はLmである。スベリ現象がなく正常に転造され
た時にはLm＝Lsであり、移動ダイス上における
ねじの排出位置は一定である。従つて移動ダイス
上における適正なねじの排出位置を予め設定して
おき、該設定された排出位置においてねじの有無
を確認することでスベリが発生したか否かを判別
することができる。
のローリング１サイクルにおける転造状態を示す
説明図、第２図は固定ダイスと移動ダイスの関係
を示す説明図である。クランク機構に連繋された
移動ダイスは、クランク軸が180度回転する迄は
固定ダイス側に往動するが、その間に移動ダイス
と固定ダイスとでねじ素材を挟持する態様で喰い
付き、所定のねじを転造したのち転造ねじを排出
し、180度を経たのちは固定ダイスから遠ざかる
ように復動する。この喰い付き位置から排出位置
に至る間における固定ダイス上のねじのころがり
長さはLs、移動ダイス上のねじのころがり長さ
はLmである。スベリ現象がなく正常に転造され
た時にはLm＝Lsであり、移動ダイス上における
ねじの排出位置は一定である。従つて移動ダイス
上における適正なねじの排出位置を予め設定して
おき、該設定された排出位置においてねじの有無
を確認することでスベリが発生したか否かを判別
することができる。
例えば、固定ダイス側にてXmmのスベリを発
生したとすると、移動ダイスでのねじのころがり
長さLs′＝Lm−ＸとなつてLm＞Lm′である。又
移動ダイス側にてYmmのスベリを発生したとす
ると、移動ダイスでのねじのころがり長さLm′＝
Lm＋ｙとなつてLm＜Lm′である。
生したとすると、移動ダイスでのねじのころがり
長さLs′＝Lm−ＸとなつてLm＞Lm′である。又
移動ダイス側にてYmmのスベリを発生したとす
ると、移動ダイスでのねじのころがり長さLm′＝
Lm＋ｙとなつてLm＜Lm′である。
いずれにしてもLm＝Lm′＝Lsとなる時は正常
に転造された時のみである。但し、実際の転造に
際しては完全なる一致は困難なために、一定の許
容差を設けてその範囲内で排出されたものを良品
とすることになる。
に転造された時のみである。但し、実際の転造に
際しては完全なる一致は困難なために、一定の許
容差を設けてその範囲内で排出されたものを良品
とすることになる。
(ホ) 発明の構成
本願の要旨は、固定ダイスに対して移動ダイス
を直線往復移動または回転移動させながら、当該
固定ダイスと移動ダイス間に挟持させたねじ素材
を転造加工するねじ転造機に設けられ、ねじ素材
の排出位置を検出して当該ねじ素材の転造の良否
を判別するねじのスベリ不良検出装置であつて、 転造加工されたねじ素材が許容排出位置に到達
した際に、許容範囲の上限および下限で各々位置
設定パルスを発生させるようにした位置設定手段
と、前記固定ダイスと移動ダイス間に電圧が印加
され、前記挟持させたねじ素材の有無で「１」ま
たは「０」の二値信号に電位変化される矩形波の
ねじ検出パルスを発生させるようにしたねじ検出
手段と、各々入力される前記位置設定パルスとね
じ検出パルスとを比較し、最初の位置設定パルス
と次ぎの位置設定パルスとが入力される間に前記
ねじ検出パルスの電位変化点が生ずるか否かでね
じ素材の排出位置の良否を判別する比較判別用の
制御回路からなるねじのスベリ不良検出装置であ
る。
を直線往復移動または回転移動させながら、当該
固定ダイスと移動ダイス間に挟持させたねじ素材
を転造加工するねじ転造機に設けられ、ねじ素材
の排出位置を検出して当該ねじ素材の転造の良否
を判別するねじのスベリ不良検出装置であつて、 転造加工されたねじ素材が許容排出位置に到達
した際に、許容範囲の上限および下限で各々位置
設定パルスを発生させるようにした位置設定手段
と、前記固定ダイスと移動ダイス間に電圧が印加
され、前記挟持させたねじ素材の有無で「１」ま
たは「０」の二値信号に電位変化される矩形波の
ねじ検出パルスを発生させるようにしたねじ検出
手段と、各々入力される前記位置設定パルスとね
じ検出パルスとを比較し、最初の位置設定パルス
と次ぎの位置設定パルスとが入力される間に前記
ねじ検出パルスの電位変化点が生ずるか否かでね
じ素材の排出位置の良否を判別する比較判別用の
制御回路からなるねじのスベリ不良検出装置であ
る。
(ヘ) 実施例
第３図は本願装置の機構部分の平面図を示し、
各部の構成は次のとおりである。
各部の構成は次のとおりである。
図示しない駆動源からの駆動を受けて回転する
ドライブピニオンギヤ１と、該ドライブピニオン
ギヤ１に従動して回転するクランクギヤ２と、前
記クランクギヤ２に一方端が偏心状態で繋着され
