JP2000313963A - 樹脂のめっき方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 プリント配線板等の製造において樹脂上に金
属 (例、銅) を無電解めっきする際の樹脂／金属間の密
着性を著しく向上させる。 【解決手段】 熱硬化性樹脂層を硬化温度より低温で加
熱して半硬化させ、この樹脂層に無電解めっき用触媒を
付与し、次いでシランカップリング剤溶液で処理して表
面にシランカップリングを吸着させてから、無電解めっ
きを施し、樹脂層を硬化温度以上に加熱して完全に硬化
させる。この完全硬化の前か後に、電解めっきを施し
て、めっき厚みを確保してもよい。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、樹脂に無電解めっ
きまたは無電解めっきと電解めっきを併用して金属をめ
っきする方法に関する。本発明のめっき方法は、ビルト
アップ工法で製造されるＭＰＵパッケージやプリント配
線板の製造において、導体層を形成するのに利用するこ
とができる。

【０００２】本発明のめっき方法は、樹脂／金属間の密
着性が著しく高いめっき皮膜を形成することができる。
従来法に比べて、密着性確保のための樹脂層または金属
層の粗化深度を小さくできるため、樹脂層を薄くするこ
とができ、かつ金属層（めっき皮膜）が剥離しにくいの
で、特に高速化（従って、配線層の薄さ）が要求される
ＭＰＵパッケージの製造過程において、本発明方法は非
常に有効である。

【０００３】

【従来の技術と発明が解決しようとする課題】絶縁樹脂
層と金属導体層とを交互に積み上げて製造されるビルト
アップ多層プリント配線板のように、絶縁体の樹脂層と
導体（配線）の金属層（通常は銅箔）との積層体（即
ち、樹脂／金属の積層体）からなるプリント配線板にお
いては、樹脂／金属界面の密着性の向上は非常に重要で
ある。

【０００４】従来、このような樹脂／金属の積層体の製
造には、・絶縁性樹脂層を成膜した後、樹脂層表面を粗
化 (粗面化) し、その上に無電解めっきおよび電解めっ
きにより金属層 (配線層) を形成する、または・金属層
を形成した後、黒化処理等の化学的処理により金属層表
面を粗化し、その上に絶縁性樹脂層を成膜する、といっ
た方法がとられている。

【０００５】これらの方法では、一般的に、樹脂／金属
界面の密着性は、樹脂層または金属層の粗面化によるア
ンカー効果により確保している。しかし、ＬＳＩチップ
などの駆動周波数の高速化に対応するには、配線の微細
化とともに、絶縁性樹脂層や配線層の薄膜化（厚み減
少）が要求される。また、特性インピーダンスのばらつ
きを低減するために、樹脂表面の粗化深度（粗面の凹凸
高さ）を低減させ、絶縁層厚みの変動を低減することも
求められている。

【０００６】前記の従来法では、粗化深度を低減する
と、アンカー効果が得にくくなり、樹脂／金属界面の密
着性が低下するため、信頼性に問題を生ずることにな
る。従って、高性能な多層プリント配線板等を実現する
ために、粗化深度が低減しても、高い密着性を付与でき
るような製造方法を確立する必要がでてきた。本発明
は、このような製造方法を提供することを課題とする。

【０００７】樹脂／金属界面といった有機／無機界面の
密着性を高める処理剤としてシランカップリング剤が利
用されてきた。例えば、樹脂強化用のガラス繊維を予め
シランカップリング剤で表面処理して、ガラス／樹脂間
の密着性向上を図る例がその典型である。

【０００８】樹脂／銅箔積層体の製造におけるシランカ
ップリング剤の利用に関しては、特開平４−180572号公
報に、ポリイミド樹脂層（既に硬化すみ) の表面をエッ
チングにより親水化処理した後、シランカップリング剤
で処理し、次いで触媒を付与し、無電解めっき、特に無
電解銅めっきを行うという、ポリイミド樹脂の無電解め
っき方法が提案されている。ここでのシランカップリン
グ剤処理の目的は、触媒付与を均一化して、めっきのピ
ンホール発生を抑制することであり、密着性向上につい
ては特に開示されていない。

【０００９】

【課題を解決するための手段】本発明者らは、シランカ
ップリング剤を利用して上記課題を解決すべく検討を重
ねた結果、半硬化状態の熱硬化性樹脂層に触媒を付与し
た後、シランカップリング剤で処理し、次いで無電解め
っきを施してから、最後に樹脂を完全に硬化させると、
樹脂／金属界面の密着性が著しく向上し、そのため密着
性確保のために行う粗化深度の低減、即ち、樹脂層や金
属層の薄膜化が可能となることを見出した。

