JP2000260381A - 走査型画像の処理装置 - Google Patents
走査型画像の処理装置Info
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- JP2000260381A JP2000260381A JP11059474A JP5947499A JP2000260381A JP 2000260381 A JP2000260381 A JP 2000260381A JP 11059474 A JP11059474 A JP 11059474A JP 5947499 A JP5947499 A JP 5947499A JP 2000260381 A JP2000260381 A JP 2000260381A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 本発明は、粒子線などのビームを細く絞って
試料上を面走査して得られた高精細の画像をカラー表示
およびカラー印刷する走査型画像の処理装置に関し、ビ
ームで試料を走査して発生する信号を検出し、千から数
万画素の信号をカラー画像にして表示および印刷して観
察することを目的とする。 【解決手段】 細く絞ったビームを試料に照射する手段
と、ビームで試料を照射した状態で振って平面走査する
走査手段と、ビームを試料面上に走査して発生された信
号あるいは吸収された信号を検出する検出手段と、検出
手段によって検出された信号に対応した、デジタルのカ
ラー信号に変換する手段と、変換されたカラー信号を出
力する手段とを備えるように構成する。
試料上を面走査して得られた高精細の画像をカラー表示
およびカラー印刷する走査型画像の処理装置に関し、ビ
ームで試料を走査して発生する信号を検出し、千から数
万画素の信号をカラー画像にして表示および印刷して観
察することを目的とする。 【解決手段】 細く絞ったビームを試料に照射する手段
と、ビームで試料を照射した状態で振って平面走査する
走査手段と、ビームを試料面上に走査して発生された信
号あるいは吸収された信号を検出する検出手段と、検出
手段によって検出された信号に対応した、デジタルのカ
ラー信号に変換する手段と、変換されたカラー信号を出
力する手段とを備えるように構成する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、粒子線などのビー
ムを細く絞って試料上を面走査して得られた高精細の画
像をカラー表示およびカラー印刷する走査型画像の処理
装置に関するものである。
ムを細く絞って試料上を面走査して得られた高精細の画
像をカラー表示およびカラー印刷する走査型画像の処理
装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、試料に細く絞った荷電粒子である
電子やイオンなどを照射しつつ面走査しそのときに発生
する2次電子や2次イオンを検出し、ブラウン管上に輝
度変調して拡大した走査画像を表示したり、ブラウン管
上の画像をポラロイドフィルムで撮影したり、通常のフ
ィルムで撮影して印画紙に焼き付けて当該走査画像を観
察したりしていた。
電子やイオンなどを照射しつつ面走査しそのときに発生
する2次電子や2次イオンを検出し、ブラウン管上に輝
度変調して拡大した走査画像を表示したり、ブラウン管
上の画像をポラロイドフィルムで撮影したり、通常のフ
ィルムで撮影して印画紙に焼き付けて当該走査画像を観
察したりしていた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
ブラウン管では、通常、高々500から1600画素程
度の矩形の画像しか当該ブラウン管の解像度がないため
に表示できなく、表示できる走査画像の大きさは、せい
ぜい20cm矩形であり、分解能が悪く奇麗に観察でき
ないという問題があった。同様に、ブラウン管上の画像
をフィルムで撮影してから印画紙に焼き付けても、ブラ
ウン管を使う関係で上記と同様にそれほど細かい画素の
走査画像を記録して観察できないという問題があった。
ブラウン管では、通常、高々500から1600画素程
度の矩形の画像しか当該ブラウン管の解像度がないため
に表示できなく、表示できる走査画像の大きさは、せい
ぜい20cm矩形であり、分解能が悪く奇麗に観察でき
ないという問題があった。同様に、ブラウン管上の画像
をフィルムで撮影してから印画紙に焼き付けても、ブラ
ウン管を使う関係で上記と同様にそれほど細かい画素の
走査画像を記録して観察できないという問題があった。
【0004】このため、走査型顕微鏡でブラウン管など
の表示装置を経由して走査画像を記録することではな
く、走査型顕微鏡などから得られた画像信号を直接にカ
ラー画像にして表示および高精細かつ広視野に印刷して
観察するすることが望まれている。
の表示装置を経由して走査画像を記録することではな
く、走査型顕微鏡などから得られた画像信号を直接にカ
ラー画像にして表示および高精細かつ広視野に印刷して
観察するすることが望まれている。
【0005】本発明は、これらの問題を解決するため、
ビームで試料を走査して発生する信号を検出し、千から
数万画素の信号をカラー画像にして表示および印刷して
観察することを目的としている。
ビームで試料を走査して発生する信号を検出し、千から
数万画素の信号をカラー画像にして表示および印刷して
観察することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】図1を参照して課題を解
決するための手段を説明する。ここでは、荷電粒子を例
に以下説明する。
決するための手段を説明する。ここでは、荷電粒子を例
に以下説明する。
【0007】図1において、照射系1は、例えば荷電粒
子(電子線など)を発生させて集束し試料7上に細く絞
ったビームて照射した状態で平面走査するものであっ
て、偏向コイル3、対物レンズ6、および2次電子検出
器19などから構成されるものである。
子(電子線など)を発生させて集束し試料7上に細く絞
ったビームて照射した状態で平面走査するものであっ
て、偏向コイル3、対物レンズ6、および2次電子検出
器19などから構成されるものである。
【0008】偏向コイル3は、試料7上に細く絞って照
射されている電子線ビームを、偏向して平面走査するも
のである。試料7は、電子線ビームを平面走査してその
時に発生する信号を検出する対象の試料である。
射されている電子線ビームを、偏向して平面走査するも
のである。試料7は、電子線ビームを平面走査してその
時に発生する信号を検出する対象の試料である。
【0009】2次電子検出器19は、試料7から放射さ
れた2次電子を検出するものである。表示装置28は、
カラーで2次電子画像などを表示するものである。
れた2次電子を検出するものである。表示装置28は、
カラーで2次電子画像などを表示するものである。
【0010】次に、動作を説明する。照射系1を構成す
る図示外の粒子線源から発生させた粒子線、例えば電子
線を対物レンズ6によって細く絞った電子線ビームを試
料7上に照射した状態で、偏向コイル3によって偏向し
て試料7上で電子線ビームを平面走査し、試料7から発
生した例えば2次電子を2次電子検出器19によって検
出し、カラー画像に変換して画面上に表示する。
る図示外の粒子線源から発生させた粒子線、例えば電子
線を対物レンズ6によって細く絞った電子線ビームを試
料7上に照射した状態で、偏向コイル3によって偏向し
て試料7上で電子線ビームを平面走査し、試料7から発
生した例えば2次電子を2次電子検出器19によって検
出し、カラー画像に変換して画面上に表示する。
【0011】この際、倍率あるいは走査線数が変化さ
れ、試料7に電子線ビームで走査する際に、走査線の間
が空くと判明したときに、電子線ビームをほぼ走査線の
間隔にデフォーカスして太くするようにしている。
れ、試料7に電子線ビームで走査する際に、走査線の間
が空くと判明したときに、電子線ビームをほぼ走査線の
間隔にデフォーカスして太くするようにしている。
【0012】また、倍率あるいは走査線数が変化され、
試料7を電子線ビームで走査する際に、走査線の間が空
くと判明したときに、電子線ビームでほぼ走査線の間隔
の微小領域をそれぞれ平面走査するようにしている。
試料7を電子線ビームで走査する際に、走査線の間が空
くと判明したときに、電子線ビームでほぼ走査線の間隔
の微小領域をそれぞれ平面走査するようにしている。
【0013】また、試料の所定領域の中央の1部分およ
び周辺の複数の1部分を平面走査して検出された信号を
画面上に拡大した画像として表示し、表示された中央の
拡大した画像、および周辺の複数の拡大した画像毎に上
記ビームの焦点合せを行い、焦点合せされた値をもとに
ビームの焦点補正を行うようにしている。
び周辺の複数の1部分を平面走査して検出された信号を
画面上に拡大した画像として表示し、表示された中央の
拡大した画像、および周辺の複数の拡大した画像毎に上
記ビームの焦点合せを行い、焦点合せされた値をもとに
ビームの焦点補正を行うようにしている。
【0014】また、試料7を中心に180度対称の位置
に、電子線ビームが試料7に照射したときに発生する信
号を検出する、複数組の検出器を設け、180度対称の
検出器によって検出されたそれぞれからの信号の差分信
号を、複数組分を生成し、差分信号を走査方向にそれぞ
れ積分して試料のそれぞれの方向の高さ情報を生成し、
生成された試料7のそれぞれの方向の高さ情報をもとに
電子線ビームの焦点合せを行うようにしている。
に、電子線ビームが試料7に照射したときに発生する信
号を検出する、複数組の検出器を設け、180度対称の
検出器によって検出されたそれぞれからの信号の差分信
号を、複数組分を生成し、差分信号を走査方向にそれぞ
れ積分して試料のそれぞれの方向の高さ情報を生成し、
生成された試料7のそれぞれの方向の高さ情報をもとに
電子線ビームの焦点合せを行うようにしている。
【0015】また、試料の所定領域の中央の1部分およ
び周辺の複数の1部分を平面走査して検出された信号を
画面上に拡大した画像として表示し、表示された中央の
拡大した画像、および周辺の複数の拡大した画像毎に上
記ビームの非点合せを行い、非点合せされた値をもとに
ビームの非点補正を行うようにしている。
び周辺の複数の1部分を平面走査して検出された信号を