たコンロツド３と、該コンロツド３の他方端に揺
動可能に繋着され、前記クランクギヤ２の回転に
より往復運動を行う移動ダイ４と、該移動ダイ４
に装着された移動ダイス５と、該移動ダイス５を
移動ダイ４に固定するダイス押え６と、前記移動
ダイ４の往復動時にこれを案内するラム押え７
と、前記移動ダイス５と対向状に配備された固定
ダイス８と、該固定ダイス８が取付けられる固定
ダイ９と、前記固定ダイス８を固定ダイ９に固定
するダイス押え１０と、前記移動ダイス５と固定
ダイス８間にねじ素材１１を給送するガイドレー
ル１２と、給送されたねじ素材１１が脱出するの
を防止するねじ押え１３とを具備している。但
し、上記の各構成はいずれも従来より使用されて
いるものである。
ドライブピニオンギヤ１と、該ドライブピニオン
ギヤ１に従動して回転するクランクギヤ２と、前
記クランクギヤ２に一方端が偏心状態で繋着され
たコンロツド３と、該コンロツド３の他方端に揺
動可能に繋着され、前記クランクギヤ２の回転に
より往復運動を行う移動ダイ４と、該移動ダイ４
に装着された移動ダイス５と、該移動ダイス５を
移動ダイ４に固定するダイス押え６と、前記移動
ダイ４の往復動時にこれを案内するラム押え７
と、前記移動ダイス５と対向状に配備された固定
ダイス８と、該固定ダイス８が取付けられる固定
ダイ９と、前記固定ダイス８を固定ダイ９に固定
するダイス押え１０と、前記移動ダイス５と固定
ダイス８間にねじ素材１１を給送するガイドレー
ル１２と、給送されたねじ素材１１が脱出するの
を防止するねじ押え１３とを具備している。但
し、上記の各構成はいずれも従来より使用されて
いるものである。
次に本願特有の構成として、前記クランクギヤ
２の中心軸２ａには図示しない本体側に固定され
たポテンシヨメータ１４の回転軸１４ａが連結さ
れ、該ポテンシヨメータ１４はリード線１５を介
して後述する制御回路に接続されている。
２の中心軸２ａには図示しない本体側に固定され
たポテンシヨメータ１４の回転軸１４ａが連結さ
れ、該ポテンシヨメータ１４はリード線１５を介
して後述する制御回路に接続されている。
又、前記固定ダイス８と固定ダイ９間には絶縁
体１６が介在され、固定ダイス８に端子１７を設
けると共に、該端子１７はリード線１８を介して
後述する制御回路に接続されている。
体１６が介在され、固定ダイス８に端子１７を設
けると共に、該端子１７はリード線１８を介して
後述する制御回路に接続されている。
尚、移動ダイス側に絶縁体を介在させるように
しても良いことは勿論である。
しても良いことは勿論である。
更に、前記移動ダイス５と電気的に同電位とな
る例えば前記ラム押え７にも端子１９を設け、該
端子１９はリード線２０を介して後述する制御回
路に接続されている。前記ポテンシヨメータ１４
の固定端子には制御回路からDC12Vが供給され、
クランクギヤ２の回転で回転軸１４ａが回転され
ると摺動端子には０〜12Vの可変電圧が取出さ
れ、この電圧は再び制御回路へ戻される。この可
変電圧は第５図に示す波形図１のようにのこぎり
波を発生し、ねじに許容される排出範囲の上下限
に設定される第１設定位置T1および第２設定位
置T2を設定電圧V1と設定電圧V2から得るための
ものである。
る例えば前記ラム押え７にも端子１９を設け、該
端子１９はリード線２０を介して後述する制御回
路に接続されている。前記ポテンシヨメータ１４
の固定端子には制御回路からDC12Vが供給され、
クランクギヤ２の回転で回転軸１４ａが回転され
ると摺動端子には０〜12Vの可変電圧が取出さ
れ、この電圧は再び制御回路へ戻される。この可
変電圧は第５図に示す波形図１のようにのこぎり
波を発生し、ねじに許容される排出範囲の上下限
に設定される第１設定位置T1および第２設定位
置T2を設定電圧V1と設定電圧V2から得るための
ものである。
一方、前記固定ダイス１７にはリード線１８を
介してDC12Vが供給され、該固定ダイス１８と
移動ダイス５の間には12Vの電位差を生じるよう
になつており、ねじ素材１１が両ダイス間に挟持
されると当該ねじ素材を介して０電位まで低下す
るように構成されている。従つてねじ素材１１の
有無に応じて第５図の波形３のように12V（Ｈ）
又は0V（Ｌ）の矩形波を発生する。
介してDC12Vが供給され、該固定ダイス１８と
移動ダイス５の間には12Vの電位差を生じるよう
になつており、ねじ素材１１が両ダイス間に挟持
されると当該ねじ素材を介して０電位まで低下す
るように構成されている。従つてねじ素材１１の
