JP2000329793A - デジタル・ピーク検出器並びに最大値及び最小値検出方法 - Google Patents

デジタル・ピーク検出器並びに最大値及び最小値検出方法

Info

Publication number
JP2000329793A
JP2000329793A JP2000124806A JP2000124806A JP2000329793A JP 2000329793 A JP2000329793 A JP 2000329793A JP 2000124806 A JP2000124806 A JP 2000124806A JP 2000124806 A JP2000124806 A JP 2000124806A JP 2000329793 A JP2000329793 A JP 2000329793A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capture
maximum
digital
value
input signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000124806A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3592993B2 (ja
Inventor
Michael F Moser
マイケル・エフ・モサー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tektronix Inc
Original Assignee
Tektronix Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tektronix Inc filed Critical Tektronix Inc
Publication of JP2000329793A publication Critical patent/JP2000329793A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3592993B2 publication Critical patent/JP3592993B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R13/00Arrangements for displaying electric variables or waveforms
    • G01R13/02Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
    • G01R13/0218Circuits therefor
    • G01R13/0272Circuits therefor for sampling
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING OR CALCULATING; COUNTING
    • G06JHYBRID COMPUTING ARRANGEMENTS
    • G06J1/00Hybrid computing arrangements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Fuzzy Systems (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 デジタル・ピーク検出器において、一層短い
継続期間の事象を取り込めるようにする。 【解決手段】 複数の取り込み手段26をインターリー
ブできるように配置し、共通の入力信号30を供給す
る。各取り込みインターバルにわたって、取り込み手段
の各々が最大ピーク値及び最大ピーク値を検出する。マ
イクロプロセッサ20は、複数の取り込み手段26が検
出した総ての最小ピーク値を比較して、全体の中の最小
ピーク値を求めると共に、複数の取り込み手段26が検
出した総ての最大ピーク値を比較して、全体の中の最大
ピーク値を求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般に、デジタル
・ピーク検出器及び検出方法に関し、特に、オシロスコ
ープなどの測定試験機器に有用なデジタル・ピーク検出
器及びその方法に関する。
【0002】
【従来の技術】オシロスコープ、デジタル化装置(デジ
タイザ)などの高速デジタル測定試験機器は、インター
リーブされた複数の取り込みパイプ(取り込み手段)を
用いて、これら複数の取り込みパイプがサンプリングし
たサンプルを、単一取り込みチャネルによる入力信号の
デジタル化されたサンプルとして取り込んでいる。な
お、インターリーブとは、複数個の部分に分けて、それ
らの動作周期を少しずつずらして等化的に高速動作を実
現することである。共通のサンプリング・クロック信号
を用いて、各パイプ内の回路を駆動する。各パイプのサ
ンプリング・クロック信号は、他のパイプのサンプリン
グ・クロック信号から遅延されている。各パイプは、入
力信号をサンプリングするトラック・ホールド回路と、
アナログ・サンプルをデジタル化するアナログ・デジタ
ル変換器と、デジタル化されたサンプルをユーザが選択
した取り込みレートでデシメーション(間引き)するデ
マルチプレックサとを具えている。各パイプからのデシ
メーションしたデジタル化取り込みサンプルは、インタ
ーリーブされ、メモリに蓄積されて、表示及び/又は他
の処理がされる。インターリーブされ蓄積されたサンプ
ルは、チャネル取り込みレートを最大にできる。この最
大レートは、サンプル・クロック・レートよりも実際的
にN倍だけ早い。なお、Nは、取り込みパイプの数であ