画面上に拡大した画像として表示し、表示された中央の
拡大した画像、および周辺の複数の拡大した画像毎に上
記ビームの非点合せを行い、非点合せされた値をもとに
ビームの非点補正を行うようにしている。
【0016】また、検出された信号の階調に対応する、
カラーの階調を登録したテーブルを設け、検出された信
号について、テーブルを参照してカラー信号に変換する
ようにしている。
カラーの階調を登録したテーブルを設け、検出された信
号について、テーブルを参照してカラー信号に変換する
ようにしている。
【0017】また、検出された信号をカラー信号に変換
する際に、指定されたカラーの2つの色をもとに、検出
された信号の階調に対応するカラー信号の階調を作成し
てて変換するようにしている。
する際に、指定されたカラーの2つの色をもとに、検出
された信号の階調に対応するカラー信号の階調を作成し
てて変換するようにしている。
【0018】また、検出された信号を8ビット以上と
し、カラーの信号がRGBのときにそれぞれ8ビット、
あるいはカラーの信号が印刷用のときに印刷装置で使用
するカラーデータ形式の色と色のビット数とするように
している。
し、カラーの信号がRGBのときにそれぞれ8ビット、
あるいはカラーの信号が印刷用のときに印刷装置で使用
するカラーデータ形式の色と色のビット数とするように
している。
【0019】従って、ビームで試料を走査して発生する
信号を検出し、千から数万画素の信号をカラー画像にし
て階調良好かつ広視野で表示および印刷して観察するこ
とが可能となる。
信号を検出し、千から数万画素の信号をカラー画像にし
て階調良好かつ広視野で表示および印刷して観察するこ
とが可能となる。
【0020】
【実施例】次に、図1から図19を用いて本発明の実施
の形態および動作を順次詳細に説明する。ここでは、ビ
ームとして荷電粒子である電子線ビームを例に以下実施
例を詳細に説明する。
の形態および動作を順次詳細に説明する。ここでは、ビ
ームとして荷電粒子である電子線ビームを例に以下実施
例を詳細に説明する。
【0021】図1は、本発明のシステム構成図を示す。
図1において、照射系1は、荷電粒子である電子線を発
生させて集束し試料7上に細く絞って照射した状態で平
面走査するものであって、2から6などによって構成さ
れるものでる。
図1において、照射系1は、荷電粒子である電子線を発
生させて集束し試料7上に細く絞って照射した状態で平
面走査するものであって、2から6などによって構成さ
れるものでる。
【0022】集束レンズ2は、図示外の電子銃から発生
されて加速された電子線を集束するものである。偏向コ
イル3は、細く絞って試料7上を照射された電子線ビー
ムを偏向して平面走査するものである。
されて加速された電子線を集束するものである。偏向コ
イル3は、細く絞って試料7上を照射された電子線ビー
ムを偏向して平面走査するものである。
【0023】非点補正コイル4は、電子線ビームの非点
を補正するものである。ファインシフトコイル5は、電
子線ビームを水平方向に移動させるものである。
を補正するものである。ファインシフトコイル5は、電
子線ビームを水平方向に移動させるものである。
【0024】ダイナミックフォーカスコイル8は、電子
線ビームが試料7上の中心視野位置から外れた位置を照
射したときでも細い電子線ビームになるようにフォーカ
スするものである。
線ビームが試料7上の中心視野位置から外れた位置を照
射したときでも細い電子線ビームになるようにフォーカ
スするものである。
【0025】対物レンズ6は、電子線ビームを試料7上
に細く絞って照射するものである。試料7は、電子線ビ
ームを平面走査してその時に発生する信号を検出し、カ
ラー像にして表示および印刷する対象の試料である。
に細く絞って照射するものである。試料7は、電子線ビ
ームを平面走査してその時に発生する信号を検出し、カ
ラー像にして表示および印刷する対象の試料である。
【0026】任意ステップ走査発生器11は、任意のス
テップの走査信号(水平、垂直の走査信号)を発生する
ものである。走査発生器12は、通常の走査型電子顕微
鏡などに用いる低精度(例えば500画素×500画
素)の走査信号を発生するものである。
テップの走査信号(水平、垂直の走査信号)を発生する
ものである。走査発生器12は、通常の走査型電子顕微
鏡などに用いる低精度(例えば500画素×500画
素)の走査信号を発生するものである。
【0027】走査信号切換装置13は、任意ステップ
(例えば千から数万画素)の走査信号と、低精度の走査
信号とを任意に、外部からの切換モードに対応して切り
かえるものである。
(例えば千から数万画素)の走査信号と、低精度の走査
信号とを任意に、外部からの切換モードに対応して切り
かえるものである。
【0028】倍率制御回路14は、走査発生器12から
供給された低精度の走査信号をもとに指定された倍率の
信号を出力するものである。倍率制御回路15は、走査
信号切換装置13から供給された走査信号をもとに指定
された倍率の信号を出力するものである。
供給された低精度の走査信号をもとに指定された倍率の
信号を出力するものである。倍率制御回路15は、走査
信号切換装置13から供給された走査信号をもとに指定
された倍率の信号を出力するものである。
【0029】倍率制御切換器16は、倍率制御回路1
4、15あるいは走査信号切換装置13のいずれかの信
号を切り換えて選択して偏向コイル3に供給し、所定倍
率となる走査電流などを偏向コイル3に供給するもので
ある。
4、15あるいは走査信号切換装置13のいずれかの信
号を切り換えて選択して偏向コイル3に供給し、所定倍
率となる走査電流などを偏向コイル3に供給するもので
ある。
【0030】ダイナミック非点制御回路17は、非点補
正コイル4に電流を供給して非点補正するものである。
ファインシフト制御回路51は、ファインシフトコイル
5に電流を供給して、視野の移動を制御するものであ
る。
正コイル4に電流を供給して非点補正するものである。
ファインシフト制御回路51は、ファインシフトコイル
5に電流を供給して、視野の移動を制御するものであ
る。
【0031】ダイナミックフォーカス制御回路18は、
ダイナミックフォーカスコイル8に電流を供給し、ダイ
ナミックフォーカス(電子線ビームが試料7上の視野中
心から偏向されてずれるにしたがい焦点が合わなくなる
ので、これを補正して常に焦点があうように走査信号に
同期して電流を供給して補正)するものである。
ダイナミックフォーカスコイル8に電流を供給し、ダイ
ナミックフォーカス(電子線ビームが試料7上の視野中
心から偏向されてずれるにしたがい焦点が合わなくなる
ので、これを補正して常に焦点があうように走査信号に
同期して電流を供給して補正)するものである。
【0032】2次電子検出器19は、電子線ビームを試
料7の表面に面走査したときに放出される2次電子を検
出して増幅するものである。信号増幅器20は、2次電
子検出器19によって検出された信号(画像信号)を増
幅するものである。
料7の表面に面走査したときに放出される2次電子を検
出して増幅するものである。信号増幅器20は、2次電
子検出器19によって検出された信号(画像信号)を増
幅するものである。
【0033】画像取込装置21は、信号増幅器20によ
って増幅された、試料7から放出された2次電子などの
アナログの信号(画像信号)をデジタルの画像信号に変
換(例えば試料7上の全走査範囲を16,000×1
6,000画素となるように水平走査信号および垂直走
査信号に同期してサンプリングし12ビットのデータに
量子化して画像信号を得るように変換)するものであ
る。
って増幅された、試料7から放出された2次電子などの
アナログの信号(画像信号)をデジタルの画像信号に変
換(例えば試料7上の全走査範囲を16,000×1
6,000画素となるように水平走査信号および垂直走
査信号に同期してサンプリングし12ビットのデータに
量子化して画像信号を得るように変換)するものであ
る。
【0034】I/O23から27は、CPU29と、任
意ステップ走査発生器11、倍率制御回路15、ダイナ
ミック非点制御回路17、ファインシフト制御回路5
1、ダイナミックフォーカス制御回路18との間で信号
の授受を行う入出力回路であって、例えばCPU29か
らのデジタルの信号をアナログの信号に変換するD/A
変換等の信号の制御に使用するものである。
意ステップ走査発生器11、倍率制御回路15、ダイナ
ミック非点制御回路17、ファインシフト制御回路5
1、ダイナミックフォーカス制御回路18との間で信号
の授受を行う入出力回路であって、例えばCPU29か
らのデジタルの信号をアナログの信号に変換するD/A
変換等の信号の制御に使用するものである。
【0035】プリンタ30は、高精細のカラーのプリン
タ(プロッタ)である。表示装置28は、低解像度(5
00ないし1800ドット)の画像を表示するものであ
って、カラーCRT、カラー液晶、一般家電のテレビな
どである。
タ(プロッタ)である。表示装置28は、低解像度(5
00ないし1800ドット)の画像を表示するものであ
って、カラーCRT、カラー液晶、一般家電のテレビな
どである。
【0036】CPU29は、プログラムに従い各種処理
を行うものであって、ここでは、プログラムによって動
作する画像編集手段35、画像変換手段36などから構
成されるものである。
を行うものであって、ここでは、プログラムによって動
作する画像編集手段35、画像変換手段36などから構
成されるものである。
【0037】画像編集手段35は、画像を編集して画面
33上に表示させるものである。画像変換手段36は、
モノクロの画像信号を、カラーの画像信号に変換(例え
ばモノクロの画像信号の階調を落とさずにカラーの画像
信号に変換)したりなどするものである。
33上に表示させるものである。画像変換手段36は、
モノクロの画像信号を、カラーの画像信号に変換(例え
ばモノクロの画像信号の階調を落とさずにカラーの画像
信号に変換)したりなどするものである。
【0038】次に、図2から図19を用いて図1の構成
および動作を順次詳細に説明する。図2は、本発明の説
明図(間引き走査)を示す。これは、走査信号(H,
V)を間引いて任意のステップの走査信号(H,V)を
生成するときの構成図およびその説明図を示す。
および動作を順次詳細に説明する。図2は、本発明の説