有無に応じて第５図の波形３のように12V（Ｈ）
又は0V（Ｌ）の矩形波を発生する。
次に制御回路に付いて第４図のブロツク図と第
５図の波形図に基づいて説明する。
５図の波形図に基づいて説明する。
ねじ検出部２１は前記のとおりDC電源２２か
ら＋12Vを受けて端子１７から取出される12Vあ
るいはOVのねじ検出パルスP0によつてねじ素材
１１の有無を検出するものであり、ねじ素材１１
が有る場合はＬ（OV）を又無い場合はＨ（12V）
を各々出力する。位置設定部２３は前記ポテンシ
ヨメータ１４の設定電圧V1およびV2を受け、コ
ンパレータ等によつて許容排出範囲の上下限T1，
T2で第５図の波形２のように位置設定パルスP1，
P2を各々発生させるものである。ねじ検出部２
１と位置設定部２３の各出力は比較回路２４に送
られる。該比較回路２４は前記第１および第２の
設定位置T1，T2においてねじ素材１１が有るか
無いかを各々検出するものであり、ねじ検出パル
スP0はインバータINV―１で反転したのち、第
１設定位置T1における検出を行うアンド回路
AND―１の一方入力として又第２設定位置T2に
おける検出を行うアンド回路AND―２の一方入
力としてインバータを介さず直接伝送される。
ら＋12Vを受けて端子１７から取出される12Vあ
るいはOVのねじ検出パルスP0によつてねじ素材
１１の有無を検出するものであり、ねじ素材１１
が有る場合はＬ（OV）を又無い場合はＨ（12V）
を各々出力する。位置設定部２３は前記ポテンシ
ヨメータ１４の設定電圧V1およびV2を受け、コ
ンパレータ等によつて許容排出範囲の上下限T1，
T2で第５図の波形２のように位置設定パルスP1，
P2を各々発生させるものである。ねじ検出部２
１と位置設定部２３の各出力は比較回路２４に送
られる。該比較回路２４は前記第１および第２の
設定位置T1，T2においてねじ素材１１が有るか
無いかを各々検出するものであり、ねじ検出パル
スP0はインバータINV―１で反転したのち、第
１設定位置T1における検出を行うアンド回路
AND―１の一方入力として又第２設定位置T2に
おける検出を行うアンド回路AND―２の一方入
力としてインバータを介さず直接伝送される。
更に第１設定位置T1を支持する位置設定パル
スP1は前記アンド回路AND―１の他方入力とし
て、第２設定位置T2を指示する位置設定パルス
P2は前記アンド回路AND―２の他方入力として
各々伝送される。
スP1は前記アンド回路AND―１の他方入力とし
て、第２設定位置T2を指示する位置設定パルス
P2は前記アンド回路AND―２の他方入力として
各々伝送される。
判断回路２５は前記比較回路２４からの各比較
結果を受け、転造されたねじ素材１１が良品か不
良品かを判定するものである。
結果を受け、転造されたねじ素材１１が良品か不
良品かを判定するものである。
前記アンド回路AND―１の出力はモノマルチ
M.Mに伝送されるが、該アンド出力は第１設定
位置T1でねじ素材が有ると、とりあえずOKとし
て出力Ｈを発生し、モノマルチM.Mを作動させ
て少くとも第２設定位置T2の比較結果が来る迄
の間出力Ｈをアンド回路AND―３の一方入力と
して伝送する。前記アンド回路AND―２の出力
はアンド回路AND―３の他方力として伝送され
るが、該アンド出力は第２設定位置T2でねじ素
材１１がすでに許容範囲内で排出され無い場合を
0Kとして第５図の波形４のような合格パルスを
発生し、生産カウンタ２６に伝送されて良品とし
ての計数がなされる。
M.Mに伝送されるが、該アンド出力は第１設定
位置T1でねじ素材が有ると、とりあえずOKとし
て出力Ｈを発生し、モノマルチM.Mを作動させ
て少くとも第２設定位置T2の比較結果が来る迄
の間出力Ｈをアンド回路AND―３の一方入力と
して伝送する。前記アンド回路AND―２の出力
はアンド回路AND―３の他方力として伝送され
るが、該アンド出力は第２設定位置T2でねじ素
材１１がすでに許容範囲内で排出され無い場合を
0Kとして第５図の波形４のような合格パルスを
発生し、生産カウンタ２６に伝送されて良品とし
ての計数がなされる。
又、判別回路２５内のインバータINV―２は
前記位置設定部２３からの位置設定パルスP2を
反転してノア回路NORの一方入力に伝送し、該
ノア回路NORは前記アンド回路AND―３の出力
を他方入力として不良品の判定をおこなう。
前記位置設定部２３からの位置設定パルスP2を
反転してノア回路NORの一方入力に伝送し、該
ノア回路NORは前記アンド回路AND―３の出力
を他方入力として不良品の判定をおこなう。