る。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本願出願人のアメリカ
合衆国オレゴン州ビーバートンのテクトロニクス・イン
コーポレイテッドが製造販売しているTDS700シリ
ーズ・オシロスコープは、低速取り込み期間中に、規則
的取り込みサンプルの間に生じる高速事象を検出するた
めに、デジタル・ピーク検出取り込みモードを具えてい
る。デジタル・ピーク検出の期間中、取り込みパイプの
1つは、そのパイプの最大サンプリング・レートにてサ
ンプルを取り込み、低速が要求される取り込みレートの
期間にわたって高速サンプルの最小値及び最大値を捕ら
える。各取り込みインターバル(時間間隔)における最
小値及び最大値を、表示用メモリに蓄積する。この方法
は、取り込みパイプのサンプリング・レート以上の継続
時間の事象を捕らえることに限定される。
【0004】デジタル・ピーク検出取り込み機能が作用
している期間中に、より短い継続時間の事象を取り込め
る装置及び方法が必要とされている。
【0005】したがって、本発明の目的は、一層短い継
続期間の事象を取り込めるデジタル・ピーク検出器並び
に最大値及び最小値検出方法を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、インターリー
ブされたデジタル・ピーク検出器と、その動作方法に関
するものであり、入力信号を受けるように結合された複
数の取り込みパイプ(取り込み手段)を具えている。各
取り込みパイプは、入力信号及びサンプリング・クロッ
ク信号を受けるアナログ・デジタル変換器を有する。各
パイプに対するサンプリング・クロック信号は、遅延回
路を介して供給され、各取り込みパイプの入力信号のサ
ンプリングを選択的に遅延させる。ピーク検出器は、ア
ナログ・デジタル変換器からの出力を受け、デジタル化
した入力信号の最大値及び最小値を捕らえる。取り込み
回路は、取り込み信号を受けるが、この取り込み信号
は、デシメーション値に応じてサンプリング・クロック
信号をデシメーションして、取り込みクロック信号を発
生し、この取り込みクロック信号によりラッチ回路をト
リガする。このラッチ回路は、ピーク検出器が捕らえた
最大値及び最小値を蓄積する。プログラム制御で動作す
る制御器は、取り込みインターバルにわたって取り込み
パイプの各々からの最大及び最小ピーク検出値を比較し
て、取り込みインターバルにおける複数の取り込みパイ
プの総てに対する最大及び最小ピーク検出値を発生す
る。なお、本明細書において、最大値、最大ピーク値、
最大ピーク検出値は同じ意味であり、最小値、最小ピー
ク値、最小ピーク検出値も同じ意味である。
【0007】さらに、本発明は、インターリーブされた
デジタル・ピーク検出器を改善しており、トラック・ホ
ールド回路は、入力信号のアナログ値を捕らえて、アナ
ログ・デジタル変換器に入力する。本発明の好適実施例
においては、取り込み回路は、取り込みメモリを具えて
おり、このメモリは、取り込みインターバルにわたるラ
ッチされた最大及び最小ピーク検出値を蓄積する。この
取り込み回路は、プログラマブル(プログラム可能な)
デシメータ(デシメーション回路)として作用するデマ
ルチプレックサも具えており、このデマルチプレックサ
は、サンプリング信号及びデシメーション値を受けて、
このデシメーション値に応じてサンプリング信号をデシ
メーションすることにより、取り込みクロック信号を発
生する。取り込みクロック信号は、ラッチ回路をトリガ
して、ピーク検出器からの捕らえた最大及び最小値を蓄
積する。
【0008】インターリーブされたデジタル・ピーク検
出器を用いて最大値及び最小値を検出する方法は、多数
の取り込みパイプ(取り込み手段)を用いて入力信号を
デジタル化するステップを有する。各取り込みパイプ
は、共通サンプリング・クロック信号を受けるアナログ
・デジタル変換器を有する。この共通サンプリング・ク
ロック信号は、各パイプの遅延回路にて調整可能に遅延
される。各取り込みパイプ内のデジタル化された入力信
号の最大及び最小ピーク値を、取り込みインターバルに
わたって捕らえ、蓄積する。取り込みインターバルにわ
たる各取り込みパイプからのデジタル化された入力信号
から捕らえ蓄積した最大及び最小ピーク値を比較して、
取り込みインターバルにわたる全体の最大ピーク値及び
最小ピーク値を発生する。このインターバルにわたる全
体の最大及び最小ピーク値が表示される。デジタル化ス
テップ、ピーク検出ステップ、蓄積ステップ及び比較ス
テップは、その後の取り込みインターバルにわたっても
繰り返されて、表示用の取り込み記録を作る。デジタル
化ステップは、サンプリング・クロック信号の瞬間に入
力信号のアナログ値を捕らえるステップも含んでおり、
アナログ・デジタル変換器によりデジタル化を行う。
【0009】本発明の目的、利点及び新規な特徴は、添
付図を参照した以下の詳細説明から更に理解できよう。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好適実施例を説明
する。なお、同じ素子は、同じ参照符号で示す。なお、
以下の詳細説明において、多くの特定細部は、単に本発
明を理解するためのものである。しかし、これら特定細
部によらなくても、本発明を実施できることが当業者に
は理解できよう。本発明を不明瞭にしないため、他の場
合における既知の方法、手順、部品及び回路について
は、詳細に説明しない。
【0011】また、本発明を理解するのに有用な方法に
ついて、多くの個別のステップとして種々の動作につい
ても説明するが、これら動作がその順序通りに行われな
くてもよい。
【0012】図1は、本発明によるデジタル・ピーク検
出器10のブロック図である。このデジタル・ピーク検
出器10は、オシロスコープ、デジタイザなどの測定試