明図(間引き走査)を示す。これは、走査信号(H,
V)を間引いて任意のステップの走査信号(H,V)を
生成するときの構成図およびその説明図を示す。
【0039】図2の(a)は、回路構成図を示す。図2
の(a)において、クロック発生回路32は、走査信号
を生成するためのクロックを発生させるものである。
の(a)において、クロック発生回路32は、走査信号
を生成するためのクロックを発生させるものである。
【0040】ゲート回路33は、クロック発生回路32
からのクロック、あるいは間引き回路35を経由して間
引いた後のクロックのいずれかをカウンタ36,37に
供給するように切り換えるものである。
からのクロック、あるいは間引き回路35を経由して間
引いた後のクロックのいずれかをカウンタ36,37に
供給するように切り換えるものである。
【0041】ラッチ34は、CPU29から設定された
間引き値を保持するものである。間引き回路35は、ラ
ッチ34に設定された間引き値だけ、ゲート回路33か
ら供給されたクロックを間引いた後のクロックをカウン
タ36,37に供給するものである。例えば8パルス毎
の間引いたクロックをカウンタ36,37に供給して図
2の(b)に示す走査信号(H,V)を生成させるため
のものである。
間引き値を保持するものである。間引き回路35は、ラ
ッチ34に設定された間引き値だけ、ゲート回路33か
ら供給されたクロックを間引いた後のクロックをカウン
タ36,37に供給するものである。例えば8パルス毎
の間引いたクロックをカウンタ36,37に供給して図
2の(b)に示す走査信号(H,V)を生成させるため
のものである。
【0042】カウンタ36,37は、入力されたクロッ
クをもとに、デジタルの走査信号(H,V)を生成する
ものである。D/A38,39は、デジタルの走査信号
(H,V)をアナログの走査信号に変換するものであ
る。
クをもとに、デジタルの走査信号(H,V)を生成する
ものである。D/A38,39は、デジタルの走査信号
(H,V)をアナログの走査信号に変換するものであ
る。
【0043】図2の(b)は、間引かないのときの走査
信号および間引いたときの走査信号をイメージ的に示
す。図2の(b−1)は、間引かないときの走査信号
(H、V)の例を示す。この場合には、水平方向(H)
に16000ステップ(画素)、垂直方向(V)に16
000ステップ(画素)の走査信号(H,V)となる。
信号および間引いたときの走査信号をイメージ的に示
す。図2の(b−1)は、間引かないときの走査信号
(H、V)の例を示す。この場合には、水平方向(H)
に16000ステップ(画素)、垂直方向(V)に16
000ステップ(画素)の走査信号(H,V)となる。
【0044】図2の(b−2)は、間引いたとき(8パ
ルス毎に間引いたとき)の走査信号(H、V)の例を示
す。この場合には、水平方向(H)に2000ステップ
(画素)、垂直方向(V)に2000ステップ(画素)
の走査信号(H,V)となる。
ルス毎に間引いたとき)の走査信号(H、V)の例を示
す。この場合には、水平方向(H)に2000ステップ
(画素)、垂直方向(V)に2000ステップ(画素)
の走査信号(H,V)となる。
【0045】以上のように、図2の(a)の構成のもと
で、CPU29がラッチ34に間引き値を任意に設定す
るのみで、当該間引き値に対応したステップ数の走査信
号(H,V)を発生させることが可能となる。
で、CPU29がラッチ34に間引き値を任意に設定す
るのみで、当該間引き値に対応したステップ数の走査信
号(H,V)を発生させることが可能となる。
【0046】図3は、本発明の説明図(任意ステップ可
変走査、その1)を示す。これは、任意ステップの走査
信号(H,V),走査信号(H,V)をシフト(直流分
を付加)させるシフト信号、走査信号(H,V)を拡大
する拡大信号をCPU29が任意に設定し、任意ステッ
プの走査信号(H,V)を生成するものである。
変走査、その1)を示す。これは、任意ステップの走査
信号(H,V),走査信号(H,V)をシフト(直流分
を付加)させるシフト信号、走査信号(H,V)を拡大
する拡大信号をCPU29が任意に設定し、任意ステッ
プの走査信号(H,V)を生成するものである。
【0047】図3において、クロック発生回路41は、
クロックを発生するものである。ゲート回路42は、ク
ロック発生回路41からのクロックをカウンタ43,4
4に供給、あるいは比較器46,48に供給するかのい
ずれかに切り換えるものである。
クロックを発生するものである。ゲート回路42は、ク
ロック発生回路41からのクロックをカウンタ43,4
4に供給、あるいは比較器46,48に供給するかのい
ずれかに切り換えるものである。
【0048】カウンタ43,44は、クロック発生回路
41からゲート回路42を介して供給されたクロックを
計数してデジタルの走査信号(H,V)を発生するもの
である。
41からゲート回路42を介して供給されたクロックを
計数してデジタルの走査信号(H,V)を発生するもの
である。
【0049】ラッチ45,47は、CPU29が走査信
号(H,V)の任意のステップ数を設定するラッチであ
る。比較器46,48は、クロック発生回路41からゲ
ート回路42を介して供給されたクロックが、ラッチ4
6,47に設定されたステップ数に等しくなるまで計数
し、等しくなったときに0から再計数を開始するもので
ある。これにより、比較器46,48の出力からラッチ
46,47に設定されたステップ数のデジタルの走査信
号(H,V)が出力されることとなる。
号(H,V)の任意のステップ数を設定するラッチであ
る。比較器46,48は、クロック発生回路41からゲ
ート回路42を介して供給されたクロックが、ラッチ4
6,47に設定されたステップ数に等しくなるまで計数
し、等しくなったときに0から再計数を開始するもので
ある。これにより、比較器46,48の出力からラッチ
46,47に設定されたステップ数のデジタルの走査信
号(H,V)が出力されることとなる。
【0050】ラッチ49,50は、CPU29がシフト
用の任意のステップ数を設定するものである。ラッチ5
2,53は、CPU29が拡大用の任意のステップ数を
設定するものである。
用の任意のステップ数を設定するものである。ラッチ5
2,53は、CPU29が拡大用の任意のステップ数を
設定するものである。
【0051】D/A54,55は、カウンタ43,4
4、あるいは比較器46,48からのデジタルの走査信
号(H,V)を、アナログの走査信号(H,V)Aに変
換するものである。
4、あるいは比較器46,48からのデジタルの走査信
号(H,V)を、アナログの走査信号(H,V)Aに変
換するものである。
【0052】D/A56,57は、ラッチ49,50に
設定されたデジタルのシフト値をアナログのシフト値
(H,V)Bに変換するものである。D/A58,59
は、ラッチ52,53に設定されたデジタルの拡大値を
アナログの拡大値(H,V)Cに変換するものである。
設定されたデジタルのシフト値をアナログのシフト値
(H,V)Bに変換するものである。D/A58,59
は、ラッチ52,53に設定されたデジタルの拡大値を
アナログの拡大値(H,V)Cに変換するものである。
【0053】シフト回路60,61は、D/A54,5
5からの走査信号(H,V)Aと、D/A56,57か
らのシフト値(H−V)Bとを加算(A+B)するもの
である。
5からの走査信号(H,V)Aと、D/A56,57か
らのシフト値(H−V)Bとを加算(A+B)するもの
である。
【0054】演算器62,63は、シフト回路60,6
1で加算された後の走査信号(A+B),拡大値(H,
V)Cとを図示の下記の演算を行い、例えば中央、4隅
の合計5個所の拡大した小さな走査信号(H,V)を発
生させるものである。
1で加算された後の走査信号(A+B),拡大値(H,
V)Cとを図示の下記の演算を行い、例えば中央、4隅
の合計5個所の拡大した小さな走査信号(H,V)を発
生させるものである。
【0055】Y=10(A+B)*C 以上の回路構成により、CPU29がラッチ45,4
7,49,50,52,53に任意の所定の値を設定す
るのみで、自動的に、例えば16000×16000画
素の中央と、4隅の拡大した走査信号(H,V)を発生
させることが可能となる。
7,49,50,52,53に任意の所定の値を設定す
るのみで、自動的に、例えば16000×16000画
素の中央と、4隅の拡大した走査信号(H,V)を発生
させることが可能となる。
【0056】図4は、本発明の説明図(任意ステップ可
変走査、その2)を示す。図4の(a)は、動作フロー
チャートを示す。図4の(a)において、S1は、ステ
ップ数(H,V)をラッチに転送する。これは、既述し
た図3のラッチ45,47にCPU29が走査信号
(H,V)のステップ数を設定する。
変走査、その2)を示す。図4の(a)は、動作フロー
チャートを示す。図4の(a)において、S1は、ステ
ップ数(H,V)をラッチに転送する。これは、既述し
た図3のラッチ45,47にCPU29が走査信号
(H,V)のステップ数を設定する。
【0057】S2は、シフト量を算出して、ラッチ(シ
フト、H,V)に転送する。これは、CPU29が図4
の(b)の4隅の拡大した走査信号(2500×250
0画素)にするためのシフト量(シフトするステップ
数)を算出し、図3のラッチ49,50に設定する。
フト、H,V)に転送する。これは、CPU29が図4
の(b)の4隅の拡大した走査信号(2500×250
0画素)にするためのシフト量(シフトするステップ
数)を算出し、図3のラッチ49,50に設定する。
【0058】S3は、拡大率を算出して、ラッチ(拡
大、H,V)に転送する。これは、CPU29が図4の
(b)の4隅の拡大した走査信号(2500×2500
画素)にするための拡大率を算出し、図3のラッチ5
2、53に設定する。
大、H,V)に転送する。これは、CPU29が図4の
(b)の4隅の拡大した走査信号(2500×2500
画素)にするための拡大率を算出し、図3のラッチ5
2、53に設定する。
【0059】S4は、走査開始し、カウンタHがクロッ
ク毎に増加、およびD/A出力する。これは、図3の構
成で、比較器46がクロック毎にラッチ45に設定され
た値に等しくなるまで増加し、等しくなったときに、S
5を実行すると共に、リセットして再度、走査開始す
