KR970053627A - 수지 밀봉형 반도체 장치 - Google Patents

수지 밀봉형 반도체 장치 Download PDF

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Abstract

아일랜드 영역(6)과 복수의 내부 리드(2B,2C,2D,2E)로 형성되는 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)과, 상기 내부 리드2B,2C,2D,2E)의 선단은 칩(5)의 평면에 수직하게 보이는 캐비티(9B,9C,9D,9E)내에 위치하며, (b)복수의 전극을 가지며 상기 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)의 상기 아일랜드 영역(6)상에 장착된 칩(5)과, (c)상기 칩(5)의 상기 전극을 상기 내부 리드(2B,2C,2D,2E)에 연결하는 와이어를 포함하는, 수지 밀봉형 반도체 장치에 있어서, 상기 캐비티(9B,9C,9D,9E)는 상기 칩(5)의 각 측부와 각을 형성하는 세그먼트를 갖는 둘레를 가져, 상기 칩(5)의 대각선(D1)에서 코너부에 장착된 전극에 연결될 내부 리드(L1)의 선단이 상기 칩(5)의 상기 아일랜드 영역(6)에 가장 근접하게 배치되며, 상기 대각선(D1)에 수직한 상기 칩(5)의 상기 아일랜드 영역(6)에 가장 근접하게 배치되며, 상기 대각선(D1)에 수직한 상기 칩(5)의 대각선(D2)상의 코너부에 장착된 전극중 하나에 연결될 내부 리드의 선단이 상기 칩(5)의 상기 아일랜드 영역(6)으로부터 가장 멀게 배치되는 것을 특징으로 하는 수진 밀봉형 반도체 장치를 제공하는 것이다. 본 발명은, 상부 및 하부금형에 의해 형성된 공간으로 용융수지를 주입하여 반도체 장치를 밀봉하는 단계에서, 용율수지로부터 가장 큰 힘을 받는 와이어를 짧게하는 것이 가능하다. 따라서, 상기한 단계에서, 인접 와이어 사이에서 발생하는 단락을 방지하는 것이 가능하며, 이에 의해 고수율 및 고신뢰성을 갖는 수지 밀봉형 반도체 장치를 제공하는 것이다.

Description

수지 밀봉형 반도체 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제6도는 본 발명의 제1실시예에 따라 제조된, 와이어를 통해 내부 리드에 연결된 칩이 장착된 리드 프레임을 도시한 평면도이다.

Claims (11)

  1. 아일랜드 영역(6)과 복수의 내부 리드(2B,2C,2D,2E)로 형성되는 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)과, 복수의전극을 가지며 상기 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)의 상기 아일랜드 영역(6)상에 장착된 칩(5)과, 상기 칩(5)의상기 전극을 상기 내부 리드(2B,2C,2D,2E)에 연결하는 와이어를 포함하며, 상기 내부 리드(2B,2C,2D,2E)의선단은 칩(5)의 평면에 수직하게 보이는 캐비티(9B,9C,9D,9E)를 형성하며, 상기 아일랜드 영역(6)이 상기캐비티(9B,9C,9D,9E) 내에 위치하는 수지 밀봉형 반도체 장치에 있어서, 상기 캐비며,(9B,9C,9D,9E)는 상기칩(5)의 각 측부와 각을 형성하는 세그먼트를 갖는 둘레를 가져, 상기 칩(5)의 코너부에 장착된 전극에 연결될 내부 리드의 선단이 내부리드의 다른 선단보다 상기 칩(5)의 상기 아일랜드 영역(6)에 가장 가깝게 배치되는 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 캐비티(9B,9D,9E)는 다각형이며, 이 다각형은 5각형 이상인 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 캐비티(9B)는 8각형이며, 이 8각형의 8개의 8개의 정점은 상기 칩(5)의 연장 대각선(D1)과 상기 칩(5)의 중앙으로부터 상기 칩(5)의 측부 중점까지 연결하는 연장선 상에 위치하는 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
  4. 제1항에 있어서, 상기 캐비티(9B,9D,9E)는 아치형 세그먼트를 가지지 않는 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 캐비티(9C)는 원형인 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
  6. 아일랜드 영역(6)과 이 아일랜드 영역(6)의 둘레에 배치되는 복수의 내부 리드(2B,2C,2D,2E)로 형성되는 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)과, 복수의 전극을 가지며 상기 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)의 상기 아일랜드 영역(6)상에 장착된 칩(5)과, 상기 칩(5)의 상기 전극을 상기 내부 리드(2B,2C,2D,2E)에 연결하는 와이어를 포함하는 수지 밀봉형 반도체 장치에 있어서, 상기 칩(5)의 코너부에 위치하는 전극(B)에 연결될 내부 리드(A)가 상기 아일랜드 영역(6)에 근접하게 배치되어, 상기 전극(B)에 상기 내부 리드(A)를 연결하는 와이어가 다른 와이어들 보다 더 짧은 길이를 갖는 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
  7. 아일랜드 영역(6)과 복수의 내부 리드(2B,2C,2D,2E)로 형성되는 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)과, 복수의 전극을 가지며 상기 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)의 상기 아일랜드 영역(6)상에 장착된 칩(5)과, 상기 칩(5)의 상기 전극을 상기 내부 리드(2B,2C,2D,2E)에 연결하는 와이어를 포함하며, 상기 내부 리드(2B,2C,2D,2E)의 선단은 칩(5)의 평면에 수직하게 보이는 캐비티(9B,9C,9D,9E)를 형성하며, 상기 아일랜드 영역(6)이 상기 캐비티 (9B,9C,9D,9E)내에 위치하는 수지 밀봉형 반도체 장치에 있어서, 상기 캐비티(9B,9C,9D,9E)는 상기 칩(5)의 각 측부와 각을 형성하는 세그먼트를 갖는 둘레를 가져, 상기 칩(5)의 대각선(D1)에서 코너부에 장착된 전극에 연결될 내부 리드(L1)의 선단이 상기 칩(5)의 상기 아일랜드 영역(6)에 가장 근접하게 배치되며, 상기 대각선(D1)에 수직한 상기 칩(5)의 대각선(D2)상의 코너부에 장착된 전극 중 하나에 연결될 내부 리드의 선단이 상기 칩(5)의 상기 아일랜드 영역(6)으로부터 가장 멀게 배치되는 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
  8. 아일랜드 영역(6)과 복수의 내부 리드(2B,2C,2D,2E)로 형성되는 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)과, 복수의 전극을 가지며 상기 리드 프레임(1B,1C,1D,1E)의 상기 아일랜드 영역(6)상에 장착된 칩(5)과, 상기 칩(5)의 상기 전극을 상기 내부 리드(2B,2C,2D,2E)에 연결하는 와이어를 포함하며, 상기 내부 리드(2B,2C,2D,2E)의 선단은 칩(5)의 평면에 수직하게 보이는 캐비티(9B,9C,9D,9E)를 형성하며, 상기 아일랜드 영역(6)이 상기 캐비티 (9B,9C,9D,9E)내에 위치하는 수지 밀봉형 반도체 장치에 있어서, 상기 캐비티(9B,9C,9D,9E)는 상기 칩(5)의 대각선(D1)상의 코너부에 장착된 전극에 내부 리드(L1)를 연결하는 와이어의 길이가 가장 짧으며, 상기 대각선(D1)에 수직한 상기 칩(5)의 대각선(D2)상의 코너부에 장착된 전극 중 하나를 연결하는 와이어의 길이가 가장 길도록 형성되는 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
  9. 제8항에 있어서, 상부 및 하부 금형(15,16)에 의해 형성되고 상기 칩(5)이 위치하는 공간(22A,22B)으로용융수지(18)를 도입시키는 게이트(21)에 수직하게 상기 대각선(D1)이 연장하고, 상기 대각선(D2)이 상기게이트(21)와 동일한 방향으로 연장하도록, 상기 칩(5)을 위치시키는 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체장치.
  10. 제8항에 있어서, 상기 게이트(21)에 보다 근접하게 위치한 상기 캐비티(9E)의 절반부(H1)와 상기 게이트(21)로부터 보다 떨어져 위치한 상기 캐비티(9E)의 절반부(H1)가 서로 비대칭인 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
  11. 제10항에 있어서, 상기 내부 리드(L1)로부터 보다 떨어져 위치한 관련 내부 리드에 전극을 연결하는 와이어의 길이가 보다 길게 되도록, 상기 캐비티(9E)의 다른 절반부(H2)에 위치한 내부 리드(2E)가 설치되는 것을 특징으로 하는 수지 밀봉형 반도체 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Publications (2)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100743335B1 (ko) * 1999-06-30 2007-07-26 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 반도체 장치