験機機に組み込んでもよい。かかる測定試験器器では、
1個以上の取り込みチャネル14と、ノブやボタンなど
の多くの制御器を有する正面パネル16と、陰極線管や
液晶表示器などの表示器18とを具えている。内部的に
は、ROM(リード・オンリ・メモリ)22に蓄積され
たプログラム命令を実行する1個以上のマイクロプロセ
ッサ(μP)20により、測定試験機器が制御される。
取り込みチャネル14が取り込んだデータは、RAM
(ランダム・アクセス・メモリ)24に蓄積される。取
り込みチャネル14は、多数の取り込みパイプ(取り込
み手段)26を具えており、これらの内の4個である取
り込みパイプ26A、26B、26C及び26Dを例と
して示す。任意の数の取り込みパイプにより本発明を実
施できるが、好適な数は、2のべき乗(例えば、2、
4、8、16・・・)である。システム・クロック回路
28は、1個以上のクロック信号を発生して、デジタル
・ピーク検出器10を含む測定試験機機内の回路のタイ
ミングを制御する。
【0013】取り込みパイプ26A、26B、26C及
び26Dは、アナログ・デジタル(A/D)変換器40
A、40B、40C及び40Dを夫々含んでおり、これ
らアナログ・デジタル変換器は、共通の入力信号30を
受ける。また、各取り込みパイプは、遅延回路(Da〜
Dd)42A、42B、42C及び42Dを含んでお
り、これら遅延回路は、共通のサンプリング・クロック
信号と、マイクロプロセッサ20からの異なる遅延値、
即ち、遅延制御電圧とを受ける。これら遅延回路は、サ
ンプリング・クロック信号をアナログ・デジタル変換器
40A、40B、40C及び40Dの各々に供給し、こ
れらアナログ・デジタル変換器は、入力信号を表すデジ
タル値を発生する。これらアナログ・デジタル変換器の
各々からのデジタル値は、夫々のデジタル・ピーク検出
器44A、44B、44C及び44Dに供給される。こ
れらデジタル・ピーク検出器44A、44B、44C及
び44Dは、アナログ・デジタル変換器40A、40
B、40C及び40Dを駆動するのと同じサンプリング
・クロック信号により駆動されるが、サンプリング・ク
ロック信号は、遅延回路46A、46B、46C及び4
6Dの伝搬遅延及び変換時間だけ適切に遅延されてい
る。デジタル・ピーク検出器44A、44B、44C及
び44Dは、ピーク最大デジタル値及びピーク最小デジ
タル値を捕らえ、これらの値を取り込み回路48A、4
8B、48C及び48Dの夫々に供給する。これら取り
込み回路は、取り込みクロック信号を受けて、取り込み
インターバルにわたってピーク最大値及びピーク最小値
をラッチして、これら値を夫々の取り込みメモリに蓄積
する。本発明の好適実施例において、デジタル・ピーク
検出器10用の取り込みインターバルは、詳細に後述す
る取り込みクロック信号の2サイクルを含んでいる。プ
ログラムで制御されるマイクロプロセッサ20は、各パ
イプにて捕らえた最大ピーク値及び最小ピーク値の各々
を比較し、総てのパイプにおける最大ピーク値及び最小
ピーク値を、取り込みインターバルにわたる最大ピーク
値及び最小ピーク値として蓄積する。
【0014】マイクロプロセッサ20からの遅延値、即
ち、遅延制御電圧は、アナログ・デジタル変換器40
A、40B、40C及び40Dのサンプリング時間を調
整して、サンプリング・クロック・レートのN倍である
実効サンプリング・レートを実現する。なお、Nは、取
り込みパイプの数である。例えば、サンプリング・クロ
ック・レートは、1ギガサンプル/秒、即ち、1ナノ秒
である。1ナノ秒のレートを4(取り込みパイプの数)
で除算することにより、実効サンプリング・レートが2
50ピコ秒になる。各パイプの遅延回路は、前段のパイ
プに対して、各パイプ内の回路を駆動するサンプリング
・クロック信号に250ピコ秒の遅延を付加する。各ア
ナログ・デジタル変換器のクロック信号の遅延時間の前
段に対する増分値は、[1/N]×[サンプリング・ク
ロック周期]であるので、各アナログ・デジタル変換器
は、サンプリング・クロック信号の間の独自の時間部分
を捕捉する。インターリーブにより、4個の取り込みパ
イプからのデジタル・データの実効サンプリング・レー
トは、実際のサンプリング・レートの4倍である。アナ
ログ・デジタル変換器40A、40B、40C及び40
Dは、遅延回路42A、42B、42C及び42Dの各
々からのクロック信号により決まる特定の時間インター
バルにて、入力信号を表すデジタル値を発生する。
【0015】デジタル・ピーク検出器44A、44B、
44C及び44Dは、当業者に周知のように、アナログ
・デジタル変換器40A、40B、40C及び40Dか
らの最大デジタル値及び最小デジタル値の両方を捕らえ
る。デジタル・ピーク検出器44A、44B、44C及
び44Dが捕らえた最大及び最小デジタル値は、取り込
み回路48A、48B、48C及び48Dに供給され
る。これら取り込み回路は、取り込みクロック信号を受
けると、最大及び最小デジタル値をラッチする。取り込
みクロック・レートは、正面パネル制御器16を用いて
選択されたユーザ定義設定である。取り込みクロック信
号は、多くの方法で発生できるが、図1はその1方法で
ある。システム・クロック回路28は、マイクロプロセ
ッサ20からのデシメーション値を受けるプログラマブ
ル・デシメータを含んでもよい。これらデシメーション
値は、正面パネル16を用いてユーザが定義した取り込
みレート設定から求める。例えば、サンプリング・クロ
ック・レートが1ギガサンプル/秒で、ユーザ定義取り
込みサンプリング・レートが1メガサンプル/秒に設定
される。ユーザ定義取り込みレートによりサンプリング
・クロック・レートを分割して、1000のデシメーシ
ョン値を求める。取り込みクロック信号を発生する他の