すなわちノア回路NORは入力がＬ―Ｌの場合
のみ出力Ｈを発生するものであり、合格パルスＨ
が他方入力に与えられた場合は作動せず、第５図
の波形図３のように許容範囲より早く排出された
り遅く排出されるとねじ検出パルスが第１および
第２設定位置T1，T2でＬ―Ｌ又はＨ―Ｈのとな
り、この場合は不合格パルスを発生するものであ
る。そしてこの不合格パルスは不良品排出装置２
７に送られ、該装置により転造不良ねじを排除さ
せる。
のみ出力Ｈを発生するものであり、合格パルスＨ
が他方入力に与えられた場合は作動せず、第５図
の波形図３のように許容範囲より早く排出された
り遅く排出されるとねじ検出パルスが第１および
第２設定位置T1，T2でＬ―Ｌ又はＨ―Ｈのとな
り、この場合は不合格パルスを発生するものであ
る。そしてこの不合格パルスは不良品排出装置２
７に送られ、該装置により転造不良ねじを排除さ
せる。
第６図Ａ〜Ｆ前記制御回路の動作状態を説明す
るものであり、第６図Ａ，Ｂは第５図の波形図３
における１回目のように、設定位置T1でねじが
有り、設定位置T2ではねじがなく、合格品が転
造された時の説明図である。
るものであり、第６図Ａ，Ｂは第５図の波形図３
における１回目のように、設定位置T1でねじが
有り、設定位置T2ではねじがなく、合格品が転
造された時の説明図である。
第６図Ｃ，Ｄは第５図の波形図３における２回
目のように設定位置T1，T2ともにねじがなく、
不格品が転造された時の説明図である。
目のように設定位置T1，T2ともにねじがなく、
不格品が転造された時の説明図である。
第６図Ｅ，Ｆは第５図の波形図３における３回
目のように、設定位置T1，T2ともにねじが有り、
不合格品が転造された時の説明図である。
目のように、設定位置T1，T2ともにねじが有り、
不合格品が転造された時の説明図である。
このように、第１設定位置T1まではねじ素材
１１に対する転造作業がおこなわれ、第２設定位
置T2では排出がなされていることを確認して、
この条件に適合するものがスベリが許容範囲内で
あるとして良品とし、その他の条件のものは不良
品であると判定せしむるものである。
１１に対する転造作業がおこなわれ、第２設定位
置T2では排出がなされていることを確認して、
この条件に適合するものがスベリが許容範囲内で
あるとして良品とし、その他の条件のものは不良
品であると判定せしむるものである。
(ト) 発明の効果
前記実施例でも明らかなとおり、任意に設定可
能な二つの設定位置におけるねじ素材の有無を確
認するのみでスベリ現象による転造ねじの良否を
順次判定し、不良品の排除等必要な手段を取るこ
とができると共に、これら作業が量産する転造工
程に何ら支障を与えることなく実施できる。
能な二つの設定位置におけるねじ素材の有無を確
認するのみでスベリ現象による転造ねじの良否を
順次判定し、不良品の排除等必要な手段を取るこ
とができると共に、これら作業が量産する転造工
程に何ら支障を与えることなく実施できる。
従つて、生産性の向上と品質を確保する上で極
めて有効なスベリ不良検出装置である。
めて有効なスベリ不良検出装置である。
尚、本願は前記実施例に限定されるものではな
く、要旨の範囲内において各種の変形をとりうる
ものである。例えば前記実施例におけるポテンシ
ヨメータによる位置検出をロータリーエンコーダ
等を使用しておこなつたり、移動ダイスの通路上
にリミツトスイツチその他のセンサーを配備して
これにより位置検出を行うようにしても良い。
く、要旨の範囲内において各種の変形をとりうる
ものである。例えば前記実施例におけるポテンシ
ヨメータによる位置検出をロータリーエンコーダ
等を使用しておこなつたり、移動ダイスの通路上
にリミツトスイツチその他のセンサーを配備して
これにより位置検出を行うようにしても良い。
又、ねじ検出部と位置設定部からのパルスを受
けて良否を比較判別する制御回路も公知の電気回
路より同様の働きをするものを選択して使用する
ことができることはもちろんである。
けて良否を比較判別する制御回路も公知の電気回
路より同様の働きをするものを選択して使用する
ことができることはもちろんである。
第１図はロータリング１サイクルにおける転造
状態を示す説明図、第２図は固定ダイスと移動ダ
イスの関係を示す説明図、第３図は機構部分を示
す平面図、第４図は制御回路のブロツク図、第５
図は制御信号の波形図、第６図Ａ〜Ｆは制御回路
の動作説明図である。 ［符号の説明］、１……ドライブピニオンギヤ、
２……クランクギヤ、３……コンロツド、４……
