SE433264B - Forfarande for metning av ytvikterna i en emneskombination, som bestar av ett bottenskikt, ett mellanskikt samt atminstone ett ytskikt jemte anvendning av detta forfarande - Google Patents

Forfarande for metning av ytvikterna i en emneskombination, som bestar av ett bottenskikt, ett mellanskikt samt atminstone ett ytskikt jemte anvendning av detta forfarande

Info

Publication number
SE433264B
SE433264B SE7711809A SE7711809A SE433264B SE 433264 B SE433264 B SE 433264B SE 7711809 A SE7711809 A SE 7711809A SE 7711809 A SE7711809 A SE 7711809A SE 433264 B SE433264 B SE 433264B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
layer
procedure
weights
substance
rays
Prior art date
Application number
SE7711809A
Other languages
English (en)
Other versions
SE7711809L (sv
Inventor
Pertti Puumalainen
Original Assignee
Pertti Puumalainen
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pertti Puumalainen filed Critical Pertti Puumalainen
Publication of SE7711809L publication Critical patent/SE7711809L/sv
Publication of SE433264B publication Critical patent/SE433264B/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons
    • G01B15/02Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons for measuring thickness

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Diaphragms For Electromechanical Transducers (AREA)
  • Golf Clubs (AREA)
  • Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)

Description

15 20 25 35 iiliaßaßa 2 Kännetecknande för förfarandet enligt uppfinningen är det, att ämneskompositionen bestrâlas med röntgenstrálar, som exciterar det i mellanskiktet befintliga ämnets ka- rakteristiska sekundärröntgenstrålning, vars intensitet mäts över och under ämneskompositionen, varjämte den från stràlningskällan utgående primärstrålningens absorp- tion i ämneskompositionen mäts, varvid de olika skiktens ytvikter beräknas ur de av varandra oberoende mätnings- resultat som erhålls. Med uppfinningen åstadkommes främst det, att beläggningarnas mängd oavbrutet kan regleras exakt till den önskade. medan det vid de tidigare kända förfarandena har gått åt mängder av beläggningsämnet.
Enligt uppfinningen sparar man sålunda beläggningsämnen i betydande omfattning.
I det följande beskrives förfarandet enligt uppfin- ningen med ett exempel där man mäter ytvikterna av belägg- ningarna på den rörliga kartongbanan. Som förbeläggning på kartongen finns ett CaC03-lager och på detta en ytbelägg- I ning kaolin. På ritningen är kartongen märkt med hänvis- ! ningsnummer 1, är CaCO3-lagret märkt med nummer 2 och är det översta kaolinlagret märkt med nummer 3. Föreningen bestrålas från en 55Fe-radioisotopkälla 4, vars utsända röntgenstrålning i lagret 2 alstrar en för kalcium karak- teristisk sekundärröntgenstrålning, vars intensitet mätas med detektorer 6 och 7 på kartongens 1 båda sidor. Med 55Fe-källans utstrålade primära detektorn 5 mätes även absorption av röntgenstrålningen i kartong-beläggnings- kombinationen. Med de erhållna mätresultaten, vilka är matematiskt beroende av varje beläggningsskikts ytvikt, löses i princip med tre formler och tre variabler de båda beläggningsskiktens (CaCO3 och kaolinet) och kar- tongens ytvikt. Genom att koppla detektorerna 5, 6 och 7 direkt till en dator kan förfarandet tillämpas i on- line-anpassning vid en pappers- eller kartongbeläggnings- anordning. Sålunda är det möjligt att nå en mätnoggrannhet på j0,5 g/m2 vid mätningsintervaller på 10-20 s.
Uppfinningen är ej begränsad till det ovan beskrivna exemplet utan kan variera inom ramen för patentkraven.

Claims (2)

1. Uï ¿._\ Û 'ïïiíßüfi-Q PATENTKRIXV l. Förfarande för mätning av ytvikterna i en ämnes~ komposition, som består av ett bottenskikt (l), ett på bottenskiktet beläget mellanskikt (2), samt åtminstone ett på mellanskiktet beläget ytskikt (3}, i ingår bestrålning av ämneskompositionen med röntgenstrålar vilket förfarande samt mätning av en karakteristisk sekunflärrönteenstrâl~ ning, som exciteras i ämneskompositionen, t a n n e t e c k- n a t därav, att ämneskompositionen bestrålas med rönt- genstrâlar, som exciterar det i mellanskiktet (2) befint- liga ämnets karakteristiska sekundärröntgenstrâlning, vars intensitet mäts över och under ämneskompositionen, varjämte den från strålningskällan (4§ utgående primär~ strâlningefls absorption i ämneskompositionen mäts, varvid de olika skiktens ytvikter beräknas ur de av varandra oberoende mätningsresultat som erhålls.
2. , Användning av förfarandet enligt patentkravet l för mätning av ytvikterna i en ämneskomposition, där o skiktet (l) utgöres av kartong eller papper, mellan- skiktet (2) utgöres av CaC03 och ytskiktet (3) utgöres av caolin.
SE7711809A 1976-12-13 1977-10-20 Forfarande for metning av ytvikterna i en emneskombination, som bestar av ett bottenskikt, ett mellanskikt samt atminstone ett ytskikt jemte anvendning av detta forfarande SE433264B (sv)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI763572A FI53757C (fi) 1976-12-13 1976-12-13 Foerfarande foer maetning av ytvikterna

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE7711809L SE7711809L (sv) 1978-06-14
SE433264B true SE433264B (sv) 1984-05-14

Family

ID=8510494

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE7711809A SE433264B (sv) 1976-12-13 1977-10-20 Forfarande for metning av ytvikterna i en emneskombination, som bestar av ett bottenskikt, ett mellanskikt samt atminstone ett ytskikt jemte anvendning av detta forfarande

Country Status (9)

Country Link
JP (1) JPS5374464A (sv)
CA (1) CA1079414A (sv)
DE (1) DE2747638A1 (sv)
FI (1) FI53757C (sv)
FR (1) FR2393300A1 (sv)
GB (1) GB1565429A (sv)
IT (1) IT1090937B (sv)
NO (1) NO145672C (sv)
SE (1) SE433264B (sv)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FI59489C (fi) * 1978-11-21 1981-08-10 Enso Gutzeit Oy Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder
FI62420C (fi) * 1981-05-29 1982-12-10 Enso Gutzeit Oy Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd
SE455441B (sv) * 1986-11-24 1988-07-11 Refina Instr Ab Sett att styra och/eller meta tjockleken av skikt sasom ytskikt pa underlag
US6421415B1 (en) * 1999-05-21 2002-07-16 Metso Paper Automation Oy On-line system for quantitative analysis of multi-component additives and coatings in sheet material
DE10307356A1 (de) 2003-02-21 2004-09-16 Sikora Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Dicke der Isolation eines Flachkabels in Bereichen der metallischen Leiterbahnen
DE10345754A1 (de) * 2003-09-23 2005-04-21 Mesacon Messelektronik Gmbh Dr Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung der Dicke bewegter metallischer, bandförmiger Werkstoffe

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3889121A (en) * 1973-07-12 1975-06-10 Measurex Corp Apparatus for measuring the weight per unit area of a manufactured sheet product consisting of a reinforcing material surrounded by a bulk material

Also Published As

Publication number Publication date
GB1565429A (en) 1980-04-23
NO145672C (no) 1982-05-05
IT1090937B (it) 1985-06-26
FI53757B (sv) 1978-03-31
NO145672B (no) 1982-01-25
JPS5374464A (en) 1978-07-01
FR2393300B3 (sv) 1980-09-19
DE2747638A1 (de) 1978-06-15
FI53757C (fi) 1978-07-10
NO773894L (no) 1978-06-14
CA1079414A (en) 1980-06-10
FR2393300A1 (fr) 1978-12-29
SE7711809L (sv) 1978-06-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69019385T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren des Gewichts einer Schicht.
FI59489C (fi) Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder
US4845730A (en) Selective on-line measurement of filler components in paper
DE69722193T2 (de) Verfahren und vorrichtung für optische ausrichtung eines messkopfes auf einer koordinatenfläche
EP0394128B1 (en) X-ray coating weight controller and sensor
FI78356B (fi) Metod foer maetning av fuktighet.
FI68320C (fi) Foerfarande foer att medelst straolning fraon en radioisotopkaella utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fyll-och/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papp erartong eller liknande och halten av dessa medel anordnin rgafoer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av erfoarandet och anordningarna
US4147931A (en) Procedure for measuring unit area weights
US2521772A (en) Method of determining the thickness of a metal coating on a metal base
FI68322B (fi) Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong
US3754138A (en) Inner layer position measurement
NO145672B (no) Fremgangsmaate for aa maale flatevekter.
US4458360A (en) Procedure for determining coating rates
NO154570B (no) Fremgangsmaate for maaling av beleggmengder.
CA1154883A (en) Procedure for measuring coating rates
FI59490B (fi) Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengder
SU754274A1 (ru) Способ рентгеноспёктрального флуоресцентного анализа вещества в легком наполнителе 1
SU1245881A1 (ru) Способ измерени толщины покрыти
SU468084A1 (ru) Рентгеновский способ измерени толщины покрыти
ATE1301T1 (de) Verfahren und vorrichtung zur beurteilung von folienparametern durch strahlung.
JPS6361614B2 (sv)
JPH0251122B2 (sv)
JPS55109928A (en) Measuring method for thin plate by x-rays
JPS5944630A (ja) 添加剤濃度測定法及びオンライン測定装置

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed

Ref document number: 7711809-9

Effective date: 19900706

Format of ref document f/p: F