方法は、図7に示すように、取り込み回路の各々にデシ
メータを設けることであるが、この点については、詳細
に後述する。
【0016】最大及び最小のピーク検出値の両方を取り
込み回路48A、48B、48C及び48Dに同時に供
給する。本発明の好適実施例に用いるメモリ・データ・
バスの大きさのために、各値を夫々の取り込みメモリに
ロードするためには、2個の取り込みクロック信号が必
要である。これにより、2取り込みクロック・サイクル
で、デジタル・ピーク検出モード用の取り込みインター
バルができる。異なる取り込みクロック・サイクル毎
に、リセット・ストローブを取り込み回路48A、48
B、48C及び48Dの各々からピーク検出器44A、
44B、44C及び44Dのリセット端子Rに供給す
る。これにより、ピーク検出器は、次の入力デジタル値
を、次の取り込みインターバル用の初期最大及び最小デ
ジタル値として蓄積する。ピーク検出器の捕らえた最大
及び最小デジタル値は、上述の取り込みメモリに蓄積さ
れる。より広いメモリ・バスにより、単一の取り込みク
ロック信号を用いて、捕らえた最大及び最小デジタル値
を蓄積できるので、各取り込みクロックにて取り込みイ
ンターバルが確立することが明らかである。好適実施例
においては、取り込みメモリは、取り込み回路48A、
48B、48C及び48Dの一部であるが、これらメモ
リは、測定試験器器のRAM24の一部でもよい。
【0017】図2〜図6は、本発明によるインターリー
ブ・デジタル・ピーク検出器10におけるデジタル・サ
ンプルの取り込み及び処理を示す図である。図2〜図6
の要素で、図1と同じものは、同じ参照符号で示す。こ
れらの図は、多くの取り込みインターバルの1つを示
し、ここでのインターバルは、サンプリング・インター
バルの4倍である。図2は、代表的な入力信号30を示
す。図3は、取り込みインターバルにおける4個のイン
ターリーブ取り込みパイプ26A、26B、26C及び
26Dを用いた入力波形のサンプリング点を示す。図4
は、図1における入力信号30のデジタル化サンプルを
代表的に示し、これらサンプルの位置は、4個の取り込
みパイプ26A、26B、26C及び26Dの各々に対
して、図3のサンプリング位置である。図5は、デジタ
ル・ピーク検出器44A、44B、44C及び44Dの
夫々で捕らえた最小値及び最大値を夫々示す。図6は、
図5の最大値及び最小値の比較結果を示し、この比較に
より、取り込みインターバルにわたって蓄積された最大
及び最小のピーク・デジタル値を発生する。最大ピーク
検出値は、取り込みパイプ26Cのデータから発生さ
れ、最小ピーク検出値は、取り込みパイプ26Dのデー
タから発生される点に留意されたい。
【0018】図7は、本発明によるデジタル・ピーク検
出器10の他の実施例の詳細なブロック図である。図1
と同じ素子は、同じ参照符号で示す。上述の如く、デジ
タル・ピーク検出器10は、測定試験機器の一部であ
り、この機器は、多数の取り込みチャネル14と、正面
パネル16と、表示器18と、マイクロプロセッサ(μ
P)により制御器20と、関連したROM22及びRA
M24と、システム・クロック回路28とを具えてい
る。取り込みチャネル14の各々は、多数の取り込みパ
イプ(取り込み手段)26A、26B、26C及び26
Dを有している。各取り込みパイプは、アナログ・デジ
タル(A/D)変換器40A、40B、40C及び40
Dと、デジタル遅延回路(Da〜Dd)42A、42
B、42C及び42Dと、ピーク検出器44A、44
B、44C及び44Dとを具えている。本発明の好適実
施例において、トラック・ホールド(T/H)回路50
A、50B、50C及び50Dの各々は、アナログ・デ
ジタル変換器40A、40B、40C及び40Dの各々
に関連している。遅延回路42A、42B、42C及び
42Dに供給する遅延値、即ち、遅延制御信号は、マイ
クロプロセッサ20からのデジタル値を受けるデジタル
・アナログ(D/A)遅延回路52が発生する。上述の
如く、遅延回路42A、42B、42C及び42Dに供
給された遅延値に応じて、システム・クロック回路28
からの共通サンプリング・クロック信号の遅延を調整し
て、取り込みパイプ26A、26B、26C及び26D
の各々に供給して、各パイプのサンプリング時点を他の
パイプに対してある値だけオフセットする。
【0019】本発明の好適実施例において、サンプリン
グ・クロック・レートは、2.5ギガサンプル/秒であ
り、各パイプ・サンプル・クロック信号は、400ピコ
秒でクロックされる。各パイプ・クロック信号の遅延オ
フセットは、前段のパイプに対して100ピコ秒であ
り、実効サンプリング・レートが10ギガサンプル/秒
になる。遅延されたサンプリング・クロック信号を、取
り込みパイプ26A、26B、26C及び26Dのトラ
ック・ホールド回路54A、54B、54C及び54D
の各々に供給する。これらトラック・ホールド回路は、
遅延されたサンプリング・レートでアナログ入力信号3
0をサンプリングし、サンプリングしたアナログ信号を
アナログ・デジタル変換器40A、40B、40C及び
40Dの各々に供給する。本発明の好適実施例におい
て、遅延要素56A、56B、56C及び56Dで代表
的に示す適切なタイミング遅延要素を用いて、取り込み
パイプ26A、26B、26C及び26Dの各々に対す
るサンプル・クロック信号をパイプの他の回路要素に供
給する。アナログ・デジタル変換器40A、40B、4
0C及び40Dは、サンプリングしたアナログ信号をデ
ジタル値に変換し、これら値をデジタル・ピーク検出器
44A、44B、44C及び44Dに供給する。デジタ
ル・ピーク検出器44A、44B、44C及び44D
は、取り込みインターバルにわたる最大及び最小ピーク
・デジタル値を捕らえ、これら捕らえたピーク値をプロ