【００１０】ここに、本発明は、下記工程を順に含む、
樹脂のめっき方法である： (a) 熱硬化性樹脂を含む未硬化樹脂層を形成する工程、
(b) 樹脂層を加熱して半硬化状態にする工程、(c) 半硬
化状態の樹脂層の表面に無電解めっき用触媒を付与する
工程、(d) 触媒付与した樹脂層表面にシランカップリン
グ剤を吸着させる工程、(e) シランカップリング剤を吸
着した樹脂層に無電解めっきを施す工程、(f) 樹脂層を
完全に硬化させる工程。

【００１１】無電解めっきの後に電解めっきを施す場合
には、本発明のめっき方法における工程(e) または(f)
の後に、次の工程(g) を含むことができる：(g) 電解め
っきを施すことにより、無電解めっき皮膜の上に電解め
っき皮膜を形成する工程。

【００１２】本発明はまた、熱硬化性樹脂を含む樹脂層
からなる絶縁層の上に導体層を形成することを含むプリ
ント配線板の製造において、その導体層の形成を上記め
っき方法により行うことを特徴とする、プリント配線板
の製造方法も提供する。

【００１３】

【発明の実施の形態】本発明のめっき方法について具体
的に説明する。なお、本発明は、熱硬化性樹脂が半硬化
の状態で無電解めっきを施し、無電解めっき後に樹脂を
完全硬化させること、および無電解めっきの触媒付与後
にシランカップリング剤で処理すること、の２点に特徴
がある。その他の処理工程については、従来と同様でよ
い。

【００１４】まず適当な支持体の上に熱硬化性樹脂を含
む未硬化の樹脂層を形成する。例えば、プリント配線板
の製造においては、支持体は絶縁基板である。絶縁基板
上の２層目以降の絶縁樹脂層を形成する場合には、その
下層の既に形成された１または２以上の絶縁性樹脂層と
１または２以上の導体配線層と絶縁基板を含めたものが
支持体となる。

【００１５】本発明における熱硬化性樹脂を含む樹脂層
は、樹脂層全体が硬化すれば特に制限されるものではな
く、全体が熱硬化性樹脂からなるものでもよく、或いは
熱硬化性樹脂に他の樹脂や添加剤を含有させたものでも
よい。プリント配線板の絶縁性樹脂層の場合には、絶縁
性が良好な樹脂が選ばれる。また、後で樹脂層を露光
(フォトリソグラフィー法) によりパターン化するた
め、永久レジストのような感光性を併せ持つ熱硬化性樹
脂材料を利用することもできる。本発明で用いる熱硬化
性樹脂の例として、エポキシ樹脂、ポリイミド樹脂、フ
ェノール樹脂を例示することができるが、これに限定さ
れるものではない。

【００１６】樹脂層は常法に従って形成すればよい。一
般的にはロールコート法やスピンコート法で形成される
が、他の塗布法も利用できる。塗布後に乾燥して、溶媒
等の揮発性成分を除去し、未硬化の樹脂層を得る。ま
た、未硬化の樹脂フィルムを支持体に貼付して樹脂層を
形成することも可能である。樹脂層の厚みは目的に応じ
て設定すればよいが、前述したように、本発明では薄膜
化が可能であるので、従来より薄膜 (例えば、従来の90
〜95％程度の厚み) とすることが有利である。

【００１７】未硬化の樹脂層を次いで半硬化させる。即
ち、硬化部と未硬化部とが混在した状態の樹脂層を形成
する。この半硬化は、樹脂層を、樹脂層中の熱硬化性樹
脂の硬化温度より低温に加熱することにより行うことが
できる。熱硬化性樹脂の硬化温度以上に加熱し、加熱時
間を短くすることで半硬化させることも可能ではある
が、完全硬化まで進み易く、硬化の制御が容易ではな
い。半硬化のための好ましい加熱温度は、熱硬化性樹脂
の硬化温度 (℃) の75〜85％程度の温度である。加熱時
間は、熱硬化に要する時間とほぼ同じでよい。半硬化の
目安としては、樹脂層を次に説明するように化学的処理
により粗面化した場合に、樹脂表全体が溶解せず、適度
な凹凸が形成されることが挙げられる。樹脂層の半硬化
は、樹脂層の湿式処理が可能となり、かつ完全硬化しな
いような硬化度となるように行えばよい。