る。
ク毎に増加、およびD/A出力する。これは、図3の構
成で、比較器46がクロック毎にラッチ45に設定され
た値に等しくなるまで増加し、等しくなったときに、S
5を実行すると共に、リセットして再度、走査開始す
る。
【0060】S5は、S4で1本の水平走査信号の増加
が終わったときにカウンタVを+1する。これは、S4
で1本の水平走査信号(H)の増加が終わる毎に、図3
の比較器48を+1することを繰り返し、ラッチ47の
値と等しくなったときにリセットして再度、走査開始す
る。
が終わったときにカウンタVを+1する。これは、S4
で1本の水平走査信号(H)の増加が終わる毎に、図3
の比較器48を+1することを繰り返し、ラッチ47の
値と等しくなったときにリセットして再度、走査開始す
る。
【0061】図4の(b)は、図4の(a)のフローチ
ャートに従い、走査信号(H,V)を生成するときの説
明図を示す。ここでは、16000×16000画素か
ら、2500×2500画素の拡大画像について、中心
および隅に丁度納まる図示のように拡大画像をシフトさ
せる。
ャートに従い、走査信号(H,V)を生成するときの説
明図を示す。ここでは、16000×16000画素か
ら、2500×2500画素の拡大画像について、中心
および隅に丁度納まる図示のように拡大画像をシフトさ
せる。
【0062】以上によって、CPU29がラッチ45,
47,49,50,52,53に、拡大画像のステップ
数(画素数)、シフト量(シフトステップ数)、拡大率
を任意に設定するのみで、自動的に、例えば16000
×16000画素の中央と、4隅の拡大した走査信号
(2500×2500画素、H,V)を発生させること
が可能となる。
47,49,50,52,53に、拡大画像のステップ
数(画素数)、シフト量(シフトステップ数)、拡大率
を任意に設定するのみで、自動的に、例えば16000
×16000画素の中央と、4隅の拡大した走査信号
(2500×2500画素、H,V)を発生させること
が可能となる。
【0063】図5は、本発明の説明図(走査)を示す。
図5の(a−1)は、16000×16000画素の画
像例を示す。図5の(b−1)は、図5の(a−1)の
画像を得るときの走査信号(H,V)を示す。
図5の(a−1)は、16000×16000画素の画
像例を示す。図5の(b−1)は、図5の(a−1)の
画像を得るときの走査信号(H,V)を示す。
【0064】図5の(a−2)は、5000×5000
画素の画像を左上隅に得るときの例を示す。図5の(b
−2)は、図5の(a−2)の画像を得るときの走査信
号(H,V)を示す。ここでは、図5の(a−2)の左
上の隅の拡大画像(5000×5000画素)を得るた
めに、中心から上方に所定量(所定ステップ数)だけシ
フトし、かつ5000画素分の走査信号(H,V)を発
生させている。
画素の画像を左上隅に得るときの例を示す。図5の(b
−2)は、図5の(a−2)の画像を得るときの走査信
号(H,V)を示す。ここでは、図5の(a−2)の左
上の隅の拡大画像(5000×5000画素)を得るた
めに、中心から上方に所定量(所定ステップ数)だけシ
フトし、かつ5000画素分の走査信号(H,V)を発
生させている。
【0065】図5の(a−3)は、5000×5000
画素の画像を中心に得るときの例を示す。図5の(b−
3)は、図5の(a−3)の画像を得るときの走査信号
(H,V)を示す。ここでは、図5の(a−3)の中央
の拡大画像(5000×5000画素)を得るために、
シフト量0(ゼロ)とし、5000画素分の走査信号
(H,V)を発生させている。
画素の画像を中心に得るときの例を示す。図5の(b−
3)は、図5の(a−3)の画像を得るときの走査信号
(H,V)を示す。ここでは、図5の(a−3)の中央
の拡大画像(5000×5000画素)を得るために、
シフト量0(ゼロ)とし、5000画素分の走査信号
(H,V)を発生させている。
【0066】図5の(a−4)は、図5の(a−3)の
画像を拡大した様子を示す。図5の(b−4)は、図5
の(a−4)の画像を得るときの走査信号(H,V)を
示す。ここでは、図5の(a−4)の中央の拡大画像
(5000×5000画素)を全体に拡大したものであ
り、振幅を拡大した5000画素分の走査信号(H,
V)を発生させている。
画像を拡大した様子を示す。図5の(b−4)は、図5
の(a−4)の画像を得るときの走査信号(H,V)を
示す。ここでは、図5の(a−4)の中央の拡大画像
(5000×5000画素)を全体に拡大したものであ
り、振幅を拡大した5000画素分の走査信号(H,
V)を発生させている。
【0067】以上のように高精細(例えば16000×
16000画素)で試料7上を走査する場合に、中央、
左上、左下、右下、右上というように例えば5点の所定
倍率で拡大(図5では5000×5000画素)した画
像を順番に表示し、それぞれでフォーカス調整、非点調
整を行って各位置における値をそれぞれ記憶しておき、
それらの間は補完してフォーカス調整および非点調整す
ることで、高精細の全体あるいは一部を抽出して拡大表
示しても常にフォーカスおよび非点が補正されるので、
奇麗な高分解能を画像を表示することが可能となる。ま
た、試料7上を中央、左上、左下、右下、右上というよ
うに順次切り換えて拡大画像を表示してフォーカス調整
および非点調整を行うことではなく、これら5点の拡大
画像を1つの画面上に時系列に順次表示し、それぞれの
画面(上記例でる5つの画面)上でフォーカス調整およ
び非点調整をそれぞれ行うようにすれば、更に、操作性
が改善されることとなる。
16000画素)で試料7上を走査する場合に、中央、
左上、左下、右下、右上というように例えば5点の所定
倍率で拡大(図5では5000×5000画素)した画
像を順番に表示し、それぞれでフォーカス調整、非点調
整を行って各位置における値をそれぞれ記憶しておき、
それらの間は補完してフォーカス調整および非点調整す
ることで、高精細の全体あるいは一部を抽出して拡大表
示しても常にフォーカスおよび非点が補正されるので、
奇麗な高分解能を画像を表示することが可能となる。ま
た、試料7上を中央、左上、左下、右下、右上というよ
うに順次切り換えて拡大画像を表示してフォーカス調整
および非点調整を行うことではなく、これら5点の拡大
画像を1つの画面上に時系列に順次表示し、それぞれの
画面(上記例でる5つの画面)上でフォーカス調整およ
び非点調整をそれぞれ行うようにすれば、更に、操作性
が改善されることとなる。
【0068】図6は、本発明の説明図(フォーカス調
整)を示す。図6において、ラッチ71は、CPUがフ
ォーカス調整する値を設定するものである。
整)を示す。図6において、ラッチ71は、CPUがフ
ォーカス調整する値を設定するものである。
【0069】D/A72は、ラッチ72に設定されたデ
ジタルの値をアナログの値(信号)に変換するものであ
る。対物回路73は、D/A72から出力された信号お
よび手動でフォーカス調整された信号を、図示のアンプ
73を含む回路で加算して対物レンズ6に供給するもの
である。これにより、対物レンズ6の電流を調整し、試
料7を照射する電子線ビームが細く絞られて、奇麗な焦
点のあった2次電子画像を得ることが可能となる。
ジタルの値をアナログの値(信号)に変換するものであ
る。対物回路73は、D/A72から出力された信号お
よび手動でフォーカス調整された信号を、図示のアンプ
73を含む回路で加算して対物レンズ6に供給するもの
である。これにより、対物レンズ6の電流を調整し、試
料7を照射する電子線ビームが細く絞られて、奇麗な焦
点のあった2次電子画像を得ることが可能となる。
【0070】図7は、本発明の説明図(ファインシフト
回路組み込み)を示す。これは、走査信号(H,V)を
間引いて走査した場合、例えば16000×16000
画素で電子線ビームのスポット径が丁度、走査線と走査
線との間隔に等しい場合、この電子線ビームのスポット
径を保持したまま、10本毎に1本(画素)を抽出(間
引く)した走査信号(H,B)を発生させて試料7を走
査して画像を生成すると、9本分(9画素分)の隙間が
できて電子線ビームで走査されない部分がここでは、9
0%にもなってしまうので、走査線の間隔に等しい小さ
な矩形(ここでは、10×10画素の矩形)を面走査
(H方向走査およびV方向走査)を行い、モアレなどの
発生を防止すると共に、S/N比の改善を図るものであ
る。
回路組み込み)を示す。これは、走査信号(H,V)を
間引いて走査した場合、例えば16000×16000
画素で電子線ビームのスポット径が丁度、走査線と走査
線との間隔に等しい場合、この電子線ビームのスポット
径を保持したまま、10本毎に1本(画素)を抽出(間
引く)した走査信号(H,B)を発生させて試料7を走
査して画像を生成すると、9本分(9画素分)の隙間が
できて電子線ビームで走査されない部分がここでは、9
0%にもなってしまうので、走査線の間隔に等しい小さ
な矩形(ここでは、10×10画素の矩形)を面走査
(H方向走査およびV方向走査)を行い、モアレなどの
発生を防止すると共に、S/N比の改善を図るものであ
る。
【0071】図7の(a)は、回路構成図を示す。図7
の(a)において、H走査発生回路81は、水平方向の
走査信号を発生するものである。
の(a)において、H走査発生回路81は、水平方向の
走査信号を発生するものである。
【0072】V走査発生回路82は、垂直方向の走査信
号を発生するものである。ラッチ83は、CPUから電
子線ビームを走査する走査信号の大きさを設定するもの
である。
号を発生するものである。ラッチ83は、CPUから電
子線ビームを走査する走査信号の大きさを設定するもの
である。
【0073】D/A84は、ラッチ83に設定されたデ
ジタルの値をアナログの信号に変換するものである。演
算回路85,86は、H走査発生回路81、V走査発生
回路82からの走査信号AにD/A84からの値を乗算
(A×B)を生成し、Hscan(走査信号(H))お
よびVscan(走査信号(V))を出力するものであ
る。
ジタルの値をアナログの信号に変換するものである。演
算回路85,86は、H走査発生回路81、V走査発生
回路82からの走査信号AにD/A84からの値を乗算
(A×B)を生成し、Hscan(走査信号(H))お
よびVscan(走査信号(V))を出力するものであ
る。
【0074】図7の(b)は、図7の(a)のHsca
nとVscanを左側から入力し、右側からファインシ
フトコイル5に走査線の間隔に等しい小さな矩形の範囲
を走査(水平および垂直方向に走査)する様子を示す。
nとVscanを左側から入力し、右側からファインシ
フトコイル5に走査線の間隔に等しい小さな矩形の範囲
を走査(水平および垂直方向に走査)する様子を示す。
【0075】以上のように、走査線と走査線の間に電子
線ビームで走査されない隙間があるときに、走査線の間
隔に等しい小さな矩形内を水平走査および垂直走査する
ことで、モアレの発生を無くしたり、S/N比の改善を
図ることが可能となる。
線ビームで走査されない隙間があるときに、走査線の間
隔に等しい小さな矩形内を水平走査および垂直走査する
ことで、モアレの発生を無くしたり、S/N比の改善を
図ることが可能となる。
【0076】図8は、本発明の説明図(フィルタ)を示
す。これは、図7で走査線の間隔に相当する矩形の範囲
内を面走査してそのときに発生した2次電子信号を検出
したときに、当該矩形の範囲内の信号を1画素の信号に
するために、高速走査フィルタを通過させるものであ
る。
す。これは、図7で走査線の間隔に相当する矩形の範囲
内を面走査してそのときに発生した2次電子信号を検出
したときに、当該矩形の範囲内の信号を1画素の信号に
するために、高速走査フィルタを通過させるものであ
る。
【0077】図8の(a)は、回路構成を示す。ここで
は、2次電子検出器19からの信号(画像信号)を左側
から入力し、図7の回路が動作時には、切換信号によっ
てスイッチを下側に接続し、画像信号を高速走査フィル
タを介してA/D画像取込装置21に入力し、デジタル
の画像信号にしてCPUに渡す。
は、2次電子検出器19からの信号(画像信号)を左側
から入力し、図7の回路が動作時には、切換信号によっ
てスイッチを下側に接続し、画像信号を高速走査フィル
タを介してA/D画像取込装置21に入力し、デジタル
の画像信号にしてCPUに渡す。
【0078】図8の(b)は、スポット時の信号の例を
示す。電子線ビームがスポット時(図7の回路を動作さ
せない時)には、図示のように、S/N比が若干悪くノ
イズが少し重畳している。
示す。電子線ビームがスポット時(図7の回路を動作さ
せない時)には、図示のように、S/N比が若干悪くノ
イズが少し重畳している。
【0079】図8の(c)は、高速走査時(図7の回路
を動作させた時)には、走査線の間隔の矩形領域を高速
に面走査するので、そのときに発生する信号の様子を示
す。図8の(d)は、フィルタ通過後の信号の様子を示
す。これは、図8の(c)の信号を、図8の(a)の高
速走査フィルタを通過させて、走査線の間隔の矩形領域
を平面走査したときに得られた信号について、当該矩形
内の信号を1画素相当に平均化させた信号の様子を示
す。これにより、図7の回路を動作させたときに、走査
線の間隔の矩形を平面走査したときの信号をいわば平均
化して試料7の表面形状を忠実に反映した画像を表示可
能となると共に、平均化などしたことでS/N比を改善
して高画質の画像を表示することが可能となる。
を動作させた時)には、走査線の間隔の矩形領域を高速
に面走査するので、そのときに発生する信号の様子を示
す。図8の(d)は、フィルタ通過後の信号の様子を示
す。これは、図8の(c)の信号を、図8の(a)の高
速走査フィルタを通過させて、走査線の間隔の矩形領域
を平面走査したときに得られた信号について、当該矩形
内の信号を1画素相当に平均化させた信号の様子を示
す。これにより、図7の回路を動作させたときに、走査
線の間隔の矩形を平面走査したときの信号をいわば平均
化して試料7の表面形状を忠実に反映した画像を表示可
能となると共に、平均化などしたことでS/N比を改善
して高画質の画像を表示することが可能となる。
【0080】図9は、本発明の説明図(走査)を示す。
これは、試料7の走査範囲内で任意の倍率で任意の位置
(場所)を拡大した画像を表示するときの回路構成およ
び動作を説明するものである。
これは、試料7の走査範囲内で任意の倍率で任意の位置
(場所)を拡大した画像を表示するときの回路構成およ
び動作を説明するものである。
【0081】図9の(a)は、回路構成図を示す。図9
の(a)において、走査発生器12は、走査信号(H,
V)を発生するものである。
の(a)において、走査発生器12は、走査信号(H,
V)を発生するものである。
【0082】切換スイッチ91は、走査発生器12から
の走査信号(H,V)を直接に倍率制御回路15を介し
て偏向コイル3に供給し、試料走査範囲の全体の画像を
表示したり、あるいは走査発生器12からの走査信号
(H,V)の倍率調整および位置調整を行った後に倍率
制御回路15を介して偏向コイル3に供給し、試料走査
範囲の任意の位置の任意の拡大画像を表示するかを切り
換えるものである。
の走査信号(H,V)を直接に倍率制御回路15を介し
て偏向コイル3に供給し、試料走査範囲の全体の画像を
表示したり、あるいは走査発生器12からの走査信号
(H,V)の倍率調整および位置調整を行った後に倍率
制御回路15を介して偏向コイル3に供給し、試料走査
範囲の任意の位置の任意の拡大画像を表示するかを切り
換えるものである。
【0083】倍率調整は、倍率を調整するものであっ
て、走査信号(H,V)の大きさを調整するものであ
る。位置調整は、走査する位置を調整するものであっ
て、走査信号(H,V)に直流分を付加するものであ
る。
て、走査信号(H,V)の大きさを調整するものであ
る。位置調整は、走査する位置を調整するものであっ
て、走査信号(H,V)に直流分を付加するものであ
る。
【0084】図9の(b)は、倍率調整および位置調整
により変化する試料走査範囲と画面との関係を示す。こ
こで、上段は試料7上における電子線ビームの試料走査
範囲(図9の(a)の切換スイッチ91が下段)を示
し、下段は画面上における画像を示す。
により変化する試料走査範囲と画面との関係を示す。こ
こで、上段は試料7上における電子線ビームの試料走査
範囲(図9の(a)の切換スイッチ91が下段)を示
し、下段は画面上における画像を示す。
【0085】図9の(b−1)は、上段の試料走査範囲
のほぼ中央の小さな矩形内を電子線ビームで走査してい
る状態を示す。この状態では、上段の中央の小さな矩形
内から放出された信号が、下段の画面上に一杯に表示さ
れる。
のほぼ中央の小さな矩形内を電子線ビームで走査してい
る状態を示す。この状態では、上段の中央の小さな矩形
内から放出された信号が、下段の画面上に一杯に表示さ
れる。
【0086】図9の(b−2)は、上段の試料走査範囲
のほぼ中央の小さな矩形内を電子線ビームで走査してい
る状態を示す。この状態では、上段の中央の小さな矩形
内から放出された信号(例えば図示の’イ’)が、下段
の画面上に一杯に表示される。
のほぼ中央の小さな矩形内を電子線ビームで走査してい
る状態を示す。この状態では、上段の中央の小さな矩形
内から放出された信号(例えば図示の’イ’)が、下段
の画面上に一杯に表示される。
【0087】図9の(b−3)は、上段の試料走査範囲
のほぼ中央の右の小さな矩形内を電子線ビームで走査し
ている状態を示す。この状態では、上段の中央の右の小
さな矩形内から放出された信号(例えば図示の’ロ’)
が、下段の画面上に一杯に表示される。
のほぼ中央の右の小さな矩形内を電子線ビームで走査し
ている状態を示す。この状態では、上段の中央の右の小
さな矩形内から放出された信号(例えば図示の’ロ’)
が、下段の画面上に一杯に表示される。
【0088】図9の(b−4)は、上段の試料走査範囲
の右上の小さな矩形内を電子線ビームで走査している状
態を示す。この状態では、上段の右上のさな矩形内から
放出された信号(例えば図示の’ハ’)が、下段の画面
上に一杯に表示される。
の右上の小さな矩形内を電子線ビームで走査している状
態を示す。この状態では、上段の右上のさな矩形内から
放出された信号(例えば図示の’ハ’)が、下段の画面
上に一杯に表示される。
【0089】以上のように、図9の(a)の切換スイッ
チ91、倍率調整、および位置調整を操作することで、
図9の(b−1)から(b−4)に示すように、試料7
上の任意の場所を任意の倍率で画面上に画像を拡大して
表示することが可能となる。
チ91、倍率調整、および位置調整を操作することで、
図9の(b−1)から(b−4)に示すように、試料7
上の任意の場所を任意の倍率で画面上に画像を拡大して
表示することが可能となる。
【0090】図10は、本発明の説明図(デフォーカ
ス)を示す。これは、走査線の間隔よりも電子線ビーム
のスポット径が小さいときに、対物レンズ6をデフォー
カスして電子線ビームの間隔にほぼ同じようにしたもの
である。
ス)を示す。これは、走査線の間隔よりも電子線ビーム
のスポット径が小さいときに、対物レンズ6をデフォー
カスして電子線ビームの間隔にほぼ同じようにしたもの
である。
【0091】図10において、ラッチ92は、CPUが
デフォーカスする値をラッチするものである。D/A9
3は、ラッチ92に保持されたデジタルの値をアナログ
の値に変換するものである。
デフォーカスする値をラッチするものである。D/A9
3は、ラッチ92に保持されたデジタルの値をアナログ
の値に変換するものである。
【0092】フォーカス調整は、電子線ビームで試料7
上を走査するときに、走査線の間隔よりも電子線ビーム
の径が小さいときに、デフォーカスしてほぼ同じにし、
モワレの発生を無くすと共に、S/N比を改善するもの
である。
上を走査するときに、走査線の間隔よりも電子線ビーム
の径が小さいときに、デフォーカスしてほぼ同じにし、
モワレの発生を無くすと共に、S/N比を改善するもの
である。
【0093】図11は、本発明の説明図(ダイナミック
・フォーカス、その1)を示す。ここで、上段は走査信
号(H),下段は垂直信号(V)ダイナミック・フォー
カスである。
・フォーカス、その1)を示す。ここで、上段は走査信
号(H),下段は垂直信号(V)ダイナミック・フォー
カスである。
【0094】図11において、左右分離回路94は、走
査信号(H)を左右に分離するものである。上下分離回
路95は、走査信号(V)を上下に分離するものであ
る。
査信号(H)を左右に分離するものである。上下分離回
路95は、走査信号(V)を上下に分離するものであ
る。
【0095】補正回路96は、ダイナミック・フォーカ
ス補正を調整する回路である。信号合成回路98は、信
号を合成し、ダイナミック・フォーカスコイル7に供給
するものである。
ス補正を調整する回路である。信号合成回路98は、信
号を合成し、ダイナミック・フォーカスコイル7に供給
するものである。
【0096】次に、動作を説明する。左側から入力され
た走査信号(H)は、左右分離回路94で分離され、補
正回路96にそれぞれ入力され補正を行う(H補正、H
2補正(Hの2乗補正))をそれぞれ行う)。
た走査信号(H)は、左右分離回路94で分離され、補
正回路96にそれぞれ入力され補正を行う(H補正、H
2補正(Hの2乗補正))をそれぞれ行う)。
【0097】同様に、左側から入力された走査信号
(V)は、上下分離回路95で分離され、補正回路96
にそれぞれ入力され補正を行う(V補正、V2補正(V
の2乗補正))をそれぞれ行う)。
(V)は、上下分離回路95で分離され、補正回路96
にそれぞれ入力され補正を行う(V補正、V2補正(V
の2乗補正))をそれぞれ行う)。
【0098】以上の調整によって走査信号(H,V)に
連動してダイナミック・フォーカスをそれぞれ行うこと
が可能となる。図12は、本発明の説明図(ダイナミッ
ク・フォーカス、その2)を示す。
連動してダイナミック・フォーカスをそれぞれ行うこと
が可能となる。図12は、本発明の説明図(ダイナミッ
ク・フォーカス、その2)を示す。
【0099】図12の(a)は、補正信号例を示す。こ
こで、左から走査信号(H,V)を入力し、H2(Hの二
乗)発生回路およびーH2(Hの2乗)発生回路でそれぞ
れH2信号およびーH2信号を発生して可変設定抵抗の
両端に入力し、当該可設定抵抗を調整し、右側からダイ
ナミック補正信号を、図1のダイナミックフォーカスコ
イル7に供給する。そして、試料7の中央と周辺を電子
線ビームで走査したときに高画質の画像が得られるよう
に、可変設定抵抗を調整する。
こで、左から走査信号(H,V)を入力し、H2(Hの二
乗)発生回路およびーH2(Hの2乗)発生回路でそれぞ
れH2信号およびーH2信号を発生して可変設定抵抗の
両端に入力し、当該可設定抵抗を調整し、右側からダイ
ナミック補正信号を、図1のダイナミックフォーカスコ
イル7に供給する。そして、試料7の中央と周辺を電子
線ビームで走査したときに高画質の画像が得られるよう
に、可変設定抵抗を調整する。
【0100】図12の(b)は、4方向調整の例を示
す。走査画面上で図示のように左、右,上、下の各位置
で図12の可変設定抵抗をそれぞれ調整し(HとH2
(Hの二乗)、VとV2(Vの二乗)をそれぞれ調整
し)、ダイナミックフォーカスを行う。
す。走査画面上で図示のように左、右,上、下の各位置
で図12の可変設定抵抗をそれぞれ調整し(HとH2
(Hの二乗)、VとV2(Vの二乗)をそれぞれ調整
し)、ダイナミックフォーカスを行う。
【0101】以上のようにして、試料走査範囲の上、
下、左、右でそれぞれダイナミックフォーカス補正の調
整を行い、その間は補完することで、試料7を電子線ビ
ームで走査する範囲が広くなっても、自動的にフォーカ
ス合せを行い、奇麗な画像を表示することが可能とな
る。
下、左、右でそれぞれダイナミックフォーカス補正の調
整を行い、その間は補完することで、試料7を電子線ビ
ームで走査する範囲が広くなっても、自動的にフォーカ
ス合せを行い、奇麗な画像を表示することが可能とな
る。
【0102】図13は、本発明の説明図(ダイナミック
・フォーカス、その3)を示す。これは、試料7の高さ
を検出し、検出した高さに対応してダイナミック・フォ
ーカスを行うときの構成を示す。
・フォーカス、その3)を示す。これは、試料7の高さ
を検出し、検出した高さに対応してダイナミック・フォ
ーカスを行うときの構成を示す。
【0103】図13の(a)は、試料7の左および右に
反射電子検出器A,Bを設けた様子を示す。上から下方
向に電子線ビームが試料7を照射して面走査すると、図
示のように左検出器および右検出器で反射電子がそれぞ
れ検出される。
反射電子検出器A,Bを設けた様子を示す。上から下方
向に電子線ビームが試料7を照射して面走査すると、図
示のように左検出器および右検出器で反射電子がそれぞ
れ検出される。
【0104】図13の(b)は、試料7がここでは、凸
である例を示す。図13の(c)は、左検出器Aで検出
される信号例を示す。図13の(d)は、右検出器Bで
検出される信号例を示す。
である例を示す。図13の(c)は、左検出器Aで検出
される信号例を示す。図13の(d)は、右検出器Bで
検出される信号例を示す。
【0105】図13の(e)は、差(A−B)を示す。
図13の(f)は、高さΣ(A−B)の例を示す。これ
は、図13の(e)の差(A−B)を左から右に積分し
た値の例を示す。これにより、試料7の表面の高さ情報
が得られたこととなる。
図13の(f)は、高さΣ(A−B)の例を示す。これ
は、図13の(e)の差(A−B)を左から右に積分し
た値の例を示す。これにより、試料7の表面の高さ情報
が得られたこととなる。
【0106】図13の(g)は、図13の(f)を複数
組、求めて立体的な高さ情報を得て表示した様子を示
す。これは、図13の8(a)の検出器の組を複数組設
け、図13の(f)の高さ情報を複数の方向で求めて立
体的に表示したものである。
組、求めて立体的な高さ情報を得て表示した様子を示
す。これは、図13の8(a)の検出器の組を複数組設
け、図13の(f)の高さ情報を複数の方向で求めて立
体的に表示したものである。
【0107】図13の(h)は、斜めから試料7の凹凸
を表示した様子を示す。図13の(i)は、試料7の高
さ情報をもとにダイナミック・フォーカス補正を行う様
子を示す。これは、試料7の高さ情報が求まったので、
当該高さ情報に対応するダイナミック・フォーカス電流
を、図1のダイナミック・フォーカス・コイル7に供給
し、ダイナミックフォーカスを行う。
を表示した様子を示す。図13の(i)は、試料7の高
さ情報をもとにダイナミック・フォーカス補正を行う様
子を示す。これは、試料7の高さ情報が求まったので、
当該高さ情報に対応するダイナミック・フォーカス電流
を、図1のダイナミック・フォーカス・コイル7に供給
し、ダイナミックフォーカスを行う。
【0108】図14は、本発明の説明図(ダイナミック
・フォーカス、その4)を示す。図14の(a)は、分
割した状態を示す。これは、既述した図13の(g)の
高さ情報について、走査範囲をメッシュに分割したもの
である。
・フォーカス、その4)を示す。図14の(a)は、分
割した状態を示す。これは、既述した図13の(g)の
高さ情報について、走査範囲をメッシュに分割したもの
である。
【0109】図14の(b)は、2値化表示を示す。こ
れは、図14の(a)のメッシュに分割した後、高さ情
報を2値化して表示したものである。図14の(c)
は、図14の(b)で2値化した値を分かり易くメッシ
ュの矩形の角柱で表した様子を示す。
れは、図14の(a)のメッシュに分割した後、高さ情
報を2値化して表示したものである。図14の(c)
は、図14の(b)で2値化した値を分かり易くメッシ
ュの矩形の角柱で表した様子を示す。
【0110】図14の(d)は、図14の(c)の状態
をスムーズ化して滑らかにした状態を示す。図14の
(e)は、図14の(d)の高さ情報をもとに、ダイナ
ミック・フォーカス補正を行う状態を示す。
をスムーズ化して滑らかにした状態を示す。図14の
(e)は、図14の(d)の高さ情報をもとに、ダイナ
ミック・フォーカス補正を行う状態を示す。
【0111】以上によって、試料7の高さ情報を求めて
メッシュ分割し、各メッシュの高さ情報を求めてスムー
ズ化した後、高さに対応したダイナミック・フォーカス
補正を行うことが可能となる。
メッシュ分割し、各メッシュの高さ情報を求めてスムー
ズ化した後、高さに対応したダイナミック・フォーカス
補正を行うことが可能となる。
【0112】図15は、本発明の説明図(ダイナミック
・フォーカス、その5)を示す。図15の(a)は、試
料走査範囲をメッシュ分割した状態を示す。図15の
(b)は、既述した図13の(g)で求めた高さ情報を
マッピングした状態を示す。
・フォーカス、その5)を示す。図15の(a)は、試
料走査範囲をメッシュ分割した状態を示す。図15の
(b)は、既述した図13の(g)で求めた高さ情報を
マッピングした状態を示す。
【0113】図15の(c)は、図15の(b)の各メ
ッシュの中央に高さを図示のように矢印の長さで設定し
た様子を示す。図15の(d)は、図15の(c)の高
さ情報をもとに、曲面に曲げた様子を示す。
ッシュの中央に高さを図示のように矢印の長さで設定し
た様子を示す。図15の(d)は、図15の(c)の高
さ情報をもとに、曲面に曲げた様子を示す。
【0114】図15の(e)は、図15の(d)の曲面
に対応する高さのダイナミック・フォーカス補正を行う
状態を示す。以上によって、試料7の高さ情報を求めて
メッシュ分割し、各メッシュの高さ情報を求めて曲面に
した後、当該曲面の高さに対応したダイナミック・フォ
ーカス補正を行うことが可能となる。
に対応する高さのダイナミック・フォーカス補正を行う
状態を示す。以上によって、試料7の高さ情報を求めて
メッシュ分割し、各メッシュの高さ情報を求めて曲面に
した後、当該曲面の高さに対応したダイナミック・フォ
ーカス補正を行うことが可能となる。
【0115】図16は、本発明の説明図(ダイナミック
非点補正、その1)を示す。図16において、左右分離
回路101は、走査信号(H)を左右に分離するもので
ある。
非点補正、その1)を示す。図16において、左右分離
回路101は、走査信号(H)を左右に分離するもので
ある。
【0116】非点補正回路102,103は、水平方向
(H)の非点補正する回路である、上下分離回路104
は、垂直信号(V)を上下分離するものである。非点補
正回路105,106は、垂直方向(V)の非点補正す
る回路である中心非点補正回路107、9は、視野の中
心の非点を補正するものである。
(H)の非点補正する回路である、上下分離回路104
は、垂直信号(V)を上下分離するものである。非点補
正回路105,106は、垂直方向(V)の非点補正す
る回路である中心非点補正回路107、9は、視野の中
心の非点を補正するものである。
【0117】X非点補正加算回路108は、X非点補正
信号を生成するものである。Y非点補正加算回路110
は、X非点補正信号を生成するものである。以上の回路
構成で、左側から入力した走査信号(H,V)をもと
に、非点補正回路で後述する図17の(b)の中央、
上、下、左、右の5点で非点補正を行い、その間は補完
することにより、視野の全体で非点の補正された奇麗な
画像ヲ表示することが可能となる。
信号を生成するものである。Y非点補正加算回路110
は、X非点補正信号を生成するものである。以上の回路
構成で、左側から入力した走査信号(H,V)をもと
に、非点補正回路で後述する図17の(b)の中央、
上、下、左、右の5点で非点補正を行い、その間は補完
することにより、視野の全体で非点の補正された奇麗な
画像ヲ表示することが可能となる。
【0118】図17は、本発明の説明図(ダイナミック
非点補正、その2)を示す。図17の(a)は、走査信
号から非点補正信号を生成する回路例を示す。これは、
図示のように、走査信号(H,左)を+増幅器とー増幅
器とで増幅して可変抵抗器の両端に供給し、可変抵抗器
の中点から非点補正信号(左、H、Xと、左H,Y)を
取り出して非点補正コイル4にそれぞれ供給する。
非点補正、その2)を示す。図17の(a)は、走査信
号から非点補正信号を生成する回路例を示す。これは、
図示のように、走査信号(H,左)を+増幅器とー増幅
器とで増幅して可変抵抗器の両端に供給し、可変抵抗器
の中点から非点補正信号(左、H、Xと、左H,Y)を
取り出して非点補正コイル4にそれぞれ供給する。
【0119】図17の(b)は、試料走査範囲上で中
央、上、下、左、右の各点について、非点補正する様子
を示す。この際、図17の(a)の回路で、中央、上、
下、左、右の各位置においてそれぞれ非点補正を行う。
央、上、下、左、右の各点について、非点補正する様子
を示す。この際、図17の(a)の回路で、中央、上、
下、左、右の各位置においてそれぞれ非点補正を行う。
【0120】以上のように、試料7の走査範囲の中央、
上、下、左、右の5点でそれぞれダイナミック非点補正
を行い、その間を補完することにより、高範囲に渡って
高画質の画像を得ることが可能となる。
上、下、左、右の5点でそれぞれダイナミック非点補正
を行い、その間を補完することにより、高範囲に渡って
高画質の画像を得ることが可能となる。
【0121】図18は、本発明の説明図(デジタル走
査)を示す。図18の(a)は、デジタル走査の構成図
を示す。図18の(a)において、コントローラ112
がパソコン内などのメモリ111からデータを読み込
み、FIFOメモリ113に格納し、基準クロックに同
期してFIFOメモリから読み出したHデータおよびV
データをラッチにそれぞれ設定し、ラッチに設定したデ
ータをD/A変換器でそれぞれアナログの走査信号
(H,V)に変換して出力するようにしている。
査)を示す。図18の(a)は、デジタル走査の構成図
を示す。図18の(a)において、コントローラ112
がパソコン内などのメモリ111からデータを読み込
み、FIFOメモリ113に格納し、基準クロックに同
期してFIFOメモリから読み出したHデータおよびV
データをラッチにそれぞれ設定し、ラッチに設定したデ
ータをD/A変換器でそれぞれアナログの走査信号
(H,V)に変換して出力するようにしている。
【0122】以上のように、メモリ111から読み出し
てFIFOメモリ113に格納してHデータおよびVデ
ータを読み出してラッチに設定し、ラッチに設定したデ
ータをD/Aによってアナログの走査信号(H,V)に
して任意のステップ数で走査することが可能となる。
てFIFOメモリ113に格納してHデータおよびVデ
ータを読み出してラッチに設定し、ラッチに設定したデ
ータをD/Aによってアナログの走査信号(H,V)に
して任意のステップ数で走査することが可能となる。
【0123】図18の(b)は、VおよびH内のデータ
構成例を示す。ここでは、Hデータ,Vデータは、2バ
イトで表現し、15ビット目はラッチのチップセレクト
として使用し、残りの15ビットで座標データを表して
いる。
構成例を示す。ここでは、Hデータ,Vデータは、2バ
イトで表現し、15ビット目はラッチのチップセレクト
として使用し、残りの15ビットで座標データを表して
いる。
【0124】以上のように構成することで、座標データ
の各ビット15でチップセレクト、即ち直接に切り換え
て水平走査信号用の座標データ(上記例ではビット0か
ら14)を水平走査信号用のD/Aに転送してアナログ
の水平走査信号を得て水平走査用の偏向コイル3を駆動
したり、垂直走査信号用の座標データ(上記例ではビッ
ト0から14)を垂直走査信号用のD/Aに転送してア
ナログの垂直走査信号を得て垂直走査用の偏向コイル3
を駆動したりすることができ、その結果、メモリ上の座
標データをビット15の0あるいは1で直接に切り換え
て水平走査信号用のD/Aあるいは垂直走査信号用のD
/Aに極めて高速に転送してそれぞれの走査信号を独立
に発生させることが可能となる。同様に、非点補正コイ
ル4、ファインシフトコイル5、ダイナミックフォーカ
スコイル8などにも、メモリ上の座標データを高速に水
平用(X用)の信号および垂直用(Y用)の信号を発生
させ、それぞれ独立に高速に制御することが可能とな
る。このように、メモリ上の座標データにより、各コイ
ルに供給する水平および垂直の信号をそれぞれ独立に制
御することができるので、表示アプリケーションなどか
らメモリ上の任意の座標データを指定することで、任意
の信号を発生させることが可能となる。
の各ビット15でチップセレクト、即ち直接に切り換え
て水平走査信号用の座標データ(上記例ではビット0か
ら14)を水平走査信号用のD/Aに転送してアナログ
の水平走査信号を得て水平走査用の偏向コイル3を駆動
したり、垂直走査信号用の座標データ(上記例ではビッ
ト0から14)を垂直走査信号用のD/Aに転送してア
ナログの垂直走査信号を得て垂直走査用の偏向コイル3
を駆動したりすることができ、その結果、メモリ上の座
標データをビット15の0あるいは1で直接に切り換え
て水平走査信号用のD/Aあるいは垂直走査信号用のD
/Aに極めて高速に転送してそれぞれの走査信号を独立
に発生させることが可能となる。同様に、非点補正コイ
ル4、ファインシフトコイル5、ダイナミックフォーカ
スコイル8などにも、メモリ上の座標データを高速に水
平用(X用)の信号および垂直用(Y用)の信号を発生
させ、それぞれ独立に高速に制御することが可能とな
る。このように、メモリ上の座標データにより、各コイ
ルに供給する水平および垂直の信号をそれぞれ独立に制
御することができるので、表示アプリケーションなどか
らメモリ上の任意の座標データを指定することで、任意
の信号を発生させることが可能となる。
【0125】尚、図18の構成では、1組(水平走査信
号と垂直走査信号)を得たが、座標データ中に既述した
中央、左上、左下、右下、右上の5点の拡大画像を発生
するように値を設定したり、あるいは図18のD/Aの
出力側に演算回路を設けて座標データからの指示(中
央、左上、左下、右下、右上の5点の拡大画像を生成す
る信号の発生指示)をもとに、拡大率とシフト量を入力
して高精細(例えば16000×16000画素)の中
央、左上、左下、右下、右上の5個所で拡大画像(例え
ば1000×1000画素)の走査信号を順次得て、そ
のときの画像を1つの表示装置の画面上にそれぞれ表示
(5つの拡大画像をそれぞれ表示)し、フォーカス調整
および非点補正をそれぞれで行い、記憶して間を補完し
て走査することで、全画面(16000×16000画
素)のいずれでも奇麗な画像を表示できるようにする。
号と垂直走査信号)を得たが、座標データ中に既述した
中央、左上、左下、右下、右上の5点の拡大画像を発生
するように値を設定したり、あるいは図18のD/Aの
出力側に演算回路を設けて座標データからの指示(中
央、左上、左下、右下、右上の5点の拡大画像を生成す
る信号の発生指示)をもとに、拡大率とシフト量を入力
して高精細(例えば16000×16000画素)の中
央、左上、左下、右下、右上の5個所で拡大画像(例え
ば1000×1000画素)の走査信号を順次得て、そ
のときの画像を1つの表示装置の画面上にそれぞれ表示
(5つの拡大画像をそれぞれ表示)し、フォーカス調整
および非点補正をそれぞれで行い、記憶して間を補完し
て走査することで、全画面(16000×16000画
素)のいずれでも奇麗な画像を表示できるようにする。
【0126】図19は、本発明の説明図(12ビットの
RGB変換テーブル)を示す。このRGB変換テーブル
は、12ビットの画素値(階調)を、1画素のRGB各
8ビットの階調に変換するときのテーブル例である。左
側の0から4095(12ビットで表現される数値範
囲)について、8ビット(0から255で表現される数
値範囲)の各RGBにデータ変換したときの値として、
実験して求めた値が設定されている。このため、モノク
ロの12ビットの画像(16,000×16,000)
を、RGB各8ビットの画像(16,000×16,0
00)に階調を保持しかつ同一画素数でデータ変換する
ことが可能となる。
RGB変換テーブル)を示す。このRGB変換テーブル
は、12ビットの画素値(階調)を、1画素のRGB各
8ビットの階調に変換するときのテーブル例である。左
側の0から4095(12ビットで表現される数値範
囲)について、8ビット(0から255で表現される数
値範囲)の各RGBにデータ変換したときの値として、
実験して求めた値が設定されている。このため、モノク
ロの12ビットの画像(16,000×16,000)
を、RGB各8ビットの画像(16,000×16,0
00)に階調を保持しかつ同一画素数でデータ変換する
ことが可能となる。
【0127】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
ビームで試料を走査して発生する信号を検出し、千から
数万画素の信号をカラー画像にして階調良好かつ広視野
で表示および印刷して観察することが可能となる。
ビームで試料を走査して発生する信号を検出し、千から
数万画素の信号をカラー画像にして階調良好かつ広視野
で表示および印刷して観察することが可能となる。
【図1】本発明のシステム構成図である。
【図2】本発明の説明図(間引き走査)である。
【図3】本発明の説明図(任意ステップ可変走査、その
1)である。
1)である。
【図4】本発明の説明図(任意ステップ可変走査、その
2)である。
2)である。
【図5】本発明の説明図(走査)である。
【図6】本発明の説明図(フォーカス調整)である。
【図7】本発明の説明図(ファインシフト回路組み込
み)である。
み)である。
【図8】本発明の説明図(フィルタ)である。
【図9】本発明の説明図(走査)である。
【図10】本発明の説明図(デフォーカス)である。
【図11】本発明の説明図(ダイナミック・フォーカ
ス、その1)である。
ス、その1)である。
【図12】本発明の説明図(ダイナミック・フォーカ
ス、その2)である。
ス、その2)である。
【図13】本発明の説明図(ダイナミック・フォーカ
ス、その3)である。
ス、その3)である。
【図14】本発明の説明図(ダイナミック・フォーカ
ス、その4)である。
ス、その4)である。
【図15】本発明の説明図(ダイナミック・フォーカ
ス、その5)である。
ス、その5)である。
【図16】本発明の説明図(ダイナミック非点補正、そ
の1)である。
の1)である。
【図17】本発明の説明図(ダイナミック非点補正、そ
の2)である。
の2)である。
【図18】本発明の説明図(デジタル走査)である。
【図19】本発明の説明図(12ビットのRGB変換テ
ーブル)である。
ーブル)である。
1:照射系 2:集束レンズ 3:偏向コイル 4:非点補正コイル 5:ファインシフトコイル 6:対物レンズ 7:試料 8:ダイナミックフォーカスコイル 11:任意ステップ走査発生器 12:走査発生器 13:走査信号切換装置 14:倍率制御回路 15:倍率制御回路 16:倍率制御切換器 17:ダイナミック非点補正制御回路 18:ダイナミックフォーカス制御回路 19:2次電子検出器 20:信号増幅器 21:画像取込装置 23から27:I/O 28:表示装置 29:CPU 30:プリンタ 35:画像編集手段 36:画像変換手段 51:ファインシフト制御回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 平野 豊 東京都新宿区百人町2丁目24−12 サンユ ー電子株式会社内 (72)発明者 手島 寛之 東京都新宿区百人町2丁目24−12 サンユ ー電子株式会社内 Fターム(参考) 2G001 AA03 AA05 BA06 BA07 BA11 CA03 CA05 DA06 FA06 GA01 GA04 GA06 GA08 GA11 HA01 HA07 HA13 JA02 JA03 JA11 JA13 JA16 5C033 JJ01 MM05 5C072 AA03 BA19 CA06 DA02 HA02 HA11 HB10 QA14 RA10 UA18 XA05
Claims (10)
- 【請求項1】細く絞ったビームを試料に照射する手段
と、 上記ビームで試料を照射した状態で振って平面走査する
走査手段と、 上記ビームを試料面上に走査して発生された信号あるい
は吸収された信号を検出する検出手段と、 上記検出手段によって検出された信号に対応した、デジ
タルのカラー信号に変換する手段と、 上記変換されたカラー信号を出力する手段とを備えたこ
とを特徴とする走査型画像の処理装置。 - 【請求項2】荷電粒子を細く絞って荷電粒子ビームにし
て試料に照射する対物レンズと、 上記荷電粒子ビームで試料を照射した状態で、当該荷電
粒子ビームを偏向して試料面上を平面走査する走査手段
と、 上記試料面上を走査される細く絞った荷電粒子ビームに
発生する非点を補正する非点補正手段と、 上記荷電粒子ビームを試料面上に走査して発生された信
号あるいは吸収された信号を検出する検出手段と、 上記検出手段によって検出された信号に対応した、デジ
タルのカラー信号に変換する手段と、 上記変換されたカラー信号を出力する手段とを備えたこ
とを特徴とする走査型画像の処理装置。 - 【請求項3】倍率あるいは走査線数が変化され、上記走
査手段によって試料を上記ビームで走査する際に、走査
線の間が空くと判明したときに、当該ビームをほぼ走査
線の間隔にデフォーカスして太くしたことを特徴とする
請求項1あるいは請求項2記載の走査型画像の処理装
置。 - 【請求項4】倍率あるいは走査線数が変化され、上記走
査手段によって試料を上記ビームで走査する際に、走査
線の間が空くと判明したときに、当該ビームでほぼ走査
線の間隔の微小領域をそれぞれ平面走査したことを特徴
とする請求項1あるいは請求項2記載の走査型画像の処
理装置。 - 【請求項5】試料の所定領域の中央の1部分および周辺
の複数の1部分を平面走査して検出された信号を画面上
に拡大した画像として表示する手段と、 上記表示された中央の拡大した画像、および周辺の複数
の拡大した画像毎に上記ビームの焦点合せを行う手段
と、 上記焦点合せされた値をもとに上記ビームの焦点補正を
行う手段とを備えたことを特徴とする請求項1から請求
項4のいずれかに記載の走査型画像の処理装置。 - 【請求項6】上記試料を中心に180度対称の位置に、
上記ビームが試料に照射したときに発生する信号を検出
する、複数組の検出器と、 上記180度対称の検出器によって検出されたそれぞれ
からの信号の差分信号を、複数組分を生成する手段と、 上記差分信号を走査方向にそれぞれ積分して試料のそれ
ぞれの方向の高さ情報を生成する手段と、 上記生成された試料のそれぞれの方向の高さ情報をもと
に、上記ビームの焦点合せを行う手段とを備えたことを
特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記載の走
査型画像の処理装置。 - 【請求項7】試料の所定領域の中央の1部分および周辺
の複数の1部分を平面走査して検出された信号を画面上
に拡大した画像として表示する手段と、 上記表示された中央の拡大した画像、および周辺の複数
の拡大した画像毎に上記ビームの非点合せを行う手段
と、 上記非点合せされた値をもとに上記ビームの非点補正を
行う手段とを備えたことを特徴とする請求項2から請求
項6のいずれかに記載の走査型画像の処理装置。 - 【請求項8】上記検出された信号の階調に対応する、カ
ラーの階調を登録したテーブルを設け、 上記検出された信号について、上記テーブルを参照して
カラー信号に変換することを特徴とする請求項1あるい
は請求項2に記載の走査型画像の処理装置。 - 【請求項9】上記検出された信号をカラー信号に変換す
る際に、指定されたカラーの2つの色をもとに、当該検
出された信号の階調に対応するカラー信号の階調を作成
してて変換することを特徴とする請求項1あるいは請求
項2に記載の走査型画像の処理装置。 - 【請求項10】上記検出された信号を8ビット以上と
し、上記カラーの信号がRGBのときにそれぞれ8ビッ
ト、あるいは上記カラーの信号が印刷用のときに印刷装
置で使用するカラーデータ形式の色と当該色のビット数
としたことを特徴とする請求項1あるいは請求項2に記
載の走査型画像の処理装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11059474A JP2000260381A (ja) | 1999-03-05 | 1999-03-05 | 走査型画像の処理装置 |
| US09/673,170 US6563115B1 (en) | 1999-02-24 | 2000-02-21 | High-density recording scanning microscope |
| PCT/JP2000/000957 WO2004105077A1 (ja) | 1999-02-24 | 2000-02-21 | 高密度記録走査顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11059474A JP2000260381A (ja) | 1999-03-05 | 1999-03-05 | 走査型画像の処理装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000260381A true JP2000260381A (ja) | 2000-09-22 |
Family
ID=13114353
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11059474A Pending JP2000260381A (ja) | 1999-02-24 | 1999-03-05 | 走査型画像の処理装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000260381A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008084626A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子ビームの走査方法及び荷電粒子線装置 |
| JP2009259878A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置 |
-
1999
- 1999-03-05 JP JP11059474A patent/JP2000260381A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008084626A (ja) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子ビームの走査方法及び荷電粒子線装置 |
| JP2009259878A (ja) * | 2008-04-14 | 2009-11-05 | Hitachi High-Technologies Corp | 荷電粒子線装置 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040311 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070220 |
|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070626 |