グラマブル・デシメータ58A、58B、58C及び5
8Dの各々に供給する。
【0020】プログラマブル・デシメータ58A、58
B、58C及び58Dの各々は、プログラマブル・デシ
メータ回路を含んでいる。このプログラマブル・デシメ
ータ回路は、システム・クロック回路28、より好まし
くは、各パイプ内で別の回路を駆動する同じタイミング
・チェーンから同じクロック信号を受る。マイクロプロ
セッサ20からのデシメーション値は、正面パネル16
からのユーザ定義取り込みクロック・レートに応答し
て、デシメータに供給される。デシメーションされたサ
ンプリング・クロック信号は、取り込みクロック信号を
発生し、この取り込みクロック信号が、捕らえた最小及
び最大デジタル・ピーク値をデシメータ内の蓄積ラッチ
にラッチする。また、この取り込みクロック信号を用い
て、捕らえた最大及び最小デジタル・ピーク値を取り込
みメモリ60A、60B、60C及び60Dの各々にラ
ッチする。したがって、捕らえた最大及び最小デジタル
・ピーク検出値の両方を取り込みメモリ60A、60
B、60C及び60Cにロードするのに、2個の取り込
みクロック信号が必要である。これは、異なる取り込み
クロック信号毎に、リセット用ストローブをデジタル・
ピーク検出器44A、44B、44C及び44Dのリセ
ット端子Rに送って、次のデジタル値を、デジタル・ピ
ーク検出器44A、44B、44C及び44Dの新たな
取り込みインターバル期間中の初期最大及び最小ピーク
値として設定することが必要となる。本発明の好適実施
例の場合、取り込みメモリ60A、60B、60C及び
60Dは、取り込みパイプ26A、26B、26C及び
26Dの各々に関連し、測定試験機器用RAMメモリ2
4の一部とは関係しない。
【0021】各パイプの捕らえた最大及び最小デジタル
・ピーク値は、マイクロプロセッサ20に供給される。
ここでは、プログラム制御の下に、取り込みインターバ
ルにわたる取り込みパイプ26A、26B、26C及び
26Dの最大及び最小デジタル・ピーク値が比較され
て、これらの中の最大のデジタル値及び最小のデジタル
値が取り込みインターバルにわたる最大デジタル・ピー
ク値及び最小デジタル・ピーク値として蓄積される。こ
れら蓄積された値は、更に処理されて、表示器18によ
り表示される。
【0022】多数の取り込みパイプを用いて、入力信号
を表すデジタル値を取り込むデジタル・ピーク検出器1
0について上述した。各取り込みパイプは、各パイプ毎
に遅延された共通サンプリング信号を受けるので、サン
プリング・クロック・レートよりも早い実効レートでサ
ンプルを取り込める。各パイプは、夫々のオフセット・
サンプリング・レートでデジタル値を発生し、取り込み
インターバルにわたるピーク最大及び最小デジタル値を
捕らえる。取り込みインターバルは、同じサンプリング
・クロック信号から得た2個の取り込みクロック・パル
スと、ユーザ定義の取り込みレートから得たデシメーシ
ョン値とを用いる。プログラム制御の下で動作するマイ
クロプロセッサを用いて、各パイプ毎に、捕らえた最大
及び最小デジタル・ピーク値が比較され、各取り込みイ
ンターバル期間中の最大及び最小デジタル・ピーク検出
値を発生する。
【0023】よって、本発明によるインターリーブされ
たデジタル・ピーク検出器及び方法について上述した。
当業者には、上述の説明に対して、本発明に多くの変更
変形を施すことができようが、図示し、上述した特定実
施例は、本発明を限定するためのものではない。例え
ば、プログラマブル・デシメータ及びラッチを有する取
り込み回路は、デマルチプレックサとして実施できる。
さらに、上述では、特定のサンプリング・レート及び取
り込みレートで適切に動作するために、取り込みチャネ
ルが4個の取り込みチャネルを具えていた。付加的なパ
イプを追加することにより、異なるサンプリング・クロ
ック・レート及び取り込みレートにより、インターリー
ブされたデジタル・ピーク検出器を動作させ、好適実施
例で説明したのと同じデジタル・ピーク検出値を発生さ
せることが可能である。よって、上述の特定実施例は、
その実施例そのものに本発明を限定するものではない。
【0024】
【発明の効果】上述の如く本発明によれば、インターリ
ーブした複数の取り込みパイプ(取り込み手段)毎に、
各取り込みインターバルにおける最大値及び最小値を求
め、さらに、複数の取り込みパイプの全体に対する最大
値及び最小値を求めるので、一層短い継続期間の事象も
含めて、最大値及び最小値を取り込める。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるデジタル・ピーク検出器の好適実
施例のブロック図である。
【図2】本発明によるデジタル・ピーク検出器に供給さ
れるアナログ入力波形の波形図である。
【図3】本発明によるデジタル・ピーク検出器を用い
て、入力波形をサンプリングする際のサンプル点を示す
図である。
【図4】本発明によるデジタル・ピーク検出器を用いて
取り込んだデジタル・サンプルを示す図である。
【図5】本発明によるデジタル・ピーク検出器における
デジタル・ピーク検出器でのデジタル・サンプルの検出
を示す図である
【図6】本発明によるデジタル・ピーク検出器からの蓄
積された最大デジタル・サンプル及び最小デジタル・サ
ンプルを示す図である。
【図7】本発明によるデジタル・ピーク検出器の他の好
適実施例の詳細なブロック図である。
【符号の説明】 10 デジタル・ピーク検出器 14 取り込みチャネル 16 正面パネル 18 表示器 20 マイクロプロセッサ 22 ROM 24 RAM 26 取り込み手段 28 システム・クロック回路 42 遅延回路 44 デジタル・データ・ピーク検出器 46 遅延回路 48 取り込み回路