【００１８】半硬化させた樹脂層は、所望により、従来
と同様に表面の粗化 (粗面化) 処理を行ってもよい。表
面粗化は、一般に過マンガン酸溶液処理などの化学的処
理により行われるが、ブラスト処理などの物理的手段で
行ってもよい。

【００１９】この表面粗化により、樹脂／金属間の密着
性を高めることができる。しかし、本発明では、従来法
より高い樹脂／金属間の密着性を確保することができる
ので、表面粗化は必ずしも必要ではない。また、表面粗
化する場合でも、粗化深度は、従来に比べて小さくする
ことが可能であり、それにより特性インピーダンスのば
らつきが低減される。粗化深度は、例えば、従来の40〜
60％程度にすることができる。前述したように、半硬化
状態で化学的に粗面化すると、未硬化部の樹脂だけが溶
解するため、粗面化による密着性向上効果が高くなる。

【００２０】所望によりこうして表面粗化した半硬化樹
脂層に、次に説明するように無電解めっきを施してか
ら、樹脂層を完全に硬化させる。なお、樹脂層にビア形
成等のパターン化処理を行う場合には、この無電解めっ
きに先立ってパターン化 (ビア形成) しておくことが好
ましい。例えば、樹脂層が感光性を示す場合には、樹脂
層を形成した後、半硬化させる前に、まずパターン化用
の露光と現像を利用してビアを形成する。これにより、
樹脂層の光硬化性部分が硬化し、熱硬化性部分は未硬化
のままである。次いで、上記のように加熱して、樹脂層
の熱硬化性部分を半硬化させる。樹脂層が感光性を持た
ない場合には、半硬化した樹脂層にレーザー加工を利用
してビアを形成することができる。

【００２１】半硬化状態の樹脂層に無電解めっきを施す
ため、まず無電解めっきの前処理として、触媒付与を行
う。触媒は、一般にパラジウムである。無電解めっき用
の前処理用の溶液は市販されているので、それを利用し
て実施すればよい。通常の触媒付与処理は次のように行
われるが、これに制限されるものではない。

【００２２】まず、Sn(II)化合物の水溶液 (センシタイ
ジング液) で処理して、被めっき材である樹脂層の表面
にSn²⁺イオンを吸着させ、次いでパラジウム化合物を含
有する水溶液 (活性化液) で処理すると、表面に金属パ
ラジウムが析出し、これが触媒となる。処理条件は従来
と同様でよい。

【００２３】触媒付与した半硬化樹脂層を、次いでシラ
ンカップリング剤で処理して、表面にシランカップリン
グ剤を吸着させる。この処理により、樹脂／金属間の密
着性が向上する。

【００２４】シランカップリング剤処理により樹脂／金
属間の密着性が向上する理由は次のように推測される。
樹脂層とシランカップリング剤の間では、例えば、樹脂
層表面の官能基 (例、水酸基) とシランカップリング剤
の官能基 (例、エポキシ基)との間で化学反応が起こっ
てシランカップリング剤が樹脂表面に化学的に結合す
る。従って、上記の吸着は化学吸着であると推測され
る。一方、シランカップリング剤の加水分解で生じたシ
ラノール基 (−SiＯＨ) は、無電解めっきにより表面に
析出した金属と化学結合する。従って、樹脂層表面とめ
っき金属がシランカップリング剤を介して化学的に結合
するため、樹脂／金属間の密着性が向上するのである。

【００２５】シランカップリング剤としては、樹脂層の
樹脂に存在する官能基と反応性のある官能基を有するも
のを使用すればよい。例えば、熱硬化性樹脂がエポキシ
樹脂やフェノール樹脂の場合には、樹脂が水酸基を有す
るので、上記のようにエポキシ基を有するシランカップ
リング剤を使用することが好ましい。エポキシ基を有す
るシランカップリング剤の市販品の例としては、γ−グ
リシドキシプロピルトリメトキシシラン、β-(3,4-エポ
キシシクロヘキシル) エチルトリメトキシシラン等が挙
げられる。

【００２６】特開平４−180572号に記載の方法では、
(硬化させた) 樹脂表面を親水化した後、まずシランカ
ップリング剤で処理し、次に触媒付与を行っているが、
このように触媒付与前にシランカップリング剤で処理す
ると、樹脂層表面がシランカップリング剤で覆われてし
まうので、触媒付与が不十分となる。そのため、本発明
では、最初に触媒付与を行ってから、次にシランカップ
リング剤で処理する。

