Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Instytut Tele- I RadiotechnicznyfiledCriticalInstytut Tele- I Radiotechniczny
Priority to PL414208ApriorityCriticalpatent/PL229725B1/pl
Publication of PL414208A1publicationCriticalpatent/PL414208A1/pl
Publication of PL229725B1publicationCriticalpatent/PL229725B1/pl
Sposób chemicznej dekapsulacji podzespołów elektronicznych typu SOT, VTLA, QFP i QFN polega na tym, że proces prowadzi się w dwóch etapach. W pierwszym etapie podzespół elektroniczny trawi się w mieszaninie kwasu siarkowego i wody utlenionej (30%) w proporcji 20 : 1 lub 10 : 1, w czasie od 30 sekund do 1 minuty w temperaturze od 120 do 150°C. W drugim etapie podzespół elektroniczny płucze się w roztworze acetonu, zawierającym dodatek tolytriazolu jako inhibitora korozji o stężeniu 5 mg/dm3 acetonu. Oba procesy prowadzi się naprzemiennie, aż do odsłonięcia badanych elementów wewnętrznych podzespołu.
PL414208A2015-09-292015-09-29Sposób chemicznej dekapsulacji podzespołów elektronicznych w obudowach SOT, VTLA, QFP i QFN
PL229725B1
(pl)