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 インターリーブされたデジタル・ピーク
    検出器であって、 入力信号を受けるように結合された複数の取り込み手段
    と、 各取り込みインターバルにおいて上記取り込み手段の各
    々から求めた最大値及び最小値を比較して、上記取り込
    みインターバルにおける上記複数の取り込み手段全体の
    最大値及び最小値を発生する手段とを具え、 上記取り込み手段の各々は、 上記入力信号及びサンプリング・クロック信号を受け
    て、上記入力信号をデジタル化するアナログ・デジタル
    変換器と、 該アナログ・デジタル変換器からの出力を受け、上記デ
    ジタル化された入力信号の最大値及び最小値を捕らえる
    ピーク検出器と、 デシメーション値に応じて上記サンプリング・クロック
    信号をデシメーションして得た取り込みクロック信号を
    受け、上記ピーク検出器が捕らえた上記最大値及び上記
    最小値を蓄積するラッチ回路をトリガする取り込み回路
    とを有し、 上記取り込み手段の各々の上記サンプリング・クロック
    信号が遅延回路を介して供給され、上記取り込み手段の
    各々による上記入力信号のサンプリングを選択的に遅延
    させることを特徴とするデジタル・ピーク検出器。
  2. 【請求項2】 インターリーブされたデジタル・ピーク
    検出器であって、 入力信号を受けるように結合された複数の取り込み手段
    と、 各取り込みインターバルにおいて上記取り込み手段の各
    々からの最大値及び最小値を比較して、上記取り込みイ
    ンターバルにおける上記複数の取り込み手段全体の最大
    値及び最小値を発生する手段とを具え、 上記取り込み手段の各々は、 上記入力信号及びサンプリング・クロック信号を受け
    て、上記入力信号をデジタル化するアナログ・デジタル
    変換器と、 該アナログ・デジタル変換器からの出力を受け、上記デ
    ジタル化された入力信号の最大値及び最小値を捕らえる
    ピーク検出器と、 サンプリング・クロック信号及びデシメーション値を受
    け、上記ピーク検出器が捕らえた上記最大値及び上記最
    小値を蓄積するラッチ回路をトリガするために、上記デ
    シメーション値に応じて上記サンプリング・クロック信
    号をデシメーションして取り込みクロック信号を発生す
    るプログラマブル・デシメータと、 2個の取り込みクロック信号の取り込みインターバルに
    わたる上記最大値及び上記最小値を蓄積する取り込みメ
    モリとを有し、 上記取り込み手段の各々の上記サンプリング・クロック
    信号が遅延回路を介して供給され、上記取り込み手段の
    各々による上記入力信号のサンプリングを選択的に遅延
    させることを特徴とするデジタル・ピーク検出器。
  3. 【請求項3】 取り込みシステムにおいて、最大値及び
    最小値を検出する方法であって、 遅延回路により遅延調整された共通サンプリング・クロ
    ック信号を受けるアナログ・デジタル変換器を夫々有す
    る複数の取り込み手段を用いて入力信号をデジタル化
    し、 デジタル化された入力信号の最大値及び最小値を各取り
    込みインターバルにわたって上記取り込み手段の各々に
    よって捕らえ、 上記取り込みインターバルにわたって、上記デジタル化
    され、捕らえた入力信号の最大値及び最小値を上記取り
    込み手段の各々により蓄積し、 上記取り込み手段の各々からの上記デジタル化された入
    力信号の上記最大値及び上記最小値を比較し、上記取り
    込みインターバルにおける上記複数の取り込み手段全体
    に対する最小値及び最大値を発生させることを特徴とす
    る最大値及び最小値検出方法。
JP2000124806A 1999-04-29 2000-04-25 デジタル・ピーク検出器並びに最大値及び最小値検出方法 Expired - Fee Related JP3592993B2 (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US09/302016 1999-04-29
US09/302,016 US6121799A (en) 1999-04-29 1999-04-29 Interleaved digital peak detector