移動ダイ、５……移動ダイス、６，１０……ダイ
ス押え、７……ラム押え、８……固定ダイス、９
……固定ダイ、１１……ねじ素材、１２……ガイ
ドレール、１３……ねじ押え、１４……ポテンシ
ヨメータ、１５，１８，２０……リード線、１６
……絶縁体、１７，１９……端子、２１……ねじ
検出部、２２……DC電源、２３……位置設定部、
２４……比較回路、２５……判別回路、２６……
生産カウンタ、２７……不良品排出装置。
状態を示す説明図、第２図は固定ダイスと移動ダ
イスの関係を示す説明図、第３図は機構部分を示
す平面図、第４図は制御回路のブロツク図、第５
図は制御信号の波形図、第６図Ａ〜Ｆは制御回路
の動作説明図である。 ［符号の説明］、１……ドライブピニオンギヤ、
２……クランクギヤ、３……コンロツド、４……
移動ダイ、５……移動ダイス、６，１０……ダイ
ス押え、７……ラム押え、８……固定ダイス、９
……固定ダイ、１１……ねじ素材、１２……ガイ
ドレール、１３……ねじ押え、１４……ポテンシ
ヨメータ、１５，１８，２０……リード線、１６
……絶縁体、１７，１９……端子、２１……ねじ
検出部、２２……DC電源、２３……位置設定部、
２４……比較回路、２５……判別回路、２６……
生産カウンタ、２７……不良品排出装置。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 固定ダイスに対して移動ダイスを直線往復移
動または回転移動させながら、当該固定ダイスと
移動ダイス間に挟持させたねじ素材を転造加工す
るねじ転造機に設けられ、ねじ素材の排出位置を
検出して当該ねじ素材の転造の良否を判別するね
じのスベリ不良検出装置であつて、 転造加工されたねじ素材が許容排出位置に到達
した際に、許容範囲の上限および下限で各々位置
設定パルスを発生させるようにした位置設定手段
と、前記固定ダイスと移動ダイス間に電圧が印加
され、前記挟持させたねじ素材の有無で「１」ま
たは「０」の二値信号に電位変化される矩形波の
ねじ検出パルスを発生させるようにしたねじ検出
手段と、各々入力される前記位置設定パルスとね
じ検出パルスとを比較し、最初の位置設定パルス
と次ぎの位置設定パルスとが入力される間に前記
ねじ検出パルスの電位変化点が生ずるか否かでね
じ素材の排出位置の良否を判別する比較判別用の
制御回路からなるねじのスベリ不良検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1447584A JPS60162544A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | ねじ転造機におけるねじのスベリ不良検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1447584A JPS60162544A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | ねじ転造機におけるねじのスベリ不良検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60162544A JPS60162544A (ja) | 1985-08-24 |
| JPS649897B2 true JPS649897B2 (ja) | 1989-02-20 |
Family
ID=11862082
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1447584A Granted JPS60162544A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | ねじ転造機におけるねじのスベリ不良検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60162544A (ja) |
Cited By (19)
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-
1984
- 1984-01-31 JP JP1447584A patent/JPS60162544A/ja active Granted
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60162544A (ja) | 1985-08-24 |
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