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5923077A (en) * 1998-02-11 1999-07-13 Bourns, Inc. Passive component integrated circuit chip
US6225685B1 (en) * 2000-04-05 2001-05-01 Advanced Micro Devices, Inc. Lead frame design for reduced wire sweep having a defined gap between tie bars and lead pins
IT1317559B1 (it) * 2000-05-23 2003-07-09 St Microelectronics Srl Telaio di supporto per chip avente interconnessioni a bassa resistenza.
US6969918B1 (en) * 2001-08-30 2005-11-29 Micron Technology, Inc. System for fabricating semiconductor components using mold cavities having runners configured to minimize venting
JP4738675B2 (ja) * 2001-09-14 2011-08-03 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
US20070096269A1 (en) * 2005-10-31 2007-05-03 Mediatek Inc. Leadframe for semiconductor packages
US8754513B1 (en) 2008-07-10 2014-06-17 Marvell International Ltd. Lead frame apparatus and method for improved wire bonding
JP2010153466A (ja) * 2008-12-24 2010-07-08 Elpida Memory Inc 配線基板
JP2015092635A (ja) * 2015-02-05 2015-05-14 大日本印刷株式会社 半導体装置および半導体装置の製造方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60171734A (ja) * 1984-02-17 1985-09-05 Hitachi Ltd 半導体装置
JPS61292928A (ja) * 1985-06-21 1986-12-23 Hitachi Ltd 半導体装置
JPH01298757A (ja) * 1988-05-27 1989-12-01 Hitachi Ltd リードフレーム
US5466967A (en) * 1988-10-10 1995-11-14 Lsi Logic Products Gmbh Lead frame for a multiplicity of terminals
JPH04164357A (ja) * 1990-10-29 1992-06-10 Nec Corp 半導体装置用リードフレーム
JPH05226564A (ja) * 1992-02-14 1993-09-03 Rohm Co Ltd 半導体装置
JP2834990B2 (ja) * 1993-11-02 1998-12-14 ローム株式会社 クワッド型半導体装置用リードフレームの構造
KR950015736A (ko) * 1993-11-20 1995-06-17 김광호 반도체 장치용 리드프레임

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100743335B1 (ko) * 1999-06-30 2007-07-26 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 반도체 장치
KR100864781B1 (ko) * 1999-06-30 2008-10-22 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 반도체 장치
KR100878939B1 (ko) * 1999-06-30 2009-01-19 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 반도체 장치
KR100885606B1 (ko) * 1999-06-30 2009-02-24 가부시키가이샤 히타치세이사쿠쇼 반도체 장치

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