【００２７】シランカップリング剤による処理は、シラ
ンカップリング剤を水、有機溶媒またはその混合溶媒に
溶解した溶液を用いて、浸漬、噴霧、ロール塗布等によ
り行うことができる。溶液濃度は特に制限されないが
0.1〜２wt％程度が好ましい。水または水の割合の多い
混合溶媒を用いた溶液 (いずれも、pHを４程度に調整)
が、より高い密着性が得られることから好ましい。これ
は、シランカップリング剤の加水分解が進み易いためと
思われる。処理温度は通常は室温で十分である。温度を
高くすると、処理液中でシランカップリング剤の加水分
解が進んで、処理液の安定性が低下する。

【００２８】シランカップリング剤による処理後は、直
ぐに無電解めっきを行わずに、低温加熱または室温で表
面を乾燥することが好ましい。それにより、樹脂／金属
間の密着性がさらに向上する。これは、乾燥中に、前述
した樹脂表面とシランカップリング剤との反応や、シラ
ンカップリング剤の加水分解にるシラノール結合の生成
が進むためと考えられる。乾燥温度は70℃以下とするこ
とが好ましい。

【００２９】次いで、無電解めっきを行う。無電解めっ
きは、通常のように、樹脂層をめっき液中に浸漬するこ
とにより実施する。一般に、無電解めっき液は、めっき
金属化合物と錯化剤 (EDTA等) と還元剤 (例、ホルムア
ルデヒド) とを含有する水溶液である。めっき条件は特
に制限されず、従来と同様でよい。めっき種は特に制限
されないが、プリント配線板の場合は通常は銅である。
その他、ニッケル、金、銀、スズ等の金属の無電解めっ
きも行うことができる。樹脂層がビアを有する場合に
は、ビア部にも無電解めっきが施される。

【００３０】無電解めっきが終了したら、樹脂層を加熱
して、樹脂層を完全に硬化させる。この加熱は、熱硬化
性樹脂の硬化温度以上で行う。当業者であれば、熱硬化
性樹脂の完全硬化に必要な加熱条件 (温度と時間) は決
定することができる。なお、完全硬化を行う前に、無電
解めっきした樹脂層を、前記の半硬化の加熱条件に類似
した条件で熱処理してもよい。この熱処理により、支持
体や樹脂層の付着水や無電解めっき皮膜中の不純物が除
去される。

【００３１】本発明では、熱硬化性樹脂が半硬化の段階
で無電解めっきを施し、その後で樹脂を完全に硬化させ
る。この硬化中に樹脂層がいくらか収縮する。この収縮
によって、金属と樹脂とのかみ合いが強固になるため、
樹脂／金属間の密着性がさらに向上する。即ち、前述し
たシランカップリング剤による効果と、この最終硬化時
の収縮効果との相乗効果によって、非常に高い密着性が
得られるのである。

【００３２】無電解めっき皮膜で、配線層に必要な数十
μｍという厚みの金属層を形成するのは、非常な長時間
がかかり、生産効率とコストの両面から不利である。そ
のため、必要に応じて、無電解めっきで形成された金属
薄膜に通電することにより電解めっきを行って、所望厚
みの金属層を形成してもよい。金属層の厚みを確保する
には、無電解めっきだけより、電解めっきを併用した方
がコスト安となる。但し、コスト増にはなるが、電解め
っきの代わりに、硫酸銅めっきといった成膜速度が比較
的高い無電解めっき銅めっきを採用して、無電解めっき
だけで数十μｍという金属層厚みを確保することもでき
る。

【００３３】この電解めっきは、無電解めっき後、熱硬
化性樹脂を完全に硬化させる前に行ってもよく、或いは
この完全硬化工程の後に電解めっきを実施してもよい。
しかし、前述した最終硬化時の収縮による密着性向上効
果を有効に利用できること、またアニール効果により銅
の物性を向上できることから、最終硬化前に電解めっき
を行うことが好ましい。無電解めっき後に前述した熱処
理を行う場合には、電解めっきはこの熱処理後に行う。

【００３４】電解めっきは常法に従って実施すればよ
く、特に制限はない。めっき種も、無電解めっきと同じ
金属が原則であるが、別の金属種をめっきしてもよく、
２層以上の電解めっき層を形成してもよい。