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2000329793A true JP2000329793A (ja) 2000-11-30
JP3592993B2 JP3592993B2 (ja) 2004-11-24

Family

ID=23165902

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000124806A Expired - Fee Related JP3592993B2 (ja) 1999-04-29 2000-04-25 デジタル・ピーク検出器並びに最大値及び最小値検出方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US6121799A (ja)
EP (1) EP1048954B1 (ja)
JP (1) JP3592993B2 (ja)
KR (1) KR100576226B1 (ja)
CN (1) CN1145035C (ja)
DE (1) DE60012075T2 (ja)
TW (1) TW493077B (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008026188A (ja) * 2006-07-21 2008-02-07 Tektronix Japan Ltd 信号分析装置及び信号分析装置用プログラム

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20020075267A1 (en) * 2000-11-17 2002-06-20 Anthony Cake Processing web editor for data processing in a digital oscilloscope or similar instrument
US6693576B2 (en) * 2002-05-23 2004-02-17 Tektronix, Inc. Methods and apparatus providing multiple concurrent acquisition modes in a digitizing measurement instrument
US6934646B2 (en) * 2002-10-21 2005-08-23 Agilent Technologies, Inc. Waveform complexity detector
US7285948B2 (en) * 2002-12-17 2007-10-23 Tektronix, Inc. Method and apparatus providing single cable bi-directional triggering between instruments
US6768430B1 (en) * 2003-03-19 2004-07-27 Agilent Technologies, Inc. System and method for establishing a subsampling rate for repetitive signals
US20040189636A1 (en) * 2003-03-27 2004-09-30 Azinger Frederick A. Automated storage of unique waveforms presented as an oscilloscope image
US7834780B2 (en) * 2006-03-20 2010-11-16 Tektronix, Inc. Waveform compression and display
DE102006037221B4 (de) * 2006-08-09 2018-07-19 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Vorrichtung und Verfahren zur Verarbeitung und Darstellung eines abgetasteten Signals
KR100915188B1 (ko) * 2007-09-10 2009-09-02 엘아이지넥스원 주식회사 입력신호의 피크값 생성방법 및 그 장치, 상기 방법을구현하는 프로그램이 저장된 기록매체
US8818744B2 (en) 2008-10-16 2014-08-26 Tektronix, Inc. Test and measurement instrument and method of switching waveform display styles
CN102466747B (zh) * 2010-11-03 2016-06-01 北京普源精电科技有限公司 一种测量数据压缩显示装置及其控制方法
US8482444B1 (en) * 2011-07-28 2013-07-09 The Boeing Company Calibration of analog-to-digital converter data capture
US9046942B2 (en) * 2012-06-01 2015-06-02 Atmel Corporation Combined accumulator and maximum/minimum comparator
CN104422812A (zh) * 2013-09-06 2015-03-18 中国科学院沈阳自动化研究所 一种极值采样电路
CN103604968B (zh) * 2013-12-10 2015-12-09 南京国睿安泰信科技股份有限公司 消除峰值检测误产生毛刺的系统
WO2020097939A1 (zh) * 2018-11-16 2020-05-22 华为技术有限公司 一种误差校正方法及时间交织模数转换器
US11177822B2 (en) * 2019-11-27 2021-11-16 Vervesemi Microelectronics Private Limited System and method for background calibration of time interleaved ADC
US11296713B1 (en) * 2020-08-10 2022-04-05 Pacific MicroCHIP Corp. Circuitry for event-driven data acquisition
CN113009201B (zh) * 2021-02-24 2022-08-23 普源精电科技股份有限公司 一种电信号采样装置
US11953527B2 (en) 2022-08-24 2024-04-09 Microsoft Technology Licensing, Llc Peak voltage amplitude detectors tolerant to process variation and device mismatch and related methods

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US35996A (en) * 1862-07-29 Improvement in magazine fire-arms
US4897659A (en) * 1981-08-03 1990-01-30 Texas Instruments Incorporated Communication receiver
JPH07109370B2 (ja) * 1989-10-20 1995-11-22 松下電器産業株式会社 波形記憶装置
USRE35996E (en) 1993-02-18 1998-12-15 Rasmussen; Robert F. Continuous duty press monitoring system
JP2826452B2 (ja) * 1993-10-25 1998-11-18 日立電子株式会社 波形記憶装置
JP3439565B2 (ja) * 1995-03-16 2003-08-25 株式会社日立国際電気 波形記憶装置
US5684850A (en) * 1995-08-14 1997-11-04 William K. Warburton Method and apparatus for digitally based high speed x-ray spectrometer
US5740064A (en) * 1996-01-16 1998-04-14 Hewlett-Packard Co. Sampling technique for waveform measuring instruments
US5872536A (en) * 1997-02-19 1999-02-16 Hittite Microwave Corporation Multi-sensor anticipatory object detection system
US5978742A (en) * 1997-04-04 1999-11-02 Tektronix, Inc. Method and apparatus for digital sampling of electrical waveforms

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008026188A (ja) * 2006-07-21 2008-02-07 Tektronix Japan Ltd 信号分析装置及び信号分析装置用プログラム

Also Published As

Publication number Publication date
US6121799A (en) 2000-09-19
KR100576226B1 (ko) 2006-05-03
DE60012075D1 (de) 2004-08-19
CN1272628A (zh) 2000-11-08
EP1048954A2 (en) 2000-11-02
JP3592993B2 (ja) 2004-11-24
EP1048954A3 (en) 2002-09-04
TW493077B (en) 2002-07-01
CN1145035C (zh) 2004-04-07
DE60012075T2 (de) 2004-11-25
EP1048954B1 (en) 2004-07-14
KR20000077098A (ko) 2000-12-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3592993B2 (ja) デジタル・ピーク検出器並びに最大値及び最小値検出方法
JP2733746B2 (ja) ロジック信号表示方法
JP4986136B2 (ja) ロジック信号波形表示装置
US5526286A (en) Oversampled logic analyzer
JPS5847661B2 (ja) 波形記憶装置
JP2002022773A (ja) 測定機器及びオシロスコープ
JPH05196647A (ja) デジタル・オシロスコープ
JP4439941B2 (ja) 波形表示装置
US5578917A (en) Repetitive digital sampling circuit using two delay lines for improved time accuracy
US6832174B2 (en) Method and apparatus providing interleaved data from multiple signal acquisition devices
US20040119620A1 (en) Method and apparatus providing multiple channel multiple instrument triggering
US6912474B2 (en) Method and apparatus for high-speed synchronous digital acquisition derived in real -time from analog samples
US7065458B2 (en) Method and apparatus providing concatenated data from multiple signal acquisition devices
US5352976A (en) Multi-channel trigger dejitter
JPH04230867A (ja) 自己整列サンプリング装置
JP2000221248A (ja) 半導体試験装置
EP0444875A2 (en) Method and apparatus for increasing throughput in random repetitive digitizing systems
JP2971307B2 (ja) 波形記録装置
JP2946587B2 (ja) ディジタル・ストレージ・オシロスコープのトリガ回路
Jancarik et al. Multichannel analog transient acquisition system
KR100811856B1 (ko) 측정신호 표시방법 및 그 방법을 채용한 테스터기
JP2001235521A (ja) タイミング発生器
JPH0511791B2 (ja)
JPH08220147A (ja) リアルタイム・サンプリング型波形デジタイザ装置の高速変化波形取込方法
JPH04115451A (ja) 電子ビームテスタ

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040824

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040826

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080903

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080903

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090903

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090903

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100903

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110903

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120903

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130903

Year of fee payment: 9

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees