JP2017175149A - 利得を伴って赤外線放射を検出する方法および装置 - Google Patents
利得を伴って赤外線放射を検出する方法および装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2017175149A JP2017175149A JP2017093969A JP2017093969A JP2017175149A JP 2017175149 A JP2017175149 A JP 2017175149A JP 2017093969 A JP2017093969 A JP 2017093969A JP 2017093969 A JP2017093969 A JP 2017093969A JP 2017175149 A JP2017175149 A JP 2017175149A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- interconnect
- ito
- electrode
- oled
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/10—Semiconductor bodies
- H10F77/14—Shape of semiconductor bodies; Shapes, relative sizes or dispositions of semiconductor regions within semiconductor bodies
- H10F77/143—Shape of semiconductor bodies; Shapes, relative sizes or dispositions of semiconductor regions within semiconductor bodies comprising quantum structures
- H10F77/1433—Quantum dots
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F30/00—Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors
- H10F30/10—Individual radiation-sensitive semiconductor devices in which radiation controls the flow of current through the devices, e.g. photodetectors the devices being sensitive to infrared radiation, visible or ultraviolet radiation, and having no potential barriers, e.g. photoresistors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F55/00—Radiation-sensitive semiconductor devices covered by groups H10F10/00, H10F19/00 or H10F30/00 being structurally associated with electric light sources and electrically or optically coupled thereto
- H10F55/10—Radiation-sensitive semiconductor devices covered by groups H10F10/00, H10F19/00 or H10F30/00 being structurally associated with electric light sources and electrically or optically coupled thereto wherein the radiation-sensitive semiconductor devices control the electric light source, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices
- H10F55/16—Radiation-sensitive semiconductor devices covered by groups H10F10/00, H10F19/00 or H10F30/00 being structurally associated with electric light sources and electrically or optically coupled thereto wherein the radiation-sensitive semiconductor devices control the electric light source, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices wherein the radiation-sensitive semiconductor devices have no potential barriers
- H10F55/165—Radiation-sensitive semiconductor devices covered by groups H10F10/00, H10F19/00 or H10F30/00 being structurally associated with electric light sources and electrically or optically coupled thereto wherein the radiation-sensitive semiconductor devices control the electric light source, e.g. image converters, image amplifiers or image storage devices wherein the radiation-sensitive semiconductor devices have no potential barriers wherein the electric light source comprises semiconductor devices having potential barriers, e.g. light emitting diodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
- H10F71/121—The active layers comprising only Group IV materials
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
- H10F71/121—The active layers comprising only Group IV materials
- H10F71/1212—The active layers comprising only Group IV materials consisting of germanium
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F71/00—Manufacture or treatment of devices covered by this subclass
- H10F71/127—The active layers comprising only Group III-V materials, e.g. GaAs or InP
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/20—Electrodes
- H10F77/244—Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. transparent conductive oxide [TCO] layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/20—Electrodes
- H10F77/244—Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. transparent conductive oxide [TCO] layers
- H10F77/247—Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. transparent conductive oxide [TCO] layers comprising indium tin oxide [ITO]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10F—INORGANIC SEMICONDUCTOR DEVICES SENSITIVE TO INFRARED RADIATION, LIGHT, ELECTROMAGNETIC RADIATION OF SHORTER WAVELENGTH OR CORPUSCULAR RADIATION
- H10F77/00—Constructional details of devices covered by this subclass
- H10F77/20—Electrodes
- H10F77/244—Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. transparent conductive oxide [TCO] layers
- H10F77/254—Electrodes made of transparent conductive layers, e.g. transparent conductive oxide [TCO] layers comprising a metal, e.g. transparent gold
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/10—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/80—Constructional details
- H10K30/81—Electrodes
- H10K30/82—Transparent electrodes, e.g. indium tin oxide [ITO] electrodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/60—OLEDs integrated with inorganic light-sensitive elements, e.g. with inorganic solar cells or inorganic photodiodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K65/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element and at least one organic radiation-sensitive element, e.g. organic opto-couplers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/20—Carbon compounds, e.g. carbon nanotubes or fullerenes
- H10K85/211—Fullerenes, e.g. C60
- H10K85/215—Fullerenes, e.g. C60 comprising substituents, e.g. PCBM
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/30—Coordination compounds
- H10K85/311—Phthalocyanine
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/30—Coordination compounds
- H10K85/341—Transition metal complexes, e.g. Ru(II)polypyridine complexes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K30/00—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation
- H10K30/10—Organic devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation comprising heterojunctions between organic semiconductors and inorganic semiconductors
- H10K30/15—Sensitised wide-bandgap semiconductor devices, e.g. dye-sensitised TiO2
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K39/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic radiation-sensitive element covered by group H10K30/00
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/14—Carrier transporting layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/631—Amine compounds having at least two aryl rest on at least one amine-nitrogen atom, e.g. triphenylamine
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
- Y02E10/549—Organic PV cells
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Sustainable Development (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Nanotechnology (AREA)
- Light Receiving Elements (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
Abstract
Description
本出願は、2011年6月30日に提出され、その開示が参照により図、表、または図面を含めて全面的にこの出願に含まれている米国仮特許出願第61/503,317号明細書の利益を主張する。
光検知器をガラス基板上に作成した。この光検知器は、ITOの第1電極、第1電極上のZnOのホール・ブロッキング層、ホール・ブロッキング層上のPbS量子ドットの光感知層、光感知層上のTAPC/MoO3スタックの電子ブロッキング/トンネル層、および電子ブロッキング/トンネル層上の第2電極を含んでいる。このPbS量子ドットの光感知層は、図1Aに示した吸光度スペクトルをもっている。この光検知器は、図3Bに示したJ−V特性曲線(暗黒および1240nmにおける0.302W/cm2のIR照射に関する)を示した。また、この光検知器は、印加電圧の関数として、それぞれ図4Aおよび4Bに示した利得および検出能を示した。
Claims (61)
- 赤外(IR)〜可視アップコンバージョン装置において、
有利得光検知器および
前記有利得光検知器と結合される有機発光装置(OLED)を含み、
前記有利得光検知器が、
第1光検知器電極;
前記第1光検知器電極の上の光感知層;
前記光感知層の上の電子ブロッキング/トンネル層;および
前記電子ブロッキング/トンネル層の上の第2光検知器電極
を含むことを特徴とする装置。 - 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記光感知層が0.7μm〜14μm(両端を含む)の範囲の波長をもつ光子を感知することを特徴とする装置。
- 請求項2に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記光感知層が少なくとも0.4μmおよび0.7μm未満の波長をもつ光子を感知しないことを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記光感知層がPbS量子ドットまたはPbSe量子ドットを含むことを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記光感知層がPbS量子ドットを含むことを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記光感知層がPbS量子ドット、PbSe量子ドット、PCTDA、SnPc、SnPc:C60、AlPcCl、AlPcCl:C60、TiOPc、TiOPc:C60、PbSe、PbS、InAs、InGaAs、Si、Ge、およびGaAsにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記第1光検知器電極がインジウム・スズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、アルミニウム・スズ酸化物(ATO)、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、およびCsCO3/ITOにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記第2光検知器電極がインジウム・スズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、アルミニウム・スズ酸化物(ATO)、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、およびCsCO3/ITOにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記第1光検知器電極が陽極であり、かつ、前記第2光検知器電極が陰極であることを特徴とする装置。
- 請求項9に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記第1光検知器電極がインジウム・スズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、アルミニウム・スズ酸化物(ATO)、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、およびCsCO3/ITOにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含み、かつ、前記第2光検知器電極がインジウム・スズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、アルミニウム・スズ酸化物(ATO)、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、およびCsCO3/ITOにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記電子ブロッキング/トンネル層がTAPC/MoO3スタック層であることを特徴とする装置。
- 請求項11に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記TAPC層が前記光感知層と直接接触し、かつ、前記MoO3層が前記第2光検知器電極と直接接触することを特徴とする装置。
- 請求項11に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記TAPC層が100nm以下の厚さをもち、かつ、前記MoO3層が100nm以下の厚さをもつことを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、さらに、前記第1光検知器電極の上、前記光感知層の下にホール・ブロッキング層を含むことを特徴とする装置。
- 請求項14に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記ホール・ブロッキング層がZnO、ナフタリン・テトラカルボン酸無水物(NTCDA)、2,9−ジメチル−4,7−ジフェニルl−1,10−フェナントロリン(BCP)、p−ビス(トリフェニルシリル)ベンゼン(UGH2)、4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリン(BPhen)、トリス−(8−ヒドロキシ・キノリン)アルミニウム(Alq3)、3,5’−N,N’−ジカルバゾールベンゼン(mCP)、C60、トリス[3−(3−ピリジル)−メシチル]ボラン(3TPYMB)、およびTiO2により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、さらに、前記OLEDがOLED電極、ホール輸送層(HTL)、発光層(LEL)、および電子輸送層(ETL)を含むことを特徴とする装置。
- 請求項16に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記OLED電極がITO、IZO、ATO、AZO、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、CsCO3/ITO、およびMg:Ag/Alq3スタック層により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする装置。
- 請求項16に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記HTLがNPD、TAPC、TFB、TPD、およびジアミン誘導体により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする装置。
- 請求項16に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記LELがイリジウム・トリス(2−phenylpyidine)(Ir(ppy)3)、[2−メトキシ−5−(2−エチルヘキシルオキシ)−p−フェニレンビニレン](MEH−PPV)、トリス−(8−キノリンオラート)アルミニウム)(Alq3)およびビス[(4,6−ジ−フルオロフェニル)−ピリジナト−]ピコリネート(Flrpic)により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする装置。
- 請求項16に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記ETLがBCP、Bphen、3TPYMB、およびAlq3により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする装置。
- 請求項16に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記OLED電極がMg:Ag/Alq3スタック層を含み、前記Mg:Ag/Alq3スタック層の前記Mg:Ag層がMg:Ag(10:1)の組成を持ち、前記Mg:Ag層が30nm未満の厚さをもち、かつ、前記Mg:Ag/Alq3スタック層の前記Alq3層が200nm以下の厚さをもつことを特徴とする装置。
- 請求項16に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記電子ブロッキング/トンネル層がTAPC/MoO3スタック層であり、前記TAPC層が前記光感知層と直接接触し、前記MoO3層が第2光検知器電極と直接接触し、かつ、前記光感知層がPbs量子ドットを含むことを特徴とする装置。
- 請求項22に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、さらに、前記第1光検知器電極の上、前記光感知層の下にホール・ブロッキング層を含むことを特徴とする装置。
- 請求項16に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記有利得光検知器が前記OLEDに直接隣接して配置され、かつ、前記OLEDの前記ETLが前記有利得光検知器の前記光感知層に対し前記有利得光検知器の前記電子ブロッキング/トンネル層よりも近い位置を占めるように、前記OLEDが配置されることを特徴とする装置。
- 請求項16に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、さらに、前記有利得光検知器と前記OLED間に相互接続部を含み、前記有利得光検知器の前記電子ブロッキング/トンネル層が前記相互接続部に対して前記光感知層よりも近くに位置を占めるように前記相互接続部が配置され、かつ、前記OLEDの前記HTLが前記相互接続部に対して前記ETLよりも近くに位置を占めるように前記相互接続部が配置されることを特徴とする装置。
- 請求項25に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記相互接続部がホール・ブロッキング層(HBL)および電子ブロッキング層(EBL)を含み、前記相互接続部の前記HBLが第2光検知器電極に隣接して直接接触するように前記相互接続部が配置され、かつ、前記相互接続部の前記EBLが前記OLEDの前記HTLに隣接して直接接触するように前記相互接続部が配置されることを特徴とする装置。
- 請求項26に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記相互接続部の前記HBLの最低空分子軌道(LUMO)が前記相互接続部の前記EBLの最高被占分子軌道(HOMO)から0.5電子ボルト(eV)以内にあることを特徴とする装置。
- 請求項1に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、さらに、前記有利得光検知器と前記OLED間に相互接続部を含み、かつ、前記有利得光検知器の前記電子ブロッキング/トンネル層が前記相互接続部に対して前記光感知層よりも近くに位置するように前記相互接続部が配置されることを特徴とする装置。
- 請求項28に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記相互接続部がホール・ブロッキング層(HBL)および電子ブロッキング層(EBL)を含み、前記相互接続部の前記HBLが第2光検知器電極に隣接してそれに直接接触するように前記相互接続部が配置され、かつ、前記相互接続部の前記EBLが前記OLEDの前記HTLに隣接してそれに直接接触するように前記相互接続部が配置されることを特徴とする装置。
- 請求項29に記載のIR〜可視アップコンバージョン装置において、前記相互接続部の前記HBLの最低空分子軌道(LUMO)が前記相互接続部の前記EBLの最高被占分子軌道(HOMO)から0.5電子ボルト(eV)以内にあることを特徴とする装置。
- IR〜可視アップコンバージョン装置を形成する方法において、
有利得光検知器を形成すること、
OLEDを形成すること、および
前記OLEDを前記有利得光検知器と結合すること、を含み
前記有利得光検知器を形成することは、
第1電極を形成すること、
前記第1電極の上に光感知層を形成すること、
前記光感知層の上に電子ブロッキング/トンネル層を形成すること、および
前記電子ブロッキング/トンネル層の上に第2電極を形成することを含むことを特徴とする方法。 - 請求項31に記載の方法において、前記光感知層が0.7μm〜14μm(両端を含む)の範囲の波長をもつ光子を感知することを特徴とする方法。
- 請求項32に記載の方法において、前記光感知層が少なくとも0.4μmおよび0.7μm未満の波長をもつ光子を感知しないことを特徴とする方法。
- 請求項31に記載の方法において、前記光感知層がPbS量子ドットまたはPbSe量子ドットを含むことを特徴とする方法。
- 請求項31に記載の方法において、前記光感知層がPbS量子ドットを含むことを特徴とする方法。
- 請求項31に記載の方法において、前記光感知層がPbS量子ドット、PbSe量子ドット、PCTDA、SnPc、SnPc:C60、AlPcCl、AlPcCl:C60、TiOPc、TiOPc:C60、PbSe、PbS、InAs、InGaAs、Si、Ge、およびGaAsにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする方法。
- 請求項31に記載の方法において、前記第1光検知器電極がインジウム・スズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、アルミニウム・スズ酸化物(ATO)、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、およびCsCO3/ITOにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする方法。
- 請求項31に記載の方法において、前記第2光検知器電極がインジウム・スズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、アルミニウム・スズ酸化物(ATO)、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、およびCsCO3/ITOにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする方法。
- 請求項31に記載の方法において、前記第1光検知器電極が陽極であり、かつ、前記第2光検知器電極が陰極であることを特徴とする方法。
- 請求項39に記載の方法において、前記第1光検知器電極がインジウム・スズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、アルミニウム・スズ酸化物(ATO)、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、およびCsCO3/ITOにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含み、かつ、前記第2光検知器電極がインジウム・スズ酸化物(ITO)、インジウム亜鉛酸化物(IZO)、アルミニウム・スズ酸化物(ATO)、アルミニウム亜鉛酸化物(AZO)、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、およびCsCO3/ITOにより構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする方法。
- 請求項31に記載の方法において、前記電子ブロッキング/トンネル層を形成することがTAPC/MoO3スタック層を形成することを含むことを特徴とする方法。
- 請求項41に記載の方法において、前記TAPC層が前記光感知層と直接接触するように形成され、かつ、前記第2光検知器電極が前記MoO3層と直接接触することを特徴とする方法。
- 請求項41に記載の方法において、前記TAPC層が100nm以下の厚さをもち、かつ、前記MoO3層が100nm以下の厚さをもつことを特徴とする方法。
- 請求項31に記載の方法において、さらに、前記第1光検知器電極の上、前記光感知層の下にホール・ブロッキング層を形成することを含むことを特徴とする方法。
- 請求項44に記載の方法において、前記ホール・ブロッキング層がZnO、ナフタリン・テトラカルボン酸無水物(NTCDA)、2,9−ジメチル−4,7−ジフェニルl−1,10−フェナントロリン(BCP)、p−ビス(トリフェニルシリル)ベンゼン(UGH2)、4,7−ジフェニル−1,10−フェナントロリン(BPhen)、トリス−(8−ヒドロキシ・キノリン)アルミニウム(Alq3)、3,5’−N,N’−ジカルバゾールベンゼン(mCP)、C60、トリス[3−(3−ピリジル)−メシチル]ボラン(3TPYMB)、およびTiO2により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする方法。
- 請求項31に記載の方法において、さらに、前記OLEDを形成することがOLED電極を形成すること、ホール輸送層(HTL)を形成すること、発光層(LEL)を形成すること、および電子輸送層(ETL)を形成することを含むことを特徴とする方法。
- 請求項46に記載の方法において、前記OLED電極がITO、IZO、ATO、AZO、銀、カルシウム、マグネシウム、金、アルミニウム、カーボン・ナノチューブ、銀ナノワイヤ、LiF/Al/ITO、Ag/ITO、CsCO3/ITO、およびMg:Ag/Alq3スタック層により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする方法。
- 請求項46に記載の方法において、前記HTLがNPD、TAPC、TFB、TPD、およびジアミン誘導体により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする方法。
- 請求項46に記載の方法において、前記LELがイリジウム・トリス(2−phenylpyidine)(Ir(ppy)3)、[2−メトキシ−5−(2−エチルヘキシルオキシ)−p−フェニレンビニレン](MEH−PPV)、トリス−(8−キノリンオラート)アルミニウム)(Alq3)およびビス[(4,6−ジ−フルオロフェニル)−ピリジナト−]ピコリネート(Flrpic)により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする方法。
- 請求項46に記載の方法において、前記ETLがBCP、Bphen、3TPYMB、およびAlq3により構成されるグループから選択される少なくとも1つの材料を含むことを特徴とする方法。
- 請求項46に記載の方法において、前記OLED電極を形成することがMg:Ag/Alq3スタック層を形成することを含み、前記Mg:Ag/Alq3スタック層の前記Mg:Ag層がMg:Ag(10:1)の組成を持ち、前記Mg:Ag層が30nm未満の厚さをもち、かつ、前記Mg:Ag/Alq3スタック層の前記Alq3層が200nm以下の厚さをもつことを特徴とする方法。
- 請求項46に記載の方法において、前記電子ブロッキング/トンネル層を形成することがTAPC/MoO3スタック層を形成することを含み、前記TAPC層が前記光感知層と直接接触するように形成され、前記第2光検知器電極が前記MoO3層と直接接触するように形成され、かつ、前記光感知層がPbs量子ドットを含むことを特徴とする方法。
- 請求項52に記載の方法において、さらに、前記第1光検知器電極の上、前記光感知層の下にホール・ブロッキング層を形成することを含むことを特徴とする方法。
- 請求項46に記載の方法において、前記有利得光検知器が前記OLEDに直接隣接して配置され、かつ、前記OLEDの前記ETLが前記有利得光検知器の前記光感知層に対し前記有利得光検知器の前記電子ブロッキング/トンネル層よりも近くに位置するように前記OLEDが配置されることを特徴とする方法。
- 請求項42に記載の方法において、
前記OLEDを前記有利得光検知器に結合することが、
相互接続部を形成すること、
前記OLEDを前記相互接続部と結合すること、および
前記有利得光検知器を前記相互接続部と結合すること、を含み
前記相互接続部は、前記有利得光検知器の前記電子ブロッキング/トンネル層が前記相互接続部に対して前記光感知層よりも近くに位置するように配置され、かつ、前記相互接続部は、前記OLEDの前記HTLが前記相互接続部に対してETLよりも近くに位置するように配置されることを特徴とする方法。 - 請求項55に記載の方法において、
前記相互接続部を形成することが、
ホール・ブロッキング層(HBL)を形成すること、および
電子ブロッキング層(EBL)を形成すること、を含み
前記相互接続部は、前記相互接続部の前記HBLが前記第2光検知器電極と隣接してそれと直接接触するように配置され、かつ、前記相互接続部は、前記相互接続部のEBLが前記OLEDの前記HTLと隣接してそれと直接接触するように配置されることを特徴とする方法。 - 請求項56に記載の方法において、前記相互接続部の前記HBLの最低空分子軌道(LUMO)が前記相互接続部の前記EBLの最高被占分子軌道(HOMO)から0.5電子ボルト(eV)以内にあることを特徴とする方法。
- 請求項27に記載の方法において、
前記OLEDを前記有利得光検知器と結合することが、
相互接続部を形成すること、
前記OLEDを前記相互接続部と結合すること、および
前記有利得光検知器を前記相互接続部と結合すること、を含み
前記相互接続部は、前記有利得光検知器の前記電子ブロッキング/トンネル層が前記相互接続部に対し前記光感知層よりも近くに位置するように配置されることを特徴とする方法。 - 請求項58に記載の方法において、
前記相互接続部を形成することが、
ホール・ブロッキング層(HBL)を形成すること、および
電子ブロッキング層(EBL)を形成すること、を含み
前記相互接続部は、前記相互接続部の前記HBLが第2光検知器電極と隣接して直接接触するように配置され、
前記相互接続部は、前記相互接続部の前記EBLが前記OLEDの前記HTLと隣接して直接接触するように配置されることを特徴とする方法。 - 請求項59に記載の方法において、前記相互接続部の前記HBLの最低空分子軌道(LUMO)が前記相互接続部の前記EBLの最高被占分子軌道(HOMO)から0.5電子ボルト(eV)以内にあることを特徴とする方法。
- IR〜可視アップコンバージョン装置を使用してIR照射を可視照射にアップコンバージョンする方法において、
IR照射が入射するように前記IR〜可視アップコンバージョン装置を設けることを含み、
前記IR〜可視アップコンバージョン装置は、
有利得光検知器、および
前記有利得光検知器と結合される有機発光装置(OLED)を含み、
前記有利得光検知器は、
第1光検知器電極、
前記第1光検知器電極の上のIR光感知層、
前記光感知層の上の電子ブロッキング/トンネル層、および
前記電子ブロッキング/トンネル層の上の第2光検知器電極
を含むことを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US201161503317P | 2011-06-30 | 2011-06-30 | |
| US61/503,317 | 2011-06-30 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014519228A Division JP6502093B2 (ja) | 2011-06-30 | 2012-07-02 | 利得を伴って赤外線放射を検出する方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2017175149A true JP2017175149A (ja) | 2017-09-28 |
| JP6513733B2 JP6513733B2 (ja) | 2019-05-15 |
Family
ID=47424832
Family Applications (2)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014519228A Expired - Fee Related JP6502093B2 (ja) | 2011-06-30 | 2012-07-02 | 利得を伴って赤外線放射を検出する方法および装置 |
| JP2017093969A Expired - Fee Related JP6513733B2 (ja) | 2011-06-30 | 2017-05-10 | 利得を伴って赤外線放射を検出する方法および装置 |
Family Applications Before (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2014519228A Expired - Fee Related JP6502093B2 (ja) | 2011-06-30 | 2012-07-02 | 利得を伴って赤外線放射を検出する方法および装置 |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (2) | US10134815B2 (ja) |
| EP (1) | EP2727154B1 (ja) |
| JP (2) | JP6502093B2 (ja) |
| KR (1) | KR102059208B1 (ja) |
| CN (1) | CN103733355B (ja) |
| AU (1) | AU2012275060A1 (ja) |
| BR (1) | BR112013033122A2 (ja) |
| CA (1) | CA2840498A1 (ja) |
| MX (1) | MX2013015214A (ja) |
| RU (1) | RU2014102650A (ja) |
| WO (1) | WO2013003850A2 (ja) |
Families Citing this family (39)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101513406B1 (ko) | 2006-09-29 | 2015-04-17 | 유니버시티 오브 플로리다 리서치 파운데이션, 인크. | 적외선 감지 및 표시를 위한 방법 및 장치 |
| US8498695B2 (en) | 2006-12-22 | 2013-07-30 | Novadaq Technologies Inc. | Imaging system with a single color image sensor for simultaneous fluorescence and color video endoscopy |
| US9054262B2 (en) | 2009-09-29 | 2015-06-09 | Research Triangle Institute | Integrated optical upconversion devices and related methods |
| US9349970B2 (en) | 2009-09-29 | 2016-05-24 | Research Triangle Institute | Quantum dot-fullerene junction based photodetectors |
| AU2011258475A1 (en) | 2010-05-24 | 2012-11-15 | Nanoholdings, Llc | Method and apparatus for providing a charge blocking layer on an infrared up-conversion device |
| CN103733355B (zh) | 2011-06-30 | 2017-02-08 | 佛罗里达大学研究基金会有限公司 | 用于检测红外辐射的带有增益的方法和设备 |
| JP6147860B2 (ja) | 2012-09-27 | 2017-06-14 | ロディア オペレーションズRhodia Operations | 銀ナノ構造を作製するための方法及び同方法に有用なコポリマー |
| JP2016513361A (ja) * | 2013-01-25 | 2016-05-12 | ユニバーシティー オブ フロリダ リサーチ ファウンデーション,インコーポレイテッドUniversity Of Florida Research Foundation,Inc. | 溶液処理法による硫化鉛光検出器を用いた新規の赤外線画像センサー |
| RU2523097C1 (ru) * | 2013-02-26 | 2014-07-20 | Гариф Газизович Акчурин | Сверхширокополосный вакуумный туннельный фотодиод для детектирования ультрафиолетового, видимого и инфракрасного оптического излучения и способ для его реализации |
| US20160254101A1 (en) * | 2013-04-12 | 2016-09-01 | Stephen R. Forrest | Organic photosensitive devices with exciton-blocking charge carrier filters |
| CN103399058B (zh) * | 2013-08-22 | 2015-01-21 | 武汉大学 | 一种高灵敏富勒烯光电化学探针及其制备方法 |
| JP2015195333A (ja) * | 2014-03-19 | 2015-11-05 | 株式会社東芝 | 有機光電変換素子および撮像装置 |
| WO2015193875A1 (en) * | 2014-06-16 | 2015-12-23 | B. G. Negev Technologies And Applications Ltd., At Ben-Gurion University | Swir to visible image up-conversion integrated device |