【００３５】本発明のめっき方法は、プリント配線板の
製造において、絶縁性樹脂層の上に導体層を形成する場
合に適用することができる。即ち、熱硬化性樹脂を含む
絶縁性樹脂層 (感光性樹脂または永久レジストでもよ
い) を半硬化状態にし、必要に応じて半硬化の前か後に
ビアを形成し、これに前述したようにして触媒付与、シ
ランカップリング剤処理、無電解めっき、完全硬化の各
工程を経て (場合により、完全硬化の前か後に電解めっ
き工程を経て) 、導体層を形成する。これを、例えば、
ビルトアップ多層プリント配線板における各導体層の形
成に利用する。

【００３６】従来の導体層の形成方法に比べて絶縁性樹
脂層／配線導体層間の密着性が格段に向上するため、密
着性確保のための粗化処理が不要になるか、或いは粗化
深度を小さくすることができ、樹脂層や配線層の薄膜化
が可能となる。その結果、ＬＳＩチップの駆動周波数の
高速化に対応でき、また特性インピーダンスのバラツキ
が抑えられる。

【００３７】

【実施例】(実施例１)絶縁性樹脂基板 (三菱瓦斯化学
製、BT−レジン CCL-HL820) の片面に、市販のノボラッ
ク型エポキシ樹脂系レジスト (シプレイ製「XP9500c
c」) をスピンコートにより塗布し、塗膜を乾燥させ
て、厚み40μｍの未硬化のエポキシ系樹脂層を形成し
た。

【００３８】このレジスト中のエポキシ樹脂は、DSC 測
定から、175 ℃×１時間の硬化条件で完全硬化すること
が判明した。そこで、樹脂層を150 ℃×１時間の加熱で
半硬化させた。その後、樹脂層を有する基板を過マンガ
ン酸水溶液に浸漬して、樹脂層表面に平均粗度約0.7 μ
ｍの凹凸を形成した。表面粗化の通常の平均粗度は約２
〜３μｍ程度である。次いで、市販の無電解めっき用前
処理液 (センシタイジング液と活性化液) を用いて、樹
脂層表面に、無電解めっき用のパラジウム触媒を吸着さ
せた。

【００３９】その後、γ−グリシドキシプロピル基を有
するシランカップリング剤 (信越化学製、KBM403、γ−
グリシドキシプロピルトリメトキシシラン) ５重量部
を、エタノール90重量部と水５重量部の混合溶媒に溶解
させた室温の溶液に、上記パラジウム触媒を付与した樹
脂層を有する基板を５分間浸漬して、樹脂層表面にシラ
ンカップリング剤を吸着させた後、50℃で10分間の乾燥
を行った。

【００４０】次に、無電解めっき液 (シプレイ製、カッ
パーミックス251)により、約１μｍの銅薄膜を樹脂層表
面に形成した後、150 ℃×１時間の熱処理を行った。そ
の後、同めっき液で硫酸銅めっきを行って、約30μｍの
銅配線層を形成し、最後に175 ℃×１時間の熱処理を行
って、樹脂層を完全に硬化させた。

【００４１】得られた、表面が銅配線層で被覆された基
板を用い、JIS C6481 による銅箔の剥離強度試験を行っ
て、密着性 (剥離強度) を評価した。結果を表１に示
す。

【００４２】(比較例１)実施例１においてシランカップ
リング剤で処理する工程を省略し、無電解めっきの触媒
付与前に樹脂層を完全硬化した以外は実施例１と同様に
して、絶縁基板上にレジスト樹脂層と銅配線層を形成し
た。この基板について、実施例１と同様にして銅／樹脂
間の密着性を評価した。結果をやはり表１に示す。

【００４３】(比較例２)実施例１においてシランカップ
リング剤で処理する工程を省略した以外は実施例１と同
様にして、絶縁基板上にレジスト樹脂層と銅配線層を形
成した。この基板について、実施例１と同様にして銅／
樹脂間の密着性を評価した。結果をやはり表１に示す。

【００４４】(実施例２〜３)実施例１においてシランカ
ップリング剤処理した後の乾燥温度を表１に示す温度に
変更した以外は実施例１と全く同様にして、絶縁基板上
にレジスト樹脂層と銅配線層を形成した。この基板につ
いて、実施例１と同様にして銅／樹脂間の密着性を評価
した。結果をやはり表１に示す。

【００４５】(実施例４〜６)実施例１においてシランカ
ップリング剤処理した後の乾燥温度を表１に示す温度に
変更し、無電解めっき (Cu：１μm)の後の熱処理を同様
に行った後、この無電解めっき皮膜に通電して配線層厚
さ30μｍまで電解銅めっきを行った以外は実施例１と同
様にして、絶縁基板上にレジスト樹脂層と銅配線層を形
成した。この基板について、実施例１と同様にして銅／
樹脂間の密着性を評価した。結果をやはり表１に示す。

【００４６】(比較例３)実施例１において樹脂層の完全
硬化を触媒付与前に行い、無電解めっき (Cu：１μm)の
後の熱処理を同様に行った後、この無電解めっき皮膜に
通電して配線層厚さ30μｍまで電解銅めっきを行った以
外は実施例１と同様にして、絶縁基板上にレジスト樹脂
層と銅配線層を形成した。この基板について、実施例１
と同様にして銅／樹脂間の密着性を評価した。結果をや
はり表１に示す。

【００４７】(実施例７〜９)実施例１において、シラン
カップリング剤を溶解する溶媒のエタノール／水の重量
比を表１に示すように変更（両者の合計量は95重量部で
一定、溶媒は酢酸でpH４に調整) し、無電解めっき (C
u：１μm)の後の熱処理を同様に行った後、この無電解
めっき皮膜に通電して配線層厚さ30μｍまで電解銅めっ
きを行った以外は実施例１と同様にして、絶縁基板上に
レジスト樹脂層と銅配線層を形成した。この基板につい
て、実施例１と同様にして銅／樹脂間の密着性を評価し
た。結果をやはり表１に示す。

【００４８】

【表１】

【００４９】表１からわかるように、熱硬化性樹脂が半
硬化の状態で無電解めっきを行い、かつ無電解めっき用
の触媒を付与した後にシランカップリング剤を樹脂層表
面に吸着させるという本発明に従った工程で樹脂層と金
属層とを絶縁基板上に形成した本発明例では、銅箔 (金
属層) の剥離強度が１kgf/cm超と高くなった。一方、半
硬化状態で無電解めっき行なってもシランカップリング
剤処理をしなかった比較例２、およびシランカップリン
グ剤処理しても無電解めっきを完全硬化状態で行った比
較例３は、従来法 (シランカップリング剤処理を行わず
に、完全硬化状態で無電解めっきする) である比較例１
に比べて、密着性の向上はわずかである。従って、半硬
化状態で無電解めっきを施した後で完全硬化させること
と、触媒付与後にシランカップリング剤処理を行うこと
の両者を組合わせることにより、樹脂／金属間の密着性
向上に相乗的な効果を生ずることがわかる。

【００５０】

【発明の効果】本発明により、熱硬化性樹脂を完全に硬
化させる前に無電解めっきを施し、かつ無電解めっきの
触媒付与後にシランカップリング剤で処理してから無電
解めっきを施すことにより、非常に高い樹脂／金属間の
密着性 (剥離強度) を確保することが可能となる。その
結果、密着性確保のために従来行われてきた樹脂層また
は金属層の粗化処理が不要になるか、或いは粗化処理の
深度を小さくすることができ、樹脂層や配線層の薄膜化
が可能となる。それにより、ＬＳＩチップの駆動周波数
の高速化に対応が可能となり、また特性インピーダンス
のバラツキが抑えられる。本発明による樹脂のめっき方
法は、特に高速化が要求されるＭＰＵパッケージの製造
に有用である。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.⁷ 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０５Ｋ 3/18 Ｈ０５Ｋ 3/18 Ｈ

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 下記工程を順に含む、樹脂のめっき方
   法： (a) 熱硬化性樹脂を含む未硬化樹脂層を形成する工程、
   (b) 樹脂層を加熱して半硬化状態にする工程、(c) 半硬
   化状態の樹脂層の表面に無電解めっき用触媒を付与する
   工程、(d) 触媒付与した樹脂層表面にシランカップリン
   グ剤を吸着させる工程、(e) シランカップリング剤を吸
   着した樹脂層に無電解めっきを施す工程、(f) 樹脂層を
   完全に硬化させる工程。
2. 【請求項２】 前記工程(e) または(f) の後に、次の工
   程(g) を含む、請求項１記載の方法：(g) 電解めっきを
   施すことにより、無電解めっき皮膜の上に電解めっき皮
   膜を形成する工程。
3. 【請求項３】 熱硬化性樹脂を含む樹脂層からなる絶縁
   層の上に導体層を形成することを含むプリント配線板の
   製造において、その導体層の形成を請求項１または２記
   載のめっき方法により行うことを特徴とする、プリント
   配線板の製造方法。