| CA2988784A1 (en) | 2015-06-11 | 2017-03-09 | University Of Florida Research Foundation, Incorporated | Monodisperse, ir-absorbing nanoparticles and related methods and devices |
| WO2017006520A1 (ja) * | 2015-07-08 | 2017-01-12 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | 撮像装置 |
| EP4442222A3 (en) | 2015-11-13 | 2024-12-18 | Stryker Corporation | Systems and methods for illumination and imaging of a target |
| WO2017127929A1 (en) * | 2016-01-26 | 2017-08-03 | Novadaq Technologies Inc. | Configurable platform |
| US11127909B2 (en) | 2016-03-24 | 2021-09-21 | Sony Corporation | Photoelectric conversion element, measuring method of the same, solid-state imaging device, electronic device, and solar cell |
| US10869645B2 (en) | 2016-06-14 | 2020-12-22 | Stryker European Operations Limited | Methods and systems for adaptive imaging for low light signal enhancement in medical visualization |
| US10090466B2 (en) | 2016-07-21 | 2018-10-02 | Massachusetts Institute Of Technology | Far-infrared detection using Weyl semimetals |
| CA3298593A1 (en) | 2016-12-02 | 2026-03-02 | The Research Foundation For The State University Of New York | Fabrication method for fused multi-layer amorphous selenium sensor |
| FR3059829B1 (fr) * | 2016-12-05 | 2019-05-31 | Commissariat A L'energie Atomique Et Aux Energies Alternatives | Photodetecteur infrarouge |
| KR101930879B1 (ko) * | 2016-12-14 | 2018-12-19 | 실리콘 디스플레이 (주) | 적외선 이미지 센서 |
| TWI615611B (zh) * | 2016-12-20 | 2018-02-21 | 氣體偵測器 | |
| CA3049922A1 (en) | 2017-02-10 | 2018-08-16 | Novadaq Technologies ULC | Open-field handheld fluorescence imaging systems and methods |
| CN109713008A (zh) * | 2017-10-26 | 2019-05-03 | 苏州大学 | 一种近红外-可见光上转换器件及其制备方法 |
| CN108831905B (zh) * | 2018-05-28 | 2021-07-09 | 东南大学 | 一种基于半导体量子点的红外探测-可见光显示集成系统、制备方法及成像方法 |
| CN109037372B (zh) * | 2018-07-20 | 2019-12-24 | 大连民族大学 | 一种基于氧化钼微米带/p型Si的多波段光响应器件及其制备方法 |
| CN109728122B (zh) * | 2019-01-03 | 2020-11-20 | 吉林大学 | 一种基于FTO/TiO2/MoO3异质结的紫外探测器及其制备方法 |
| CN110265561A (zh) * | 2019-06-17 | 2019-09-20 | 深圳扑浪创新科技有限公司 | 一种纯量子点上转换发光器件及其制备方法 |
| CN110400862B (zh) * | 2019-07-29 | 2021-04-02 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 一种红外热辐射光源及红外传感器 |
| TWI877301B (zh) * | 2020-02-13 | 2025-03-21 | 日商富士軟片股份有限公司 | 光檢測元件及影像感測器 |
| CN111628093B (zh) * | 2020-05-13 | 2021-06-29 | 电子科技大学 | 一种高效率有机上转换器件 |
| JP7492858B2 (ja) * | 2020-05-15 | 2024-05-30 | シャープ株式会社 | 画像形成装置 |
| CN116412910A (zh) * | 2023-02-02 | 2023-07-11 | 爱思菲尔光学科技(苏州)有限公司 | 一种基于热载流子的多光谱传感器、芯片及其制备方法 |
| KR102853639B1 (ko) * | 2024-01-04 | 2025-09-01 | 성균관대학교산학협력단 | 콜로이드 양자점 기반 광증폭 광전소자 및 이를 이용한 적외선 광검출기 |
| TWI886778B (zh) * | 2024-01-30 | 2025-06-11 | 國立清華大學 | 紅外光感測器 |
| CN118039713B (zh) * | 2024-04-09 | 2024-08-02 | 中山大学 | 一种基于Sn掺杂PbSe量子点的中红外焦平面探测器制备方法 |
| CN119677300A (zh) * | 2024-12-17 | 2025-03-21 | 智感光芯(深圳)科技有限公司 | 一种全蒸镀制备的倍增型有机光谱探测芯片 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6412583A (en) * | 1987-07-07 | 1989-01-17 | Toshiba Corp | Photodetector |
| JP2000349365A (ja) * | 1999-06-07 | 2000-12-15 | Futaba Corp | 光電流増倍素子 |
| JP2010506386A (ja) * | 2006-09-29 | 2010-02-25 | ユニバーシティ オブ フロリダ リサーチ ファンデーション インコーポレーティッド | 赤外線検出および表示のための方法および装置 |
| JP2011098948A (ja) * | 2009-06-25 | 2011-05-19 | Yamagata Promotional Organization For Industrial Technology | ビピリジン誘導体及びそれを含む有機エレクトロルミネッセンス素子 |
| WO2011066396A2 (en) * | 2009-11-24 | 2011-06-03 | University Of Florida Research Foundation, Inc. | Method and apparatus for sensing infrared radiation |
Family Cites Families (209)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57139976A (en) | 1981-02-23 | 1982-08-30 | Omron Tateisi Electronics Co | Light emitting/receiving device |
| JPS58215081A (ja) | 1982-06-08 | 1983-12-14 | Mitsui Toatsu Chem Inc | アモルフアスシリコン太陽電池 |
| DE3379441D1 (en) | 1982-09-23 | 1989-04-20 | Secr Defence Brit | Infrared detectors |
| JPS6030163A (ja) | 1983-07-28 | 1985-02-15 | Fuji Electric Corp Res & Dev Ltd | 薄膜太陽電池モジユ−ル |
| JPS61149831A (ja) | 1984-12-24 | 1986-07-08 | Matsushita Electric Works Ltd | 赤外線検知装置 |
| US4778692A (en) | 1985-02-20 | 1988-10-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Process for forming deposited film |
| EP0219711A1 (de) | 1985-10-08 | 1987-04-29 | Heimann GmbH | Infrarotdetektor |
| JPH0797657B2 (ja) | 1986-10-01 | 1995-10-18 | 株式会社小松製作所 | 光メモリ |
| US4885211A (en) | 1987-02-11 | 1989-12-05 | Eastman Kodak Company | Electroluminescent device with improved cathode |
| JPH0216421A (ja) | 1988-07-04 | 1990-01-19 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光検出器 |
| JP2717583B2 (ja) | 1988-11-04 | 1998-02-18 | キヤノン株式会社 | 積層型光起電力素子 |
| JPH0379693A (ja) | 1989-04-28 | 1991-04-04 | Quantex Corp | 光学的アップコンバーションのための高性能光ルミネセント材料及びそれを作る方法 |
| US5122905A (en) | 1989-06-20 | 1992-06-16 | The Dow Chemical Company | Relective polymeric body |
| US5121398A (en) | 1989-09-26 | 1992-06-09 | Excel Technology, Inc. | Broadly tunable, high repetition rate solid state lasers and uses thereof |
| US5315129A (en) | 1990-08-20 | 1994-05-24 | University Of Southern California | Organic optoelectronic devices and methods |
| JPH087096B2 (ja) | 1990-11-30 | 1996-01-29 | 防衛庁技術研究本部長 | 赤外検知装置 |
| AU1366992A (en) | 1991-01-16 | 1992-08-27 | Cancer Institute, The | Inherited and somatic mutations of apc gene in colorectal cancer of humans |
| SE468188B (sv) | 1991-04-08 | 1992-11-16 | Stiftelsen Inst Foer Mikroelek | Metod foer inkoppling av straalning i en infraroeddetektor, jaemte anordning |
| US5270092A (en) | 1991-08-08 | 1993-12-14 | The Regents, University Of California | Gas filled panel insulation |
| JPH05186702A (ja) | 1992-01-13 | 1993-07-27 | Fuji Xerox Co Ltd | ジハロゲン化スズフタロシアニンとハロゲン化ガリウムフタロシアニンとの混合結晶およびそれを用いた電子写真感光体 |
| JPH06326350A (ja) | 1993-05-12 | 1994-11-25 | Nichia Chem Ind Ltd | 赤外可視変換素子 |
| JP3405608B2 (ja) | 1993-09-17 | 2003-05-12 | 株式会社東芝 | 有機el素子 |
| JPH07122762A (ja) | 1993-10-22 | 1995-05-12 | Asahi Chem Ind Co Ltd | 薄膜光起電力装置 |
| US5389788A (en) | 1993-12-13 | 1995-02-14 | Hughes Aircraft Company | Infrared transducer and goggles incorporating the same |
| JPH07271067A (ja) * | 1994-03-30 | 1995-10-20 | Mita Ind Co Ltd | 積層型電子写真感光体 |
| JPH087096A (ja) | 1994-06-20 | 1996-01-12 | Fujitsu General Ltd | 動画認識システム |
| FR2729757A1 (fr) | 1995-01-20 | 1996-07-26 | Sofradir | Dispositif de detection d'ondes electromagnetiques, et notamment de rayonnements infra-rouges |
| US5710428A (en) | 1995-08-10 | 1998-01-20 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Infrared focal plane array detecting apparatus having light emitting devices and infrared camera adopting the same |
| US5811834A (en) | 1996-01-29 | 1998-09-22 | Toyo Ink Manufacturing Co., Ltd. | Light-emitting material for organo-electroluminescence device and organo-electroluminescence device for which the light-emitting material is adapted |
| JPH1065200A (ja) | 1996-08-15 | 1998-03-06 | Yokogawa Electric Corp | 赤外受光素子 |
| US6211529B1 (en) | 1996-08-27 | 2001-04-03 | California Institute Of Technology | Infrared radiation-detecting device |
| US5853497A (en) | 1996-12-12 | 1998-12-29 | Hughes Electronics Corporation | High efficiency multi-junction solar cells |
| JPH10242493A (ja) | 1997-02-28 | 1998-09-11 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 太陽電池 |
| US6337492B1 (en) | 1997-07-11 | 2002-01-08 | Emagin Corporation | Serially-connected organic light emitting diode stack having conductors sandwiching each light emitting layer |
| US6441395B1 (en) | 1998-02-02 | 2002-08-27 | Uniax Corporation | Column-row addressable electric microswitch arrays and sensor matrices employing them |
| US5965875A (en) | 1998-04-24 | 1999-10-12 | Foveon, Inc. | Color separation in an active pixel cell imaging array using a triple-well structure |
| JPH11329736A (ja) | 1998-05-20 | 1999-11-30 | Futaba Corp | 光変調鏡 |
| EP2295238A1 (en) | 1998-08-19 | 2011-03-16 | The Trustees Of Princeton University | Organic photosensitive optoelectronic device |
| US6140646A (en) | 1998-12-17 | 2000-10-31 | Sarnoff Corporation | Direct view infrared MEMS structure |
| JP2000277265A (ja) | 1999-03-25 | 2000-10-06 | Agency Of Ind Science & Technol | 有機空間光変調素子 |
| JP2001006876A (ja) | 1999-06-25 | 2001-01-12 | Futaba Corp | 光−光変換素子 |
| JP4107354B2 (ja) | 1999-07-15 | 2008-06-25 | 独立行政法人科学技術振興機構 | ミリ波・遠赤外光検出器 |
| US6512385B1 (en) | 1999-07-26 | 2003-01-28 | Paul Pfaff | Method for testing a device under test including the interference of two beams |
| JP3950594B2 (ja) | 1999-09-03 | 2007-08-01 | ローム株式会社 | 表示装置 |
| US6509574B2 (en) | 1999-12-02 | 2003-01-21 | Texas Instruments Incorporated | Optocouplers having integrated organic light-emitting diodes |
| US20020066904A1 (en) | 1999-12-03 | 2002-06-06 | Han-Tzong Yuan | Solid-state relay having integrated organic light-emitting diodes |
| AUPQ897600A0 (en) | 2000-07-25 | 2000-08-17 | Liddiard, Kevin | Active or self-biasing micro-bolometer infrared detector |
| US6579629B1 (en) | 2000-08-11 | 2003-06-17 | Eastman Kodak Company | Cathode layer in organic light-emitting diode devices |
| GB0024804D0 (en) | 2000-10-10 | 2000-11-22 | Microemissive Displays Ltd | An optoelectronic device |
| US6828045B1 (en) | 2003-06-13 | 2004-12-07 | Idemitsu Kosan Co., Ltd. | Organic electroluminescence element and production method thereof |
| DE10101995A1 (de) | 2001-01-18 | 2002-07-25 | Philips Corp Intellectual Pty | Schaltungsanordnung und Verfahren zum Schützen mindestens einer Chipanordnung vor Manipulation und/oder vor Mißbrauch |
| JP2002340668A (ja) | 2001-05-18 | 2002-11-27 | Denso Corp | サーモパイル式赤外線センサおよびその検査方法 |
| WO2002099896A1 (en) | 2001-06-05 | 2002-12-12 | State University Of New York | Infrared radiation imager |
| JP2003083809A (ja) | 2001-09-10 | 2003-03-19 | Hamamatsu Photonics Kk | 赤外可視変換部材及び赤外線検出装置。 |
| US20030052365A1 (en) | 2001-09-18 | 2003-03-20 | Samir Chaudhry | Structure and fabrication method for capacitors integratible with vertical replacement gate transistors |
| US7348946B2 (en) | 2001-12-31 | 2008-03-25 | Intel Corporation | Energy sensing light emitting diode display |
| US7436038B2 (en) | 2002-02-05 | 2008-10-14 | E-Phocus, Inc | Visible/near infrared image sensor array |
| US7378124B2 (en) | 2002-03-01 | 2008-05-27 | John James Daniels | Organic and inorganic light active devices and methods for making the same |
| JP3933591B2 (ja) | 2002-03-26 | 2007-06-20 | 淳二 城戸 | 有機エレクトロルミネッセント素子 |
| US6951694B2 (en) | 2002-03-29 | 2005-10-04 | The University Of Southern California | Organic light emitting devices with electron blocking layers |
| US7700200B2 (en) | 2002-03-29 | 2010-04-20 | Massachusetts Institute Of Technology | Light emitting device including semiconductor nanocrystals |
| EP1367659B1 (en) | 2002-05-21 | 2012-09-05 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Organic field effect transistor |
| TWI272874B (en) | 2002-08-09 | 2007-02-01 | Semiconductor Energy Lab | Organic electroluminescent device |
| US20040031965A1 (en) * | 2002-08-16 | 2004-02-19 | Forrest Stephen R. | Organic photonic integrated circuit using an organic photodetector and a transparent organic light emitting device |
| US20050126628A1 (en) | 2002-09-05 | 2005-06-16 | Nanosys, Inc. | Nanostructure and nanocomposite based compositions and photovoltaic devices |
| US7119359B2 (en) | 2002-12-05 | 2006-10-10 | Research Foundation Of The City University Of New York | Photodetectors and optically pumped emitters based on III-nitride multiple-quantum-well structures |
| US7052351B2 (en) | 2002-12-31 | 2006-05-30 | Eastman Kodak Company | Using hole- or electron-blocking layers in color OLEDS |
| JP2003178887A (ja) | 2003-01-06 | 2003-06-27 | Canon Inc | 電界発光素子用電極材料の選択方法 |
| EP1447860A1 (en) | 2003-02-17 | 2004-08-18 | Rijksuniversiteit Groningen | Organic material photodiode |
| US6869699B2 (en) | 2003-03-18 | 2005-03-22 | Eastman Kodak Company | P-type materials and mixtures for electronic devices |
| WO2004095144A1 (ja) | 2003-04-24 | 2004-11-04 | Sharp Kabushiki Kaisha | 電子写真感光体、電子写真画像形成方法および電子写真装置 |
| US20040222306A1 (en) | 2003-05-08 | 2004-11-11 | Anthony Fajarillo | Methods, systems and apparatus for displaying bonsai trees |
| US6914315B2 (en) | 2003-05-28 | 2005-07-05 | Vtera Technology Inc. | GaN-based heterostructure photodiode |
| WO2005001900A2 (en) | 2003-06-12 | 2005-01-06 | Sirica Corporation | Steady-state-non-equilibrium distribution of free carriers and photon energy up-conversion using same |
| US7053412B2 (en) | 2003-06-27 | 2006-05-30 | The Trustees Of Princeton University And Universal Display Corporation | Grey scale bistable display |
| US7148463B2 (en) * | 2003-07-16 | 2006-12-12 | Triquint Semiconductor, Inc. | Increased responsivity photodetector |
| US6906326B2 (en) | 2003-07-25 | 2005-06-14 | Bae Systems Information And Elecronic Systems Integration Inc. | Quantum dot infrared photodetector focal plane array |
| US7381953B1 (en) | 2003-07-25 | 2008-06-03 | Public Service Solutions, Inc. | Infrared imaging device |
| US20050077539A1 (en) | 2003-08-18 | 2005-04-14 | Jan Lipson | Semiconductor avalanche photodetector with vacuum or gaseous gap electron acceleration region |
| EP1513171A1 (en) | 2003-09-05 | 2005-03-09 | Sony International (Europe) GmbH | Tandem dye-sensitised solar cell and method of its production |
| US6881502B2 (en) | 2003-09-24 | 2005-04-19 | Eastman Kodak Company | Blue organic electroluminescent devices having a non-hole-blocking layer |
| US8884845B2 (en) | 2003-10-28 | 2014-11-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Display device and telecommunication system |
| US20080138797A1 (en) | 2003-11-13 | 2008-06-12 | Hunt William D | Detection Systems and Methods |
| US6972431B2 (en) | 2003-11-26 | 2005-12-06 | Trustees Of Princeton University | Multilayer organic photodetectors with improved performance |
| US7125635B2 (en) | 2003-12-23 | 2006-10-24 | Xerox Corporation | Imaging members |
| CN100477289C (zh) | 2004-01-20 | 2009-04-08 | 瑟雷姆技术公司 | 具有外延生长量子点材料的太阳能电池 |
| US6943425B2 (en) | 2004-01-23 | 2005-09-13 | Intevac, Inc. | Wavelength extension for backthinned silicon image arrays |
| GB0401578D0 (en) | 2004-01-24 | 2004-02-25 | Koninkl Philips Electronics Nv | Phototransistor |
| US7151339B2 (en) | 2004-01-30 | 2006-12-19 | Universal Display Corporation | OLED efficiency by utilization of different doping concentrations within the device emissive layer |
| JP2005266537A (ja) | 2004-03-19 | 2005-09-29 | Stanley Electric Co Ltd | 赤外線透過フィルタ及び該赤外線透過フィルタを具備する赤外線投光器 |
| JP2005277113A (ja) | 2004-03-25 | 2005-10-06 | Sanyo Electric Co Ltd | 積層型太陽電池モジュール |
| US20050228277A1 (en) | 2004-04-05 | 2005-10-13 | Siemens Medical Solutions Usa, Inc. | System and method for 2D partial beamforming arrays with configurable sub-array elements |
| US7773139B2 (en) | 2004-04-16 | 2010-08-10 | Apple Inc. | Image sensor with photosensitive thin film transistors |
| US7773404B2 (en) | 2005-01-07 | 2010-08-10 | Invisage Technologies, Inc. | Quantum dot optical devices with enhanced gain and sensitivity and methods of making same |
| US7326908B2 (en) | 2004-04-19 | 2008-02-05 | Edward Sargent | Optically-regulated optical emission using colloidal quantum dot nanocrystals |
| JP2006013103A (ja) | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Sony Corp | 有機電界発光素子 |
| US20060014044A1 (en) | 2004-07-14 | 2006-01-19 | Au Optronics Corporation | Organic light-emitting display with multiple light-emitting modules |
| US7300731B2 (en) | 2004-08-10 | 2007-11-27 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Spatially-doped charge transport layers |
| KR20060018583A (ko) | 2004-08-25 | 2006-03-02 | 삼성전자주식회사 | 반도체 나노결정을 함유하는 백색 발광 유·무기하이브리드 전기 발광 소자 |
| US8026510B2 (en) | 2004-10-20 | 2011-09-27 | Dai Nippon Printing Co., Ltd. | Organic electronic device and method for producing the same |
| JP2006128437A (ja) | 2004-10-29 | 2006-05-18 | Sony Corp | 有機電界発光素子および表示装置 |
| KR100678291B1 (ko) | 2004-11-11 | 2007-02-02 | 삼성전자주식회사 | 나노입자를 이용한 수광소자 |
| US7402831B2 (en) | 2004-12-09 | 2008-07-22 | 3M Innovative Properties Company | Adapting short-wavelength LED's for polychromatic, broadband, or “white” emission |
| US7279705B2 (en) | 2005-01-14 | 2007-10-09 | Au Optronics Corp. | Organic light-emitting device |
| TWI278252B (en) | 2005-04-04 | 2007-04-01 | Au Optronics Corp | Organic light-emitting display device |
| US20060157806A1 (en) | 2005-01-18 | 2006-07-20 | Omnivision Technologies, Inc. | Multilayered semiconductor susbtrate and image sensor formed thereon for improved infrared response |
| US7811479B2 (en) | 2005-02-07 | 2010-10-12 | The Trustees Of The University Of Pennsylvania | Polymer-nanocrystal quantum dot composites and optoelectronic devices |
| US8115093B2 (en) | 2005-02-15 | 2012-02-14 | General Electric Company | Layer-to-layer interconnects for photoelectric devices and methods of fabricating the same |
| KR100624307B1 (ko) | 2005-02-23 | 2006-09-19 | 제일모직주식회사 | 표시장치용 저반사율의 휘도 향상 다층 광학필름 및 이를이용한 유기발광다이오드 표시장치 |
| JP4839632B2 (ja) | 2005-02-25 | 2011-12-21 | ソニー株式会社 | 撮像装置 |
| US7208738B2 (en) | 2005-02-28 | 2007-04-24 | Sundar Natarajan Yoganandan | Light source utilizing an infrared sensor to maintain brightness and color of an LED device |
| US8237048B2 (en) | 2005-03-04 | 2012-08-07 | Panasonic Corporation | Multilayer organic solar cell |
| JP4567495B2 (ja) | 2005-03-11 | 2010-10-20 | 株式会社リコー | 光波長変換素子 |
| TWI305431B (en) | 2005-04-06 | 2009-01-11 | Au Optronics Corp | Organic light emitting diode display |
| ES2297972A1 (es) | 2005-05-30 | 2008-05-01 | Universidad Politecnica De Madrid | Fotodetector de infrarrojos de banda intermedia y puntos cuanticos. |
| US20090084436A1 (en) | 2005-06-02 | 2009-04-02 | The Regents Of The University Of California | Effective organic solar cells based on triplet materials |
| WO2006132128A1 (ja) | 2005-06-06 | 2006-12-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | 正孔注入輸送層用塗液、正孔注入輸送層の製造方法、有機エレクトロルミネセンス素子、及び、その製造方法 |
| US7696682B2 (en) | 2005-06-27 | 2010-04-13 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Organic light emitting device using Mg—Ag thin film and manufacturing method thereof |
| US7247850B2 (en) | 2005-08-05 | 2007-07-24 | Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By The Minister Of National Defence Of Her Majesty's Canadian Government | Infrared imager |
| WO2007017475A1 (de) | 2005-08-08 | 2007-02-15 | Siemens Aktiengesellschaft | Organischer photodetektor mit erhöhter empfindlichkeit, sowie verwendung eines triarylmin-fluoren-polymers als zwischenschicht in einem photodetektor |
| DE102005037290A1 (de) | 2005-08-08 | 2007-02-22 | Siemens Ag | Flachbilddetektor |
| KR100720100B1 (ko) | 2005-08-23 | 2007-05-18 | 한양대학교 산학협력단 | 다중 이종 헤테로 구조의 정공속박층을 가지는유기발광소자 및 그 제조방법 |
| CN101283454B (zh) | 2005-08-25 | 2011-02-23 | 爱德华·萨金特 | 具有增强的增益和灵敏度的量子点光学器件 |
| CN100424897C (zh) | 2005-09-28 | 2008-10-08 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 氮化镓基红外-可见波长转换探测器 |
| KR100691567B1 (ko) | 2005-10-18 | 2007-03-09 | 신코엠 주식회사 | 유기 전계 발광다이오드 디스플레이 패널의 구동회로 및이를 이용한 디스차아지 방법 |
| US7947897B2 (en) * | 2005-11-02 | 2011-05-24 | The Trustees Of Princeton University | Organic photovoltaic cells utilizing ultrathin sensitizing layer |
| US8013240B2 (en) * | 2005-11-02 | 2011-09-06 | The Trustees Of Princeton University | Organic photovoltaic cells utilizing ultrathin sensitizing layer |
| US8021763B2 (en) | 2005-11-23 | 2011-09-20 | The Trustees Of Princeton University | Phosphorescent OLED with interlayer |
| KR101502317B1 (ko) | 2005-12-05 | 2015-03-13 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 유기금속 착체, 및 이를 사용하는 발광 소자, 발광 장치 및 전자 기기 |
| US7414294B2 (en) | 2005-12-16 | 2008-08-19 | The Trustees Of Princeton University | Intermediate-band photosensitive device with quantum dots having tunneling barrier embedded in organic matrix |
| DE602006001930D1 (de) | 2005-12-23 | 2008-09-04 | Novaled Ag | tur von organischen Schichten |
| KR101288304B1 (ko) | 2006-01-27 | 2013-07-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 화합물 및 이를 구비한 유기 발광 소자 |
| WO2008060642A2 (en) | 2006-02-10 | 2008-05-22 | The Research Foundation Of State University Of New York | High density coupling of quantum dots to carbon nanotube surface for efficient photodetection |
| CA2641490A1 (en) | 2006-02-13 | 2007-08-23 | Damoder Reddy | Photovoltaic device with nanostructured layers |
| CN101405888B (zh) | 2006-02-17 | 2011-09-28 | 索莱赞特公司 | 纳米结构的电致发光器件以及显示器 |
| KR101059919B1 (ko) | 2006-03-02 | 2011-08-29 | 컴파운드 포토닉스 | 광학적으로 어드레싱 되는 공간 광변조기 및 방법 |
| WO2007099880A1 (en) | 2006-03-03 | 2007-09-07 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting material, light emitting element, light emitting device and electronic device |
| EP1997163A2 (en) | 2006-03-23 | 2008-12-03 | Solexant Corp. | Photovoltaic device containing nanoparticle sensitized carbon nanotubes |
| US8247801B2 (en) | 2006-03-31 | 2012-08-21 | Imec | Organic semi-conductor photo-detecting device |
| US20080121271A1 (en) | 2006-05-03 | 2008-05-29 | Rochester Institute Of Technology | Multi-junction, photovoltaic devices with nanostructured spectral enhancements and methods thereof |
| JP2008016831A (ja) | 2006-06-09 | 2008-01-24 | Sumitomo Chemical Co Ltd | 光−光変換デバイス |
| WO2008105792A2 (en) | 2006-06-24 | 2008-09-04 | Qd Vision, Inc. | Methods for depositing nanomaterial, methods for fabricating a device, methods for fabricating an array of devices and compositions |
| TWI312531B (en) | 2006-06-30 | 2009-07-21 | Nat Taiwan Universit | Photoelectric device and fabrication method thereof |
| US7955889B1 (en) | 2006-07-11 | 2011-06-07 | The Trustees Of Princeton University | Organic photosensitive cells grown on rough electrode with nano-scale morphology control |
| US8080824B2 (en) | 2006-11-15 | 2011-12-20 | Academia Sinica | Suppressing recombination in an electronic device |
| WO2008140601A1 (en) | 2006-12-06 | 2008-11-20 | Solexant Corporation | Nanophotovoltaic device with improved quantum efficiency |
| US7799990B2 (en) | 2007-03-12 | 2010-09-21 | Northwestern University | Electron-blocking layer / hole-transport layer for organic photovoltaics and applications of same |
| US7923801B2 (en) | 2007-04-18 | 2011-04-12 | Invisage Technologies, Inc. | Materials, systems and methods for optoelectronic devices |
| US20100044676A1 (en) | 2008-04-18 | 2010-02-25 | Invisage Technologies, Inc. | Photodetectors and Photovoltaics Based on Semiconductor Nanocrystals |
| WO2009002551A1 (en) | 2007-06-26 | 2008-12-31 | Qd Vision, Inc. | Photovoltaic devices including quantum dot down-conversion materials useful for solar cells and materials including quantum dots |
| KR100838088B1 (ko) | 2007-07-03 | 2008-06-16 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 발광 소자 |
| DE502008002569D1 (de) | 2007-07-23 | 2011-03-24 | Basf Se | Photovoltaische tandem-zelle |
| DE102007043648A1 (de) | 2007-09-13 | 2009-03-19 | Siemens Ag | Organischer Photodetektor zur Detektion infraroter Strahlung, Verfahren zur Herstellung dazu und Verwendung |
| KR101460395B1 (ko) | 2007-12-13 | 2014-11-21 | 테크니온 리서치 엔드 디벨로프먼트 화운데이션 엘티디. | 4-6족 반도체 코어-쉘 나노결정을 포함하는 광기전 셀 |
| EP2232589B1 (en) * | 2007-12-18 | 2013-11-20 | Marek T. Michalewicz | Quantum tunneling photodetector array |
| JP5162271B2 (ja) | 2008-02-15 | 2013-03-13 | Agcテクノグラス株式会社 | 光学多層膜付きガラス部材とその製造方法 |
| KR20090089073A (ko) | 2008-02-18 | 2009-08-21 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 실란일아민계 화합물 및 이를 포함한 유기막을 구비한 유기발광 소자 |
| US20090208776A1 (en) | 2008-02-19 | 2009-08-20 | General Electric Company | Organic optoelectronic device and method for manufacturing the same |
| US20090214967A1 (en) | 2008-02-26 | 2009-08-27 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Electrophotographic photoreceptor, and image forming apparatus and process cartridge using the same |
| US20090217967A1 (en) | 2008-02-29 | 2009-09-03 | International Business Machines Corporation | Porous silicon quantum dot photodetector |
| JP5108806B2 (ja) | 2008-03-07 | 2012-12-26 | 富士フイルム株式会社 | 光電変換素子及び撮像素子 |
| WO2009116511A1 (ja) | 2008-03-19 | 2009-09-24 | シャープ株式会社 | 光増感素子及びそれを用いた太陽電池 |
| CN102047098B (zh) | 2008-04-03 | 2016-05-04 | Qd视光有限公司 | 包括量子点的发光器件 |
| JP4533939B2 (ja) | 2008-04-10 | 2010-09-01 | 三菱重工業株式会社 | 赤外線検出素子、赤外線検出装置及び赤外線検出素子の製造方法 |
| US7821807B2 (en) | 2008-04-17 | 2010-10-26 | Epir Technologies, Inc. | Nonequilibrium photodetectors with single carrier species barriers |
| JP2009272528A (ja) | 2008-05-09 | 2009-11-19 | Fujifilm Corp | 光電変換素子,光電変換素子の製造方法及び固体撮像素子 |
| WO2009152275A1 (en) | 2008-06-11 | 2009-12-17 | Plextronics, Inc. | Encapsulation for organic optoelectronic devices |
| US20100059097A1 (en) | 2008-09-08 | 2010-03-11 | Mcdonald Mark | Bifacial multijunction solar cell |
| JP5258037B2 (ja) | 2008-09-08 | 2013-08-07 | 国立大学法人京都大学 | 光電変換素子、その製造方法、及び太陽電池 |
| JP2010067802A (ja) | 2008-09-11 | 2010-03-25 | Seiko Epson Corp | 光電変換装置、電子機器、光電変換装置の製造方法および電子機器の製造方法 |
| JP2010087205A (ja) | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Kaneka Corp | 多接合型薄膜光電変換装置 |
| WO2010062643A1 (en) | 2008-10-28 | 2010-06-03 | The Regents Of The University Of Michigan | Stacked white oled having separate red, green and blue sub-elements |
| TWI407610B (zh) | 2008-11-28 | 2013-09-01 | 國立交通大學 | Infrared light distance sensing device for organic semiconductors |
| KR101584990B1 (ko) | 2008-12-01 | 2016-01-13 | 엘지디스플레이 주식회사 | 백색 유기 발광 소자 및 이의 제조 방법 |
| US7968215B2 (en) | 2008-12-09 | 2011-06-28 | Global Oled Technology Llc | OLED device with cyclobutene electron injection materials |
| WO2010070563A2 (en) | 2008-12-19 | 2010-06-24 | Philips Intellectual Property & Standards Gmbh | Transparent organic light emitting diode |
| US20110012091A1 (en) | 2009-01-12 | 2011-01-20 | The Regents Of The University Of Michigan | Enhancement of organic photovoltaic cell open circuit voltage using electron/hole blocking exciton blocking layers |
| US8563850B2 (en) | 2009-03-16 | 2013-10-22 | Stion Corporation | Tandem photovoltaic cell and method using three glass substrate configuration |
| DE102009018647A1 (de) | 2009-04-23 | 2010-10-28 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Strahlungsemittierende Vorrichtung |
| JP2010263030A (ja) | 2009-05-01 | 2010-11-18 | Japan Advanced Institute Of Science & Technology Hokuriku | 有機el素子 |
| GB2470006B (en) | 2009-05-05 | 2012-05-23 | Cambridge Display Tech Ltd | Device and method of forming a device |
| TWI380490B (en) | 2009-05-05 | 2012-12-21 | Univ Nat Chiao Tung | Organic photosensitive photoelectric device |
| GB0909818D0 (en) | 2009-06-08 | 2009-07-22 | Isis Innovation | Device |
| WO2010142575A2 (en) | 2009-06-11 | 2010-12-16 | Oerlikon Solar Ag, Trübbach | Tandem solar cell integrated in a double insulating glass window for building integrated photovoltaic applications |
| US9496315B2 (en) | 2009-08-26 | 2016-11-15 | Universal Display Corporation | Top-gate bottom-contact organic transistor |
| JP5573841B2 (ja) | 2009-09-18 | 2014-08-20 | コニカミノルタ株式会社 | タンデム型有機光電変換素子、および太陽電池 |
| JP2011065927A (ja) | 2009-09-18 | 2011-03-31 | Toshiba Corp | 発光装置 |
| DK2483925T3 (en) | 2009-09-29 | 2018-08-20 | Res Triangle Inst | QUANTITY POINT FILLER TRANSITION BASED PHOTO DETECTORS |
| US20110073835A1 (en) | 2009-09-29 | 2011-03-31 | Xiaofan Ren | Semiconductor nanocrystal film |
| US9054262B2 (en) | 2009-09-29 | 2015-06-09 | Research Triangle Institute | Integrated optical upconversion devices and related methods |
| KR101608903B1 (ko) | 2009-11-16 | 2016-04-20 | 삼성전자주식회사 | 적외선 이미지 센서 |
| CN101794834B (zh) | 2009-12-14 | 2013-06-12 | 湖南共创光伏科技有限公司 | 设有上转换荧光材料膜层的高效太阳能薄膜电池及其膜层制备方法 |
| AU2011258475A1 (en) | 2010-05-24 | 2012-11-15 | Nanoholdings, Llc | Method and apparatus for providing a charge blocking layer on an infrared up-conversion device |
| CN101872793B (zh) | 2010-07-02 | 2013-06-05 | 福建钧石能源有限公司 | 叠层太阳能电池及其制造方法 |
| WO2012021968A1 (en) | 2010-08-18 | 2012-02-23 | Dayan Ban | Organic/inorganic hybrid optical amplifier with wavelength conversion |
| WO2012071107A1 (en) | 2010-11-23 | 2012-05-31 | Qd Vision, Inc. | Device including semiconductor nanocrystals & method |
| EP2643857B1 (en) | 2010-11-23 | 2019-03-06 | University of Florida Research Foundation, Inc. | Ir photodetectors with high detectivity at low drive voltage |
| KR101890748B1 (ko) | 2011-02-01 | 2018-08-23 | 삼성전자주식회사 | 멀티 스택 씨모스(cmos) 이미지 센서의 화소 및 그 제조방법 |
| CN105742395B (zh) | 2011-02-28 | 2019-02-15 | 佛罗里达大学研究基金会有限公司 | 带有增益(ec)的上转换器件和光检测器 |
| RU2013139232A (ru) | 2011-02-28 | 2015-04-10 | Юниверсити Оф Флорида Рисеч Фаундэйшн, Инк. | Устройства преобразования с повышением частоты, содержащие широкополосный поглотитель |
| CA2832129A1 (en) | 2011-04-05 | 2012-10-11 | Franky So | Method and apparatus for integrating an infrared (ir) photovoltaic cell on a thin film photovoltaic cell |
| WO2012170457A2 (en) | 2011-06-06 | 2012-12-13 | University Of Florida Research Foundation, Inc. | Transparent infrared-to-visible up-conversion device |
| JP6309449B2 (ja) | 2011-06-06 | 2018-04-11 | ユニバーシティー オブ フロリダ リサーチ ファウンデーション, インコーポレイテッドUniversity Of Florida Research Foundation, Inc. | Cmos画像センサー内蔵irアップコンバージョン装置を組み込んだ赤外線撮像装置 |
| WO2012168192A2 (en) | 2011-06-07 | 2012-12-13 | Bayer Intellectual Property Gmbh | Synthesis of highly fluorescing semiconducting core-shell nanoparticles based on ib, iib, iiia, via elements of the periodic classification. |
| WO2012178071A2 (en) | 2011-06-23 | 2012-12-27 | Brown University | Device and methods for temperature and humidity measurements using a nanocomposite film sensor |
| CN103733355B (zh) | 2011-06-30 | 2017-02-08 | 佛罗里达大学研究基金会有限公司 | 用于检测红外辐射的带有增益的方法和设备 |
| JP5853486B2 (ja) | 2011-08-18 | 2016-02-09 | ソニー株式会社 | 撮像装置および撮像表示システム |
| EP2599898A1 (en) | 2011-12-01 | 2013-06-05 | Bayer Intellectual Property GmbH | Continuous synthesis of high quantum yield InP/ZnS nanocrystals |
| JP2016513361A (ja) | 2013-01-25 | 2016-05-12 | ユニバーシティー オブ フロリダ リサーチ ファウンデーション,インコーポレイテッドUniversity Of Florida Research Foundation,Inc. | 溶液処理法による硫化鉛光検出器を用いた新規の赤外線画像センサー |
-
2012
- 2012-07-02 CN CN201280031610.7A patent/CN103733355B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2012-07-02 MX MX2013015214A patent/MX2013015214A/es not_active Application Discontinuation
- 2012-07-02 EP EP12804913.7A patent/EP2727154B1/en active Active
- 2012-07-02 AU AU2012275060A patent/AU2012275060A1/en not_active Abandoned
- 2012-07-02 BR BR112013033122A patent/BR112013033122A2/pt not_active IP Right Cessation
- 2012-07-02 RU RU2014102650/28A patent/RU2014102650A/ru not_active Application Discontinuation
- 2012-07-02 US US14/129,225 patent/US10134815B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2012-07-02 JP JP2014519228A patent/JP6502093B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-07-02 KR KR1020147002758A patent/KR102059208B1/ko not_active Expired - Fee Related
- 2012-07-02 CA CA2840498A patent/CA2840498A1/en not_active Abandoned
- 2012-07-02 WO PCT/US2012/045272 patent/WO2013003850A2/en not_active Ceased
-
2017
- 2017-01-03 US US15/397,656 patent/US20170117335A1/en not_active Abandoned
- 2017-05-10 JP JP2017093969A patent/JP6513733B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6412583A (en) * | 1987-07-07 | 1989-01-17 | Toshiba Corp | Photodetector |
| JP2000349365A (ja) * | 1999-06-07 | 2000-12-15 | Futaba Corp | 光電流増倍素子 |
| JP2010506386A (ja) * | 2006-09-29 | 2010-02-25 | ユニバーシティ オブ フロリダ リサーチ ファンデーション インコーポレーティッド | 赤外線検出および表示のための方法および装置 |
| JP2011098948A (ja) * | 2009-06-25 | 2011-05-19 | Yamagata Promotional Organization For Industrial Technology | ビピリジン誘導体及びそれを含む有機エレクトロルミネッセンス素子 |
| WO2011066396A2 (en) * | 2009-11-24 | 2011-06-03 | University Of Florida Research Foundation, Inc. | Method and apparatus for sensing infrared radiation |
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| GALILEO SARASQUETA ET AL.: "Organic and Inorganic Blocking Layers for Solution-Processed Colloidal PbSe Nanocrystal Infrared Pho", ADV. FUNCT. MATER., vol. Volume 21, Issue 1, JPN6016005636, 2010, pages 167 - 171, ISSN: 0003887143 * |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20140064767A (ko) | 2014-05-28 |
| WO2013003850A2 (en) | 2013-01-03 |
| JP2014521214A (ja) | 2014-08-25 |
| WO2013003850A3 (en) | 2013-04-11 |
| US20170117335A1 (en) | 2017-04-27 |
| CA2840498A1 (en) | 2013-01-03 |
| JP6513733B2 (ja) | 2019-05-15 |
| BR112013033122A2 (pt) | 2017-01-24 |
| WO2013003850A8 (en) | 2013-05-16 |
| MX2013015214A (es) | 2014-03-21 |
| KR102059208B1 (ko) | 2020-02-07 |
| RU2014102650A (ru) | 2015-08-10 |
| US10134815B2 (en) | 2018-11-20 |
| JP6502093B2 (ja) | 2019-04-17 |
| US20140217284A1 (en) | 2014-08-07 |
| CN103733355A (zh) | 2014-04-16 |
| CN103733355B (zh) | 2017-02-08 |
| AU2012275060A1 (en) | 2014-01-30 |
| EP2727154A4 (en) | 2015-03-04 |
| EP2727154B1 (en) | 2019-09-18 |
| EP2727154A2 (en) | 2014-05-07 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6513733B2 (ja) | 利得を伴って赤外線放射を検出する方法および装置 | |
| KR102031996B1 (ko) | Cmos 이미지 센서를 갖는 ir 업 컨버전 디바이스를 집적한 적외선 이미징 디바이스 | |
| US9997571B2 (en) | Method and apparatus for providing a charge blocking layer on an infrared up-conversion device | |
| JP6219172B2 (ja) | ゲインを有する光検出器及びアップコンバージョン装置(ec) | |
| US20150372046A1 (en) | A NOVEL IR IMAGE SENSOR USING A SOLUTION-PROCESSED PbS PHOTODETECTOR | |
| US9437835B2 (en) | Transparent infrared-to-visible up-conversion device | |
| US9190458B2 (en) | Method and apparatus for providing a window with an at least partially transparent one side emitting OLED lighting and an IR sensitive photovoltaic panel |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180410 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20180709 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180910 |
|
| A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20181002 |
|
| A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20190104 |
|
| A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20190301 |
|
| TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20190312 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20190410 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6513733 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |